專利名稱：一種射頻測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及通信設(shè)備領(lǐng)域，特別涉及一種射頻測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)代信息技術(shù)日益發(fā)達的今天，通訊技術(shù)在人們的日常生活和生產(chǎn)中扮演著越來越重要的角色，人們對通信設(shè)置功能和通信質(zhì)量的要求也越來越高。為滿足社會對通訊設(shè)備越來越高的功能和質(zhì)量要求，在通信設(shè)備的工業(yè)生產(chǎn)過程中，對產(chǎn)品的性能測試尤其重要。作為通信基礎(chǔ)設(shè)備重要組成部分的射頻子系統(tǒng)和射頻部件，對其進行射頻測試是 一項非常重要的測試。射頻測試中一般包括測試被測件頻譜指標(biāo)的頻譜測試和測試被測件的S參數(shù)的射頻網(wǎng)絡(luò)S參數(shù)測試。該S參數(shù)是網(wǎng)絡(luò)分析儀的基本測量參數(shù)，包括了反射系數(shù)、傳輸系數(shù)、駐波系數(shù)、衰減、相位等參數(shù)。目前，被測件頻譜分析測試的系統(tǒng)示意圖參見圖1，信號源輸出信道頻率內(nèi)的信號到被測件，被測件輸出信號到頻譜分析儀，利用頻譜分析儀對被測件進行頻譜分析。被測件S參數(shù)測試的系統(tǒng)示意圖參見圖2，網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口 I (RF output，射頻輸出端)與被測件輸入端相連，被測件將信號輸出到網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口 2 (Test測試端)，網(wǎng)絡(luò)分析儀對被測件的S參數(shù)進行測試。但是，目前的這種測試系統(tǒng)，在進行測試頻譜測試時，需要將被測件連入頻譜測試系統(tǒng)，進行S參數(shù)測試時，需要將被測件再連入S參數(shù)測試系統(tǒng)，兩個測試子系統(tǒng)之間的切換需要人工進行，浪費時間。

實用新型內(nèi)容有鑒于此，本實用新型提供一種射頻測試系統(tǒng)，能夠快速對頻譜測試子系統(tǒng)和S參數(shù)測試子系統(tǒng)進行切換。一種射頻測試系統(tǒng)，包括第一射頻開關(guān)、第二射頻開關(guān)、信號源、網(wǎng)絡(luò)分析儀和頻譜分析儀；所述第一射頻開關(guān)的第一輸出端與被測件的輸入端相連，所述第一射頻開關(guān)的第一輸入端與生成檢測信號的信號源相連，所述第一射頻開關(guān)的第二輸入端與生成射頻信號的網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻輸出端相連；所述第二射頻開關(guān)的第一輸入端與被測件的輸出端相連，第一輸出端與依據(jù)被測件的輸出信號進行頻譜分析的頻譜分析儀相連，第二輸出端與依據(jù)被測件的射頻輸出信號進行S參數(shù)分析的網(wǎng)絡(luò)分析儀相連。上述的系統(tǒng)，優(yōu)選的，所述信號源包括生成信號頻率為信道中心頻率的第一信號的第一信號發(fā)生器；[0015]生成第二信號，且所述第二信號的頻率與所述第一信號的頻率之差為一設(shè)定值的第二信號發(fā)生器；分別與所述第一信號發(fā)生器、第二信號發(fā)生器和第一射頻開關(guān)的第一輸入端相連，對所述第一信號和第二信號進行組合得到檢測信號的合路器。上述的系統(tǒng)，優(yōu)選的，還包括對所述信號源發(fā)出的檢測信號或網(wǎng)絡(luò)分析儀發(fā)出的射頻信號進行放大處理的功率放大器；分別與所述信號源、功率放大器和第一射頻開關(guān)的第一輸入端相連，當(dāng)被測件的最小額定輸入信號功率大于信號源或網(wǎng)絡(luò)分析儀的最大輸出功率時，接通所述功率放大器的第三射頻開關(guān)。
上述的系統(tǒng)，優(yōu)選的，還包括分別與所述第一射頻開關(guān)的第一輸入端和信號源相連，對所述信號源發(fā)送的檢測信號分解得到測試信號和第一測量信號，將所述測試信號輸出到被測件的第一分解器；與所述第一分解器相連，依據(jù)所述第一測量信號對輸入被測件的信號的大小進行測量的第一功率計。上述的系統(tǒng)，優(yōu)選的，還包括與第二射頻開關(guān)的第一輸入端相連，當(dāng)系統(tǒng)對被測件進行頻譜分析時，將被測件輸出的測試輸出信號分解得到檢測輸出信號和第二測量信號，以及當(dāng)系統(tǒng)對被測件進行S參數(shù)測試時，將被測件輸出的測試射頻輸出信號分解得到射頻輸出信號和第三測量信號的第二分解器；與所述第二分解器相連，當(dāng)系統(tǒng)對被測件進行頻譜分析時，依據(jù)所述第二測量信號對測試輸出信號的大小進行測量，以及當(dāng)系統(tǒng)對被測件進行S參數(shù)測試時，依據(jù)所述第三測量信號對測試射頻輸出信號的大小進行測量的第二功率計。