技術(shù)編號：6223227
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。，涉及電子。它是為了解決低劑量率增強(qiáng)試驗(yàn)的測試時(shí)間長，導(dǎo)致過?；鶚O電流和電流增益產(chǎn)生較大的影響的問題。本發(fā)明的低劑量率增強(qiáng)效應(yīng)加速試驗(yàn)方法步驟簡單，易于操作。本發(fā)明的低劑量率增強(qiáng)效應(yīng)加速試驗(yàn)方法步驟簡單，易于操作。本發(fā)明所提出的技術(shù)途徑能夠大幅度降低低劑量率增強(qiáng)效應(yīng)試驗(yàn)的時(shí)間與費(fèi)用，同比降低了15%以上，也可為優(yōu)化雙極晶體管和電路抗輻照性能提供必要依據(jù)，減小過剩基極電流和電流增益產(chǎn)生的影響，同比減小了15%，對電子元器件的低劑量率增強(qiáng)效應(yīng)測試和研究具有重大...
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