技術(shù)編號(hào)：5865276
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及對(duì)在玻璃基板上形成的薄膜，例如在太陽(yáng)能電池的透明玻璃基板上形成的透明導(dǎo)電膜的膜質(zhì)進(jìn)行檢查的。背景技術(shù)例如，太陽(yáng)能電池中，在堿玻璃等透明玻璃基板上形成有透明導(dǎo)電膜。透明導(dǎo)電膜以光封閉效果為目標(biāo)，積極地在表面形成有凹凸。作為凹凸的程度，例如，對(duì)于0.8μπι的膜厚形成0.3μπι程度的凹凸。作為評(píng)價(jià)這種透明導(dǎo)電膜的表面凹凸的特征量，在現(xiàn)有技術(shù)中，使用霧度率。作為對(duì)該霧度率進(jìn)行測(cè)定的方法，例如已知有在專利文獻(xiàn)1中公開的技術(shù)。在專利文獻(xiàn)1中，公開了對(duì)透明...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。