上述的系統(tǒng)，優(yōu)選的，還包括分別與被測件和第二分解器相連，當(dāng)所述測試輸出信號的功率大于頻譜分析儀的最大輸入功率時，對所述測試輸出信號進行衰減處理，以及當(dāng)所述測試射頻輸出信號的功率大于網(wǎng)絡(luò)分析儀的最大輸入功率時，對所述射頻輸出信號進行衰減處理的功率衰減器。上述的系統(tǒng)，優(yōu)選的，第一射頻開關(guān)包括第一電源；與所述第一電源相連，由第一電源觸發(fā)，生成TTL高電平脈沖的第一脈沖生成單元;與所述第一脈沖生成單元相連，依據(jù)所述第一脈沖生成單元產(chǎn)生的TTL高電平在第一射頻開關(guān)的第一輸入端和第二輸入端之間進行切換的第一開關(guān)單元。上述的系統(tǒng)，優(yōu)選的，第二射頻開關(guān)包括第二電源；與所述第二電源相連，由第二電源觸發(fā)，生成TTL高電平脈沖的第二脈沖生成單元;與所述第二脈沖生成單元相連，依據(jù)所述第二脈沖生成單元產(chǎn)生的TTL高電平在第二射頻開關(guān)的第一輸出端和第二輸出端之間進行切換的第二開關(guān)單元。[0036]上述的系統(tǒng)，優(yōu)選的，第三射頻開關(guān)包括第三電源；與所述第三電源相連，由第三電源觸發(fā)，生成TTL高電平脈沖的第三脈沖生成單元;兩個分別與所述第三脈沖生成單元相連，依據(jù)所述第三脈沖生成單元產(chǎn)生的TTL高電平在各自常閉觸點端和常開觸點端之間進行切換的第三開關(guān)單元。本實用新型實施例提供的一種射頻測試系統(tǒng)，通過第一射頻開關(guān)和第二射頻開關(guān)的配合，快速切換接通頻譜分析子系統(tǒng)或S參數(shù)測試子系統(tǒng)，提高射頻測試速率。

為了更清楚地說明本申請實施例中的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I是現(xiàn)有技術(shù)中被測件頻譜分析測試的系統(tǒng)示意圖；圖2是現(xiàn)有技術(shù)中被測件S參數(shù)測試的系統(tǒng)示意圖；圖3是本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例I的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例I中第一射頻開關(guān)的具體結(jié)構(gòu)示意圖；圖5是本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例中I第二射頻開關(guān)的具體結(jié)構(gòu)示意圖；圖6是本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例I中第一射頻開關(guān)和第二射頻開關(guān)的電路圖；圖7是本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例I的對被測件進行頻譜分析時系統(tǒng)的連接示意圖；圖8是本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例I的對被測件進行S參數(shù)測試時系統(tǒng)的連接示意圖；圖9是本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例2的結(jié)構(gòu)示意圖；圖10是本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例3的結(jié)構(gòu)示意圖；圖11是本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例3中第三射頻開關(guān)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖12是本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例4的結(jié)構(gòu)示意圖；圖13是本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例5的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
