專利名稱:柵極驅(qū)動電路以及開關電源裝置的制作方法
技術領域:
本發(fā)明涉及對開關元件的柵極進行驅(qū)動的柵極驅(qū)動電路以及包含柵極驅(qū)動電路的開關電源裝置。
背景技術:
作為現(xiàn)有的柵極驅(qū)動電路,例如公知有專利文獻1。在圖4所示的專利文獻1所記載的柵極驅(qū)動電路中,在主開關元件QlO的接通期間,使開關112、114、116接通,利用電源電壓111來對電容器115進行充電。在電容器115中充入電源電壓111的電壓。接著,在主開關元件QlO的斷開期間,使開關112、114、116斷開且使開關113、117 接通。此時,可將在電容器115中積蓄的電壓用作主開關元件QlO斷開時的反向偏置電源。因此,無需特別采用負電壓用的電源就能夠進行斷開動作。此外,作為現(xiàn)有技術, 例如公知有專利文獻2。專利文獻1日本特開昭62-144572號公報專利文獻1日本特開2009-200891號公報但是,現(xiàn)有的柵極驅(qū)動電路在主開關元件QlO斷開時,利用具有電源電壓111的電壓的電容器115的放電電流來吸取主開關元件QlO的柵電容,所以電容器115的電容變大。因此,電容器115相對于由IC(集成電路)構成的柵極驅(qū)動電路外置。即,為了外置電容器115,而需要在IC的端子上設置2個端子,當使柵極驅(qū)動電路IC化時,成本會變
尚ο另外,在啟動時等、電容器115沒有被充電的狀態(tài)下、使柵極驅(qū)動電路進行高頻動作的情況下,吸取電流(引豸抜豸電流)不足,開關速度變慢。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的課題是提供可減小電容器的電容并能夠低成本地進行IC化的柵極驅(qū)動電路以及開關電源裝置。 為了解決上述課題,本發(fā)明的柵極驅(qū)動電路驅(qū)動開關元件的柵極,其特征在于,該柵極驅(qū)動電路具有第1電容器,其一端經(jīng)由啟動電阻與直流電源的正極連接;第1開關, 其具有第1電極、第2電極和第1控制電極,所述第1電極與所述第1電容器的一端連接, 所述第2電極與所述直流電源的負極即“地”連接;第2開關,其具有第3電極、第4電極和第2控制電極,所述第3電極與所述第1開關的第2電極以及所述直流電源的負極即“地” 連接,所述第4電極與所述第1電容器的另一端連接;第2電容器,其與所述第2開關的第3 電極以及第4電極并聯(lián)連接,該第2電容器的一端與所述直流電源的負極即“地”連接;以及負電壓控制部,其根據(jù)脈沖信號在所述開關元件斷開時,將所述開關元件的柵極與所述第1 電容器的另一端以及所述第2電容器的另一端連接,由此使所述開關元件的柵極成為負電壓。 根據(jù)本發(fā)明,采用第1電容器的單電源,將第1開關的第1電極與第1電容器的正極連接,將第1開關的第2電極與第2開關的第3電極連接,將第2開關的第4電極與第1 電容器的另一端連接,將第2電容器與第2開關并聯(lián)連接,將第1開關的第2電極、第2開關的第3電極和第2電容器的一端的連接點、與直流電源負極即“地”連接,根據(jù)脈沖信號在開關元件斷開時,將開關元件的柵極與第1電容器以及第2電容器的另一端連接,由此不采用第2電容器的充放電電流就能夠使開關元件的柵極電壓成為負電壓。因此,能夠減小第2電容器的容量,所以能夠?qū)⒌?電容器包含在內(nèi)來對柵極驅(qū)動電路1進行IC化。在對柵極驅(qū)動電路1進行IC化的情況下,具有這樣的優(yōu)點第2電容器用的端子只要有1個端子TLl即可。
