專利名稱：光盤驅(qū)動(dòng)器中用于跟蹤誤差檢測(cè)的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于跟蹤誤差檢測(cè)的方法及裝置，更具體地說(shuō)，涉及用于跟蹤誤差檢測(cè)的改進(jìn)的方法及裝置，在該方法及裝置中，將鎖相環(huán)(PLL)引入傳統(tǒng)的微分相位檢測(cè)跟蹤誤差(differential phase detection tracking error)(DPD TE)法，以增加跟蹤誤差檢測(cè)的精確度。
在傳統(tǒng)的DPD TE方法中，在光盤的凹坑或標(biāo)記的邊緣上產(chǎn)生相位差。記錄在光盤上的凹坑或標(biāo)記的長(zhǎng)度處于各種范圍。例如，數(shù)字多用光盤-ROM對(duì)于(DVD-ROM)，長(zhǎng)度分布范圍為3T到14T，其中T是該種盤的一個(gè)通道時(shí)鐘的延續(xù)時(shí)間。如果有很多長(zhǎng)度較短的凹坑或標(biāo)記，則可以多次執(zhí)行相位差檢測(cè)，從而增強(qiáng)得到的跟蹤誤差信號(hào)的可靠性。相反，如果有很多長(zhǎng)度較長(zhǎng)的凹坑或標(biāo)記，則可以執(zhí)行的相位差檢測(cè)次數(shù)減少，從而降低跟蹤誤差信號(hào)的可靠性。此外，根據(jù)記錄在盤上的信號(hào)的調(diào)制方法，有一個(gè)頻譜分量與輸出的AC+和BD+緊密相關(guān)，并且該頻譜的低頻分量，影響到關(guān)于用來(lái)追蹤和確定跟蹤中心的位置的跟蹤誤差信號(hào)的噪聲。
根據(jù)傳統(tǒng)的DPD TE法，假定相位差檢測(cè)根據(jù)凹坑或標(biāo)記一次性完成，因此當(dāng)凹坑或標(biāo)記的信號(hào)由于缺陷等受到不利影響時(shí)，檢測(cè)到的信號(hào)的增益和特性惡化。此外，當(dāng)光盤的軌道密度增加時(shí)，傳統(tǒng)DPD TE法中的跟蹤誤差信號(hào)的幅度和增益減少。因此，傳統(tǒng)DPD TE法有一個(gè)弱點(diǎn)，那就是難于在高軌道密度結(jié)構(gòu)情況下，精確地控制跟蹤。
為了解決以上問(wèn)題，本發(fā)明的一個(gè)目的是通過(guò)在傳統(tǒng)的微分相位檢測(cè)跟蹤誤差(DPD TE)方法中引入鎖相環(huán)(PLL)，提供一種改進(jìn)跟蹤誤差檢測(cè)精確度的方法。
本發(fā)明的另一個(gè)目的是提供一個(gè)使用上述方法的裝置。
因此，為了達(dá)到本發(fā)明的一個(gè)目的，提供一種用于生成跟蹤誤差信號(hào)的跟蹤誤差檢測(cè)方法，生成的這種信號(hào)即是由兩個(gè)以上的沿穿過(guò)軌道中心的對(duì)角線上的光學(xué)檢測(cè)器產(chǎn)生的各光學(xué)檢測(cè)信號(hào)之間的差信號(hào)。本發(fā)明的方法包括以下步驟二值化步驟，用于對(duì)光學(xué)檢測(cè)器的輸出進(jìn)行二值化；鎖相步驟，用于產(chǎn)生與由二值化步驟得到的每一個(gè)輸出同步的時(shí)鐘信號(hào)；相位差檢測(cè)步驟，用于檢測(cè)鎖相步驟輸出的各個(gè)同步時(shí)鐘信號(hào)之間的相位差；以及，低通濾波步驟，用于對(duì)相位差檢測(cè)步驟的輸出進(jìn)行濾波，以便把濾波結(jié)果作為跟蹤誤差信號(hào)輸出。
為了達(dá)到另一個(gè)目的，本發(fā)明提供跟蹤誤差檢測(cè)裝置的第一實(shí)施例，根據(jù)由兩個(gè)以上的沿穿過(guò)軌道中心的對(duì)角線的光學(xué)檢測(cè)器產(chǎn)生的各光學(xué)檢測(cè)信號(hào)之間的差信號(hào)，產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)。本發(fā)明的裝置的第一優(yōu)選實(shí)施例包括二值化器，用于對(duì)光學(xué)檢測(cè)器的每一個(gè)輸出進(jìn)行二值化；多個(gè)PLL，用于產(chǎn)生與二值化器得到的每一個(gè)輸出同步的時(shí)鐘信號(hào)；相位差檢測(cè)器，用于檢測(cè)從各個(gè)PLL輸出的多個(gè)同步時(shí)鐘信號(hào)之間的相位差；以及低通濾波器，用于對(duì)相位差的檢測(cè)器輸出進(jìn)行濾波，以便把結(jié)果作為跟蹤誤差信號(hào)輸出。在這種情況下，最好再增加一個(gè)分頻器，用于把通道的時(shí)鐘信號(hào)的頻率被除以n(n=2，3，4，……)，即使在輸出信號(hào)的相位發(fā)生翻轉(zhuǎn)時(shí)，也能將信號(hào)輸出到各個(gè)PLL。