下面將結(jié)合本申請實施例中的附圖，對本申請實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本申請一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本申請中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本申請保護的范圍。為了能夠快速有效的進行被測件的射頻指標(biāo)和S參數(shù)的測試，需要預(yù)先按照被測件的工作頻率范圍設(shè)置網(wǎng)絡(luò)分析儀的起、止頻率，并將網(wǎng)絡(luò)分析儀的功能設(shè)置在S參數(shù)測試方法上。[0057]參見圖3，示出了本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例I的結(jié)構(gòu)示意圖，包括信號源101、網(wǎng)絡(luò)分析儀102、第一射頻開關(guān)103、第二射頻開關(guān)104和頻譜分析儀105。參見圖4所示的本實用新型實施例I中的第一射頻開關(guān)的具體結(jié)構(gòu)示意圖，所述第一射頻開關(guān)103包括第一電源1031、第一脈沖生成單元1032和第一開關(guān)單元1033。上述第一脈沖生成單元1032與所述第一電源1031相連，由第一電源1031觸發(fā)生成TTL高電平脈沖；第一開關(guān)單元1033與所述第一脈沖生成單元1032相連，依據(jù)所述第一脈沖生成單元1032產(chǎn)生的TTL高電平在第一射頻開關(guān)103的第一輸入端NCl和第二輸入端NOl之間進行切換。參見圖5所示的本實用新型實施例I中的第二射頻開關(guān)的具體結(jié)構(gòu)示意圖，所述第二射頻開關(guān)104包括第二電源1041、第二脈沖生成單元1042和第二開關(guān)單元1043。 第二脈沖生成單元1042與所述第二電源1041相連，由第二電源1041觸發(fā)生成TTL高電平脈沖；第二開關(guān)單元1043與所述第二脈沖生成單元1042相連，依據(jù)所述第二脈沖生成單元1042產(chǎn)生的TTL高電平在第二射頻開關(guān)104的第一輸出端NC2和第二輸出端N02之間進行切換。參見圖6為本實用新型實施例中第一射頻開關(guān)和第二射頻開關(guān)的電路圖。其中，所述脈沖生成單元通過分壓電阻Rl、R2與所述電源相連，由電源觸發(fā)，生成TTL(Transistor Transistor Logic,晶體管-晶體管邏輯)高電平脈沖；所述開關(guān)單元與所述脈沖生成單元相連，依據(jù)所述TTL高電平進行切換。當(dāng)電源供電時，脈沖生成單元TTL的電壓值為Vttl = U*( R2 )V
TTL Rl +R2取電源電壓U = 24V，分壓電阻R1、R2的電阻分別為22k Ω、5. 49 Ω，即可計算得出脈沖生成單元TTL此時的電壓值Vm = 4. 79V，該電壓值￥^> 2V，滿足TTL電平觸發(fā)值，生成TTL高電平,所述開關(guān)單元切換到NO (normal open,常開觸點)端；當(dāng)電源切斷,停止供電時，脈沖生成單元TTL的電壓值為0，脈沖生成單元TTL不再生成TTL高電平，所述開關(guān)單元回到NC(normal close,常閉觸點)端。本申請?zhí)峁┑牡谝簧漕l開關(guān)和第二射頻開關(guān)的通過對電源的是否供電控制TTL高電平的生成，進而控制射頻開關(guān)接通的觸點。實際實施中，電源電壓值、分壓電阻Rl、R2的阻值可為其它數(shù)值，只要保證TTL分得的電壓大于2V即可；可采用程序控制電源是否供電，迅速切換。實際實施中，為防止電源開始供電時產(chǎn)生的紋波影響脈沖質(zhì)量，為分壓電阻R2設(shè)置一個并聯(lián)電容。其中，所述第一射頻開關(guān)103的第一輸出端Cl與所述被測件的輸入端相連，所述第一射頻開關(guān)103的第一輸入端NCl與生成檢測信號的信號源101相連,所述第一射頻開關(guān)103的第二輸入端NOl與生成射頻信號的網(wǎng)絡(luò)分析儀102的射頻輸出端相連；所述第二射頻開關(guān)104的第一輸入端C2與所述被測件的輸出端相連，所述第二射頻開關(guān)104的第一輸出端NC2與依據(jù)被測件的輸出信號進行頻譜分析的頻譜分析儀相連，所述第二射頻開關(guān)104的第二輸出端N02與依據(jù)被測件的射頻輸出信號進行S參數(shù)分析的網(wǎng)絡(luò)分析儀102相連。對被測件進行頻譜分析時，需要射頻開關(guān)接通到NC端，所以，在進行頻譜分析時，電源不供電，脈沖生成單元不生成TTL高電平，所述射頻開關(guān)在NC端，即第一射頻開關(guān)103接通Cl和NCl，第二射頻開關(guān)104接通C2和NC2。對被測件進行S參數(shù)測試時，需要射頻開關(guān)接通到NO端，所以，在進行S參數(shù)測試時，對電源供電，脈沖生成單元生成TTL高電平，所述射頻開關(guān)切換到NO端，即第一射頻開關(guān)103接通Cl和NOl，第二射頻開關(guān)104接通C2和N02。