麥克風(fēng)檢測(cè)方法
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種麥克風(fēng)檢測(cè)方法。于本發(fā)明方法中使用一待測(cè)麥克風(fēng)與一參考麥克風(fēng)分別接收來(lái)自一揚(yáng)聲器的聲波，而分別產(chǎn)生一第一特征點(diǎn)分布圖形與一第二特征點(diǎn)分布圖形。第一特征點(diǎn)分布圖形以及第二特征點(diǎn)分布圖形分別包含多個(gè)對(duì)應(yīng)一頻率量化數(shù)值的特征點(diǎn)。通過(guò)比較第一特征點(diǎn)分布圖形與第二特征點(diǎn)分布圖形于一特定頻率量化數(shù)值區(qū)間內(nèi)的特征點(diǎn)數(shù)量差異來(lái)判定待測(cè)麥克風(fēng)的品質(zhì)。本案的麥克風(fēng)檢測(cè)方法可以直接于一開(kāi)放式場(chǎng)所作檢測(cè)，于生產(chǎn)線上于制造完成后，毋須將產(chǎn)品再移至無(wú)響室，而是可立即于生產(chǎn)線一旁迅速作檢測(cè)，如此一來(lái)，大幅提高了整體效率。
【專利說(shuō)明】麥克風(fēng)檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明關(guān)于一種麥克風(fēng)檢測(cè)方法，且特別是關(guān)于一種在有背景噪音存在的情形下，仍能準(zhǔn)確判定麥克風(fēng)品質(zhì)的麥克風(fēng)檢測(cè)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著影音技術(shù)的快速演進(jìn)，目前市面上麥克風(fēng)的應(yīng)用范圍十分廣泛，舉凡像是攝錄影機(jī)、網(wǎng)絡(luò)攝影機(jī)以及耳機(jī)裝置等，通常一并連帶設(shè)置有麥克風(fēng)，以執(zhí)行收音的動(dòng)作。
[0003]為了維持麥克風(fēng)的產(chǎn)品品質(zhì)，在出貨前通常會(huì)對(duì)麥克風(fēng)作品質(zhì)管理，通常是通過(guò)檢測(cè)儀器對(duì)麥克風(fēng)執(zhí)行測(cè)量，以獲得檢測(cè)數(shù)據(jù)及檢測(cè)波形。其后，再將測(cè)量而得的檢測(cè)數(shù)據(jù)及檢測(cè)波形與預(yù)先儲(chǔ)存內(nèi)建于檢測(cè)儀器中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)及標(biāo)準(zhǔn)波形作比對(duì)。
[0004]然而，工廠為一開(kāi)放式場(chǎng)所，麥克風(fēng)為一收音設(shè)備，因此不論是工廠里的機(jī)器運(yùn)作或是吵雜人聲等背景噪音，皆難以避免地會(huì)一并被麥克風(fēng)所收錄進(jìn)去。如此一來(lái)，于工廠里對(duì)麥克風(fēng)所測(cè)出的測(cè)試數(shù)據(jù)及測(cè)試波形，將會(huì)是包括背景噪音的測(cè)試數(shù)據(jù)及測(cè)試波形，因此，若據(jù)此以與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)及標(biāo)準(zhǔn)波形作比對(duì)，并不合理，因?yàn)槠錅y(cè)試數(shù)據(jù)及測(cè)試波形并非單純反應(yīng)麥克風(fēng)本身品質(zhì)，而是還包括了背景噪音等噪聲。
[0005]進(jìn)一步而言，由于標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)及標(biāo)準(zhǔn)波形預(yù)先內(nèi)建于檢測(cè)儀器當(dāng)中，故當(dāng)然無(wú)法得知當(dāng)下背景噪音對(duì)測(cè)試麥克風(fēng)的干擾程度，如此一來(lái)，拿測(cè)試波形及標(biāo)準(zhǔn)波形來(lái)作比對(duì)并不合理，此并未正確的反映出麥克風(fēng)的收音品質(zhì)，因此無(wú)法確實(shí)分辨出良品與不良品的差別。
