技術(shù)編號：5981016
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型涉及一種共聚焦光學掃描儀，特別涉及使用CCD、EMCCD和CMOS等面陣探測器作為檢測器的共聚焦光學掃描裝置。背景技術(shù)目前，已有的使用CCD、EMCCD和CMOS等面陣探測器作為檢測器的共聚焦光學掃描裝置，主要通過排列多個透光針孔的單轉(zhuǎn)盤的旋轉(zhuǎn)，或排列多個透光針孔的單滑塊的往復滑動來實現(xiàn)對樣品的掃描成像，光源發(fā)射的光直接照射在轉(zhuǎn)盤或滑塊上，有超過96%的光被轉(zhuǎn)盤或滑塊反射，造成雜散光噪聲高的問題。通過在光源與轉(zhuǎn)盤或滑塊之間放置微透鏡陣列，可以降低...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。