技術編號：11946528
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及納米表征領域，尤其涉及一種用于原子力顯微鏡表征大環(huán)分子自組裝結構的樣品制備方法。背景技術大環(huán)分子自組裝納米管具有良好的可修飾性與物質輸運能力，在水處理、貴金屬純化、生物傳感與檢測等領域有著廣泛的潛在應用。該類納米管通過大環(huán)分子自組裝形成，因此自組裝性能對其功能實現至關重要。原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope，AFM)，一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結...
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