為了達(dá)到本發(fā)明的另一個(gè)目的，本發(fā)明還提供第二跟蹤誤差檢測(cè)裝置的實(shí)施例，其根據(jù)由配置在三單元式光學(xué)檢測(cè)組件的軌道中心外側(cè)的兩個(gè)光學(xué)檢測(cè)器產(chǎn)生的各光學(xué)檢測(cè)信號(hào)的差信號(hào)，生成跟蹤誤差信號(hào)。本發(fā)明的裝置的第二優(yōu)選實(shí)施例包括二值化器，用于對(duì)光學(xué)檢測(cè)器的每個(gè)輸出進(jìn)行二值化；相位差檢測(cè)器，用于檢測(cè)二值化器的多個(gè)輸出之間的相位差；低通濾波器，用于對(duì)相位差檢測(cè)器的輸出進(jìn)行濾波，以便把結(jié)果作為跟蹤誤差信號(hào)輸出。在這種情況下，為了生成與二值化器的每一個(gè)輸出同步的時(shí)鐘信號(hào)，以便把這些同步時(shí)鐘信號(hào)輸出到相位差檢測(cè)器，跟蹤誤差檢測(cè)裝置最好還包括一些耦合到二值化器和相位檢測(cè)器的PLL。
通過(guò)參考附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，本發(fā)明的以上目的和優(yōu)點(diǎn)將變得更加清楚，在附圖中

圖1是傳統(tǒng)微分相位檢測(cè)跟蹤誤差(DPD TE)法中的跟蹤誤差檢測(cè)裝置的方框圖；圖2是一個(gè)波形曲線圖，表示圖1所示裝置的工作情況；圖3是本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置的第一優(yōu)選實(shí)施例的方框圖；圖4是一個(gè)波形曲線圖，它表示圖3所示裝置的工作情況；圖5是本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置的第二優(yōu)選實(shí)施例的方框圖6是本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置的第三優(yōu)選實(shí)施例的方框圖；圖7是本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置的第四優(yōu)選實(shí)施例的方框圖；圖8是關(guān)于圖3和5-7中所示的均衡器增益與頻率的關(guān)系曲線圖；圖9表示本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置產(chǎn)生的跟蹤誤差信號(hào)與傳統(tǒng)DPDTE法生成的跟蹤誤差信號(hào)比較結(jié)果的曲線圖；圖10表示本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置與傳統(tǒng)DPD TE法生成的跟蹤誤差信號(hào)的增益特性曲線圖。
參考圖1，該圖表示傳統(tǒng)微分相位檢測(cè)跟蹤誤差(DPD TE)法中的跟蹤誤差檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)。圖1所示的裝置包括一個(gè)四單元式光學(xué)檢測(cè)組件102，一個(gè)矩陣電路104，高通濾波器(HPF)106a和106b，比較器108a和108b，一個(gè)相位比較器110以及低通濾波器(LPF)112。該裝置檢測(cè)四單元式光學(xué)檢測(cè)組件102輸出的各個(gè)信號(hào)之間的相位差，以便確定激光束點(diǎn)的位置。如果激光束點(diǎn)偏離軌道的中心，則將導(dǎo)致產(chǎn)生A+C和B+D信號(hào)之間的時(shí)間延遲或相位差。因此，通過(guò)檢測(cè)這些信號(hào)之間的時(shí)間延遲產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)。
