專利名稱：一種轉接測試座的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種電子行業(yè)上的轉接測試座，尤指是指一種測試電 路板的轉接測試座，具體涉及一種電腦內存條轉接測試座。
背景技術：
隨著經(jīng)濟日益發(fā)展及電子產(chǎn)品的廣泛應用，電子產(chǎn)品市場曰顯成 熟和絕對量化，對各種具有特定功能的電子組件如電腦內存條的需求 也同樣絕對巨增，這必然使電子組件生產(chǎn)商及其代工廠在經(jīng)營各自品 牌的同時，也必須考慮直接的生產(chǎn)測試成本問題。以往各類生產(chǎn)商或 其代工廠他們會對其所生產(chǎn)的電子組件進行測試，以電腦內存條的測
試為例，其測試技術發(fā)展過程有兩個階段過程
第一過程為用電腦主機板上內存插槽由四排焊PIN通過治具壓 合成兩排焊PIN,然后再焊接轉接PCB進行測試，這種普通內存轉接 測試卡插槽其彈簧觸片采用的是黃銅材質，彈簧觸片上的端子較小； 當測試時內存條記憶體垂直插入內存轉接測試槽的卡插槽內時，彈簧 觸片上的端子往外張開夾住金手指，因存在不停的插拔測試卡插槽內 的金屬彈簧觸片上的端子，易損壞或插跪，出現(xiàn)信號衰減或接觸不良 等問題；在測試時壽命特別短，僅為400次左右。后來，也有改成柔 韌較好的磷銅彈簧觸片，但壽命只在1000次以內，還有一個最重要 的缺陷是它釆用垂直插拔的面磨擦原理進行測試，所帶來的 一個嚴重 的技術瓶頸，是根本上解決不了因垂直插拔而產(chǎn)生的內存條記憶體金 手指與彈簧觸片上的端子產(chǎn)生面磨擦帶來的嚴重磨損、刮痕，甚至金 手指存放時間過長因鍍金層刮損發(fā)生氧化現(xiàn)象，從而影響到銷售品 質，另一個缺陷是因需要用手用力抓握內存條做垂直插拔測試，不可 避免的會造成內存條記憶體上小元件的不小心碰掉而重工返修。
第二個過程是2006年5月31日公開的中國專利 ZL200510090361. 0,提供了 一種內存條記憶體測試產(chǎn)品，它的方案雖然提高插拔的測試壽命，但這還是靠內存條記憶體卡插槽的金屬彈片 上的端子擠壓來測試，仍然產(chǎn)生了金屬彈片上的端子與內存條記憶體 金手指嚴重的面磨擦，根本上改變不了金手指外觀損壞、刮痕、氧化問題。

發(fā)明內容
為解決上述問題，本發(fā)明的目的在于提供一種轉接測試座，可以 從根本上解決其測試壽命和金手指外觀的完好度兩方面的問題，從而 大幅度降低了測試成本。
為達到上述目的，本發(fā)明基本構思是 一種轉接測試座，包括接 觸電路板及卡插槽，接觸電路板的一邊與卡插槽電連接，另一邊設有 金手指，卡插槽內含有若干金屬彈片，金手指與對應的金屬彈片電連 接，卡插槽內含有可旋轉的D型軸，當轉動D型軸時，驅動金屬彈片 同步向內移動，直至與所要測試的電子組件的金手指可靠電連接，當 把D型軸轉動回原來位置，金屬彈片在其本身的彈性力作用下回到原 來的位置，從而與所要測試的電子組件的金手指明顯的分離。
更優(yōu)的，所述的D型軸與金屬彈片相互垂直，并且所述的金屬彈 片沿著所述的D型軸的一側直線排列。
更優(yōu)的，所述的卡插槽上還設有導槽。
更優(yōu)的，所述的卡插槽上還設有導扣，所述的導扣包括滑塊和樞 接軸，所述的滑塊和所述的導槽上設有樞接孔，滑塊和導槽之間通過 樞接軸鏈接，滑塊可繞樞接軸轉動。
更優(yōu)的，所述的D型軸的其中一個的兩側齒輪的外端設有一調整 D型軸旋轉角度的手柄。
更優(yōu)的，在所述轉接測試座上設有限制D型軸旋轉角度的限位裝置。
