專利名稱：數字溫控式高溫穩(wěn)恒溫晶體振蕩器的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及晶體振蕩器技術，特別是涉及一種數字溫控式高溫穩(wěn)恒溫晶體振蕩器的技術。
背景技術：
恒溫晶體振蕩器廣泛應用于通信、軍工、同步設備等領域。恒溫晶體振蕩器中的雙恒溫槽晶體振蕩器區(qū)別于普通的單恒溫晶振振蕩器，在于它將關鍵元器件置于雙恒溫槽工作環(huán)境中，運用雙恒溫槽保溫，使得內部溫度隨外界溫度變化發(fā)生極微小的變化，以達到輸出頻率穩(wěn)定的目的，因此雙恒溫槽晶體振蕩器又稱之為高溫穩(wěn)恒溫晶體振蕩器。雙恒溫槽晶體振蕩器都有內外共兩個恒溫槽,其中的外恒溫槽內設有外槽溫控電 路，內恒溫槽安裝在外恒溫槽內，在內恒溫槽內裝有內槽溫控電路和晶體振蕩電路；內、夕卜槽溫控電路中均設有溫度傳感器及加熱模塊，并設有用于調整其溫控值的控溫電阻，用于檢測槽內環(huán)境溫度，并適時對槽內環(huán)境加熱升溫，使槽內環(huán)境能保持恒溫。傳統(tǒng)的雙恒溫槽晶體振蕩器在量產時，需要先在內、外恒溫槽槽蓋打開狀態(tài)下調試溫度特性，并根據調試結果確定內、外槽溫控電路的控溫電阻阻值，然后再將內外槽封蓋。但是，傳統(tǒng)的雙恒溫槽晶體振蕩器在的內外槽蓋在封蓋前后往往會帶來溫度梯度差，從而帶來了調試結果的偏差，使得輸出頻率也會發(fā)生相應的偏差，因此往往需要拆蓋再度修正控溫電阻阻值，給產品的量產帶來了麻煩，而且控溫電阻阻值每次調整完畢后需要從新預熱很久才能再度測試，因此溫度特性調試周期也較長。

實用新型內容針對上述現有技術中存在的缺陷，本實用新型所要解決的技術問題是提供一種調試周期短，溫度特性調試方便的數字溫控式高溫穩(wěn)恒溫晶體振蕩器。為了解決上述技術問題，本實用新型所提供的一種數字溫控式高溫穩(wěn)恒溫晶體振蕩器，包括外恒溫槽，分別安裝在外恒溫槽內的外槽溫控電路、內恒溫槽，分別安裝在內恒溫槽內的內槽溫控電路、晶體振蕩電路；所述外槽溫控電路中設有用于檢測外恒溫槽內環(huán)境溫度的外槽溫度傳感器，及用于外恒溫槽內環(huán)境加熱升溫的外槽加熱模塊,用于調整外槽溫控電路溫控值的外槽控溫電阻；所述內槽溫控電路中設有用于檢測內恒溫槽內環(huán)境溫度的內槽溫度傳感器，及用于內恒溫槽內環(huán)境加熱升溫的內槽加熱模塊，用于調整內槽溫控電路溫控值的內槽控溫電阻；其特征在于所述內槽控溫電阻是一數字式可調電阻，其調節(jié)端接引至外恒溫槽的外部。本實用新型提供的數字溫控式高溫穩(wěn)恒溫晶體振蕩器，在產品封蓋后，可以從外部調節(jié)內恒溫槽內的內槽控溫電阻阻值,避免了傳統(tǒng)雙恒溫槽晶體振蕩器調試溫度特性時內外槽蓋在封蓋前后的溫度梯度差，方便了產品的量產，而且一次預熱即可調試好溫度特性，具有調試周期短，溫度特性調試方便的特點。

