專利名稱：光學(xué)記錄介質(zhì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種記錄介質(zhì)，更具體地講，涉及一種具有全息記錄層和傳統(tǒng)的光學(xué)記錄層的光學(xué)記錄介質(zhì)，在所述全息記錄層上，通過使用物光束和參考光束，數(shù)據(jù)作為干涉條紋而被記錄。
背景技術(shù)：
相移型或磁光型的可重寫光盤被廣泛用作信息記錄介質(zhì)。為了增加這樣的光盤的記錄密度，需要減小光束點(diǎn)的直徑并且需要使相鄰軌道或相鄰位之間的距離更小。盡管光盤的記錄密度已增加，但是用于將數(shù)據(jù)記錄在光盤的記錄表面上的光束的衍射極限在物理上限制了光盤的記錄密度。因此，需要包括深度方向的三維復(fù)用記錄來增加光盤的記錄密度。
全息記錄介質(zhì)作為下一代計算機(jī)記錄介質(zhì)已吸引了公眾的注意，該全息記錄介質(zhì)由于三維復(fù)用記錄區(qū)域而具有大容量并且由于二維記錄/再現(xiàn)方法而可在高速下使用?？赏ㄟ^在兩片玻璃之間插入由光聚合物形成的記錄層來形成這樣的全息記錄介質(zhì)。為了將數(shù)據(jù)記錄在全息記錄介質(zhì)上，與將被記錄的數(shù)據(jù)對應(yīng)的物光束和參考光束被照射在全息記錄介質(zhì)上以形成干涉條紋。為了從全息記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)據(jù)，參考光束被照射到干涉條紋以提取與記錄的數(shù)據(jù)相應(yīng)的光學(xué)數(shù)據(jù)。
由于多個二維數(shù)據(jù)記錄在相同的區(qū)域，因此以與致密盤相同的形狀形成的全息記錄介質(zhì)具有兆兆字節(jié)級的巨大的記錄密度。另一方面，當(dāng)在其上執(zhí)行復(fù)用記錄時，這種類型的介質(zhì)需要非常精確的光學(xué)系統(tǒng)的控制，以便在介質(zhì)上準(zhǔn)確地檢測位置。因此，第10-124872號日本公開專利公開了一種涉及在全息記錄介質(zhì)上排列地址信息的技術(shù)。然而，當(dāng)使用這種技術(shù)時，用于記錄位置信息(即，地址信息或數(shù)據(jù))的區(qū)域和數(shù)據(jù)區(qū)域在相同的表面上形成，從而不可能在記錄表面上執(zhí)行全息復(fù)用技術(shù)并減小了記錄容量。
發(fā)明公開技術(shù)問題用于記錄位置信息的區(qū)域和數(shù)據(jù)區(qū)域在相同的表面上形成，從而不可能在記錄表面上執(zhí)行全息復(fù)用技術(shù)并減小了記錄容量。
技術(shù)解決方案本發(fā)明的一方面提供了一種光學(xué)記錄介質(zhì)，所述光學(xué)記錄介質(zhì)允許在其記錄表面上的全息記錄和從其表面的數(shù)據(jù)再現(xiàn)，從而可方便地檢測全息圖的記錄位置而沒有減小記錄容量。
在下面的描述中將部分地闡明本發(fā)明另外的方面和/或優(yōu)點(diǎn)，部分地，通過描述，其會變得明顯，或者通過實(shí)施本發(fā)明可以了解。
有益的效果根據(jù)本發(fā)明，可對單個光學(xué)記錄介質(zhì)執(zhí)行全息記錄和/或再現(xiàn)以及ROM記錄和/或再現(xiàn)或者熱記錄和/或再現(xiàn)，并且可容易地檢測全息記錄層上的全息圖的記錄位置。


通過下面結(jié)合附圖對實(shí)施例進(jìn)行的描述，本發(fā)明的這些和/或其他方面和優(yōu)點(diǎn)將會變得清楚和更易于理解，其中圖1A和圖1B分別是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的光學(xué)記錄介質(zhì)的剖視圖和平面圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的光學(xué)記錄介質(zhì)的剖視圖；圖3A和圖3B分別是根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的光學(xué)記錄介質(zhì)的剖視圖和平面圖；和圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的方框圖。
最佳方式根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了一種包括一個具有全息記錄層的表面和另一具有ROM層的表面的光學(xué)記錄介質(zhì)，所述全息記錄層用于通過照射物光束和參考光束而將物光束的信息記錄為干涉條紋，在所述ROM層中形成有凹坑和凸坑。
在本發(fā)明的一方面中，可選信息作為ROM信息被記錄在全息記錄介質(zhì)上而沒有減小其記錄容量，并且位置確定控制可被精確地執(zhí)行。
