技術(shù)編號:6190767
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種基于激光掃描熱波成像技術(shù)的膜層厚度檢測方法,采用高功率線狀激光束對試件表面進行快速掃描,掃描方式可以是多次重復(fù)掃描,激光束的幀掃描與熱像儀幀掃描之間有一個相對延遲量,并且延遲量在逐步改變,從而實現(xiàn)對試件的熱波信號進行高速采集。將得到的被測試件的熱波信號變化曲線與理論模型進行擬合,從而得到被測試件的厚度。本發(fā)明通過上述技術(shù)方案,采用激光掃描方式進行高幀頻采集,實現(xiàn)對較薄膜層的厚度檢測。專利說明[0001]本發(fā)明涉及一種基于熱波成像技術(shù)的膜厚測量...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。