[0006]因此，若欲避免上述情形，廠商則必須額外建立一無(wú)響室，無(wú)響室為一獨(dú)立的隔音測(cè)試區(qū)域，并使麥克風(fēng)在無(wú)響室內(nèi)進(jìn)行收音，而后再與一標(biāo)準(zhǔn)波形作比較，以找出不良品質(zhì)的麥克風(fēng)。然而，此也必須額外耗費(fèi)人力及時(shí)間成本在麥克風(fēng)的運(yùn)送上，并不理想；此外，無(wú)響室的造價(jià)聞，必然使成本大幅提聞。
[0007]有鑒于此，提供一種麥克風(fēng)檢測(cè)方法，即便在有背景噪音的開(kāi)放式工廠里，也能準(zhǔn)確地檢測(cè)出不良的麥克風(fēng)，進(jìn)而提高檢測(cè)效率，乃為業(yè)界亟待解決的問(wèn)題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明的主要目的在于提供一種麥克風(fēng)檢測(cè)方法，其利用額外的一檢定品質(zhì)優(yōu)良的參考麥克風(fēng)以與待測(cè)麥克風(fēng)同時(shí)作收音，故兩麥克風(fēng)分別測(cè)出兩波形，而后執(zhí)行函數(shù)轉(zhuǎn)換而成兩特征點(diǎn)分布圖形，通過(guò)比較兩特征點(diǎn)分布圖形中，于特定頻率量化數(shù)值區(qū)間內(nèi)特征點(diǎn)的差值，以判定待測(cè)麥克風(fēng)是否為良品。
[0009]本發(fā)明的另一目的在于提供一種麥克風(fēng)檢測(cè)方法，包括下列步驟:(a)提供一待測(cè)麥克風(fēng)、一參考麥克風(fēng)以及一處理單元，該待測(cè)麥克風(fēng)以及該參考麥克風(fēng)分別信號(hào)連接于該處理單元；(b)提供一揚(yáng)聲器，使該待測(cè)麥克風(fēng)以及該參考麥克風(fēng)接收該揚(yáng)聲器所發(fā)出的一聲波；其中，該待測(cè)麥克風(fēng)接收該聲波而產(chǎn)生一第一數(shù)字信號(hào)至該處理單元，且該參考麥克風(fēng)接收該聲波而產(chǎn)生一第二數(shù)字信號(hào)至該處理單元，其中，該處理單元依據(jù)該第一數(shù)字信號(hào)產(chǎn)生一第一特征點(diǎn)分布圖形，以及依據(jù)該第二數(shù)字信號(hào)產(chǎn)生一第二特征點(diǎn)分布圖形，且該第一特征點(diǎn)分布圖形以及該第二特征點(diǎn)分布圖形分別包含多個(gè)特征點(diǎn)，且每一該特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)一頻率量化數(shù)值；以及(C)比較該第一特征點(diǎn)分布圖形與該第二特征點(diǎn)分布圖形于一特定頻率量化數(shù)值區(qū)間內(nèi)的特征點(diǎn)數(shù)量差異而判定該待測(cè)麥克風(fēng)的品質(zhì)；其中，當(dāng)該特征點(diǎn)數(shù)量差異小于一預(yù)定值時(shí)判定該待測(cè)麥克風(fēng)為一良品，而當(dāng)該特征點(diǎn)數(shù)量差異大于一預(yù)定值時(shí)判定該待測(cè)麥克風(fēng)為一不良品。
[0010]于一較佳實(shí)施例中，其中該處理單兀包括一芯片模塊以及一應(yīng)用程序模塊,于步驟(b)中包括下述步驟:(bl)使該芯片模塊接收該第一數(shù)字信號(hào)并傳送至該應(yīng)用程序模塊以產(chǎn)生一第一波形，并對(duì)該第一波形執(zhí)行函數(shù)轉(zhuǎn)換以產(chǎn)生該第一特征點(diǎn)分布圖形。