參見圖7，示出了本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例I的對被測件進行頻譜分析時系統(tǒng)的連接示意圖。所述第一射頻開關(guān)103的第一輸入端NCl和第一輸出端Cl接通，所述第二射頻開關(guān)104的第一輸入端C2和第一輸出端NC2接通，則所述第一射頻開關(guān)103和所述第二射頻·開關(guān)104接通所述信號源101、被測件和頻譜分析儀105。信號源101生成檢測信號，通過第一射頻開關(guān)103輸出到被測件，檢測信號經(jīng)過被測件的處理，被測件輸出檢測輸出信號，經(jīng)過第二射頻開關(guān)104傳輸?shù)筋l譜分析儀105，頻譜分析儀105依據(jù)設(shè)定的頻譜分析規(guī)則對檢測輸出信號進行分析，得到被測件的頻譜特性。參見圖8，示出了本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例I的對被測件進行S參數(shù)測試時系統(tǒng)的連接示意圖。所述第一射頻開關(guān)103的第二輸入端NOl和第一輸出端Cl接通，所述第二射頻開關(guān)104的第一輸入端C2和第二輸出端N02接通，則所述第一射頻開關(guān)103和所述第二射頻開關(guān)104接通所述信號源101、被測件和頻譜分析儀105。網(wǎng)絡(luò)分析儀102生成射頻信號，由其射頻輸出端輸出，所述射頻信號通過第一射頻開關(guān)103輸出到被測件，射頻信號經(jīng)過被測件的處理，被測件輸出射頻輸出信號，經(jīng)過第二射頻開關(guān)104傳輸?shù)骄W(wǎng)絡(luò)分析儀102的測試端，網(wǎng)絡(luò)分析儀102依據(jù)設(shè)定的S參數(shù)分析規(guī)則對該射頻輸出信號進行分析，得到被測件的S參數(shù)。由上述可知，本實用新型實施例提供的一種射頻測試系統(tǒng)，通過第一射頻開關(guān)和第二射頻開關(guān)的配合，快速切換接通頻譜分析子系統(tǒng)或S參數(shù)測試子系統(tǒng)。參見圖9，示出了本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例2的結(jié)構(gòu)示意圖，與前述的實施例相同，本實施例提供的一種射頻測試系統(tǒng)包括信號源101、網(wǎng)絡(luò)分析儀102、第一射頻開關(guān)103、第二射頻開關(guān)104和頻譜分析儀105。其中，所述第一射頻開關(guān)103的第一輸出端Cl與所述被測件的輸入端相連，所述第一射頻開關(guān)103的第一輸入端NCl與生成檢測信號的信號源101相連,所述第一射頻開關(guān)103的第二輸入端NOl與生成射頻信號的網(wǎng)絡(luò)分析儀102的射頻輸出端相連；所述第二射頻開關(guān)104的第一輸入端C2與所述被測件的輸出端相連，所述第二射頻開關(guān)104的第一輸出端NC2與依據(jù)被測件的輸出信號進行頻譜分析的頻譜分析儀相連，所述第二射頻開關(guān)104的第二輸出端N02與依據(jù)被測件的射頻輸出信號進行S參數(shù)分析的網(wǎng)絡(luò)分析儀102相連。當(dāng)工作頻帶內(nèi)有兩個及以上信號輸入被測件時，由于被測件的非線性而在其輸出端口產(chǎn)生的與兩個或多個輸入信號有特定關(guān)系的產(chǎn)物為互調(diào)產(chǎn)物。被測件對這些互調(diào)產(chǎn)物的抑制能力就表現(xiàn)在輸出的信號互調(diào)衰減。對被測件進行頻譜分析，當(dāng)被測件有互調(diào)指標(biāo)要求時，就是測試被測件對互調(diào)產(chǎn)物的抑制能力，最簡單的就是信號源為兩個，分別輸入工作頻帶內(nèi)的頻率不同的信號。此時，所述第一射頻開關(guān)103的第一輸入端NCl和第一輸出端Cl接通，所述第二射頻開關(guān)104的第一輸入端C2和第一輸出端NC2接通，則所述第一射頻開關(guān)103和所述第二射頻開關(guān)104接通所述信號源101 、被測件和頻譜分析儀105。其中，所述信號源101包括第一信號發(fā)生器1011、第二信號發(fā)生器1012和合路器 1013。其中，第一信號發(fā)生器1011生成信號頻率為信道中心頻率的第一信號；第二信號發(fā)生器1012生成第二信號，且所述第二信號的頻率與所述第一信號的頻率之差為一設(shè)定值；輸入到被測件的信號在被測件中處理輸出有互調(diào)產(chǎn)物的信號，就需要兩信號的頻率在被測件工作頻帶內(nèi)有一定間隔第一信號的頻率為信道中心頻率，第二信號的頻率與第一信號頻率相差一設(shè)定值。