技術(shù)編號：11707811
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種數(shù)字組合邏輯電路短接故障的檢測方法，尤其是涉及一種數(shù)字組合邏輯電路輸出發(fā)生線“或”短接故障的檢測方法。背景技術(shù)隨著集成電路集成度的不斷提高和集成電路功能的不斷增加，集成電路內(nèi)部的連接變得越來越復雜，使得集成電路生產(chǎn)過程中的連接錯誤變得不可避免，從而導致集成電路邏輯功能錯誤。因而電路故障測試已成為集成電路設(shè)計與生成過程中一個非常重要的內(nèi)容。由于現(xiàn)有的集成電路的結(jié)構(gòu)非常復雜，因此人工手動完成一個電路故障測試已經(jīng)變得越來越不可能，而更多的是借助計算機來完成電路故障測試工作，并已經(jīng)成為電子...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學習研究技術(shù)思路。