技術(shù)編號：6095542
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于非金屬材料的微波復(fù)介電常數(shù)、復(fù)磁導(dǎo)率等電性能參數(shù)的測試方法及為實施該方法而專門設(shè)計的設(shè)備。隨著微波集成、移動電話、衛(wèi)星通訊、廣播、電視、雷達、電子對抗，微波在工、農(nóng)業(yè)生產(chǎn)過程中的應(yīng)用，日用微波以及微波生物、醫(yī)學等領(lǐng)域的發(fā)展，涉及到從半導(dǎo)體到絕緣體，從磁性到非磁性的各類材料，這些材料電學性能差異很大。目前，按材料性能不同，采用三類不同的測量方法對低介電常數(shù)、低損耗材料采用各種波模的諧振腔法；對高介電常數(shù)、低損耗材料采用介質(zhì)諧振腔法；對大損耗的磁性或...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。