實際應(yīng)用中，此設(shè)定值可以為幾百kHz。合路器1013分別與所述第一信號發(fā)生器1011、第二信號發(fā)生器1012和第一射頻開關(guān)103的第一輸入端NCl相連，對所述第一信號和第二信號進行組合得到檢測信號。對第一信號和第二信號進行組合成為一路檢測信號，但并未改變各個信號的頻率等特性。由上述可知，本實用新型實施例提供的一種射頻測試系統(tǒng)，在進行被測件的頻譜分析時，對被測件的互調(diào)指標(biāo)進行測試時，采用了兩個信號發(fā)生器發(fā)出頻率不同的第一信號和第二信號，將第一信號和第二信號進行合路組合之后得到的檢測信號發(fā)送至被測件，經(jīng)過被測件的處理后得到的互調(diào)產(chǎn)物信號在頻譜分析儀中進行分析，得到被測件的互調(diào)信
肩、O參見圖10，示出了本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例3的結(jié)構(gòu)示意圖，與前述的實施例I相同，本實施例提供的一種射頻測試系統(tǒng)包括信號源101、網(wǎng)絡(luò)分析儀102、第一射頻開關(guān)103、第二射頻開關(guān)104和頻譜分析儀105。其中，所述第一射頻開關(guān)103的第一輸出端Cl與所述被測件的輸入端相連，所述第一射頻開關(guān)103的第一輸入端NCl與生成檢測信號的信號源101相連,所述第一射頻開關(guān)103的第二輸入端NOl與生成射頻信號的網(wǎng)絡(luò)分析儀102的射頻輸出端相連；所述第二射頻開關(guān)104的第一輸入端C2與所述被測件的輸出端相連，所述第二射頻開關(guān)104的第一輸出端NC2與依據(jù)被測件的輸出信號進行頻譜分析的頻譜分析儀相連，所述第二射頻開關(guān)104的第二輸出端N02與依據(jù)被測件的射頻輸出信號進行S參數(shù)分析的網(wǎng)絡(luò)分析儀102相連。在本實施例中，還包括第三射頻開關(guān)106和功率放大器107。其中，第三射頻開關(guān)106的結(jié)構(gòu)示意圖如圖11所示，包括第三電源1061、第三脈沖生成單元1062和第三開關(guān)單元1063，第三開關(guān)單元1063為兩個并列的相同部件，同時由第三脈沖生成單元1062控制切換。本實用新型中的第三射頻開關(guān)的工作原理與上述第一射頻開關(guān)和第二射頻開關(guān)的原理一致，參見第一射頻開關(guān)和第二射頻開關(guān)的原理。第三射頻開關(guān)106由第三電源1061觸發(fā)第三脈沖生成單元1062產(chǎn)生TTL高電平脈沖，兩個分別與第三脈沖生成單元1062相連的第三開關(guān)單元1063依據(jù)TTL高電平在所述兩個第三開關(guān)單元1063各自的常閉觸點端NC和常開觸點端NO之間進行切換。其中，第三射頻開關(guān)106與所述第一射頻開關(guān)103的第一輸入端NCl相連，當(dāng)所述被測件的最小額定輸入信號功率大于信號源101或網(wǎng)絡(luò)分析儀102的最大輸出功率時，接通所述功率放大器107 ；功率放大器107與所述第三射頻開關(guān)106相連，對所述信號源101發(fā)出的檢測信號或網(wǎng)絡(luò)分析儀102發(fā)出的射頻信號進行放大處理。第三射頻開關(guān)106可視為兩個射頻開關(guān)組成的射頻開關(guān)組，N03端與N04端固定連接，功率放大器107的輸入端與第三射頻開關(guān)106的NC3端相連，輸出端與第三射頻開關(guān)106的NC4端相連，平時C3端與N03端相連，C4端與N04端相連，功率放大器107不接入測
試系統(tǒng)工作。當(dāng)被測件的最小額定輸入信號功率大于信號源101或是網(wǎng)絡(luò)分析儀102的最大輸出功率時，需要對所述信號源101發(fā)出的檢測信號或網(wǎng)絡(luò)分析儀102發(fā)出的射頻信號進行放大處理時，第三射頻開關(guān)106接通C3端和NC3端、C4端和NC4端，功率放大器107接入測試系統(tǒng)，對接收到的信號進行放大處理，再將放大后的信號發(fā)送到被測件。由于功率放大器工作時散熱情況，實際實施時，對功率放大器采用風(fēng)扇散熱，保證測試的安全穩(wěn)定，可控制風(fēng)扇與功率放大器同時開始工作。由上述可知，本實用新型實施例提供的一種射頻測試系統(tǒng)，當(dāng)信號源或網(wǎng)絡(luò)分析儀的信號最大輸出功率小于被測件的最小額定輸入信號功率時，功率放大器對信號源或網(wǎng)絡(luò)分析儀的信號進行放大處理，再將放大后的信號輸出到被測件。