圖I是本實用新型實施例的數字溫控式高溫穩(wěn)恒溫晶體振蕩器的結構示意圖。
具體實施方式

以下結合附圖說明對本實用新型的實施例作進一步詳細描述，但本實施例并不用于限制本實用新型，凡是采用本實用新型的相似結構及其相似變化，均應列入本實用新型的保護范圍。如圖I所示，本實用新型實施例所提供的一種數字溫控式高溫穩(wěn)恒溫晶體振蕩器，包括外恒溫槽I，分別安裝在外恒溫槽I內的外槽溫控電路5、內恒溫槽2，分別安裝在內恒溫槽2內的內槽溫控電路4、晶體振蕩電路3 ； 所述外槽溫控電路5中設有用于檢測外恒溫槽I內環(huán)境溫度的外槽溫度傳感器52，及用于外恒溫槽I內環(huán)境加熱升溫的外槽加熱模塊51，用于調整外槽溫控電路溫控值的外槽控溫電阻53 ；所述內槽溫控電路4中設有用于檢測內恒溫槽2內環(huán)境溫度的內槽溫度傳感器42，及用于內恒溫槽2內環(huán)境加熱升溫的內槽加熱模塊41，用于調整內槽溫控電路溫控值的內槽控溫電阻43 ；其特征在于所述內槽控溫電阻43是一數字式可調電阻，其調節(jié)端接引至外恒溫槽I的外部。本實用新型實施例中，所述數字式可調電阻的型號為DS3902。本實用新型實施例中，所述外槽溫控電路、內槽溫控電路均為現有技術。本實用新型實施例的工作原理如下外槽溫控電路通過調整外槽控溫電阻的阻值來調整溫控值，從而控制外槽加熱模塊進行加熱工作的工作溫度；內槽溫控電路通過調整內槽控溫電阻的阻值來調整溫控值，從而控制內槽加熱模塊進行加熱工作的工作溫度；進行溫度特性調試前，直接估算外槽控溫電阻的阻值，并選定與估算的阻值相匹配的電阻作為外槽控溫電阻后直接將內外恒溫槽外恒溫槽外槽封蓋，然后對封蓋好的產品進行預熱，預熱好后根據晶體拐點，從外恒溫槽的外部通過數字式可調電阻的調節(jié)端，將阻值寫入數字式可調電阻，即可在一次預熱的情況下調試好內恒溫槽內環(huán)境的溫控值。例如需要將雙恒溫槽晶體振蕩器的溫度特性調節(jié)在O. Ippb (-40 70)；傳統(tǒng)雙恒溫槽晶體振蕩器是在封蓋前確定外槽控溫電阻的阻值后進行預熱，再細調內槽控溫電阻的阻值，經多次調節(jié)后將溫度特性調節(jié)至O. Ippb以內(每次調完內槽控溫電阻阻值后需要重新預熱很久才能測試)，然后再封蓋測試，如果輸出頻率值超出了
O.Ippb,只能打開封蓋重新調試；本實用新型實施例只需預熱一次，第一次調試后的后續(xù)多次調試中，每次調試只需根據前次調試后的測試結果計算出本次調試的阻值，并從外部將計算出的阻值直接寫入數字式可調電阻，無需再次預熱，免除了開 拆蓋的麻煩。
權利要求1.一種數字溫控式高溫穩(wěn)恒溫晶體振蕩器，包括外恒溫槽，分別安裝在外恒溫槽內的外槽溫控電路、內恒溫槽，分別安裝在內恒溫槽內的內槽溫控電路、晶體振蕩電路；所述外槽溫控電路中設有用于檢測外恒溫槽內環(huán)境溫度的外槽溫度傳感器，及用于外恒溫槽內環(huán)境加熱升溫的外槽加熱模塊,用于調整外槽溫控電路溫控值的外槽控溫電阻；所述內槽溫控電路中設有用于檢測內恒溫槽內環(huán)境溫度的內槽溫度傳感器，及用于內恒溫槽內環(huán)境加熱升溫的內槽加熱模塊,用于調整內槽溫 控電路溫控值的內槽控溫電阻；其特征在于所述內槽控溫電阻是一數字式可調電阻，其調節(jié)端接引至外恒溫槽的外部。
專利摘要一種數字溫控式高溫穩(wěn)恒溫晶體振蕩器，涉及晶體振蕩器技術領域，所解決的是方便溫度特性調試的技術問題。該振蕩器包括外恒溫槽，分別安裝在外恒溫槽內的外槽溫控電路、內恒溫槽，分別安裝在內恒溫槽內的內槽溫控電路、晶體振蕩電路；所述外槽溫控電路中設有外槽溫度傳感器、外槽加熱模塊，及用于調整外槽溫控電路溫控值的外槽控溫電阻；所述內槽溫控電路中設有內槽溫度傳感器、內槽加熱模塊，及用于調整內槽溫控電路溫控值的內槽控溫電阻；其特征在于所述內槽控溫電阻是一數字式可調電阻，其調節(jié)端接引至外恒溫槽的外部。本實用新型提供的振蕩器，溫度特性調試周期短。
文檔編號H03B5/04GK202713230SQ201220322009
公開日2013年1月30日 申請日期2012年7月4日 優(yōu)先權日2012年7月4日
發(fā)明者薛代彬, 梁遠勇, 胡雪娟 申請人:上海鴻曄電子科技有限公司