采用上述技術方案后，其有益效果首先是所要測試的電子組件可 以輕松地插入卡插槽或者取出，其金手指不會被損傷或者留下擦痕， 從根本上解決轉接測試座的測試壽命和所要測試的電子組件金手指外觀的完好度兩方面的問題，從而大幅度降低了測試成本；其次是可 以方便將所要測試的電子組件順著導槽水平的插入轉接測試座內，防 止傾斜和接觸不良；再次是采用了導扣后，可以進一步使所要測試的 電子組件充分到位，并且起到在金屬彈片處于工作狀態(tài)即靠攏狀態(tài) 時，無法再插入電子組件，避免誤操作帶來的對轉接測試座以及電子 組件的損害；再次是采用限位裝置，進一步防止了誤操作轉動過度而 造成接觸不良，或者金屬彈片未按預想打開的問題。
作為實現(xiàn)本發(fā)明基本構思的第一種技術方案，在卡插槽內兩側分 別設有一條可旋轉的D型軸，D型軸位于金屬彈片與卡插槽內壁之間， D型軸與金屬彈片之間含有一絕緣層，兩條D型軸的兩端分別向卡插 槽的外部延伸且在端部各連接有一齒輪，所述的兩個齒輪相互嚙合， 在一齒輪的外端設有一調整兩個D型軸旋轉角度的手柄。
更優(yōu)的，所述的D型軸與金屬彈片相互垂直，并且金屬彈片沿著 D型軸的一側直線排列，齒輪設有限位齒，卡插槽上還設有導槽，并 且還設有導扣，所述的導扣包括滑塊和樞接軸，所述的滑塊和所述的 導槽上設有樞接孔，滑塊和導槽之間通過樞接軸鏈接，滑塊可繞樞接 軸轉動。
更優(yōu)的，本技術方案采用的是D型軸等距軸原理，當D型軸的旋 轉保證了它上面兩邊金屬彈片會同時接觸所要測試的電子組件的金 手指，而且D型等距軸與金屬彈片接觸的部分成型了耐磨性高，絕緣 性良好的進口絕緣尼龍塑膠，其次保證了 D型軸旋轉時會將力均勻無 損耗的傳遞給各金屬彈片，同時也增加了 D型軸在外殼內的滾動磨擦 壽命，當把D型軸轉動回原來位置，金屬彈片在其本身的彈性力作用 下回到原來的位置，從而與所要測試的電子組件的金手指明顯的分 離。
采用上述技術方案后，其有益效果首先是所要測試的電子組件可 以輕松地插入卡插槽或者取出，其金手指不會被損傷或者留下擦痕， 從根本上解決轉接測試座的測試壽命和所要測試的電子組件金手指 外觀的完好度兩方面的問題，從而大幅度降低了測試成本；其次是可以方便將所要測試的電子組件順著導槽水平地插入轉接測試座內，防止傾斜和接觸不良；再次是采用了導扣后，可以進一步使所要測試的 電子組件充分到位，并且起到在金屬彈片處于工作狀態(tài)即靠攏狀態(tài) 時，無法再插入電子組件，避免誤操作帶來的對轉接測試座以及電子 組件的損害；再次是采用限位裝置，進一步防止了誤操作轉動過度而 造成接觸不良，或者金屬彈片未按預想打開。作為實現(xiàn)本發(fā)明基本構思的第二種技術方案，在卡插槽內中間設 有一條D型軸，其上方還設有一V型部件，V型部件的俯^L圖為一日 字型，金屬彈片從兩個矩形孔中穿過，V型部件設有若千復位彈簧與 卡插槽相連，D型軸的平面?zhèn)人较蛏?，當轉動D型軸時，D型軸推 動V型部件向上運動，V型部件迫使金屬彈片同步向內移動，直至與 所要測試的電子組件的金手指可靠電連接，當把D型軸轉動回原來位 置，V型部件在復位彈簧的作用下回到原來位置，金屬彈片在其本身 的彈性力作用下回到原來的位置，從而與所要測試的電子組件的金手 指明顯的分離。更優(yōu)的，所述V型部件設有若干復位彈簧與卡插槽相連，所述V型部件設有導向凸條或者導向凹槽與卡插槽內相應的導向凹槽或者 導向凸條滑動匹配。更優(yōu)的，所述轉接測試座上還設有限定D型軸旋轉角度的限位裝置。采用上述技術方案后，其有益效果首先是所要測試的電子組件可 以輕松地插入卡插槽或者取出，其金手指不會被損傷或者留下擦痕， 從根本上解決轉接測試座的測試壽命和所要測試的電子組件金手指 外觀的完好度兩方面的問題，從而大幅度降低了測試成本；其次是可 以方便將所要測試的電子組件順著導槽水平的插入轉接測試座內，防 止傾斜和接觸不良；再次是采用了導扣后，可以進一步使所要測試的 電子組件充分到位，并且起到在金屬彈片處于工作狀態(tài)時即靠攏狀態(tài) 時，無法再插入電子組件，避免誤操作帶來的對轉接測試座以及電子 組件的損害；再次是采用限位裝置，進一步防止了誤操作轉動過度而造成接觸不良，或者金屬彈片未按預想打開。


下面結合附圖和具體實施方式
