技術(shù)編號(hào)：5948020

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本發(fā)明屬于GIS類電氣設(shè)備內(nèi)部微粒缺陷檢測(cè)，尤其適用于GIS類設(shè)備內(nèi)部金屬微粒的檢測(cè)。背景技術(shù)GIS由于其體積小、運(yùn)行穩(wěn)定、滅弧能力強(qiáng)，常常用于電カ系統(tǒng)關(guān)鍵領(lǐng)域。然而在GIS長(zhǎng)期運(yùn)行情況表明，GIS具有很好的絕緣性能，但是GIS內(nèi)部時(shí)常會(huì)出現(xiàn)金屬微粒大大降低其絕緣性能，是GIS安全穩(wěn)定運(yùn)行的最大隱患。因而電カ科研工作者希望通過(guò)GIS帶電檢測(cè)方法將GIS內(nèi)金屬導(dǎo)電微粒清除或者危險(xiǎn)的金屬微粒控制在較為安全的區(qū)域，盡可能避免和消除GIS由于內(nèi)部金屬微粒引起的安全...
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