在本發(fā)明的一方面中，ROM層具有光學(xué)記錄介質(zhì)的位置信息。
在本發(fā)明的一方面中，位置信息作為ROM信息被預(yù)先地記錄在全息記錄介質(zhì)上而沒有減小全息記錄容量，從而當(dāng)執(zhí)行全息記錄/再現(xiàn)時對預(yù)定地址的訪問可被精確地和迅速地執(zhí)行。
在本發(fā)明的一方面中，具有ROM層的表面由ROM類型光盤構(gòu)成。
在本發(fā)明的一方面中，可將可選信息記錄在ROM層上，并且當(dāng)執(zhí)行全息記錄/再現(xiàn)時對預(yù)定地址的訪問可通過使用ROM類型光盤的地址信息來精確并迅速地執(zhí)行。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種包括一個具有全息記錄層的表面和另一具有熱記錄層的表面的光學(xué)記錄介質(zhì)，所述全息記錄層用于通過照射物光束和參考光束而將物光束的信息記錄為干涉條紋。
在本發(fā)明的一方面中，通過執(zhí)行熱記錄，可選信息被另外記錄在全息記錄介質(zhì)上而沒有減小全息記錄容量。
在本發(fā)明的一方面中，熱記錄層具有凹槽或凸槽。
在本發(fā)明的一方面中，通過控制光學(xué)系統(tǒng)沿著凹槽或凸槽移動，光學(xué)系統(tǒng)的位置被精確地確定。
在本發(fā)明的一方面中，凹槽或凸槽之間的距離等于沿凹槽或凸槽的垂直方向的位移復(fù)用記錄的全息位移量的約數(shù)。
在本發(fā)明的一方面中，因為凹槽或凸槽之間的距離由位移復(fù)用記錄的全息位移量的約數(shù)來確定，所以當(dāng)通過沿著槽移動光學(xué)系統(tǒng)來執(zhí)行全息復(fù)用記錄時可控制在光學(xué)記錄介質(zhì)的全部區(qū)域上的位移量。
在本發(fā)明的一方面中，熱記錄層具有光學(xué)記錄介質(zhì)的位置信息。
在本發(fā)明的一方面中，位置信息被記錄在全息記錄介質(zhì)上而沒有減小全息記錄容量，因此當(dāng)執(zhí)行全息記錄/再現(xiàn)時對預(yù)定地址的訪問可被精確并迅速地執(zhí)行。
在本發(fā)明的一方面中，具有熱記錄層的表面由可記錄光盤構(gòu)成。
在本發(fā)明的一方面中，可選信息被記錄在熱記錄層上，并且當(dāng)通過使用可記錄類型光盤的地址信息來執(zhí)行全息記錄/再現(xiàn)時，對預(yù)定地址的訪問可精確并迅速地執(zhí)行。
在本發(fā)明的一方面中，光學(xué)記錄介質(zhì)包括在全息記錄層和ROM層之間插入的全反射層。
在本發(fā)明的一方面中，可在沒有全息記錄層信號和ROM層信號之間的干涉的情況下執(zhí)行記錄/再現(xiàn)。
在本發(fā)明的一方面中，光學(xué)記錄介質(zhì)包括在全息記錄層和熱記錄層之間插入的全反射層。
在本發(fā)明的一方面中，可在沒有全息記錄層信號和熱記錄層信號之間的干涉的情況下執(zhí)行記錄/再現(xiàn)。
本發(fā)明的方式現(xiàn)在，將對本發(fā)明實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)的描述，其示例表示在附圖中，其中，相同的標(biāo)號始終表示相同的部件。下面將參照附圖描述這些實(shí)施例以解釋本發(fā)明。
參照圖1A和圖1B，根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的光學(xué)記錄介質(zhì)1包括基底2、全息記錄層3、全反射層4、保護(hù)層5、涂層(未顯示)、粘合層(未顯示)、和具有坑7的基底6。圖1A中顯示的光學(xué)記錄介質(zhì)的剖視圖是沿圖1B中顯示的平面圖的線A-A′截取的。光學(xué)記錄介質(zhì)1包括全息記錄層3和由具有坑7的基底6組成的光學(xué)記錄層。
光學(xué)記錄介質(zhì)1的位置信息被記錄在坑7中，并且用于記錄全息圖的位置或記錄的全息圖的位置可通過使用記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的光學(xué)拾取器從基底6光學(xué)地讀取光學(xué)記錄介質(zhì)1的位置信息來檢測。根據(jù)本發(fā)明的一方面，記錄在光學(xué)記錄層的ROM單元中的信息除了位置信息外還包括可選信息。例如，ROM單元可包括復(fù)制保護(hù)數(shù)據(jù)和/或用戶數(shù)據(jù)。
ROM單元可由ROM類型光盤構(gòu)成，例如，CD-ROM或DVD-ROM。在這種情況下，用于記錄全息圖或記錄的全息圖的位置信息可從CD-ROM或DVD-ROM的地址信息獲得。
