專利名稱：測(cè)試卡的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試卡。
背景技術(shù)：
測(cè)試內(nèi)存儲(chǔ)器電壓時(shí)，常需在測(cè)試儀器與內(nèi)存儲(chǔ)器之間連接負(fù)載器以限流，由于 主板線路排布密集，往往需在主板上刮出銅皮以將該負(fù)載器與該內(nèi)存儲(chǔ)器插槽的輸出端相 連，如此，不僅浪費(fèi)時(shí)間，還會(huì)給主板帶來(lái)不可恢復(fù)的損壞。發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種不會(huì)損壞主板且節(jié)省測(cè)試時(shí)間的測(cè)試卡。
一種測(cè)試卡，用于輔助測(cè)試內(nèi)存儲(chǔ)器的兩組電壓，該輔助測(cè)試卡包括一板邊連接器，該板邊連接器與待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器的插槽相匹配，該板邊連接器包括第一 及第二電壓金手指，當(dāng)該輔助測(cè)試卡插入該待測(cè)試內(nèi)存儲(chǔ)器插槽時(shí)，該第一電壓金手指對(duì) 應(yīng)與該待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器插槽的第一電壓引腳相連，該第二電壓金手指對(duì)應(yīng)與該待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器 插槽的第二電壓引腳相連；至少一接口，用于連接負(fù)載器；以及一開(kāi)關(guān)單元，包括第一至第三端，該開(kāi)關(guān)單元的第一端與該接口相連，該開(kāi)關(guān)單元的第 二和第三端分別連接該第一和第二電壓金手指，該開(kāi)關(guān)單元用于選擇性地使該接口連接該 第一或第二電壓金手指。
上述測(cè)試卡通過(guò)該接口連接負(fù)載器，并通過(guò)該板邊連接器的第一電壓金手指和第 二電壓金手指分別連接待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器插槽的兩個(gè)電壓引腳，如此，即可使得該負(fù)載器間接 與待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器插槽的兩個(gè)電壓引腳相連，而無(wú)需刮出主板銅皮以將負(fù)載器與該內(nèi)存儲(chǔ)器 插槽的電壓引腳相連，不會(huì)損壞主板，方便快捷。


圖1為本發(fā)明測(cè)試卡的較佳實(shí)施方式的示意圖。
主要元件符號(hào)說(shuō)明測(cè)試卡100接口80雙擲開(kāi)關(guān)30金手指1、2板邊連接器10如下具體實(shí)施方式
將結(jié)合上述附圖進(jìn)一步說(shuō)明本發(fā)明。
具體實(shí)施方式
請(qǐng)參考圖1，本發(fā)明測(cè)試卡100用于輔助測(cè)試內(nèi)存儲(chǔ)器的兩組電壓VDDQ和VTT，該 輔助測(cè)試卡100的較佳實(shí)施例包括板邊連接器10、若干接口 80、雙擲開(kāi)關(guān)30。
該板邊連接器10與待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器的插槽(圖未示)相匹配，以使得該測(cè)試卡100可 插入該待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器插槽內(nèi)。
該板邊連接器10中的金手指1、2對(duì)應(yīng)該待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器插槽的兩電壓引腳的位置， 當(dāng)該測(cè)試卡100插入該待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器插槽時(shí)，該金手指I和2分別與該待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器插槽 的兩電壓引腳對(duì)應(yīng)相連。本實(shí)施例中，該待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器插槽為DDR3(Double Data Rate 3) 內(nèi)存儲(chǔ)器插槽，其兩電壓引腳分別用于輸出兩組電壓VDDQ和VTT。
該接口 80用于連接負(fù)載器。
該雙擲開(kāi)關(guān)30包括動(dòng)端、第一和第二不動(dòng)端，該雙擲開(kāi)關(guān)30的動(dòng)端與該接口 80 相連，該雙擲開(kāi)關(guān)30的第一和第二不動(dòng)端分別連接該金手指I和2。該雙擲開(kāi)關(guān)30用于選 擇性地使該接口 80連接該金手指I或2。其他實(shí)施例中，該雙擲開(kāi)關(guān)30還可為其他的開(kāi)關(guān) 單元如雙向滑動(dòng)開(kāi)關(guān)。
測(cè)試時(shí)，將該測(cè)試卡100插入該待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器插槽，并根據(jù)測(cè)試需要將一個(gè)或多 個(gè)負(fù)載器連接于該接口 80和測(cè)試儀器之間以進(jìn)行限流，且每一負(fù)載器連接一接口 80，再選 擇性地將該雙擲開(kāi)關(guān)30的動(dòng)端連接該第一或第二不動(dòng)端，以測(cè)試待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器的兩組電 壓 VDDQ 和 VTT。
上述測(cè)試卡100通過(guò)該接口 80連接負(fù)載器，并通過(guò)該板邊連接器10的金手指I和 2分別連接待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器插槽的兩個(gè)電壓引腳，如此，即可使得該負(fù)載器間接與待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ) 器插槽的兩個(gè)電壓引腳相連，而無(wú)需刮出主板銅皮以將負(fù)載器與該內(nèi)存儲(chǔ)器插槽的電壓引 腳相連，不會(huì)損壞主板，方便快捷。
以上所述，僅為本發(fā)明較佳的具體實(shí)施方式
，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在 本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替代，皆涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試卡，用于輔助測(cè)試內(nèi)存儲(chǔ)器的兩組電壓，該輔助測(cè)試卡包括一板邊連接器，該板邊連接器與待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器的插槽相匹配，該板邊連接器包括第一及第二電壓金手指，當(dāng)該輔助測(cè)試卡插入該待測(cè)試內(nèi)存儲(chǔ)器插槽時(shí)，該第一電壓金手指對(duì)應(yīng)與該待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器插槽的第一電壓引腳相連，該第二電壓金手指對(duì)應(yīng)與該待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器插槽的第二電壓引腳相連；至少一接口，用于連接負(fù)載器；以及一開(kāi)關(guān)單元，包括第一至第三端，該開(kāi)關(guān)單元的第一端與該接口相連，該開(kāi)關(guān)單元的第二和第三端分別連接該第一和第二電壓金手指，該開(kāi)關(guān)單元用于選擇性地使該接口連接該第一或第二電壓金手指。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試卡，其特征在于該開(kāi)關(guān)單元為一雙擲開(kāi)關(guān)，該開(kāi)關(guān)單元的第一至第三端分別對(duì)應(yīng)為該雙擲開(kāi)關(guān)的動(dòng)端、第一不動(dòng)端和第二不動(dòng)端。
全文摘要
一種測(cè)試卡，包括板邊連接器，至少一用于連接負(fù)載器的接口和一雙擲開(kāi)關(guān)。該接口通過(guò)該雙擲開(kāi)關(guān)與該板邊連接器相連。當(dāng)該測(cè)試卡插入待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器的插槽時(shí)，該板邊連接器的第一和第二電壓金手指分別對(duì)應(yīng)連接該待測(cè)內(nèi)存儲(chǔ)器插槽的兩電壓引腳。上述測(cè)試卡輔助測(cè)試內(nèi)存儲(chǔ)器的兩組電壓時(shí)不會(huì)損壞主板，方便快捷。
文檔編號(hào)G11C29/56GK103000229SQ20111026703
公開(kāi)日2013年3月27日 申請(qǐng)日期2011年9月9日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月9日
發(fā)明者楊富森, 白云, 童松林 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司