技術(shù)編號(hào)：5821375
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種測試裝置，特別是一種超聲波掃描儀。 背景技術(shù)目前隨著半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展，半導(dǎo)體芯片(IC)在整個(gè)電子產(chǎn)業(yè)應(yīng)用相當(dāng)廣泛。由 于制造工藝水平等問題，無法保證所有IC在制造和封裝過程中內(nèi)部不存在缺陷，由于內(nèi)部缺 陷從外觀無法檢驗(yàn)，業(yè)界的IC制造企業(yè)、模塊及IC測試機(jī)構(gòu)通常使用超聲波掃描儀進(jìn)行無損檢測。超聲波掃描儀用于驗(yàn)證ic在生產(chǎn)、存放、測試等過程中其封裝有無受到溫濕度及周圍環(huán)境的影響，使其內(nèi)部受到損壞從而不能正常的工作。其特點(diǎn)在于能夠精確的反映...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。