參見圖12，示出了本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例4的結(jié)構(gòu)示意圖，與前述的實施例2相同，本實施例提供的一種射頻測試系統(tǒng)包括信號源101、網(wǎng)絡(luò)分析儀102、第一射頻開關(guān)103、第二射頻開關(guān)104和頻譜分析儀105。其中，所述第一射頻開關(guān)103的第一輸出端Cl與所述被測件的輸入端相連，所述第一射頻開關(guān)103的第一輸入端NCl與生成檢測信號的信號源101相連,所述第一射頻開關(guān)103的第二輸入端NOl與生成射頻信號的網(wǎng)絡(luò)分析儀102的射頻輸出端相連；所述第二射頻開關(guān)104的第一輸入端C2與所述被測件的輸出端相連，所述第二射頻開關(guān)104的第一輸出端NC2與依據(jù)被測件的輸出信號進行頻譜分析的頻譜分析儀相連，所述第二射頻開關(guān)104的第二輸出端N02與依據(jù)被測件的射頻輸出信號進行S參數(shù)分析的網(wǎng)絡(luò)分析儀102相連。其中，所述信號源101包括第一信號發(fā)生器1011、第二信號發(fā)生器1012和合路器 1013。其中，第一信號發(fā)生器1011生成信號頻率為信道中心頻率的第一信號；第二信號發(fā)生器1012生成第二信號，且所述第二信號的頻率與所述第一信號的頻率之差為一設(shè)定值；輸入到被測件的信號在被測件中處理輸出有互調(diào)產(chǎn)物的信號，就需要兩信號的頻率在被測件工作頻帶內(nèi)有一定間隔第一信號的頻率為信道中心頻率，第二信號的頻率與第一信號頻率相差一設(shè)定值。實際應(yīng)用中，此設(shè)定值可以為幾百kHz。其中，合路器1013分別與所述第一信號發(fā)生器1011、第二信號發(fā)生器1012和第一射頻開關(guān)103的第一輸入端NCl相連，對所述第一信號和第二信號進行組合得到檢測信號，并將所述檢測信號輸入被測件。在本實施例中，還包括第一分解器108和第一功率計109。第一分解器108與所述第一射頻開關(guān)103的第一輸入端端NCl和信號源101相連，第一分解器108對所述信號源101發(fā)送的檢測信號分解得到測試信號和第一測量信號，并將所述測試信號輸出到被測件，將所述第一測量信號輸出到所述第一功率計109 ；第一功率計109與所述第一分解器108相連，依據(jù)所述第一測量信號對所述測試信號的大小進行測量。第一信號和第二信號合路組合得到檢測信號，將檢測信號輸入被測件進行處理。被測件的實際輸入信號大小為RFin = Power^(ATTNin-ATTN1) (dB)其中，ATTNin是信號源101與被測件輸入間的差損，ATTN1是信號源101與第一功率計109間的差損，這些值可通過校準(zhǔn)得到確切的值。Power1是第一功率計109的測量值。功率dB的定義是iffi = —= IOxlog10—
1010 P2Pl是第一信號發(fā)生器1011產(chǎn)生的第一信號的功率，P2是第二信號發(fā)生器1012產(chǎn)生的第二信號的功率。由上述可知，本實用新型實施例提供的一種射頻測試系統(tǒng)，信號源產(chǎn)生的兩路信號合成的檢測信號，由第一分解器分解得到測試信號和第一測量信號，第一功率計依據(jù)第一測量信號對輸入被測件的信號的大小進行測量，得到被測件實際輸入信號的大小就可對被測件的頻譜分析結(jié)果更加詳細。參見圖13，示出了本申請一種射頻測試系統(tǒng)實施例5的結(jié)構(gòu)示意圖，與前述的實施例I相同，本實施例提供的一種射頻測試系統(tǒng)包括信號源101、網(wǎng)絡(luò)分析儀102、第一射頻開關(guān)103、第二射頻開關(guān)104、頻譜分析儀105。其中，所述第一射頻開關(guān)103的第一輸出端Cl與所述被測件的輸入端相連，所述第一射頻開關(guān)103的第一輸入端NCl與生成檢測信號的信號源101相連,所述第一射頻開關(guān)103的第二輸入端NOl與生成射頻信號的網(wǎng)絡(luò)分析儀102的射頻輸出端相連；所述第二射頻開關(guān)104的第一輸入端C2與所述被測件的輸出端相連，所述第二射頻開關(guān)104的第一輸出端NC2與依據(jù)被測件的輸出信號進行頻譜分析的頻譜分析儀相連，所述第二射頻開關(guān)104的第二輸出端N02與依據(jù)被測件的射頻輸出信號進行S參數(shù)分析的網(wǎng)絡(luò)分析儀102相連。在本實施例中，還包括第二分解器110和第二功率計111。其中，所述第二分解器110分別與被測件和第二射頻開關(guān)104的第一輸入端C2相連，當(dāng)系統(tǒng)對被測件進行頻譜分析時，所述第二分解器110將被測件輸出的測試輸出信號分解得到檢測輸出信號和第二測量信號，當(dāng)系統(tǒng)對被測件進行S參數(shù)測試時，所述第二分解器110將被測件輸出的測試射頻輸出信號分解得到射頻輸出信號和第三測量信號；[0127]所述第二功率計111與所述第二分解器110相連，當(dāng)系統(tǒng)對被測件進行頻譜分析時，所述第二功率計111依據(jù)所述第二測量信號對測試輸出信號的大小進行測量，當(dāng)系統(tǒng)對被測件進行S參數(shù)測試時，所述第二功率計111依據(jù)所述第三測量信號對測試射頻輸出信號的大小進行測量。