技術編號：5832247
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及測量電路及測試設備，尤其涉及對被測試裝置加直流電壓， 測量上述被測試裝置通過的直流電流。本申請與下列日本申請有關。對于 承認通過文獻參考編入內容的指定國，通過參考下列申請記載的內容編入 本申請，作為本申請的一部分。l.專利申請2006-310358，申請日2006年11月16日。 背景技術作為半導體電路等的被測試裝置的測試項目，公知的有對被測試裝置 的直流測試。所謂直流測試，是通過測量供給到被測試裝置中的電源電流或電源電壓，判定被測試裝置的好壞的...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。