圖1是包含本發(fā)明實施例1的柵極驅(qū)動電路的開關電源裝置的結構圖。圖2是示出本發(fā)明實施例1的柵極驅(qū)動電路的動作的波形圖。圖3是示出本發(fā)明實施例1的柵極驅(qū)動電路的動作的波形圖。圖4是示出現(xiàn)有的柵極驅(qū)動電路的一例的圖。標號說明Vl 直流電源;Rl 啟動電阻;R2、R3、R5、R6、R7、R8、R9 電阻;C1、C2、C3 電容器;DU D2、D3 二極管;Ql Q5M0SFET ;Q6開關元件;T變壓器;Pll次繞組;S12次繞組;P2輔助繞組;Gl比較器;G2反相器;G3“與非”電路;Vref基準電源;OSC振蕩器;1柵極驅(qū)動電路;10 電壓檢測電路。
具體實施例方式以下,參照附圖對包含本發(fā)明實施方式的柵極驅(qū)動電路的開關電源裝置進行詳細說明。實施例1圖1是包含本發(fā)明實施例1的柵極驅(qū)動電路的開關電源裝置的結構圖。圖1所示的開關電源裝置是反激方式的DC-DC轉換器。在圖1中,直流電源Vl的正極與變壓器T的1次繞組Pl的一端以及柵極驅(qū)動電路1內(nèi)的啟動電阻Rl的一端連接,1次繞組Pl的另一端與由開關元件構成的N型GaNFET Q6的漏極連接,GaNFET Q6的源極與直流電源Vl的負極連接。變壓器T的2次繞組Sl的兩端連接有由整流平滑電路構成的二極管D2與電容器 C3的串聯(lián)電路,通過該整流平滑電路,將在2次繞組Sl的兩端產(chǎn)生的交流電壓變換為直流電壓。電壓檢測電路10檢測在電容器C3的兩端產(chǎn)生的直流電壓,將該直流電壓作為反饋信號FB輸出到柵極驅(qū)動電路1內(nèi)的振蕩器0SC,使振蕩器OSC的振蕩頻率根據(jù)反饋信號FB 的值而變化。柵極驅(qū)動電路1根據(jù)來自電壓檢測電路10的反饋信號FB與來自比較器Gl的輸出,使GaNFET Q6進行通斷,由此將直流電源Vl的直流電壓經(jīng)由變壓器T的1次繞組Pl變換為交流電壓,使變壓器T的2次繞組Sl輸出該交流電壓。變壓器T的輔助繞組P2的兩端連接有由整流平滑電路構成的二極管Dl與電容器 Cl的串聯(lián)電路,通過該整流平滑電路,將在輔助繞組P2的兩端產(chǎn)生的交流電壓變換為直流電壓,將該直流電壓作為啟動后的電源電壓提供給電容器Cl。柵極驅(qū)動電路1如以下這樣構成。啟動電阻Rl的另一端與電容器Cl (第1電容器) 的一端、電阻R8的一端、電阻R5的一端、N型MOSFET Q3 (第1開關)的漏極、P型MOSFET Ql的源極以及二極管Dl的陰極連接。電容器Cl的一端經(jīng)由啟動電阻Rl與直流電源Vl的正極連接而被施加電壓+Vcc, 電容器Cl的另一端與電容器C2(第2電容器)的一個端子連接,被施加電壓-Vcc。電容器 Cl被用作單電源。電容器Cl的兩端連接有電阻R8與電阻R9的串聯(lián)電路、電阻R5、電阻R6與電阻R7 的串聯(lián)電路、Ν型MOSFET 03與Ρ SMOSFET Q4(第2開關)的串聯(lián)電路、Ρ型MOSFET QI、 電阻R2、電阻R3與N型MOSFET Q2的串聯(lián)電路。在電阻R8與電阻R9的連接點處連接有具有滯后(* 7 ^」* 7 )特性的比較器Gl的同相輸入端子,比較器Gl的反相輸入端子與基準電源Vref連接。比較器Gl的輸出端子與反相器G2的輸入端子以及“與非”電路G3的一個輸入端子連接,反相器G2的輸出端子與N型MOSFET Q5的柵極連接。N型M0SFETQ5的源極以及基準電源Vref的負極與電容器Cl的另一端連接。 MOSFET Q5的漏極連接在電阻R5和電阻R6的連接點處,在電阻R5與電阻R6的連接點處連接有MOSFET Q3的柵極。MOSFET Q3的漏極與電阻R5的一端以及電容器Cl的一端連接,MOSFET Q3的源極與P型MOSFET Q4的源極、電容器C2的一端、GaNFET Q6的源極以及直流電源Vl的負極連接。