專利名稱：半導(dǎo)體激光器特性參數(shù)測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型提供一種半導(dǎo)體激光器特性參數(shù)測試裝置，屬于光電測試裝置技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
在半導(dǎo)體激光器的測試過程中，溫度是一個(gè)重要的指標(biāo)，它對激光器的波長和功率等都有影響，作為測試激光器的儀器，它的溫度控制精度電路部分是一個(gè)重要的環(huán)節(jié)，是衡量儀器技術(shù)含量的重要標(biāo)準(zhǔn)?，F(xiàn)有的測試儀都是采取分壓的方法從溫敏電阻兩端取得電壓值然后得出現(xiàn)在的被測溫度，由于器件的離散性、電源電壓的誤差和方式不靈活，這種方法取得的電壓值精度有很大的誤差，而且在大動(dòng)態(tài)溫度的控制時(shí)靈敏度不高(當(dāng)熱敏電阻很大時(shí)，熱敏電阻的變化引起電壓的變化不是線性的，電源的電壓是固定的不可調(diào))，分壓電阻的熱效應(yīng)也是不能避免的。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種能克服上述缺陷、精度和靈敏度高的半導(dǎo)體激光器特性參數(shù)測試裝置。其技術(shù)方案為包括測試儀，其特征在于增設(shè)恒流源電路，包括集成運(yùn)放U2～3、MOS管TQ3～4和繼電器J1～3，其中繼電器J1～3的一端接測試儀的數(shù)字控制信號輸出端，其另一端對應(yīng)經(jīng)電阻R8～10接電源，集成運(yùn)放U2的反向輸入端對應(yīng)經(jīng)電阻R1接地、經(jīng)電阻R2接其輸出端及集成運(yùn)放U3A的正向輸入端，集成運(yùn)放U2的正向輸入端對應(yīng)經(jīng)電阻R3接測試儀的恒流信號設(shè)定輸出端、依次經(jīng)電阻R4和電阻R6接MOS管TQ3的D極及集成運(yùn)放U3A的反向輸入端，集成運(yùn)放U3A的輸出端接MOS管TQ3的G極，MOS管TQ3的S極分別接集成運(yùn)放U3B的正向輸入端、經(jīng)電阻R5接電源，集成運(yùn)放U3B的反向輸入端接MOS管TQ4的S極、經(jīng)電阻R7接電源，集成運(yùn)放U3B的輸出端接MOS管TQ4的G極，MOS管TQ4的D極分別經(jīng)繼電器J2的常閉觸點(diǎn)J21及電阻R11接地、經(jīng)繼電器J1的常開觸點(diǎn)J11接待測的溫敏電阻W，溫敏電阻W的另一端接電阻R4與電阻R6連接端、并經(jīng)繼電器J3的常閉觸點(diǎn)J31接地。
其工作原理為當(dāng)電路工作時(shí)，設(shè)定的恒流信號輸入到集成運(yùn)放U2的正向輸入端，經(jīng)集成運(yùn)放U2、集成運(yùn)放U3放大輸出，控制MOS管TQ3、TQ4的G極S極之間電壓達(dá)到控制恒流源輸出的電流，此電流經(jīng)過繼電器J1輸入到被測溫敏電阻W上，通過溫敏電阻W的阻值即可得到現(xiàn)在的溫度。
本技術(shù)與現(xiàn)有技術(shù)相比，溫敏電阻取樣電壓V＝I(橫流源)×溫敏電阻W，這樣就避免了原有測試儀的不足，而且流過溫敏電阻W的電流可調(diào)，不受電源的限制，不管溫敏電阻W值怎樣變化其取樣電壓值都是成比例變化的，所以靈敏度、精度大大提高。


圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例的電路圖。
具體實(shí)施方式
