技術(shù)編號(hào)：6242347
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了，該測(cè)量裝置由光學(xué)元件基片，轉(zhuǎn)臺(tái)和兩個(gè)光束強(qiáng)度探測(cè)器組成，光學(xué)元件位于轉(zhuǎn)臺(tái)上，待測(cè)光入射至光學(xué)元件基片上，通過轉(zhuǎn)臺(tái)調(diào)節(jié)光束入射角，測(cè)量光學(xué)元件在不同入射角時(shí)的反射和透射光強(qiáng)度，根據(jù)菲涅耳公式推算得到入射光束的偏振度。本發(fā)明具有測(cè)量方法和裝置簡(jiǎn)單，成本低，并且測(cè)量精度高，應(yīng)用范圍廣等優(yōu)點(diǎn)。專利說明 [0001] 本發(fā)明涉及光束偏振度測(cè)量的，具體涉及一種光束偏振特性測(cè)量裝置和 方法。 背景技術(shù) [0002] 光波是一種橫波，其光波矢量的振...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。