對本發(fā)明作進一步詳細的說明。圖1至圖6是本發(fā)明轉接測試座第一個實施方式的示意圖；圖7至圖ll是本發(fā)明轉接測試座第二個實施方式的示意圖；圖1為本發(fā)明實施例產(chǎn)品的初始狀態(tài)的剖視圖；圖2為本發(fā)明實施例產(chǎn)品的手柄轉動前狀態(tài)的示意圖；圖3為本發(fā)明實施例產(chǎn)品的手柄轉動后狀態(tài)的示意圖；圖4為圖3中A處放大示意圖；圖5為本發(fā)明實施例產(chǎn)品的齒輪齒合的放大示意圖；圖6為本發(fā)明實施例產(chǎn)品的插入內存條時的狀態(tài)的示意圖；圖7為本發(fā)明實施例產(chǎn)品的初始狀態(tài)的剖視圖；圖8為本發(fā)明實施例產(chǎn)品的手柄轉動前狀態(tài)的示意圖；圖9為本發(fā)明實施例產(chǎn)品的手柄轉動后狀態(tài)的示意圖；圖IO為圖3中A處放大示意圖；圖11為本發(fā)明實施例產(chǎn)品的插入內存條時的狀態(tài)的示意圖。
具體實施方式
圖1至圖6為第一種技術方案的實施例，一種內存條轉接測試座。 在圖1至圖6所示的轉接測試座示意圖中，如圖1所示，轉接測 試座包括接觸電路板1及卡插槽2,接觸電路板1的一邊與所述卡插 槽2電連接，另一邊為金手指11連接口，卡插槽2內側兩邊分別各 有一百二十片金屬彈片21,且每個金手指11與金屬彈片21通過PCB 上的線路電聯(lián)通，形成——對應關系；卡插槽2內部兩側各分別設置 兩條可旋轉的D型軸22, D型軸22位于金屬彈片21與卡插槽2內 壁之間，且D型軸22的外表面膠條220包套著，膠條220為高性能 防靜電的進口絕緣尼龍膠條，膠條22G對彈簧觸片21起到絕緣的作 用，而金屬彈片21與D型軸22相互垂直，沿著D型軸22的一側直線排列。金屬彈片21平衡狀態(tài)時，其上端為呈稍向外傾斜狀，與相
對的金屬彈片形成V字形結構，此時，D型軸22的平坦面2201與金 屬彈片21平行。
如圖2所示，每條D型軸22的兩端分別向卡插槽2的外部延伸， 延伸出來的兩端分別有齒輪221,兩條D型軸22間的同側端的齒輪 221相嚙合，形成連動關系，且齒輪221末端還嵌套有調整兩個齒輪 之間嚙合旋轉角度的手柄23。當D型軸22末端的手柄23向左作逆時 針轉動時，如圖4所示，D型軸22也跟隨向內作旋轉運動，此時D 型軸22上的平坦面2201開始向內通過膠條220頂壓著彈簧金屬彈片 21向內靠攏，直至觸碰緊壓內存條3上的金手指31.此時，如圖5所 示，由于齒4侖221上的限位齒222的作用，限制了 D型軸的繼續(xù)旋轉。 如圖3所示，完成了內存條測試的電連接過程，保證了 D型軸與金屬 彈片的持久耐磨和絕緣；而金屬彈片采用的是進口 0. 14mm厚的鈹銅， 它的柔韌性非常好，確保了端子測試壽命，其來回運動的壽命可達IO 萬次以上。
如圖6所示，卡插槽2的上部兩端還分別設有導槽4,以引導內 存順利插入卡插槽2,及為了防止內存條插入卡插槽2后反彈出卡插 槽2而增設的導扣5，所述的導扣包括滑塊和樞接軸，所述的滑塊和 所述的導槽上設有樞接孔，滑塊和導槽之間通過樞接軸鏈接，滑塊可 繞樞接軸轉動。
當轉接測試座處于開鎖狀態(tài)時，插入內存條，轉動手柄，手柄及 另一搖桿上的滑輪推動導扣5的滑塊，滑塊契入內存條兩側的鎖止口 ， 使內存條充分到位，保證接觸良好，當轉接測試座處于鎖定或者半鎖 定的狀態(tài)時，滑塊起到阻止內存條插入的作用，徹底的消除了內存在 卡插槽內鎖定或半鎖定狀態(tài)下所帶來的插跪彈簧觸片及燒壞內存條 現(xiàn)象。
如圖2和圖5所示，由于齒4侖221上的限位齒222和齒專侖221外 側D型軸22的延長部分對手柄的限位作用，限制了 D型軸在待測狀 態(tài)下手柄向解鎖方向進一步運動或在測試狀態(tài)下因操作員不慎誤操作將手柄向鎖定方向進一步運動而帶來的測試異常或燒壞內存條記 憶體等現(xiàn)象，徹底的升了測試的安全性.