全息記錄層3使用諸如光聚合物或光折變晶體(photorefractive crystal)的光敏材料來記錄由物光束和參考光束引起的干涉圖樣。物光束包括數(shù)據(jù)或其他信息。為了從全息記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)據(jù)，參考光束被照射到干涉條紋以提取與記錄的數(shù)據(jù)相應(yīng)的光學(xué)數(shù)據(jù)。另外，全反射層4反射從全息記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備(未顯示)照射到全息記錄層3的物光束和參考光束，并且防止物光束和參考光束到達(dá)ROM單元而破壞存儲在ROM單元中的數(shù)據(jù)或信息。因此，全息記錄層3和ROM單元可由全反射層4光學(xué)地分開。因此，物光束和參考光束不能干涉來自例如像圖4中顯示的那樣的光學(xué)拾取器的檢測光束，所述檢測光束檢測在ROM單元上以凹形狀或凸形狀排列的位置檢測信息。結(jié)果，當(dāng)與記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備一起使用時，可用光學(xué)記錄介質(zhì)1來執(zhí)行記錄和再現(xiàn)高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。
參照圖2，根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的光學(xué)記錄介質(zhì)1包括基底2、全息記錄層3、全反射層4、保護(hù)層5、涂層(未顯示)、粘合層(未顯示)、熱記錄層8、和基底9。
光學(xué)記錄介質(zhì)1的位置信息通過圖4中示出的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備而被記錄在熱記錄層8上。因此，位置信息由光學(xué)拾取器從基底9光學(xué)地讀取，并且用于記錄全息圖的位置和記錄的全息圖的位置被確定。位置信息可以在全息記錄操作中記錄或者可被預(yù)先地記錄。另外，熱記錄的信息除了位置信息外還可包括附加信息。
全反射層4防止物光束和參考光束到達(dá)熱記錄層8。物光束和參考光束將干涉圖樣記錄在全息記錄層3中。物光束包括數(shù)據(jù)或其他信息，從而在從全息記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)據(jù)期間，參考光束被照射到干涉條紋以提取與記錄的數(shù)據(jù)相應(yīng)的光學(xué)數(shù)據(jù)。因此，全息記錄層3和熱記錄層8可由全反射層4完全地分開，從而當(dāng)從熱記錄層8讀取位置信息或位置信息被記錄在熱記錄層8上時，物光束和參考光束不能到達(dá)并干涉光學(xué)系統(tǒng)或者引起光學(xué)系統(tǒng)的錯誤，所述光學(xué)系統(tǒng)是諸如用于讀取光學(xué)記錄介質(zhì)1的光學(xué)記錄層的光學(xué)拾取器的光學(xué)系統(tǒng)。結(jié)果，通過使用光學(xué)記錄介質(zhì)1，可執(zhí)行記錄和再現(xiàn)高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。
參照圖3A和圖3B，根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的光學(xué)記錄介質(zhì)1包括基底2、全息記錄層3、全反射層4、保護(hù)層5、涂層(未顯示)、粘合層(未顯示)、熱記錄層10、和具有凹槽或凸槽12的基底11。圖3A中顯示的光學(xué)記錄介質(zhì)1的剖視圖是沿圖3B中顯示的平面圖的線B-B′截取的。
在這種情況下，光學(xué)記錄介質(zhì)1的位置信息被記錄在熱記錄層10上，并且用于記錄全息圖的位置或記錄的全息圖的位置可通過從基底11光學(xué)地讀取光學(xué)記錄介質(zhì)1的位置信息來檢測。位置信息可以在全息記錄操作中記錄或者可被預(yù)先地記錄。另外，熱記錄的信息除了位置信息外還可包括其他的信息。應(yīng)該理解，關(guān)于熱記錄層10的記錄和/或再現(xiàn)操作可由包括光學(xué)拾取器的諸如圖4中顯示的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備來執(zhí)行。另外，擺動信號可用于形成槽。
熱記錄層可由記錄光盤構(gòu)成，例如，CD-R/RW或DVD±R/W類型的光學(xué)記錄盤。在這種情況下，用于記錄全息圖的位置或記錄的全息圖的位置可從CD-R/RW或DVD±R/W的地址信息獲得。應(yīng)該理解，可以使用諸如高級光盤(AOD)或藍(lán)光盤的其他類型的光盤。
槽12的距離D等于當(dāng)沿X方向執(zhí)行全息圖的位移復(fù)用記錄時的位移量的約數(shù)。例如，當(dāng)位移量是12μm時，距離D是1μm、2μm、3μm、4μm、6μm、或12μm。
