本申請(qǐng)涉及密封，尤其涉及一種氣冷堆的密封環(huán)測(cè)試系統(tǒng)和方法。

背景技術(shù)：

1、氣冷微堆是自主研發(fā)的第四代核電新技術(shù)，具有高效、緊湊和安全性高的特點(diǎn)。作為一種創(chuàng)新的小型模塊化反應(yīng)堆，氣冷微堆在結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)上具備機(jī)動(dòng)靈活的優(yōu)勢(shì)，能夠適應(yīng)多種應(yīng)用場(chǎng)景，其固有的安全性和靈活的部署方式使其成為未來(lái)核能發(fā)展的重要方向之一。

2、在氣冷微堆的設(shè)計(jì)中，反應(yīng)堆壓力容器和主管道法蘭的密封結(jié)構(gòu)至關(guān)重要。由于氣冷微堆通常在高溫高壓環(huán)境下運(yùn)行，反應(yīng)堆壓力容器及其相關(guān)的密封結(jié)構(gòu)必須能夠在高溫、高壓條件下長(zhǎng)期保持良好的密封性能。因此，針對(duì)氣冷微堆密封結(jié)構(gòu)性能進(jìn)行測(cè)試十分有必要。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N氣冷堆的密封環(huán)測(cè)試系統(tǒng)和方法，用以測(cè)驗(yàn)氣冷微堆密封結(jié)構(gòu)性能，確保氣冷微堆密封結(jié)構(gòu)在高溫高壓氦氣介質(zhì)中的密封效果和可靠性。

2、具體地，本申請(qǐng)是通過(guò)如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的：

3、本申請(qǐng)第一方面提供一種氣冷堆的密封環(huán)測(cè)試系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括：常溫測(cè)試裝置、高溫試驗(yàn)裝置；

4、所述常溫測(cè)試裝置包括常溫工作臺(tái)，用于安裝所述密封環(huán)的常溫測(cè)試工裝，所述常溫工作臺(tái)分別外接氣密性能測(cè)試裝置及水壓性能測(cè)試裝置，所述氣密性能測(cè)試裝置用于同時(shí)測(cè)試密封環(huán)的常溫測(cè)試工裝的密封性能和泄漏性能；

5、所述高溫試驗(yàn)裝置用于測(cè)試所述密封環(huán)的高溫測(cè)試工裝的高溫疲勞性能和高溫持久性能，所述高溫試驗(yàn)裝置包括：

6、上下相對(duì)設(shè)置的上加熱盤(pán)和下加熱盤(pán)，所述下加熱盤(pán)的頂面與所述高溫測(cè)試工裝的底面接觸，所述上加熱盤(pán)的底面與所述高溫測(cè)試工裝的頂面接觸；

7、所述上加熱盤(pán)、所述下加熱盤(pán)分別通過(guò)管道連接至感應(yīng)溫度控制裝置，所述感應(yīng)溫度控制裝置至少包括電磁感應(yīng)降溫控制箱、電磁感應(yīng)加熱控制箱和電磁感應(yīng)加熱器，所述電磁感應(yīng)加熱控制箱與所述電磁感應(yīng)加熱器連接，控制所述電磁感應(yīng)加熱器輸出熱量，使所述上加熱盤(pán)和所述下加熱盤(pán)升溫，所述電磁感應(yīng)加熱器、所述電磁感應(yīng)降溫控制箱均與所述上加熱盤(pán)和所述下加熱盤(pán)連接，所述電磁感應(yīng)降溫控制箱控制所述上加熱盤(pán)和所述下加熱盤(pán)降溫；

8、與所述高溫測(cè)試工裝的上半部連接的檢漏裝置，檢漏裝置包括氣體檢漏儀、供氣裝置，所述氣體檢漏儀與所述高溫測(cè)試工裝的上半部連接，所述供氣裝置與增壓裝置的第一端口連接，所述增壓裝置的第二端口通過(guò)進(jìn)氣閥與所述高溫測(cè)試工裝內(nèi)的密封環(huán)內(nèi)腔連接，所述檢漏裝置用于在測(cè)試前在所述高溫測(cè)試工裝內(nèi)形成真空環(huán)境，在測(cè)試中檢測(cè)所述高溫測(cè)試工裝的泄漏性能；

9、增壓裝置，與所述高溫測(cè)試工裝連接，用于為所述高溫測(cè)試工裝提供壓力水平大于預(yù)設(shè)值的環(huán)境。

10、本申請(qǐng)第二方面提供一種氣冷堆的密封環(huán)測(cè)試方法，所述方法包括：

11、基于所述常溫測(cè)試裝置對(duì)密封環(huán)的常溫測(cè)試工裝進(jìn)行常溫性能測(cè)試，所述常溫性能測(cè)試至少包括氣密性能測(cè)試和水壓泄漏性能測(cè)試；