第二功率計111測量被測件輸出的測試輸出信號和測試射頻輸出信號的大小，被測件實際輸出的信號大小為RFout = Power2-ATTNoui其中，ATTNout是被測件輸出端到第二功率計之間的差損，可通過校準(zhǔn)得到確切的值。Power2是第二功率計109的測量值。在本實施例中，還可以包括功率衰減器112。所述功率衰減器112分別與所述被測件和第二分解器110相連，當(dāng)所述測試輸出 信號的功率大于頻譜分析儀105的最大輸入功率時，對所述測試輸出信號進行衰減處理，或是當(dāng)所述測試射頻輸出信號的功率大于網(wǎng)絡(luò)分析儀102的最大輸入功率時，對所述射頻輸出信號進行衰減處理。由于功率衰減器工作時散熱情況，實際實施時，可對功率衰減器采用風(fēng)扇散熱，保證測試的安全穩(wěn)定，可控制風(fēng)扇與功率衰減器同時開始工作。由上述可知，本實用新型實施例提供的一種射頻測試系統(tǒng)，在被測件的輸出端設(shè)置檢測裝置第二分解器和第二功率計，當(dāng)所述被測件輸出的信號高于后面對應(yīng)的分析部件時，對輸出的信號進行衰減處理，保護后面的分析部件網(wǎng)絡(luò)分析儀和頻譜分析儀。本申請實施例中，與第一射頻開關(guān)的NOl端相連的是網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻輸出端、與第二射頻開關(guān)的N02端連接的網(wǎng)絡(luò)分析儀的測試端，與第一射頻開關(guān)的NCl端相連的是信號源、與第二射頻開關(guān)的NC2端相連的是頻譜分析儀，不限定于此，實際實施時，也可采用網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻輸出端與第一射頻開關(guān)的NCl端相連、網(wǎng)絡(luò)分析儀的測試端與第二射頻開關(guān)的NC2端連接，信號源與第一射頻開關(guān)的NOl端相連、頻譜分析儀與第二射頻開關(guān)的N02端相連，只要保證在射頻開關(guān)同步切換時組成正確的S參數(shù)測試子系統(tǒng)或是射頻測試子系統(tǒng)即可。本說明書中各個實施例采用遞進的方式描述，每個實施例重點說明的都是與其它實施例的不同之處，各個實施例之間相同或相似部分互相參見即可。對所公開的實施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本申請。對這些實施例的多種修改對本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本申請的精神或范圍的情況下，在其它實施例中實現(xiàn)。因此，本申請將不會被限制于本文所示的這些實施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一致的最寬的范圍。
權(quán)利要求1.一種射頻測試系統(tǒng)，其特征在于，包括 第一射頻開關(guān)、第二射頻開關(guān)、信號源、網(wǎng)絡(luò)分析儀和頻譜分析儀； 所述第一射頻開關(guān)的第一輸出端與被測件的輸入端相連，所述第一射頻開關(guān)的第一輸入端與生成檢測信號的信號源相連，所述第一射頻開關(guān)的第二輸入端與生成射頻信號的網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻輸出端相連； 所述第二射頻開關(guān)的第一輸入端與被測件的輸出端相連，第一輸出端與依據(jù)被測件的輸出信號進行頻譜分析的頻譜分析儀相連，第二輸出端與依據(jù)被測件的射頻輸出信號進行S參數(shù)分析的網(wǎng)絡(luò)分析儀相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述信號源包括 生成信號頻率為信道中心頻率的第一信號的第一信號發(fā)生器； 生成第二信號，且所述第二信號的頻率與所述第一信號的頻率之差為一設(shè)定值的第二信號發(fā)生器； 分別與所述第一信號發(fā)生器、第二信號發(fā)生器和第一射頻開關(guān)的第一輸入端相連，對所述第一信號和第二信號進行組合得到檢測信號的合路器。