當(dāng)距離D是12μm時，檢測光學(xué)系統(tǒng)被控制沿著槽移動，因此，記錄和/或再現(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)沿X方向自動地移動所述位移量。這種情況指的是檢測位置信息的檢測光學(xué)系統(tǒng)和記錄全息圖的記錄和/或再現(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)整體地或以連接的狀態(tài)來移動的情況。另外，當(dāng)距離D是3μm時，在移動檢測光學(xué)系統(tǒng)時記錄和/或再現(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)通過跳過四個槽來沿X方向移動所述位移量。
盡管沒有特別地如此限制，但是應(yīng)該理解，信息存儲介質(zhì)1可包括CD-R、CD-RW、DVD-RW、DVD-RAM、DVD+RW、以及諸如藍(lán)光盤和高級光盤(AOD)的下一代高分辨率DVD。
圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄設(shè)備的方框圖。參照圖4，所述記錄設(shè)備包括記錄/讀取單元1001、控制器1002、和存儲器1003。記錄/讀取單元1001將數(shù)據(jù)記錄在本發(fā)明實(shí)施例的光學(xué)記錄介質(zhì)1上，并且從光學(xué)記錄介質(zhì)1讀取數(shù)據(jù)?？刂破?002根據(jù)如上關(guān)于圖1到圖3B所闡明的本發(fā)明來記錄和再現(xiàn)光學(xué)記錄介質(zhì)相關(guān)的數(shù)據(jù)。
盡管不是在所有方面被需要，但是應(yīng)該理解，控制器1002可以是通過使用編碼在計算機(jī)可讀介質(zhì)上的計算機(jī)程序來實(shí)現(xiàn)方法的計算機(jī)。該計算機(jī)可被實(shí)現(xiàn)為具有固件的芯片，或者可以是可編程的執(zhí)行所述方法的通用計算機(jī)或?qū)Ｓ糜嬎銠C(jī)。
另外，應(yīng)該理解，為了在光學(xué)記錄層上實(shí)現(xiàn)大量的兆兆字節(jié)的記錄容量，記錄/讀取單元1001可包括可用于在光學(xué)記錄介質(zhì)1上記錄大量的兆兆字節(jié)的數(shù)據(jù)的低波長、高數(shù)值孔徑類型單元。這樣的單元的示例包括但并不限于使用405nm的光波長并具有0.85的數(shù)值孔徑的單元、與藍(lán)光盤兼容的單元、和/或與高級光盤(AOD)兼容的單元。記錄/讀取單元1001還能夠產(chǎn)生用于在全息層中創(chuàng)建和/或讀取干涉條紋的物光束和參考光束。
因此，可對單個記錄介質(zhì)執(zhí)行全息記錄和/或再現(xiàn)以及ROM記錄和/或再現(xiàn)或者熱記錄和/或再現(xiàn)，并且可容易地檢測全息記錄層上的全息圖的記錄位置。
盡管已顯示和描述了本發(fā)明的一些實(shí)施例，但本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該理解，在不脫離本發(fā)明的原則和精神的情況下，可以對其進(jìn)行修改，本發(fā)明的范圍由權(quán)利要求及其等同物限定。
產(chǎn)業(yè)上的可利用性本發(fā)明涉及一種記錄介質(zhì)，更具體地講，涉及一種具有全息記錄層和傳統(tǒng)的光學(xué)記錄層的光學(xué)記錄介質(zhì)，在所述全息記錄層上，通過使用物光束和參考光束，數(shù)據(jù)作為干涉條紋而被記錄。
權(quán)利要求
1.一種與記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備一起使用的光學(xué)記錄介質(zhì)，該光學(xué)記錄介質(zhì)包括光學(xué)記錄介質(zhì)的第一表面，具有全息記錄層，通過將物光束和參考光束照射到所述全息記錄層上，物光束的信息作為干涉條紋而被記錄；和第二表面，具有在其上形成有坑的ROM層。
2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)記錄介質(zhì)，其中，ROM層具有關(guān)于與全息記錄層和/或ROM層相應(yīng)的光學(xué)記錄介質(zhì)的位置信息。
3.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)記錄介質(zhì)，其中，具有ROM層的第二表面由ROM類型光盤構(gòu)成。
4.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)記錄介質(zhì)，其中，所述坑是凹形狀或凸形狀的。