1、測試儀繼電器J1～3的一端接原有測試儀1的數(shù)字控制信號輸出端，其另一端對應(yīng)經(jīng)電阻R8～10接+5V電源，集成運(yùn)放U2的反向輸入端對應(yīng)經(jīng)電阻R1接地、經(jīng)電阻R2接其輸出端及集成運(yùn)放U3A的正向輸入端，集成運(yùn)放U2的正向輸入端對應(yīng)經(jīng)電阻R3接測試儀1的恒流信號設(shè)定輸出端、依次經(jīng)電阻R4和電阻R6接MOS管TQ3的D極及集成運(yùn)放U3A的反向輸入端，集成運(yùn)放U3A的輸出端接MOS管TQ3的G極，MOS管TQ3的S極分別接集成運(yùn)放U3B的正向輸入端、經(jīng)電阻R5接+5V電源，集成運(yùn)放U3B的反向輸入端接MOS管TQ4的S極、經(jīng)電阻R7接+5V電源，其輸出端接MOS管TQ4的G極，MOS管TQ4的D極分別經(jīng)繼電器J2的常閉觸點(diǎn)J21及電阻R11接地、經(jīng)繼電器J1的常開觸點(diǎn)J11接待測的溫敏電阻W，溫敏電阻W的另一端接電阻R4與電阻R6連接端、并經(jīng)繼電器J3的常閉觸點(diǎn)J31接地。
因測試儀1為已有技術(shù)，故沒提供詳細(xì)電路圖。
權(quán)利要求1.一種半導(dǎo)體激光器特性參數(shù)測試裝置，包括測試儀(1)，其特征在于增設(shè)恒流源電路，包括集成運(yùn)放U2～3、MOS管TQ3～4和繼電器J1～3，其中繼電器J1～3的一端接測試儀(1)的數(shù)字控制信號輸出端，其另一端對應(yīng)經(jīng)電阻R8～10接電源，集成運(yùn)放U2的反向輸入端對應(yīng)經(jīng)電阻R1接地、經(jīng)電阻R2接其輸出端及集成運(yùn)放U3A的正向輸入端，集成運(yùn)放U2的正向輸入端對應(yīng)經(jīng)電阻R3接測試儀(1)的恒流信號設(shè)定輸出端、依次經(jīng)電阻R4和電阻R6接MOS管TQ3的D極及集成運(yùn)放U3A的反向輸入端，集成運(yùn)放U3A的輸出端接MOS管TQ3的G極，MOS管TQ3的S極分別接集成運(yùn)放U3B的正向輸入端、經(jīng)電阻R5接電源，集成運(yùn)放U3B的反向輸入端接MOS管TQ4的S極、經(jīng)電阻R7接電源，集成運(yùn)放U3B的輸出端接MOS管TQ4的G極，MOS管TQ4的D極分別經(jīng)繼電器J2的常閉觸點(diǎn)J21及電阻R11接地、經(jīng)繼電器J1的常開觸點(diǎn)J11接待測的溫敏電阻W，溫敏電阻W的另一端接電阻R4與電阻R6連接端、并經(jīng)繼電器J3的常閉觸點(diǎn)J31接地。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種半導(dǎo)體激光器特性參數(shù)測試裝置，包括測試儀，其特征在于增設(shè)恒流源電路，包括集成運(yùn)放U2～3、MOS管TQ3～4和繼電器J1～3，其中繼電器J1～3接測試儀的數(shù)字控制信號輸出端，集成運(yùn)放U2的反向輸入端對應(yīng)經(jīng)電阻R1接地、經(jīng)電阻R2接其輸出端及集成運(yùn)放U3A的正向輸入端，集成運(yùn)放U2的正向輸入端對應(yīng)經(jīng)電阻R3接測試儀的恒流信號設(shè)定輸出端，輸入的信號經(jīng)集成運(yùn)放U2～3放大、并控制MOS管TQ3～4的G極與S極之間電壓達(dá)到控制恒流源輸出的電流，此電流經(jīng)過繼電器J1輸入到被測溫敏電阻W上，通過溫敏電阻W的阻值即可得到現(xiàn)在的溫度。這樣流過溫敏電阻W的電流可調(diào)，而不受電源的限制，不管溫敏電阻W值怎樣變化其取樣電壓值都是成比例變化的，靈敏度大大提高。
文檔編號H01S3/0941GK2720457SQ200420052388
公開日2005年8月24日 申請日期2004年7月19日 優(yōu)先權(quán)日2004年7月19日
發(fā)明者趙成斌, 許文海, 吳榮之, 馬安生 申請人:山東博特光電技術(shù)有限公司