一種壓縮數(shù)據(jù)的解壓方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種對(duì)系統(tǒng)芯片的外建自測(cè)試方法中測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮后的還原方法，尤 其涉及的是一種壓縮數(shù)據(jù)的解壓方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著集成電路規(guī)模增大，龐大的測(cè)試數(shù)據(jù)量已成為影響集成電路測(cè)試的主要問題 之一。ITRS報(bào)告顯示，2019年，測(cè)試一個(gè)芯片需要20370個(gè)測(cè)試模式數(shù)，是2009年需要測(cè) 試85個(gè)測(cè)試模式數(shù)的240倍；2019年，需要達(dá)到12000的壓縮比才能滿足測(cè)試的需要，是 2009年需要達(dá)到80壓縮比的150倍。
[0003] 關(guān)于測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮技術(shù)的研宄主要集中在三個(gè)方面：測(cè)試集緊縮（TestSet Compaction)、內(nèi)建自測(cè)試（Built-inSelf-Test,BIST)和靜態(tài)編碼壓縮。（1)測(cè)試集緊 縮。該技術(shù)是指在保證故障覆蓋率基本不變的情況下，通過緊縮部分帶有無關(guān)位Oon't carebits)的測(cè)試立方體（TestTubes)，減少測(cè)試向量個(gè)數(shù)，從而使測(cè)試集達(dá)到最小。其 優(yōu)點(diǎn)是不需要增加額外的硬件開銷，但是由于測(cè)試集緊縮技術(shù)減少了測(cè)試向量的個(gè)數(shù)，對(duì) 非模型故障的覆蓋率有一定的影響。另外，通過測(cè)試集緊縮后的測(cè)試數(shù)據(jù)量仍然十分龐大， 并不能直接存儲(chǔ)在ATE的存儲(chǔ)器里，還需要進(jìn)一步壓縮。（2)內(nèi)建自測(cè)試。該技術(shù)在被測(cè)電 路中建立測(cè)試生成、分析和測(cè)試控制結(jié)構(gòu)，使電路能夠?qū)崿F(xiàn)自測(cè)試。BIST的優(yōu)點(diǎn)是可以不 依賴于昂貴的ATE設(shè)備，使得測(cè)試成本大大降低，并且支持測(cè)試重用和快速測(cè)試。該技術(shù)的 缺點(diǎn)是生成偽隨機(jī)測(cè)試序列時(shí)需要消耗大量的時(shí)間，延長(zhǎng)了整個(gè)測(cè)試時(shí)間；另外，目前很多 電路并不支持BIST，這也影響了BIST的應(yīng)用。（3)靜態(tài)編碼壓縮。該技術(shù)就是將測(cè)試集Td 編碼成一個(gè)較小的測(cè)試集Te存儲(chǔ)在自動(dòng)測(cè)試設(shè)備ATE的存儲(chǔ)器中，測(cè)試時(shí)，由測(cè)試頭將編 碼后的測(cè)試集TE送到芯片的解碼電路上進(jìn)行解碼還原成原測(cè)試集TD。由于靜態(tài)編碼壓縮技 術(shù)是一種無損編碼技術(shù)，經(jīng)編碼還原后的測(cè)試集跟原測(cè)試集相同，所以不會(huì)影響被測(cè)電路 的故障覆蓋率。此外，該技術(shù)還不需要了解被測(cè)電路的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，可以很好地保護(hù)IP核的 知識(shí)產(chǎn)權(quán)。因此，該技術(shù)在集成電路測(cè)試領(lǐng)域中得到了廣泛應(yīng)用。當(dāng)前比較成熟的編碼有 很多，Golomb編碼、FDR碼、VIHC碼、交替連續(xù)碼、Variable-Tail碼、混合游程碼、SVIC碼、 變游程碼、EFDR、MFVLC、MFVRCVB、相對(duì)游程長(zhǎng)度碼和共游程碼等。
[0004] 中國發(fā)明專利201210414485.X提出一種快速查找無理數(shù)的測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法， 公開了一種動(dòng)態(tài)編碼壓縮技術(shù)，并不直接用代碼字來存儲(chǔ)游程長(zhǎng)度，而是將游程長(zhǎng)度出現(xiàn)
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種壓縮數(shù)據(jù)的解壓方法，其特征在于，包括以下步驟： (1) 將原始測(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)變換成對(duì)一個(gè)或若干個(gè)對(duì)應(yīng)的無理數(shù)的離線存儲(chǔ)； (2) 估算出所述無理數(shù)對(duì)應(yīng)的單精度或雙精度小數(shù)，所述無理數(shù)對(duì)應(yīng)小數(shù)的位數(shù)不含 整數(shù)部分為k位，對(duì)應(yīng)的小數(shù)為by …bk，其中、…、bk為對(duì)應(yīng)的游程長(zhǎng)度，將整 數(shù)部分和前k位小數(shù)部分對(duì)應(yīng)游程長(zhǎng)度轉(zhuǎn)換成測(cè)試向量后依次由ATE通道輸入被測(cè)芯片；
(3) 根據(jù) t為所述無理數(shù)的平方，bk+1為對(duì)應(yīng)游程長(zhǎng)度， t 由bk計(jì)算出bk+1，將k+1位所代表的游程轉(zhuǎn)換成測(cè)試向量后由ATE通道輸入被測(cè)芯片； (4) 重復(fù)步驟（3) -直到k達(dá)到預(yù)先計(jì)算的原始測(cè)試數(shù)據(jù)長(zhǎng)度對(duì)應(yīng)的游程數(shù)量； (5) 將測(cè)試結(jié)果與理論值比較，如果結(jié)果一致，則被測(cè)芯片通過測(cè)試；如果不一致，則 被測(cè)芯片不通過測(cè)試。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種壓縮數(shù)據(jù)的解壓方法，其特征在于，所述k為大于1的自 然數(shù)。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種壓縮數(shù)據(jù)的解壓方法，將整個(gè)原始測(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)變換成無理數(shù)的存儲(chǔ)；測(cè)試時(shí)，首先由與自動(dòng)測(cè)試設(shè)備相連的普通計(jì)算機(jī)估算出無理數(shù)對(duì)應(yīng)的單精度或雙精度小數(shù)，將整數(shù)部分和前k位小數(shù)部分對(duì)應(yīng)游程長(zhǎng)度轉(zhuǎn)換成測(cè)試向量后依次由ATE通道輸入被測(cè)芯片；根據(jù)將k+1位所代表的游程轉(zhuǎn)換成測(cè)試向量后由ATE通道輸入被測(cè)芯片；一直到k達(dá)到預(yù)先計(jì)算的原始測(cè)試數(shù)據(jù)長(zhǎng)度對(duì)應(yīng)的游程數(shù)量；將測(cè)試結(jié)果與理論值比較，如果結(jié)果一致，則被測(cè)芯片通過測(cè)試；如果不一致，則被測(cè)芯片不通過測(cè)試。利用平方和公式將開方運(yùn)算轉(zhuǎn)換成傳統(tǒng)意義的加減乘除等簡(jiǎn)單運(yùn)算，將復(fù)雜運(yùn)算簡(jiǎn)單化，可以完成大數(shù)據(jù)的開2次方的向小數(shù)的轉(zhuǎn)化，實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)編碼壓縮技術(shù)的還原。
【IPC分類】H03M7-30
【公開號(hào)】CN104579359
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510038623
【發(fā)明人】詹文法
【申請(qǐng)人】安慶師范學(xué)院
【公開日】2015年4月29日
【申請(qǐng)日】2015年1月26日