技術(shù)編號(hào)：40654364
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及射頻性能測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及射頻模組校準(zhǔn)方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)。背景技術(shù)、在嵌入式系統(tǒng)調(diào)試環(huán)境下，有大量模組問題需要調(diào)試和分析定位。在生產(chǎn)線上，為了分析問題模組，常常需要對(duì)模組進(jìn)行重新校準(zhǔn)。然而，一旦重新校準(zhǔn)，模組中的射頻nv（non-volatile?memory,非易失性內(nèi)存）部分會(huì)發(fā)生改變，這可能導(dǎo)致之前的問題現(xiàn)象不再?gòu)?fù)現(xiàn)，即使在重新校準(zhǔn)前通過nv編輯工具手動(dòng)導(dǎo)出射頻nv數(shù)據(jù)，也可能因?yàn)檎`操作而導(dǎo)致對(duì)應(yīng)的nv數(shù)據(jù)丟失。技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路、本發(fā)明的目的在于提供一種射頻模組校準(zhǔn)方法、裝置...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。