特別是，矩陣電路104，用于將光學(xué)檢測(cè)信號(hào)A和B與C和D相加，各信號(hào)位于沿四單元式光學(xué)檢測(cè)組件102的各輸出(A、B、C和D)之間的對(duì)角線上，分別將輸出AC1和BD1轉(zhuǎn)化成A+C和B+D。用于增強(qiáng)矩陣電路104提供的AC1和BD1的高頻分量的HPF 106a和106b，對(duì)AC1和BD1微分(differentiate)，以便將結(jié)果即AC2和BD2輸出向比較器108a和108b。比較器108a和108b用于分別HPF 106a和106b提供的AC2和BD2進(jìn)行二值化，把AC2和BD2與預(yù)定的電平(圖1中為地電平)比較，并向比較器110輸出結(jié)果，即AC3和BD3。
相位比較器110，用于檢測(cè)比較器108a和108b提供的AC3和BD3之間的相位差，比較AC3和BD3的相位，并將比較結(jié)果即AC+和BD+輸出到LPF 112。在這種情況下，AC+是在AC3的相位比BD3的相位超前時(shí)產(chǎn)生的相位誤差信號(hào)，而BD+是在BD3的相位比AC3的相位超前時(shí)產(chǎn)生的相位誤差信號(hào)。用于對(duì)相位比較器110輸出的AC+和BD+濾波的LPF 112，把該結(jié)果作為跟蹤誤差信號(hào)輸出。
圖2表示圖1所示的裝置工作情況的波形曲線圖。圖2中表示AC3的相位比BD3的相位超前時(shí)的情形，從上向下，依次表示AC3、BD3、AC+和BD+信號(hào)的波形曲線。正如圖2所示的那樣，可以發(fā)現(xiàn)，如果激光束點(diǎn)偏離到一個(gè)預(yù)定的量，則在AC3和BD3之間存在一個(gè)相位差，該相位差又反映到AC+和BD+。如果AC3的相位比BD3的相位超前，則跟蹤誤差信號(hào)比預(yù)定的中心值大，反之，比預(yù)定的中心值小。跟蹤誤差信號(hào)偏離中心值的程度，相應(yīng)于激光束點(diǎn)離開軌道中心的距離。
圖1中所示裝置的相位比較器110檢測(cè)AC3和BD3的上升沿或下降沿的相位差。AC3和BD3的上升沿或下降沿相應(yīng)于記錄在光盤上的凹坑或標(biāo)記的邊緣。換句話說(shuō)，圖1中所示裝置在記錄于光盤上的凹坑或標(biāo)記的每個(gè)邊緣處，一次性檢測(cè)相位差。因此，當(dāng)凹坑或標(biāo)記的數(shù)量增加時(shí)，跟蹤誤差信號(hào)的可靠性提高，而當(dāng)凹坑或標(biāo)記的數(shù)量減少時(shí)，該信號(hào)的可靠性降低。如果凹坑或標(biāo)記由于光盤的瑕疵或別的因素受到影響，則跟蹤誤差信號(hào)的增益和特性將變壞。根據(jù)紀(jì)錄的調(diào)制法的頻譜分量，與AC+和BD+緊密相關(guān)，特別是，該頻譜的低頻分量影響到關(guān)于跟蹤誤差信號(hào)的噪聲。此外，在根據(jù)DPD TE法的跟蹤誤差信號(hào)情形，其幅度和增益在軌道密度增加時(shí)減少，這使得在高密度結(jié)構(gòu)中對(duì)跟蹤進(jìn)行精確控制變得困難。
為了克服這樣的缺陷，本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)法包含產(chǎn)生與二值化的信號(hào)AC+和BD+的每一個(gè)信號(hào)同步的時(shí)鐘信號(hào)，以便檢測(cè)這些時(shí)鐘信號(hào)之間的相位差。在這種情況下，同步時(shí)鐘信號(hào)中的全部脈沖都具有AC+和BD+的相位差分量，因此跟蹤誤差信號(hào)的產(chǎn)生，與記錄在盤上的凹坑或標(biāo)記長(zhǎng)度無(wú)關(guān)。
