技術(shù)編號：6085989
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及在太陽能電池、顯示器等中適用的光電轉(zhuǎn)換薄膜裝置中進(jìn)行薄膜的檢查的薄膜的檢查裝置及其方法。背景技術(shù)現(xiàn)有技術(shù)中，在太陽能電池等光電轉(zhuǎn)換薄膜裝置中，為了使發(fā)電效率提高，提出有在透明玻璃基板與透明導(dǎo)電膜之間設(shè)置用于使反射率降低的反射率調(diào)整層的方案。該反射率調(diào)整層可以是單層，也可以由多個層構(gòu)成，此外，基于一般所知的菲涅耳反射的多重干涉膜的解析，設(shè)計各層的材料的折射率和膜厚。該反射率調(diào)整層還具有以下功能消除氧化錫 (SnO2)、ΙΤ0、氧化鋅(摻雜鎵、摻雜鋁...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。