技術(shù)編號：5881601
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及光學(xué)領(lǐng)域的一種偏振元件檢測方法。特別是。技術(shù)背景光學(xué)領(lǐng)域中，隨著偏振光學(xué)、紫外激光器、紫外光學(xué)測試技術(shù)的發(fā)展，紫外多級波片的應(yīng)用也越來越廣泛。根據(jù)各種類型波片的性質(zhì)及與不同器件的組合，可制成光隔離器、 干涉儀及衰減器等，從而實(shí)現(xiàn)光學(xué)測量和對光強(qiáng)的調(diào)制，提高了測量精度，例如λ/4波片結(jié)合極化線性偏振片，可以獲得圓偏振光。表面與光軸平行的晶體薄片稱為波片，設(shè)紫外波片的厚度為d，線偏振光垂直入射紫外多級波片上，非常光e和尋常光ο的傳播方向是一致的，但速...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。