特別是，首先，在沿穿過(guò)軌道中心的對(duì)角線配置的光學(xué)檢測(cè)器的各個(gè)輸出均被二值化。其次，由PLL電路產(chǎn)生與二值化步驟得到的每一個(gè)輸出同步的時(shí)鐘信號(hào)。當(dāng)激光束點(diǎn)偏離軌道中心時(shí)，從二值化步驟得到的輸出AC+和BD+具有與激光束點(diǎn)相對(duì)于軌道中心的偏離程度相對(duì)應(yīng)的相位差，并且，相位鎖定于這些輸出的各時(shí)鐘具有相同的相位差。再次，鎖相步驟中檢測(cè)輸出的各同步時(shí)鐘信號(hào)之間的相位差。各個(gè)同步時(shí)鐘信號(hào)的所有時(shí)鐘均有AC+和BD+相位差分量，因此，根據(jù)逐個(gè)時(shí)鐘的相位差分量均被檢測(cè)。最后，對(duì)相位差檢測(cè)步驟的輸出，通過(guò)LPF進(jìn)行濾波，得到跟蹤誤差信號(hào)。
圖3是本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置的第一優(yōu)選實(shí)施例的方框圖。圖3所示的裝置包括；四單元式光學(xué)檢測(cè)組件302，矩陣電路304，均衡器(EQ)306a和306b，二值化器308a和308b，PLL 310a和310b，相位比較器312，LPF 314a和314b，差分放大器316，以及分頻器318。
矩陣電路304，用于在四單元式光學(xué)檢測(cè)組件302的各輸出A、B、C和D之間將光學(xué)檢測(cè)信號(hào)A和C以及B和D相加，分別將輸出A+C和B+D轉(zhuǎn)換成為AC1和BD1。即，該矩陣電路304生成由位于沿穿過(guò)軌道中心的對(duì)角線的各光學(xué)檢測(cè)器產(chǎn)生的信號(hào)的總信號(hào)。EQ 306a和306b，用于增強(qiáng)從矩陣電路304提供的AC1和BD1的高頻分量并且去除其中的噪聲，對(duì)AC1和BD1進(jìn)行微分，并去除其中噪聲，向二值化器308a和308b輸出結(jié)果AC2和BD2。換言之，因?yàn)樗膯卧焦鈱W(xué)檢測(cè)組件302的各輸出A、B、C和D具有較弱的高頻分量，所以矩陣電路304提供的AC1和BD1的高頻分量通過(guò)EQ 306a和306b得以增強(qiáng)。此外，由于四單元式光學(xué)檢測(cè)組件302的各輸出A、B、C和D除了從光盤中反射來(lái)的信號(hào)以外還含有噪聲分量，因此EQ 306a和306b去除了矩陣電路304提供的AC1和BD1中的噪聲分量。
二值化器308a和308b，用于轉(zhuǎn)換EQ 306a和306b提供的AC2和BD2，成為二進(jìn)制數(shù)字信號(hào)，對(duì)AC2和BD2進(jìn)行二值化，并向PLL 310a和310b輸出結(jié)果AC3和BD3。通過(guò)二值化器308a和308b，可以實(shí)施對(duì)EQ 306a和306b提供的AC2和BD2的二值化電平進(jìn)行補(bǔ)償。PLL 310a和310b，用于產(chǎn)生與二值化器308a和308b提供的AC3和BD3的時(shí)鐘信號(hào)(CLK)同步的接受信號(hào)CLK、AC3和BD3，并且向相位比較器312輸出與AC3和BD3同步的CLK_AC和CLK_BD。相位比較器312，用于檢測(cè)PLL 310a和310b提供的CLK_AC和CLK_BD之間的相位差，比較CLK_AC和CLK_BD的相位，然后分別向LPF 314a和314b輸出結(jié)果AC+和BD+。在這種情況下，AC+和BD+分別是在CLK_AC的相位比CLK_BD的相位超前時(shí)和CLK_BD的相位比CLK_AC的相位超前時(shí)產(chǎn)生的相位差信號(hào)。
LPF 314a和314b對(duì)相位比較器312提供的AC+和BD+進(jìn)行濾波，以便向差分放大器316輸出結(jié)果。差分放大器316放大經(jīng)LPF 314a和314b濾波的AC+和BD+的差分信號(hào)，以便把結(jié)果作為跟蹤誤差信號(hào)(TE)輸出。