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括 對所述信號源發(fā)出的檢測信號或網(wǎng)絡(luò)分析儀發(fā)出的射頻信號進行放大處理的功率放大器； 分別與所述信號源、功率放大器和第一射頻開關(guān)的第一輸入端相連，當(dāng)被測件的最小額定輸入信號功率大于信號源或網(wǎng)絡(luò)分析儀的最大輸出功率時，接通所述功率放大器的第三射頻開關(guān)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括 分別與所述第一射頻開關(guān)的第一輸入端和信號源相連，對所述信號源發(fā)送的檢測信號分解得到測試信號和第一測量信號，將所述測試信號輸出到被測件的第一分解器； 與所述第一分解器相連，依據(jù)所述第一測量信號對輸入被測件的信號的大小進行測量的第一功率計。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括 與第二射頻開關(guān)的第一輸入端相連，當(dāng)系統(tǒng)對被測件進行頻譜分析時，將被測件輸出的測試輸出信號分解得到檢測輸出信號和第二測量信號，以及當(dāng)系統(tǒng)對被測件進行S參數(shù)測試時，將被測件輸出的測試射頻輸出信號分解得到射頻輸出信號和第三測量信號的第二分解器； 與所述第二分解器相連，當(dāng)系統(tǒng)對被測件進行頻譜分析時，依據(jù)所述第二測量信號對測試輸出信號的大小進行測量，以及當(dāng)系統(tǒng)對被測件進行S參數(shù)測試時，依據(jù)所述第三測量信號對測試射頻輸出信號的大小進行測量的第二功率計。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括 分別與被測件和第二分解器相連，當(dāng)所述測試輸出信號的功率大于頻譜分析儀的最大輸入功率時，對所述測試輸出信號進行衰減處理，以及當(dāng)所述測試射頻輸出信號的功率大于網(wǎng)絡(luò)分析儀的最大輸入功率時，對所述射頻輸出信號進行衰減處理的功率衰減器。
7.根據(jù)權(quán)利要求I 6所述的系統(tǒng)，其特征在于，第一射頻開關(guān)包括 第一電源；與所述第一電源相連，由第一電源觸發(fā)，生成TTL高電平脈沖的第一脈沖生成單元；與所述第一脈沖生成單元相連，依據(jù)所述第一脈沖生成單元產(chǎn)生的TTL高電平在第一射頻開關(guān)的第一輸入端和第二輸入端之間進行切換的第一開關(guān)單元。
8.根據(jù)權(quán)利要求I 6所述的系統(tǒng)，其特征在于，第二射頻開關(guān)包括 第二電源； 與所述第二電源相連，由第二電源觸發(fā)，生成TTL高電平脈沖的第二脈沖生成單元；與所述第二脈沖生成單元相連，依據(jù)所述第二脈沖生成單元產(chǎn)生的TTL高電平在第二射頻開關(guān)的第一輸出端和第二輸出端之間進行切換的第二開關(guān)單元。
9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其特征在于，第三射頻開關(guān)包括 第二電源； 與所述第三電源相連，由第三電源觸發(fā)，生成TTL高電平脈沖的第三脈沖生成單元；兩個分別與所述第三脈沖生成單元相連，依據(jù)所述第三脈沖生成單元產(chǎn)生的TTL高電平在各自常閉觸點端和常開觸點端之間進行切換的第三開關(guān)單元。
專利摘要本申請?zhí)峁┝艘环N射頻測試系統(tǒng)，通過在被測件的輸入端設(shè)置的第一射頻開關(guān)，自由切換接入的網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻輸出端和信號源，在被測件的輸出端設(shè)置的第二射頻開關(guān)，自由切換接入的網(wǎng)絡(luò)分析儀的測試端和頻譜分析儀。當(dāng)接通信號源、被測件和頻譜分析儀組成的頻譜分析子系統(tǒng)時，進行被測件的頻譜分析；當(dāng)接通網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻輸出端、被測件和網(wǎng)絡(luò)分析儀的測試端組成的S參數(shù)測試子系統(tǒng)時，進行被測件S參數(shù)的測試。第一射頻開關(guān)和第二射頻開關(guān)是由電源控制TTL高電平的生成進而控制射頻開關(guān)的切換。本實用新型提供的一種射頻測試系統(tǒng)，通過第一射頻開關(guān)和第二射頻開關(guān)的配合，快速切換接通頻譜分析子系統(tǒng)或S參數(shù)測試子系統(tǒng)，提高射頻測試速率。
文檔編號H04B17/00GK202631635SQ20122016084
公開日2012年12月26日 申請日期2012年4月16日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月16日
發(fā)明者李擁軍, 王強利, 王廣路, 王亞軻 申請人:羅森伯格(上海)通信技術(shù)有限公司