專利名稱:一種機(jī)頂盒面板的檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
一種機(jī)頂盒面板的檢測(cè)裝置
技術(shù)領(lǐng)域:
本實(shí)用新型涉及一種機(jī)頂盒零配件的檢測(cè)裝置,特別涉及一種機(jī)頂盒面板的檢測(cè)
裝置O
背景技術(shù):
顯示面板是數(shù)字電視機(jī)頂盒信息和狀態(tài)的主要顯示部件。由于生產(chǎn)批次及工藝的 問題,顯示面板的發(fā)光管容易出現(xiàn)壞點(diǎn)現(xiàn)象,然而在生產(chǎn)的過程中由于缺少對(duì)顯示面板的 檢測(cè)環(huán)節(jié),因此很難發(fā)現(xiàn)個(gè)別的壞點(diǎn),從而照成次品率上升的結(jié)果。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題,在于提供一種機(jī)頂盒面板的檢測(cè)裝置,用于在生 產(chǎn)過程中對(duì)機(jī)頂盒面板進(jìn)行檢測(cè),剔除出個(gè)別有問題的面板,保證產(chǎn)品的正品率。本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是這樣實(shí)現(xiàn)的一種機(jī)頂盒面板的檢測(cè)裝置,其包 括機(jī)頂盒的主芯片、閃存、隨機(jī)存儲(chǔ)器,以及一檢測(cè)接口,所述檢測(cè)接口、閃存以及隨機(jī)存儲(chǔ) 器均連接至所述主芯片。所述檢測(cè)接口具有一個(gè)移位寄存器及八條測(cè)試掃描線;所述移位寄存器包括一時(shí) 鐘位、一數(shù)據(jù)位以及8個(gè)接線腳;所述八條測(cè)試掃描線分別連接所述移位寄存器的8個(gè)接線 腳及待測(cè)面板顯示模塊的四位LED數(shù)碼管的八段復(fù)用接口。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于該檢測(cè)裝置可用于在生產(chǎn)過程中對(duì)機(jī)頂盒面板進(jìn)行檢 測(cè),剔除出個(gè)別有問題的面板,以保證產(chǎn)品的正品率。
下面參照附圖結(jié)合實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說明。圖1是本實(shí)用新型檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本實(shí)用新型檢測(cè)裝置中的檢測(cè)接口的原理圖。
具體實(shí)施方式請(qǐng)參閱圖1所示,本實(shí)用新型檢測(cè)裝置1包括機(jī)頂盒的主芯片11、隨機(jī)存儲(chǔ)器12、 閃存13,以及一檢測(cè)接口 14,所述檢測(cè)接口 14、閃存13以及隨機(jī)存儲(chǔ)器12均連接至所述主 芯片11。所述閃存13用于檢測(cè)裝置1程序的運(yùn)行;所述隨機(jī)存儲(chǔ)器12用于檢測(cè)裝置1程 序運(yùn)行過程中的存儲(chǔ);所述主芯片11、隨機(jī)存儲(chǔ)器12、閃存13共同組成一控制部件,用于控 制所述檢測(cè)接口 14的運(yùn)作。再參閱圖2所示,所述檢測(cè)接口 14具有一個(gè)移位寄存器141及八條測(cè)試掃描線 142,該八條測(cè)試掃描線142分別為RF17 RF24,其分別連接在所述移位寄存器141的8個(gè) 接線腳Q0 Q7,所述移位寄存器141還具有一時(shí)鐘位DATA和數(shù)據(jù)位CLOCK。請(qǐng)結(jié)合圖1和圖2所示,檢測(cè)時(shí),將待測(cè)面板顯示模塊2連接于所述檢測(cè)裝置1的檢測(cè)接口,所述八條測(cè)試掃描線RF17 RF24分別再與待測(cè)面板顯示模塊2的四位LED數(shù) 碼管(未圖示)的八段復(fù)用接口 SG_A SG_DP相連接;檢測(cè)時(shí)是給予所述移位寄存器141 的時(shí)鐘位CLOCK —個(gè)輸入脈沖,使得數(shù)據(jù)位DATA輸出,由所述主芯片11來控制該移位寄存 器141,將所述四位LED數(shù)碼管的每位所表示的Sbit數(shù)據(jù)通過掃描線送到相應(yīng)的顯示數(shù)碼 管位,通過所述四位LED數(shù)碼管上的LED的亮、滅兩個(gè)狀態(tài)來判斷面板的檢測(cè)結(jié)果。