技術(shù)編號(hào):5842662
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及高溫下測(cè)量物體表面曲率形貌測(cè)量領(lǐng)域,尤其涉及一種高溫環(huán)境下雙波長(zhǎng)剪切干涉測(cè)量物體表面曲率方法,屬于高溫下結(jié)構(gòu)表面變形測(cè)量、光學(xué)實(shí)驗(yàn)。背景技術(shù)高溫環(huán)境中測(cè)量物體變形在工程中是極重要同時(shí)極困難的,常用的接觸式測(cè)量在高溫環(huán)境下往往出現(xiàn)測(cè)量元件制備要求高、易失效等缺點(diǎn),而非接觸式光學(xué)測(cè)量又面臨空氣受熱擾動(dòng)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成很大干擾的困擾。相干梯度敏感方法作為力學(xué)領(lǐng)域一種測(cè)量試件表面曲率的光學(xué)方法已經(jīng)是發(fā)展很成熟的方法,而曲率是表征試件表面形貌的重要幾何參量,...
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