[0011]于一較佳實(shí)施例中，其中于步驟(bl)后還包括下述步驟:(b2)使該芯片模塊接收該第二數(shù)字信號(hào)并傳送至該應(yīng)用程序模塊以產(chǎn)生一第二波形，并對(duì)該第二波形執(zhí)行函數(shù)轉(zhuǎn)換以產(chǎn)生該第二特征點(diǎn)分布圖形。
[0012]于一較佳實(shí)施例中，該函數(shù)轉(zhuǎn)換為傅立葉轉(zhuǎn)換(Fourier Transform)或小波轉(zhuǎn)換(Wavelet Transform)。
[0013]于一較佳實(shí)施例中，該揚(yáng)聲器發(fā)射出的該聲波頻率為IkHz。
[0014]本案的麥克風(fēng)檢測(cè)方法可以直接于一開(kāi)放式場(chǎng)所作檢測(cè)，像是生產(chǎn)工廠，故于生產(chǎn)線上于制造完成后，毋須將產(chǎn)品再移至無(wú)響室，而是可立即于生產(chǎn)線一旁迅速作檢測(cè)，如此一來(lái)，大幅提聞了整體效率。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0015]圖1為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測(cè)方法的方塊示意圖。
[0016]圖2為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測(cè)方法的流程圖。
[0017]圖3為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測(cè)方法的待測(cè)麥克風(fēng)的第一波形座標(biāo)圖。
[0018]圖4為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測(cè)方法的第一特征點(diǎn)分布圖形。
[0019]圖5為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測(cè)方法的參考麥克風(fēng)的第二波形座標(biāo)圖。
[0020]圖6為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測(cè)方法的第二特征點(diǎn)分布圖形。
[0021]其中，附圖標(biāo)記說(shuō)明如下:
[0022]1:揚(yáng)聲器
[0023]21:待測(cè)麥克風(fēng)
[0024]210:第一數(shù)字信號(hào)
[0025]22:參考麥克風(fēng)
[0026]220:第二數(shù)字信號(hào)
[0027]3:處理單元
[0028]36:芯片模塊
[0029]37:應(yīng)用程序模塊
[0030]41:第一波形
[0031]42:第二波形
[0032]51:第一特征點(diǎn)分布圖形
[0033]52:第二特征點(diǎn)分布圖形[0034]SI ?S3:步驟
[0035]P:第一特征點(diǎn)分布圖形上的特征點(diǎn)
[0036]Pl?P12:第一特征點(diǎn)分布圖形頻率量化數(shù)值位于0.4?0.6的特征點(diǎn)
[0037]P’:第二特征點(diǎn)分布圖形上的特征點(diǎn)
[0038]P’ 1:第二特征點(diǎn)分布圖形頻率量化數(shù)值位于0.4?0.6的特征點(diǎn)【具體實(shí)施方式】
[0039]需先說(shuō)明者，本發(fā)明所揭露的麥克風(fēng)檢測(cè)方法，不再如傳統(tǒng)受環(huán)境局限像是必須于封閉式的無(wú)響室環(huán)境進(jìn)行，換句話說(shuō)，本發(fā)明所揭露的麥克風(fēng)檢測(cè)方法可以于呈現(xiàn)有背景噪音的一般開(kāi)放式環(huán)境下(比如:于執(zhí)行生產(chǎn)制造的廠房中)，進(jìn)行麥克風(fēng)的品質(zhì)檢測(cè)。