圖4表示圖3所示裝置工作情況的波形曲線。圖4表示AC3的相位超前于BD3的相位的情形，從上向下依次表示AC3、BD3、CLK_AC、CLK_AD、CLK_AC+和BD+信號(hào)波形。正如圖4所示的那樣，可以發(fā)現(xiàn)，如果激光束點(diǎn)距軌道中心偏離到一個(gè)預(yù)定的量，則在AC3和BD3之間存在的相位差被轉(zhuǎn)換成按CLK的頻率加倍的CLK_AC和CLK_BD。圖4表示了分別與AC3和BD3同步的CLK_AC和CLK_BD的產(chǎn)生，還表示了AC3和BD3之間形成的相位差Δt轉(zhuǎn)換為PLL 310a和310b的輸出CLK_AC和CLK_BD。因此，能夠得到作為CLK_AC和CLK_BD的相位比較結(jié)果的相位差值Δt。
傳統(tǒng)裝置在時(shí)間段t1中一次性檢測(cè)相位差Δt，而本發(fā)明的裝置在CLK的每一個(gè)周期中，均能一次性檢測(cè)相位差Δt。當(dāng)通道時(shí)鐘用作CLK時(shí)，相位差Δt在每一個(gè)通道時(shí)鐘周期T中，均一次性檢測(cè)，而不用考慮記錄在光盤中的凹坑和標(biāo)記的長(zhǎng)度。分頻器318在輸出信號(hào)發(fā)生翻轉(zhuǎn)的時(shí)間段中，對(duì)CLK進(jìn)行分頻，以便向PLL 310a和310b輸出該結(jié)果。在圖3所示的裝置中，跟蹤伺服控制在輸出信號(hào)發(fā)生翻轉(zhuǎn)的時(shí)間段變得不穩(wěn)定。原因是輸出信號(hào)的翻轉(zhuǎn)導(dǎo)致偏離PLL 310a和310b的相位差檢測(cè)的范圍。因此，為了補(bǔ)償這種偏離，CLK的頻率在輸出信號(hào)發(fā)生翻轉(zhuǎn)期間被分頻，然后向PLL 310a和310b提供該結(jié)果。
圖5是本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置的第二優(yōu)選實(shí)施例的方框圖。圖5所示的裝置包括；四單元式光學(xué)檢測(cè)組件502，EQ 506a-506d，二值化器508a-508d，PLL 510a-510d，相位比較器512a和512b，LPF 514a-514d，差分放大器516a和516b，以及加法器518。因?yàn)樗膯卧焦鈱W(xué)檢測(cè)組件502的各輸出A、B、C和D具有較弱的高頻分量，所以從四單元式光學(xué)檢測(cè)組件502提供的各輸出A、B、C和D的高頻分量通過(guò)EQ 506a-506d得以增強(qiáng)，此外，由于四單元式光學(xué)檢測(cè)組件502的各輸出A、B、C和D除了從光盤中反射來(lái)的信號(hào)以外含有噪聲分量，因此EQ 506a-506d去除四單元式光學(xué)檢測(cè)組件502提供的各輸出A、B、C和D的噪聲分量。
用于轉(zhuǎn)換EQ 506a-506d提供的信號(hào)為二進(jìn)制數(shù)字信號(hào)的二值化器508a-508d，對(duì)這些信號(hào)進(jìn)行二值化，并向PLL 510a-510d輸出該結(jié)果。用于產(chǎn)生同步于二值化器508a-508d提供的信號(hào)的CLK的PLL 510a-510d，接受信號(hào)CLK作為輸入，并且接受從二值化器508a-508d提供的信號(hào)，以便向相位比較器512a和512b輸出與由二值化器508a-508d提供的每一個(gè)信號(hào)同步的CLK。相位比較器512a和512b用于檢測(cè)PLL 510a-510d提供的CLK_A和CLK_B之間的相位差，以及CLK_C和CLK_D之間相位差。相位比較器512a比較CLK_A和CLK_B的相位，并分別向LPF 514a和514b輸出結(jié)果A+和B+，而相位比較器512 b比較CLK_C和CLK_D的相位，并分別向LPF 514c和514d輸出結(jié)果C+和D+。在這種情況下，A+和B+分別是在CLK_A的相位比CLK_B的相位超前時(shí)和CLK_B的相位比CLK_A的相位超前時(shí)產(chǎn)生的相位誤差信號(hào)。此外，C+和D+分別是在CLK_C的相位比CLK_D的相位超前時(shí)和CLK_D的相位比CLK_C的相位超前時(shí)產(chǎn)生的相位誤差信號(hào)。
LPF 514a-514d對(duì)相位比較器512a和512b提供的A+、B+、C+和D+進(jìn)行濾波，然后向差分放大器516a和516b輸出結(jié)果。差分放大器516a和516b放大經(jīng)LPF 514a-514d濾波后的A+和B+及C+和D+的差分信號(hào)，并向加法器518輸出該結(jié)果。用于相加差分放大器516a和516b提供的信號(hào)的加法器，把那些信號(hào)相加起來(lái)，輸出其結(jié)果作為TE。
