技術(shù)編號(hào)：11050992
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及氣體電離室領(lǐng)域，尤其涉及一種同步輻射軟X射線無損實(shí)時(shí)位置分辨電離室。背景技術(shù)近些年來同步輻射應(yīng)用發(fā)展迅速，利用同步輻射光源的實(shí)驗(yàn)方法得到了很大程度的提高，隨著實(shí)驗(yàn)技術(shù)的不斷提高以及樣品尺寸的越來越小，實(shí)驗(yàn)對(duì)同步輻射光的質(zhì)量要求也隨之變得越來越高，在實(shí)驗(yàn)過程中對(duì)光束的無損實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)顯得尤為重要。光束位置的穩(wěn)定性關(guān)系到實(shí)驗(yàn)樣品上單色光強(qiáng)度甚至能量的變化，對(duì)最終實(shí)驗(yàn)結(jié)果有著重要的影響。對(duì)于某些實(shí)驗(yàn)，例如CT掃描等，完成一個(gè)完整實(shí)驗(yàn)往往需要較長(zhǎng)的時(shí)間，實(shí)驗(yàn)過程中光束抖動(dòng)對(duì)成像質(zhì)量的影響很大，...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。