[0040]請(qǐng)參閱圖1，其為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測(cè)方法的方塊示意圖；圖2為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測(cè)方法的流程圖。請(qǐng)合并參閱圖1及圖2。于步驟SI中，首先，提供一待測(cè)麥克風(fēng)21、一參考麥克風(fēng)22以及一處理單元3。待測(cè)麥克風(fēng)21以及參考麥克風(fēng)22分別信號(hào)連接于處理單元3。其中，待測(cè)麥克風(fēng)21為品質(zhì)待檢測(cè)的新麥克風(fēng)成品，舉例而言，比如于生產(chǎn)線上剛完成制作的麥克風(fēng)，至于參考麥克風(fēng)22則是原已經(jīng)過(guò)檢定品質(zhì)優(yōu)良的麥克風(fēng)。本案使待測(cè)麥克風(fēng)21與參考麥克風(fēng)22于同一環(huán)境同一時(shí)間執(zhí)行收音動(dòng)作,而后針對(duì)此兩者的收音內(nèi)容作比較，以判別待測(cè)麥克風(fēng)21是否能達(dá)到與參考麥克風(fēng)22有一樣的收音水準(zhǔn)。
[0041]接著，于步驟S2中提供一揚(yáng)聲器I并使揚(yáng)聲器I朝待測(cè)麥克風(fēng)21以及參考麥克風(fēng)22發(fā)出一聲波，以使待測(cè)麥克風(fēng)21以及參考麥克風(fēng)22接收該聲波。于一實(shí)施例中，該聲波為固定頻率的聲波，比如Ik頻率的聲波，但并不限于此頻率。
[0042]圖3為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測(cè)方法的待測(cè)麥克風(fēng)的第一波形座標(biāo)圖；圖4為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測(cè)方法的第一特征點(diǎn)分布圖形。請(qǐng)合并參閱圖1至圖4。其中，待測(cè)麥克風(fēng)21通過(guò)接收該聲波而產(chǎn)生一第一數(shù)字信號(hào)210至處理單元3，且處理單元3依據(jù)第一數(shù)字信號(hào)210產(chǎn)生一第一特征點(diǎn)分布圖形51。相似地，請(qǐng)參閱圖5以及圖6，圖5為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測(cè)方法的參考麥克風(fēng)的第二波形座標(biāo)圖；圖6為本發(fā)明的麥克風(fēng)檢測(cè)方法的第二特征點(diǎn)分布圖形。其中，參考麥克風(fēng)22接收聲波而產(chǎn)生一第二數(shù)字信號(hào)220至該處理單元3，且處理單元3依據(jù)第二數(shù)字信號(hào)220產(chǎn)生一第二特征點(diǎn)分布圖形52。
[0043]接者，對(duì)本案的第一特征點(diǎn)分布圖形51以及第二特征點(diǎn)分布圖形52的形成方式作詳細(xì)介紹。請(qǐng)合并參閱圖1至圖6，詳細(xì)而言，處理單元3包括一芯片模塊36以及一應(yīng)用程序模塊37。芯片模塊36接收該第一數(shù)字信號(hào)210并傳送至該應(yīng)用程序模塊37以產(chǎn)生一第一波形41，如圖3所示，第一波形41的橫軸代表時(shí)間，而縱軸代表頻率。其后，對(duì)該第一波形41執(zhí)行函數(shù)轉(zhuǎn)換，以產(chǎn)生可供作辨識(shí)與比較的多個(gè)特征點(diǎn)P，即產(chǎn)生如圖4的第一特征點(diǎn)分布圖形51，其橫軸代表每一特征點(diǎn)，而縱軸代表頻率量化數(shù)值；換句話說(shuō)，第一特征點(diǎn)分布圖形51上的每一特征點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)于一頻率量化數(shù)值。