技術(shù)編號(hào)：2935742
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種通過識(shí)別質(zhì)量.電荷來識(shí)別包含在試料中的分子 種類的質(zhì)量分析技術(shù)。本方式的目的在于提供環(huán)境分析、合成化合物 的分析、醫(yī)用分析、不正當(dāng)藥物.危險(xiǎn)物的分析等中的簡(jiǎn)便且廉價(jià)的手 段。背景技術(shù)質(zhì)量分析是指，利用通過對(duì)在電磁場(chǎng)內(nèi)部運(yùn)動(dòng)的帶電粒子的軌跡 進(jìn)行解析并對(duì)該帶電粒子的質(zhì)量與價(jià)數(shù)之比(電荷質(zhì)量比)進(jìn)行測(cè)量，從而識(shí)別該帶電粒子的物理方法的物質(zhì)識(shí)別手段。由于是對(duì)質(zhì)量這一 基本的物理量進(jìn)行測(cè)定的物質(zhì)識(shí)別方法，所以其應(yīng)用范圍極其廣泛， 可以說支撐現(xiàn)代科學(xué)....
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。