技術(shù)編號(hào):11945772
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及高靈敏度的超快光學(xué)探測(cè)以及新型磁性薄膜材料生長(zhǎng),具體是一種基于磁光科爾/法拉第效應(yīng)的超快光學(xué)門控成像系統(tǒng)及方法。背景技術(shù)超快光學(xué)成像技術(shù)是混濁介質(zhì)中物體成像的重要課題:混濁介質(zhì)中的成像技術(shù)不僅在生物醫(yī)學(xué)、工業(yè)檢測(cè)起到作用,而且在國(guó)防安全等其他科學(xué)研究方面也有著十分重要的應(yīng)用價(jià)值。在此之前相關(guān)的技術(shù)研究有:電光科爾門超快光學(xué)成像技術(shù)是基于非線性晶體的電光科爾效應(yīng),具體是建立在泵浦-探測(cè)科爾門技術(shù)上,從而實(shí)現(xiàn)混濁介質(zhì)中的物體成像。超快短脈沖Probe光經(jīng)過(guò)混濁介質(zhì)以后在時(shí)域上被展寬,展寬后...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。