技術(shù)編號：6082146
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于光學(xué)參數(shù)測試的方法與裝置現(xiàn)有測試偏振消光比的方法是使被測系統(tǒng)輸出的部分偏振光經(jīng)過檢編器，然后由光電探測器監(jiān)測輸出光的強度，轉(zhuǎn)動檢偏器使先后出現(xiàn)極大值Imax與極小值Imin，利用公式K= (Imin)/(Imax) 求出被測系統(tǒng)偏振消光比K的單向檢測法。為消除光源強度起伏的影響，往往在被測系統(tǒng)之前加一分束器分出一束參考光形成雙光路檢測。此種方法的缺點是檢偏器本身的偏振消光比直接影響到系統(tǒng)的測量精度。當(dāng)被測系統(tǒng)為光纖或光纖系統(tǒng)時，由于耦合空間甚小而...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。