5.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)記錄介質(zhì)，其中，全反射層被插入全息記錄層和ROM層之間。
6.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)記錄介質(zhì)，還包括第三表面，布置于第一表面和第二表面之間，用于反射光。
7.一種與記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備一起使用的光學(xué)記錄介質(zhì)，該光學(xué)記錄介質(zhì)包括第一表面，具有全息記錄層，通過照射物光束和參考光束，物光束的信息作為干涉條紋而被記錄；和第二表面，具有熱記錄層。
8.如權(quán)利要求7所述的光學(xué)記錄介質(zhì)，其中，熱記錄層具有凹槽或凸槽。
9.如權(quán)利要求8所述的光學(xué)記錄介質(zhì)，其中，凹槽或凸槽之間的距離是沿凹槽或凸槽的垂直方向的位移復(fù)用記錄的全息位移量的約數(shù)。
10.如權(quán)利要求7所述的光學(xué)記錄介質(zhì)，其中，熱記錄層具有關(guān)于光學(xué)記錄介質(zhì)的位置信息。
11.如權(quán)利要求7所述的光學(xué)記錄介質(zhì)，其中，具有熱記錄層的表面由可記錄光盤構(gòu)成。
12.如權(quán)利要求7所述的光學(xué)記錄介質(zhì)，還包括插入到全息記錄層和熱記錄層之間的全反射層。
13.一種與記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備一起使用的信息存儲介質(zhì)，該信息存儲介質(zhì)包括第一層，其包括存儲信息的全息圖；和第二層，其包括光學(xué)記錄層，所述光學(xué)記錄層存儲與由所述記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備使用的第一層相應(yīng)的地址信息。
14.如權(quán)利要求13所述的信息存儲介質(zhì)，其中，光學(xué)記錄層包括ROM層。
15.如權(quán)利要求13所述的信息存儲介質(zhì)，其中，光學(xué)記錄層包括熱層。
16.如權(quán)利要求15所述的信息存儲介質(zhì)，其中，熱層包括由沿垂直于凹槽或凸槽的垂直方向的全息圖的位移復(fù)用記錄的約數(shù)隔開的凹槽或凸槽。
17.如權(quán)利要求13所述的信息存儲介質(zhì)，還包括布置于第一層和第二層之間的反射層。
18.如權(quán)利要求13所述的信息存儲介質(zhì)，第二層除了地址信息外還包括數(shù)據(jù)。
19.一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，該設(shè)備用于對于具有第一層和第二層的信息存儲介質(zhì)記錄和/或再現(xiàn)數(shù)據(jù)，所述第一層包括存儲信息的全息圖，所述第二層包括存儲與由所述記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備使用的第一層相應(yīng)的地址信息的光學(xué)記錄層，該設(shè)備包括光學(xué)拾取器，用于對于信息存儲介質(zhì)傳輸數(shù)據(jù)；和控制器，其控制光學(xué)拾取器檢測第一層和第二層，并且控制光學(xué)拾取器對于信息存儲介質(zhì)的第二層傳輸?shù)刂沸畔⒉⒏鶕?jù)所述地址信息對于第一層傳輸信息。
20.一種根據(jù)存儲在信息存儲介質(zhì)的光學(xué)記錄層上的信息對于所述信息存儲介質(zhì)的全息層傳輸數(shù)據(jù)的方法，包括從所述信息存儲介質(zhì)檢測來自光學(xué)記錄層的信息；根據(jù)所述信息在記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備和所述信息存儲介質(zhì)的全息層之間傳輸數(shù)據(jù)。
21.如權(quán)利要求20所述的方法，其中，第二信息是與全息層的數(shù)據(jù)相應(yīng)的地址信息。
全文摘要
一種用于對第一層以及ROM再現(xiàn)層或熱記錄層執(zhí)行全息記錄并且容易地檢測全息圖的記錄位置而沒有減小記錄容量的光學(xué)記錄介質(zhì)。所述光學(xué)記錄介質(zhì)包括一個具有全息記錄層的表面和至少另一具有ROM層或熱層的表面，所述全息記錄層用于通過照射物光束和參考光束而將物光束的信息記錄為干涉條紋，在所述另一表面上形成有坑以存儲信息而容易地檢測記錄的全息圖的位置。
文檔編號G11B7/24GK1774751SQ200580000306
公開日2006年5月17日 申請日期2005年3月7日 優(yōu)先權(quán)日2004年3月9日
發(fā)明者青木育夫, 高橋義孝 申請人:三星電子株式會社