MOSFET Q4的柵極連接在電阻R6和電阻R7的連接點處,MOSFET Q4的源極與電阻 R7的一端以及電容器C2的另一端連接。“與非”電路G3求取來自振蕩器OSC的脈沖信號與來自比較器Gl的輸出的“與非” 結果,向P型MOSFET Ql的柵極與N型MOSFET Q2的柵極輸出該“與非”的輸出。MOSFET Ql的源極與電容器Cl的一端連接,MOSFET Ql的漏極與電阻R2的一端連接,電阻R2的另一端與GaNFET Q6的柵極以及電阻R3的一端連接。電阻R3的另一端與N 型MOSFET Q2的漏極連接,MOSFET Q2的源極與電容器C1、C2的另一端連接。MOSFET Ql和 MOSFET Q2構成負電壓控制部,該負電壓控制部用于使GaNFET Q6的柵極在斷開時成為負電壓。GaNFET Q6的漏極與變壓器T的1次繞組Pl的一端連接,GaNFET Q6的源極與直流電源Vl的負極連接。GaNFET Q6 由 feiNFET 等 HEMT(High Electron Mobility Transistor :高電子遷移率晶體管)構成。另外,也可以采用SiCFET等HEMT或MESFET(Metal Insulator Semiconductor Field Effect Transistor :金屬絕緣體半導體場效應晶體管)或 MISFET(Metal Semiconductor Field Effect Transistor :金屬半導體場效應晶體管)或 MESHEMT或MISHEMT等,來替代GaNFET。此外,還可以采用雙極型晶體管、J-FET (Junction FET 結型場效應管)、IGBTansulated Gate Bipolar Transistor 絕緣柵雙極型晶體管) 等晶體管。此外,在以上的MOSFET中,漏極以及源極與第1電極以及第2電極對應,柵極與控制電極對應。
接著,參照圖2以及圖3所示的各個部的波形圖來詳細說明這樣構成的實施例1 的柵極驅(qū)動電路的動作。在圖2中,Vl表示直流電源VI,Vcl表示電容器Cl的電壓,VA表示對比較器Gl的同相輸入端子施加的電壓,Glout表示比較器Gl的輸出電壓,Vcc表示對電容器Cl的一端施加的電壓,Vc2表示電容器C2的兩端電壓,Vgs表示GaNFET Q6的柵極-源極間的電壓。在圖3中,OSC表示振蕩器OSC的脈沖信號,Vg表示對GaNFET Q6的柵極施加的電壓,Ig表示流過GaNFET Q6的柵極的電流,Id表示流過GaNFET Q6的漏極的電流,Vd表示對GaNFET Q6的漏極施加的電壓。首先,在圖2中,在時刻tO施加直流電源Vl時,在直流電源Vl的正極一啟動電阻 R1—電容器Cl—MOSFET Q4的本體二極管(body diode)—直流電源Vl的負極的路徑中, 流過電流,對電容器Cl進行充電。因此,電容器Cl 一端的電壓Vcc直線地增加。電容器Cl的兩端電壓由串聯(lián)連接的電阻R8和電阻R9進行檢測。比較器Gl將由電阻R8和電阻R9分壓出的電壓VA與基準電源Vref的電壓進行比較。在由電阻R8和電阻R9分壓出的電壓VA小于基準電源Vref的電壓的情況下,來自比較器Gl的輸出Glout 成為低電平。該低電平通過反相器G2進行反轉而成為高電平,該高電平使MOSFET Q5接通,所以MOSFET Q4也接通。因此,電容器C2被短路,所以電壓Vc2為零電壓。另外,同時,“與非”電路G3的一個輸入端子被輸入低電平,所以“與非”電路G3的輸出成為高電平,該高電平使MOSFET Ql斷開,MOSFET Q2接通。因此,GaNFET Q6的柵極經(jīng)由電阻R3以及MOSFET Q2與電容器Cl的另一端連接。S卩,對GaNFET Q6的柵極被施加零電壓-Vcc,GaNFET Q6 斷開。