操作時(shí),可先將機(jī)頂盒開機(jī),控制軟件程序進(jìn)入檢測(cè)運(yùn)行模式;把需要檢測(cè)的待測(cè) 面板顯示模塊接入檢測(cè)接口中;控制相應(yīng)的程序開始檢測(cè)流程;由面板顯示模塊做為輸出 通道,通過面板的受控顯示判斷檢測(cè)結(jié)果,并作相應(yīng)的處理。當(dāng)一面板顯示模塊檢測(cè)完畢 時(shí),只需將其更換為下一待測(cè)面板顯示模塊即可進(jìn)行下一次檢測(cè)。由于使用機(jī)頂盒主芯片 組成控制部件,所以該檢測(cè)步驟可以無縫嵌入生產(chǎn)過程中,只需要在每一臺(tái)機(jī)頂盒程序中 移植該檢測(cè)程序即可。其中,檢測(cè)流程具體包括如下步驟步驟10、打開所述四位LED數(shù)碼管的位選控制,使得相應(yīng)的顯示數(shù)碼管位使能接 受輸入;步驟20、選出Sbit數(shù)據(jù)的最高位做為單次移位數(shù)據(jù)的輸入,輸入所述檢測(cè)接口的 移位寄存器141的數(shù)據(jù)位DATA ;步驟30、給予所述移位寄存器141的時(shí)鐘位CLOCK —個(gè)輸入脈沖,使得所述移位寄 存器141的數(shù)據(jù)位DATA輸出;步驟40、使所述四位LED數(shù)碼管的每位所表示的Sbit數(shù)據(jù)向高位進(jìn)行一次移位操 作;步驟50、將步驟20至步驟40循環(huán)8次,直至所表示的Sbit數(shù)據(jù)全部輸出完畢,然 后通過所述四位LED數(shù)碼管上LED的亮、滅兩個(gè)狀態(tài)來判斷待測(cè)面板顯示模塊2的測(cè)試結(jié) 果;步驟60、關(guān)閉所述四位LED數(shù)碼管的位選控制,使得相應(yīng)的顯示數(shù)碼管位停止接 受輸入,檢測(cè)結(jié)束。綜上所述,本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于本發(fā)明方法可用于在生產(chǎn)過程中對(duì)機(jī)頂盒面板進(jìn) 行檢測(cè),剔除出個(gè)別有問題的面板,保證產(chǎn)品的正品率,而且操作效率高。
權(quán)利要求一種機(jī)頂盒面板的檢測(cè)裝置,其特征在于包括機(jī)頂盒的主芯片、閃存、隨機(jī)存儲(chǔ)器,以及一檢測(cè)接口,所述檢測(cè)接口、閃存以及隨機(jī)存儲(chǔ)器均連接至所述主芯片。
2.如權(quán)利要求1所述的一種機(jī)頂盒面板的檢測(cè)裝置,其特征在于所述檢測(cè)接口具有 一個(gè)移位寄存器及八條測(cè)試掃描線;所述移位寄存器包括一時(shí)鐘位、一數(shù)據(jù)位以及8個(gè)接 線腳;所述八條測(cè)試掃描線分別連接所述移位寄存器的8個(gè)接線腳及待測(cè)面板顯示模塊的 四位LED數(shù)碼管的八段復(fù)用接口。
專利摘要本實(shí)用新型提供了一種機(jī)頂盒面板的檢測(cè)裝置,其包括機(jī)頂盒的主芯片、閃存、隨機(jī)存儲(chǔ)器,以及一檢測(cè)接口,所述檢測(cè)接口、閃存以及隨機(jī)存儲(chǔ)器均連接至所述主芯片。通過本實(shí)用新型裝置即可檢測(cè)出不合格的機(jī)頂盒面板,以保證產(chǎn)品的正品率。
文檔編號(hào)H04N17/00GK201623820SQ201020157990
公開日2010年11月3日 申請(qǐng)日期2010年4月12日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月12日
發(fā)明者郭鑫俊 申請(qǐng)人:福建新大陸通信科技股份有限公司