若測試完后用手指將手柄從內向外輕輕推回，金屬彈片在自身彈 力的作用下由內往外側張開重新回到原始位置，輕易取出已測好的內
存條，由于限位齒222的作用，限制了D型軸旋轉的角度，防止D型 軸進一步反向旋轉而使金屬彈片無法回到原來的位置。此新型產(chǎn)品的
外殼采用的是鋅合金材質鑄造而成。
圖7至圖11為第二種技術方案的實施例， 一種內存條轉接測試座。
在圖7至圖11所示的轉接測試座示意圖中，如圖7所示，轉接 測試座包括接觸電路板1及卡插槽2，接觸電路板1的一邊與所述卡 插槽2電連接，另一邊為金手指11連接口，卡插槽2內側兩邊分別 各有一百二十片金屬彈片21,且每個金手指11與金屬彈片21通過 PCB上的線路電聯(lián)通，形成——對應關系；卡插槽2內部中間設置有 一條可旋轉的D型軸22,且D型軸22的外表面被膠條220包套著， 膠條2 2 0為高性能防靜電的進口絕緣尼龍膠條，膠條2 2 0對彈簧觸片 21起到絕緣的作用，在D型軸的上方還設有一V型部件41, V型部 件的俯視圖為一日字型，金屬彈片從兩個矩形孔中穿過，V型部件設 有若千復位彈簧42與卡插槽相連，而金屬彈片21與D型軸22相互 垂直，沿著D型軸22的一側直線排列。金屬彈片21平衡狀態(tài)時，其 上端為呈稍向外傾斜狀，與相對的金屬彈片形成V字形結構，此時， D型軸22的平坦面2201水平向上。
如圖8所示，D型軸22的兩端分別向卡插槽2的外部延伸，延 伸出來的一端還嵌套有調整D型軸旋轉角度的手柄23。當D型軸22 末端的手柄23向左作逆時針轉動時，如圖4所示，D型軸22也跟隨 向內作旋轉運動，此時D型軸22上的平坦面2201開始向上通過絕緣 層膠條220頂壓著V型部件41向上移動，V型部件41的向上移動迫 使彈簧金屬彈片21向內靠攏，直至觸碰緊壓所要測試的電子組件3 上的金手指31.當把D型軸22轉動回原來位置，V型部件41在復位彈簧42的作用下回到原來位置，金屬彈片21在其本身的彈性力作用 下回到原來的位置，從而與所要測試的電子組件3的金手指31明顯 的分離，因此所要測試的電子組件可以輕松地插入卡插槽或者取出， 其金手指不會被損傷或者留下擦痕，從根本上解決轉接測試座的測試 壽命和所要測試的電子組件金手指外觀的完好度兩方面的問題，從而大幅度降低了測試成本。如圖9所示，完成了內存條測試的電連接過程，保證了D型軸與 金屬彈片的持久耐磨和絕緣；而金屬彈片采用的是進口 0. 14mm厚的鈹銅，它的柔韌性非常好，確保了端子測試壽命，其的來回運動壽命 可達10萬次以上。如圖11所示，卡插槽2的上部兩端還分別設有導槽4，以引導內 存順利插入卡插槽2，及當插入卡插槽2后防止內存條反彈，彈出卡 插槽2而增設導扣5，所述的導扣包括滑塊和樞接軸，所述的滑塊和 所述的導槽上設有樞接孔，滑塊和導槽之間通過樞接軸鏈接，滑塊可 繞樞接軸轉動。當轉接測試座處于開鎖狀態(tài)時，插入內存條，轉動手柄，手柄及 另一搖桿上的滑輪推動導扣5的滑塊，滑塊契入內存條兩側的鎖止口 ， 使內存條充分到位，保證接觸良好，當轉接測試座處于鎖定或者半鎖 定的狀態(tài)時，滑塊起到阻止內存條插入的作用，徹底的消除了內存在 卡插槽內鎖定或半鎖定狀態(tài)下所帶來的插跪彈簧觸片及燒壞內存條 現(xiàn)象。