接著,在時刻tl,當由電阻R8和電阻R9分壓出的電壓VA變成基準電源Vref的電壓時,比較器Gl的輸出成為高電平,高電平通過反相器G2進行反轉而成為低電平,該低電平使MOSFET Q5斷開,所以MOSFET Q4也斷開。因此,MOSFET Q3和MOSFET Q4利用電阻R5、電阻R6和電阻R7進行偏置,MOSFET Q3、Q4接通,電流流過MOSFET Q3、Q4。這里,關于MOSFET Q3、Q4的漏極電流,對用于決定偏置電流的電阻R5、R6、R7的電阻值進行設定以使得微小電流流過。通過使漏極電流流過MOSFET Q3、Q4,各MOSFET Q3、Q4的漏極-源極間電壓根據(jù)電阻R5、R6、R7的電阻比率對電容器Cl的電壓Vc 1進行分壓。即,在圖2的時刻11,與MOSFET Q3的源極、MOSFET Q4的源極、GaNFET Q6的源極、直流電源Vl的“地”GND所連接的連接點電位GND之間具有以下這樣的相關。直流電源Vl的接地GND是被分壓成MOSFET Q3的漏極-源極間電壓與MOSFET Q4的漏極-源極間電壓的電位,電壓Vcc的正極電壓相對地下降。因此,負電壓-Vcc作為 MOSFET Q4的漏極-源極間電壓被充入電容器C2 (圖2的電壓Vc2)。另外,在時刻tl,比較器Gl的輸出為高電平,與振蕩器OSC的接通脈沖信號(圖3 的時刻til的0SC)同步地使MOSFET Ql接通、MOSFET Q2斷開時,電流Ig流過GaNFET Q6 的柵極。漏極電流Id流過并上升。在時刻tl2,當GaNFET Q6的柵極電壓Vg成為閾值VTH時,GaNFET Q6的漏極電壓 Vd為零。
另外,電流在電容器Cl的Vcc側一MOSFET Ql —電阻rl —穩(wěn)壓二極管ZDl —二極管D3 —電容器C2 —電容器Cl的-Vcc側的路徑中流動。接著,在時刻tl3,與振蕩器OSC的斷開脈沖信號同步地使MOSFET Ql斷開、MOSFET Q2接通時,GaNFET Q6的柵極經(jīng)由電阻R3和MOSFET Q2被偏置成-Vcc,而成為負電位。這樣,根據(jù)實施例1的柵極驅(qū)動電路,采用電容器Cl的單電源,將MOSFET Q3的漏極與電容器Cl的一端連接,將MOSFET Q3的源極與MOSFET Q4的源極連接,將MOSFET Q4 的漏極與電容器Cl的另一端連接,將電容器C2與MOSFET Q4并聯(lián)連接,將MOSFET Q3的源極、MOSFET Q4的源極和電容器C2—端的連接點與直流電源Vl的“地”GND連接,根據(jù)脈沖信號在GaNFET Q6斷開時,使GaNFETQ6的柵極與電容器Cl、C2的另一端連接,由此不使用電容器C2的充放電電流就能夠使GaNFET Q6的柵極電壓成為負電壓。因此,可減小電容器C2的電容,所以能夠?qū)㈦娙萜鰿2包含在內(nèi)來對柵極驅(qū)動電路 1進行IC化。在對柵極驅(qū)動電路1進行IC化的情況下,具有這樣的優(yōu)點電容器C2用的端子只要有1個端子TLl即可。另外,因為不使用電容器C2的充放電電流,所以不會對高頻動作產(chǎn)生影響,如圖3 所示,可使GaNFET Q6的斷開時(時刻tl3,tl4)的延遲縮短,降低開關損耗。另外,常關型的GaNFET的柵極閾值電壓例如是1 2V的低電壓。對此,使GaNFET的斷開時的柵極電壓成為負電位,由此,例如將多個開關電源裝置設置在同一裝置內(nèi),對于來自其它開關電源裝置的開關噪聲等外來噪聲,可取得較大的噪聲容限,能夠得到穩(wěn)定的動作。此外,電容器Cl被充電,由電阻R8和電阻R9對電容器Cl的充電電壓進行分壓后的電壓超過基準電源Vref的電壓后,柵極驅(qū)動電路1進行動作,所以從啟動時起就能夠穩(wěn)定地驅(qū)動GaNFET Q6。另外,在啟動之后,可利用輔助繞組P2和二極管Dl來向電容器Cl提供輔助電源。 另外,輔助繞組P2和二極管Dl可兼用正負電源。工業(yè)上的可利用性本發(fā)明可應用于DC-DC轉換器、AC-DC轉換器等的開關電源裝置。