相似地，芯片模塊36接收第二數(shù)字信號(hào)220并傳送至應(yīng)用程序模塊37以產(chǎn)生一第二波形42，如圖5所示，第二波形42的橫軸代表時(shí)間，而縱軸代表頻率；其后，對(duì)該第二波形42執(zhí)行函數(shù)轉(zhuǎn)換，以產(chǎn)生可供作辨識(shí)與比較的多個(gè)特征點(diǎn)P’，即產(chǎn)生如圖6的第二特征點(diǎn)分布圖形52，其橫軸代表每一特征點(diǎn)，而縱軸代表頻率量化數(shù)值；也即，第二特征點(diǎn)分布圖形52上的每一特征點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)于一頻率量化數(shù)值。[0044]于此需先說(shuō)明者為，函數(shù)轉(zhuǎn)換的方式可以為傅立葉轉(zhuǎn)換(Fourier Transform)、小波轉(zhuǎn)換(Wavelet Transform)或其它能夠?qū)Ⅺ溈孙L(fēng)所得到的波形的一時(shí)間域轉(zhuǎn)換為頻率域的函數(shù)轉(zhuǎn)換，諸如此類設(shè)計(jì)，皆屬本案可能的應(yīng)用的范疇內(nèi)。
[0045]隨后，執(zhí)行步驟S3。于步驟S3中，比較第一特征點(diǎn)分布圖形51與第二特征點(diǎn)分布圖形52于一特定頻率量化數(shù)值區(qū)間內(nèi)的特征點(diǎn)數(shù)量差異。其中，當(dāng)兩者之間的特征點(diǎn)數(shù)量差異小于一預(yù)定值時(shí)，則判定待測(cè)麥克風(fēng)21為一良品，而當(dāng)兩者之間的特征點(diǎn)數(shù)量差異大于一預(yù)定值時(shí)，則判定待測(cè)麥克風(fēng)21為一不良品。
[0046]舉例而言，請(qǐng)合并參閱圖4及圖6，圖4所繪示的第一特征點(diǎn)分布圖形51上包含有五十個(gè)特征點(diǎn)P，而該五十個(gè)特征點(diǎn)P各自有對(duì)應(yīng)于縱軸上的頻率量化數(shù)值。請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D6，第二特征點(diǎn)分布圖形52上也包含有五十個(gè)特征點(diǎn)P’，而該五十個(gè)特征點(diǎn)P’也各自有對(duì)應(yīng)于縱軸上的頻率量化數(shù)值。接者，檢測(cè)者可指定兩特征點(diǎn)分布圖形中的任一特定頻率量化數(shù)值區(qū)間為判別區(qū)間，再進(jìn)一步計(jì)算于此判別區(qū)間內(nèi)，第一特征點(diǎn)分布圖形51的特征點(diǎn)數(shù)量與第二特征點(diǎn)分布圖形52的特征點(diǎn)數(shù)量的差異。舉例而言，若檢測(cè)者指定的特定頻率量化數(shù)值區(qū)間為0.4?0.6之間，且指定特征點(diǎn)數(shù)量的差值為小于或等于7則為良品，特征點(diǎn)數(shù)量的差值為大于7則為不良品，則如圖4及圖6所示，于第一特征點(diǎn)分布圖形51上處于頻率量化數(shù)值區(qū)間為0.4?0.6之間的特征點(diǎn)P有十二個(gè)，其分別被標(biāo)示為Pl?P12，第二特征點(diǎn)分布圖形52上處于頻率量化數(shù)值區(qū)間為0.4?0.6之間的特征點(diǎn)有一個(gè)，其被標(biāo)示為P’l，兩者的數(shù)量差值為11，差值大于7，故于此例舉中我們判定該待測(cè)麥克風(fēng)21為不良品。當(dāng)然，上述的特定頻率量化數(shù)值區(qū)間以及特征點(diǎn)數(shù)量的差值可做變換，于此僅為方便說(shuō)明的一例舉，并不作限制。
[0047]綜上所述，本發(fā)明所揭露的麥克風(fēng)檢測(cè)方法，利用另外的一參考麥克風(fēng)以與待測(cè)麥克風(fēng)同時(shí)作收音，通過(guò)對(duì)兩者測(cè)得內(nèi)容作相對(duì)應(yīng)比較，使得檢測(cè)結(jié)果將不會(huì)受到機(jī)器運(yùn)作或是吵雜人聲等背景噪音的干擾而有誤差。故本案的麥克風(fēng)檢測(cè)方法可以直接于一開(kāi)放式場(chǎng)所作檢測(cè)，像是生產(chǎn)工廠，故于生產(chǎn)線上于制造完成后，毋須將產(chǎn)品再移至無(wú)響室，而是可立即于生產(chǎn)線一旁迅速作檢測(cè)，如此一來(lái)，大幅提高了整體效率。