12、其中，所述氣密性能測(cè)試控制所述密封環(huán)壓縮和回彈，基于壓縮和回彈過(guò)程檢測(cè)所述密封環(huán)的壓緊性能、泄漏性能和回彈性能；

13、基于所述高溫試驗(yàn)裝置對(duì)所述密封環(huán)的高溫測(cè)試工裝進(jìn)行高溫疲勞性能測(cè)試；

14、其中，所述高溫疲勞性能測(cè)試檢測(cè)在預(yù)設(shè)壓力水平下所述密封環(huán)的泄漏性能與溫度之間的關(guān)系；

15、基于所述高溫試驗(yàn)裝置對(duì)所述高溫疲勞性能測(cè)試后的高溫測(cè)試工裝進(jìn)行高溫持久性能測(cè)試；

16、其中，所述高溫持久性能測(cè)試檢測(cè)在預(yù)設(shè)壓力水平和持續(xù)時(shí)長(zhǎng)下，所述密封環(huán)的泄漏性能與溫度之間的關(guān)系。

17、本申請(qǐng)?zhí)峁┑臍饫涠训拿芊猸h(huán)測(cè)試系統(tǒng)和方法，通過(guò)將常溫測(cè)試裝置與高溫試驗(yàn)裝置相結(jié)合，能夠全面評(píng)估密封環(huán)在不同溫度和壓力條件下的性能。常溫測(cè)試裝置通過(guò)氣密性能和水壓性能測(cè)試，確保密封環(huán)在正常工況下的密封性和穩(wěn)定性；而高溫試驗(yàn)裝置則通過(guò)加熱盤(pán)、溫度控制、檢漏裝置和增壓裝置，模擬并嚴(yán)格控制高溫高壓環(huán)境，測(cè)試密封環(huán)的高溫疲勞和持久性能。這種系統(tǒng)化、全面的測(cè)試方法不僅能夠發(fā)現(xiàn)密封環(huán)在極端條件下的潛在失效模式，還能為密封設(shè)計(jì)的優(yōu)化提供精確的數(shù)據(jù)支持，從而提升氣冷堆的整體安全性和可靠性。

技術(shù)特征：

1.一種氣冷堆的密封環(huán)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括：常溫測(cè)試裝置、高溫試驗(yàn)裝置；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述密封環(huán)的高溫測(cè)試工裝，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述高溫試驗(yàn)裝置用于測(cè)試所述密封環(huán)的高溫測(cè)試工裝的高溫疲勞性能和高溫持久性能，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，

6.一種氣冷堆的密封環(huán)測(cè)試方法，運(yùn)用于如權(quán)利要求1-5中任一項(xiàng)所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述方法包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述高溫疲勞性能測(cè)試，包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述高溫持久性能測(cè)試，包括：

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述氣密性能測(cè)試，包括：

10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述高溫疲勞性能測(cè)試后的高溫測(cè)試工裝進(jìn)行高溫持久性能測(cè)試之后，所述方法還包括：

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N氣冷堆的密封環(huán)測(cè)試系統(tǒng)和方法，屬于密封領(lǐng)域。本申請(qǐng)?zhí)峁┑南到y(tǒng)包括常溫測(cè)試裝置、高溫試驗(yàn)裝置；常溫測(cè)試裝置包括常溫工作臺(tái)，常溫工作臺(tái)分別外接氣密性能測(cè)試裝置及水壓性能測(cè)試裝置；高溫試驗(yàn)裝置用于測(cè)試密封環(huán)的高溫測(cè)試工裝的高溫疲勞性能和高溫持久性能，高溫試驗(yàn)裝置包括：上下相對(duì)設(shè)置的上加熱盤(pán)和下加熱盤(pán)；與高溫測(cè)試工裝的上半部連接的檢漏裝置；增壓裝置。本申請(qǐng)?zhí)峁┑臍饫涠训拿芊猸h(huán)測(cè)試系統(tǒng)和方法，用以測(cè)驗(yàn)氣冷微堆密封結(jié)構(gòu)性能，確保氣冷微堆密封結(jié)構(gòu)在高溫高壓氦氣介質(zhì)中的密封效果和可靠性。

技術(shù)研發(fā)人員：勵(lì)行根,勵(lì)潔,魏世軍,孫斌,李征,岑沖,勵(lì)勇,郭飛,沈鍇,呂坤,王宇,羅文軍,何松
受保護(hù)的技術(shù)使用者：寧波天生密封件有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/10