一種全速率1.25g-64g,可任意設(shè)定測(cè)試速率的新型誤碼率測(cè)試設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種全速率1.25G-64G,可任意設(shè)定測(cè)試速率的新型誤碼率測(cè)試設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]目前市場(chǎng)上很多誤碼儀，不過都是點(diǎn)頻，不能做連續(xù)任意速率，性能上不能滿足所有該頻段內(nèi)的客戶，需要買多臺(tái)設(shè)備，硬件成本造成浪費(fèi)，而且在自動(dòng)化生產(chǎn)的過程中也要對(duì)不同的設(shè)備分別編程，增加開發(fā)周期和成本。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的在于提供一種全速率1.25G-64G,可任意設(shè)定測(cè)試速率的新型誤碼率測(cè)試設(shè)備，解決現(xiàn)有技術(shù)無法實(shí)現(xiàn)多頻段測(cè)試，成本較高的問題。
[0004]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下:
一種全速率1.25G-64G,可任意設(shè)定測(cè)試速率的新型誤碼率測(cè)試設(shè)備，包括MCU控制器、USB接口、偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器、時(shí)鐘源電路、信號(hào)整形電路、電源電路；
其中，MCU控制器、時(shí)鐘源電路、信號(hào)整形電路均分別與偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器相連；
所述MCU控制器還與USB接口相連，并通過USB接口與外部計(jì)算機(jī)通信；
所述電源電路是為MCU控制器、時(shí)鐘源電路、信號(hào)整形電路、偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器提供電源的。
[0005]進(jìn)一步地，所述時(shí)鐘源電路的時(shí)鐘頻率范圍為O?200MHz。也就是說時(shí)鐘源電路可以產(chǎn)生O?200MHz的任意時(shí)鐘頻率。
[0006]再進(jìn)一步地，所述時(shí)鐘源電路采用SI5338A芯片，信號(hào)整形電路采用GN2017芯片，偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器采用GT1706芯片。其中，偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器具有多通道數(shù)據(jù)傳輸功能，信號(hào)整形電路具有多通道數(shù)據(jù)傳輸功能。
[0007]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點(diǎn)及有益效果:
本發(fā)明是一種全速率1.25G-64G,可任意設(shè)定測(cè)試速率的新型誤碼率測(cè)試設(shè)備，在該頻段內(nèi)可連續(xù)調(diào)節(jié)。滿足了目前市場(chǎng)上主流光通信模塊的收發(fā)端測(cè)試，只需搭配一臺(tái)DCA和一臺(tái)衰減器就可完成光模塊出貨前的所有指標(biāo)測(cè)試，有效降低了光模塊的生產(chǎn)成本。另夕卜，本發(fā)明也能用于其他高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)囊曨l信號(hào)，廣播等產(chǎn)品的測(cè)試。
【附圖說明】
[0008]圖1為本發(fā)明的系統(tǒng)框圖。
[0009]圖2為本發(fā)明中時(shí)鐘源電路原理圖。
[0010]圖3為本發(fā)明中信號(hào)整形電路原理圖。
[0011]圖4為本發(fā)明中偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器的電路原理圖。
[0012]圖5為本發(fā)明中MCU控制器的電路原理圖。
【具體實(shí)施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說明，本發(fā)明的實(shí)施方式包括但不限于下列實(shí)施例。
實(shí)施例
[0014]如圖1?5所示，一種全速率1.25G-64G,可任意設(shè)定測(cè)試速率的新型誤碼率測(cè)試設(shè)備，包括MCU控制器、USB接口、偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器、時(shí)鐘源電路、信號(hào)整形電路、電源電路；
其中，MCU控制器、時(shí)鐘源電路、信號(hào)整形電路均分別與偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器相連；
所述MCU控制器還與USB接口相連，并通過USB接口與外部計(jì)算機(jī)通信；
所述電源電路是為MCU控制器、時(shí)鐘源電路、信號(hào)整形電路、偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器提供電源的。
[0015]另外，所述時(shí)鐘源電路的時(shí)鐘頻率范圍為O?200MHz。所述時(shí)鐘源電路采用SI5338A芯片，信號(hào)整形電路采用GN2017芯片，偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器采用GT1706芯片。
[0016]本發(fā)明的工作原理如下:
時(shí)鐘源電路產(chǎn)生O?200MHz任意時(shí)鐘頻率，而偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器根據(jù)輸入的時(shí)鐘進(jìn)行任意整數(shù)倍的頻率調(diào)整，不過芯片保證的帶寬設(shè)計(jì)是1.25G?64G，所以在這個(gè)范圍內(nèi)，可根據(jù)需要做到該范圍內(nèi)任意速率的誤碼檢測(cè)；而且因?yàn)閭坞S機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器是多路設(shè)計(jì)，在本發(fā)明中使用了 4通道，所以能對(duì)4路做同時(shí)檢測(cè)，可以滿足40G(4X16G)模塊的測(cè)試，也能使用其中任意幾路，各通道獨(dú)立工作，信號(hào)整形電路相應(yīng)的也有4路，對(duì)每路信號(hào)獨(dú)立調(diào)整，可以減少抖動(dòng)，調(diào)整信號(hào)的上升下降時(shí)間以及信號(hào)輸出幅度。另外，電源電路是通過外部5V直流電源輸入，產(chǎn)生設(shè)備上所有部件需要的電源。
[0017]在實(shí)際使用時(shí)，MCU控制器控制上述各部件，同時(shí)通過USB接口與計(jì)算機(jī)通信，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試。
[0018]值得說明的是，本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)對(duì)不同速率的誤碼率進(jìn)行檢測(cè)，一臺(tái)多用，不需對(duì)每個(gè)速率配備專門的測(cè)試儀，大大地降低了投入成本。
[0019]按照上述實(shí)施例，便可很好地實(shí)現(xiàn)本發(fā)明。值得說明的是，基于上述結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的前提下，為解決同樣的技術(shù)問題，即使在本發(fā)明上做出的一些無實(shí)質(zhì)性的改動(dòng)或潤(rùn)色，所采用的技術(shù)方案的實(shí)質(zhì)仍然與本發(fā)明一樣，故其也應(yīng)當(dāng)在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種全速率1.25G-64G,可任意設(shè)定測(cè)試速率的新型誤碼率測(cè)試設(shè)備，其特征在于，包括MCU控制器、USB接口、偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器、時(shí)鐘源電路、信號(hào)整形電路、電源電路； 其中，MCU控制器、時(shí)鐘源電路、信號(hào)整形電路均分別與偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器相連； 所述MCU控制器還與USB接口相連，并通過USB接口與外部計(jì)算機(jī)通信； 所述電源電路是為MCU控制器、時(shí)鐘源電路、信號(hào)整形電路、偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器提供電源的。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種全速率1.25G-64G,可任意設(shè)定測(cè)試速率的新型誤碼率測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述時(shí)鐘源電路的時(shí)鐘頻率范圍為O?200MHz。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種全速率1.25G-64G,可任意設(shè)定測(cè)試速率的新型誤碼率測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述時(shí)鐘源電路采用SI5338A芯片，信號(hào)整形電路采用GN2017芯片，偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器采用GT1706芯片。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種全速率1.25G-64G,可任意設(shè)定測(cè)試速率的新型誤碼率測(cè)試設(shè)備，解決現(xiàn)有技術(shù)無法實(shí)現(xiàn)多頻段測(cè)試，成本較高的問題。本發(fā)明包括MCU控制器、USB接口、偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器、時(shí)鐘源電路、信號(hào)整形電路、電源電路；其中，MCU控制器、時(shí)鐘源電路、信號(hào)整形電路均分別與偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器相連；所述MCU控制器還與USB接口相連，并通過USB接口與外部計(jì)算機(jī)通信；所述電源電路是為MCU控制器、時(shí)鐘源電路、信號(hào)整形電路、偽隨機(jī)碼型發(fā)生器和檢測(cè)器提供電源的。本發(fā)明滿足了目前市場(chǎng)上主流光通信模塊的收發(fā)端測(cè)試，只需搭配一臺(tái)DCA和一臺(tái)衰減器就可完成光模塊出貨前的所有指標(biāo)測(cè)試，有效降低了光模塊的生產(chǎn)成本。
【IPC分類】H04L12/26, H04B10/079
【公開號(hào)】CN105119782
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510642688
【發(fā)明人】朱朝軍, 向剛, 史玉栓
【申請(qǐng)人】成都瑞索高創(chuàng)光電技術(shù)有限公司
【公開日】2015年12月2日
【申請(qǐng)日】2015年9月30日