[0048]惟以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，非意欲局限本發(fā)明的專利保護(hù)范圍，故舉凡運(yùn)用本發(fā)明說(shuō)明書(shū)及圖式內(nèi)容所為的等效變化，均同理皆包括于本發(fā)明的權(quán)利保護(hù)范圍內(nèi)，合予陳明。
【權(quán)利要求】
1.一種麥克風(fēng)檢測(cè)方法，包括下列步驟: (a)提供一待測(cè)麥克風(fēng)、一參考麥克風(fēng)以及一處理單元，該待測(cè)麥克風(fēng)以及該參考麥克風(fēng)分別信號(hào)連接于該處理單元； (b)提供一揚(yáng)聲器，使該待測(cè)麥克風(fēng)以及該參考麥克風(fēng)接收該揚(yáng)聲器所發(fā)出的一聲波；其中，該待測(cè)麥克風(fēng)接收該聲波而產(chǎn)生一第一數(shù)字信號(hào)至該處理單元，且該參考麥克風(fēng)接收該聲波而產(chǎn)生一第二數(shù)字信號(hào)至該處理單元，其中，該處理單元依據(jù)該第一數(shù)字信號(hào)產(chǎn)生一第一特征點(diǎn)分布圖形，以及依據(jù)該第二數(shù)字信號(hào)產(chǎn)生一第二特征點(diǎn)分布圖形，且該第一特征點(diǎn)分布圖形以及該第二特征點(diǎn)分布圖形分別包含多個(gè)特征點(diǎn)，且每一該特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)一頻率量化數(shù)值；以及 (C)比較該第一特征點(diǎn)分布圖形與該第二特征點(diǎn)分布圖形于一特定頻率量化數(shù)值區(qū)間內(nèi)的特征點(diǎn)數(shù)量差異而判定該待測(cè)麥克風(fēng)的品質(zhì)；其中，當(dāng)該特征點(diǎn)數(shù)量差異小于一預(yù)定值時(shí)判定該待測(cè)麥克風(fēng)為一良品，而當(dāng)該特征點(diǎn)數(shù)量差異大于一預(yù)定值時(shí)判定該待測(cè)麥克風(fēng)為一不良品。
2.如權(quán)利要求1所述的麥克風(fēng)檢測(cè)方法，其中該處理單元包括一芯片模塊以及一應(yīng)用程序模塊，于步驟(b)中包括下述步驟: (bl)使該芯片模塊接收該第一數(shù)字信號(hào)并傳送至該應(yīng)用程序模塊以產(chǎn)生一第一波形，并對(duì)該第一波形執(zhí)行函數(shù)轉(zhuǎn)換以產(chǎn)生該第一特征點(diǎn)分布圖形。
3.如權(quán)利要求2所述的麥克風(fēng)檢測(cè)方法，其中于步驟(bl)后還包括下述步驟: (b2)使該芯片模塊接收該第二數(shù)字信號(hào)并傳送至該應(yīng)用程序模塊以產(chǎn)生一第二波形，并對(duì)該第二波形執(zhí)行函數(shù)轉(zhuǎn)換以產(chǎn)生該第二特征點(diǎn)分布圖形。
4.如權(quán)利要求3所述的麥克風(fēng)檢測(cè)方法，其中該函數(shù)轉(zhuǎn)換為傅立葉轉(zhuǎn)換或小波轉(zhuǎn)換。
5.如權(quán)利要求1所述的麥克風(fēng)檢測(cè)方法，其中該揚(yáng)聲器發(fā)射出的該聲波頻率為1kHz。
【文檔編號(hào)】H04R29/00GK103581819SQ201210275196
【公開(kāi)日】2014年2月12日 申請(qǐng)日期:2012年8月3日 優(yōu)先權(quán)日:2012年8月3日
【發(fā)明者】呂思豪, 余建男 申請(qǐng)人:致伸科技股份有限公司