權利要求
1.一種柵極驅(qū)動電路,其驅(qū)動開關元件的柵極,其特征在于, 該柵極驅(qū)動電路具有第1電容器,其一端經(jīng)由啟動電阻與直流電源的正極連接;第1開關,其具有第1電極、第2電極和第1控制電極,所述第1電極與所述第1電容器的一端連接,所述第2電極與所述直流電源的負極即“地”連接;第2開關,其具有第3電極、第4電極和第2控制電極,所述第3電極與所述第1開關的第2電極以及所述直流電源的負極即“地”連接,所述第4電極與所述第1電容器的另一端連接;第2電容器,其與所述第2開關的第3電極以及第4電極并聯(lián)連接,該第2電容器的一端與所述直流電源的負極即“地”連接;以及負電壓控制部,其根據(jù)脈沖信號在所述開關元件斷開時,將所述開關元件的柵極與所述第1電容器的另一端以及所述第2電容器的另一端連接,由此使所述開關元件的柵極成為負電壓。
2.根據(jù)權利要求1所述的柵極驅(qū)動電路,其特征在于, 該柵極驅(qū)動電路具有第1電阻,其一端與所述第1電容器的一端連接;第2電阻,其一端與所述第1電阻的另一端連接,該第2電阻的另一端與所述第1電容器的另一端連接;以及比較單元,其對所述第1電阻與所述第2電阻的連接點的電壓、和基準電壓進行比較, 在所述連接點的電壓小于所述基準電壓時使所述第2開關接通,使所述第2電容器短路,在所述連接點的電壓在所述基準電壓以上時,使所述第1開關以及所述第2開關接通,對所述第2電容器進行充電。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的柵極驅(qū)動電路,其特征在于,所述開關元件由HEMT、MESFET, MISFET、雙極型晶體管、J-FET, IGBT中的任意一個構成。
4.一種開關電源裝置,其特征在于, 該開關電源裝置具有權利要求1至3中任意1項所述的柵極驅(qū)動電路;變壓器,其具有1次繞組、2次繞組和輔助繞組,該變壓器的一端與所述直流電源的正極連接,另一端與所述開關元件的一端連接;整流平滑電路,其對在所述變壓器的2次繞組中產(chǎn)生的電壓進行整流平滑; 電壓檢測電路,其檢測所述整流平滑電路的輸出電壓,輸出到所述柵極驅(qū)動電路;以及二極管,其陰極與所述第1電容器的一端連接,陽極與所述輔助繞組的一端連接, 所述輔助繞組的另一端與所述第1電容器的另一端連接。
全文摘要
柵極驅(qū)動電路及開關電源裝置??蓽p小電容器的電容、低成本地IC化。該電路具有第1電容器(C1),一端經(jīng)由啟動電阻(R1)與直流電源(V1)的正極連接;第1開關(Q3),具有第1電極、第2電極和第1控制電極,第1電極與第1電容器的一端連接,第2電極與直流電源負極即地連接;第2開關(Q4),具有第3電極、第4電極和第2控制電極,第3電極與第1開關的第2電極及直流電源負極即地連接,第4電極與第1電容器的另一端連接;第2電容器(C2),與第2開關的第3電極及第4電極并聯(lián)連接,一端與直流電源負極即地連接;負電壓控制部(Q1、Q2),根據(jù)脈沖信號在開關元件斷開時將開關元件的柵極與第1電容器的另一端及第2電容器的另一端連接來使開關元件的柵極成為負電壓。
文檔編號H02M1/08GK102437718SQ20111030140
公開日2012年5月2日 申請日期2011年9月28日 優(yōu)先權日2010年9月28日
發(fā)明者小澤圭一朗 申請人:三墾電氣株式會社