由于限位釘9對手柄的限位的作用，限制了 D型軸在待測狀態(tài)下 手柄向解鎖方向進一 步運動或在測試狀態(tài)下因操作員不慎誤操作將 手柄向鎖定方向進一步運動而帶來的測試異?；驘龎膬却鏃l記憶體 等現(xiàn)象，徹底的升了測試的安全性此新型產(chǎn)品的外殼采用的是鋅合金材質鑄造而成。 采用上述技術方案以后，從根本上解決先前技術條件下測試時內 存條金手指外觀不良(刮痕、磨擦度鍍金層、氧化)此新型技術采用 的是無磨擦點接觸測試，不對內存條金手指產(chǎn)生任何磨擦，有效的保護了金手指外觀的品質，直接有效的降低了內存條記憶體保護轉接測 試成本。
以上所述的僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應當指出，對于本領域 的普通技術人員來說，在不脫離本發(fā)明創(chuàng)造構思的前提下，還可以做 出若干變形和改進，這些都屬于本發(fā)明的保護范圍。
權利要求
1.一種轉接測試座，包括接觸電路板及卡插槽，所述的接觸電路板的一邊與所述卡插槽電連接，另一邊設有金手指，所述的卡插槽內含有若干金屬彈片，所述的金手指與對應的金屬彈片電連接，其特征在于，所述的卡插槽內含有可旋轉的D型軸。
2. 根據(jù)權利要求1所述的轉接測試座，其特征在于，所述的D型軸 有兩條，分別位于卡插槽內金屬彈片與卡插槽內壁之間，兩條D型軸的 兩端均向卡插槽的外部延伸且在端部各連接有一齒輪，所述齒輪對應的 相互嚙合。
3. 根據(jù)權利要求1或2所述的轉接測試座，其特征在于，所述的D 型軸與金屬彈片相互垂直，并且所述的金屬彈片沿著所述的D型軸的一 側直線排列。
4. 根據(jù)權利要求2所述的轉接測試座，其特征在于，所述的齒輪設 有限位齒。
5. 根據(jù)權利要求或2所述的轉接測試座，其特征在于，所述的卡插 槽上還設有導槽。
6. 根據(jù)權利要求1或2所述的轉接測試座，其特征在于所述的卡插 槽上還設有導扣，所述的導扣包括滑塊和樞接軸，所述的滑塊和所述的 導槽上設有樞接孔，滑塊和導槽之間通過樞接軸鏈接，滑塊可繞樞接軸 轉動。
7. 根據(jù)權利要求1或2所述的轉接測試座，其特征在于，所述的D 型軸的其中 一個的兩側齒輪的外端設有一調整D型軸旋轉角度的手柄。
8. 根據(jù)權利要求1所述的轉接測試座，其特征在于，所述的D型軸 與金屬彈片之間含有一絕緣層。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種轉接測試座，包括接觸電路板及卡插槽，所述的接觸電路板的一邊與所述卡插槽電連接，另一邊設有金手指，所述的卡插槽內含有若干金屬彈片，所述的金手指與金屬彈片電連接，所述的卡插槽內含有旋轉的D型軸，轉動所述的D型軸，就可以使所述金屬片向內聯(lián)動，直至與被測試電路板插件的金手指可靠的電連接，此新型技術采用的是無磨擦點接觸測試，不對內存條金手指產(chǎn)生任何磨擦，有效的保護了金手指外觀的品質，直接有效的降低了內存條記憶體保護轉接測試成本。
文檔編號H01R13/639GK101320857SQ20081008194
公開日2008年12月10日 申請日期2008年2月27日 優(yōu)先權日2007年6月7日
發(fā)明者何巧麗, 張光榮 申請人:張光榮;何巧麗