技術(shù)編號(hào)：5950677
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體測(cè)試夾具以及使用了該半導(dǎo)體測(cè)試夾具的耐壓測(cè)定方法，特別涉及能夠適合使用于寬帶隙半導(dǎo)體的耐壓測(cè)定的半導(dǎo)體測(cè)試夾具以及使用了該半導(dǎo)體測(cè)試夾具的耐壓測(cè)定方法。背景技術(shù)對(duì)于使用了作為高耐壓的半導(dǎo)體的寬帶隙半導(dǎo)體的功率器件半導(dǎo)體來(lái)說(shuō)，在安裝于封裝之前的芯片的狀態(tài)下進(jìn)行電特性的測(cè)定(以下，也稱為測(cè)試)。在電特性的測(cè)定項(xiàng)目中包括耐壓測(cè)定。對(duì)功率器件來(lái)說(shuō)，耐壓作為重要的性能之一而被舉出，耐壓測(cè)定是必定應(yīng)該進(jìn)行的項(xiàng)目。作為以往的用于對(duì)一般的高耐壓功率器件半導(dǎo)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。