技術(shù)編號：6081829
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于微波吸收材料的復(fù)介電常數(shù)和復(fù)導(dǎo)磁率的測試方法及系統(tǒng)。由于射頻到微波頻譜應(yīng)用的發(fā)展，特別是作為研究天然材料，人工合成材料和生物體組織的重要手段，以及在通訊和電子對抗方面的應(yīng)用，測量各種有機(jī)和無機(jī)的電介質(zhì)、半導(dǎo)體、鐵氧體等的復(fù)介電常數(shù)ε＝ε′-jε″和復(fù)導(dǎo)磁率μ＝μ′-jμ″愈來愈增加它的重要性，對于中、低損耗材料已有許多可靠的測量方法;對于高損耗材料，過去廣泛采用測量線的開路-短路法，但當(dāng)樣品損耗增高時(shí)，該方法的測量誤差顯著升高，靈敏度下降，其測量...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲(chǔ)備，不適合論文引用。