圖6是表示本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置的第三優(yōu)選實(shí)施例的方框圖。其中的TE是通過(guò)利用三單元式光學(xué)檢測(cè)組件的輸出產(chǎn)生的。圖6所示的裝置包括三單元式光學(xué)檢測(cè)組件602，EQ 606a和606b，二值化器608a和608b，PLL 610a和610b，相位比較器612，LPF 614a和614b，以及差分放大器616。
EQ 606a和606b用于增強(qiáng)位于三單元式光學(xué)檢測(cè)組件602外側(cè)的各光學(xué)檢測(cè)器提供的信號(hào)E和G的高頻分量，并去除其中的噪聲，對(duì)E和G進(jìn)行微分，并去除其中的噪聲，然后向二值化器608a和608b輸出該結(jié)果。二值化器608a-608b用于轉(zhuǎn)換EQ 606a-606b提供的信號(hào)為二進(jìn)制數(shù)字信號(hào)，對(duì)這些信號(hào)進(jìn)行二值化，以便向PLL 610a-610b輸出結(jié)果E3和G3。CLK的PLL610a-610b用于產(chǎn)生同步于二值化器608a-608b提供的信號(hào)，接受信號(hào)CLK、E3和G3作為輸入，然后向相位比較器612輸出與E3和G3同步的信號(hào)CLK_E和CLK_G。相位比較器612用于檢測(cè)PLL 610a-610b提供的CLK_E和CLK_G之間相位差，比較CLK_E和CLK_G的相位，然后分別向LPF 614a和614b輸出結(jié)果E+和G+。在這種情況下，E+和G+分別是在CLK_E的相位比CLK_G的相位超前時(shí)和CLK_G的相位比CLK_E的相位超前時(shí)產(chǎn)生的相位誤差信號(hào)。
LPF 614a-614b對(duì)相位比較器612提供的E+和G+進(jìn)行濾波，然后向差分放大器616輸出該結(jié)果。差分放大器616放大經(jīng)LPF 614a-614b濾波后的E+和G+的差分信號(hào)，并把其結(jié)果作為TE輸出。
圖7是表示本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置的第四優(yōu)選實(shí)施例的方框圖。其中的TE是通過(guò)利用三單元式光學(xué)檢測(cè)組件的輸出產(chǎn)生的。圖7所示的裝置包括三單元式光學(xué)檢測(cè)組件702，EQ 706a和706b，二值化器708a和708b，相位比較器712，LPF 714a和714b，以及差分放大器716。
EQ 706a和706b用于增強(qiáng)位于三單元式光學(xué)檢測(cè)組件702外側(cè)的各光學(xué)檢測(cè)器提供的信號(hào)E和G的高頻分量，并去除其中的噪聲，對(duì)E和G進(jìn)行微分并去除其中的噪聲，以便向二值化器708a和708b輸出該結(jié)果。二值化器708a-708b用于轉(zhuǎn)換EQ 706a和706b提供的信號(hào)成為二進(jìn)制數(shù)字信號(hào)，對(duì)這些信號(hào)進(jìn)行二值化，以便向相位比較器712輸出結(jié)果E3和G3。相位比較器712用于檢測(cè)EQ 706a和706b提供的E3和G3之間的相位差，比較E3和G3的相位，以便分別向LPF 714a和714b輸出比較結(jié)果E+和G+。在這種情況下，E+和G+分別是在E3的相位比G3的相位超前時(shí)和G3的相位比E3的相位超前時(shí)產(chǎn)生的相位誤差信號(hào)。
LPF 714a-714b對(duì)相位比較器712提供的E+和G+進(jìn)行濾波，然后向差分放大器716輸出該結(jié)果。差分放大器716放大經(jīng)LPF 714a-714b濾波后的E+和G+的差分信號(hào)，并把其結(jié)果作為TE輸出。
圖8是表示關(guān)于圖3和5-7中所示EQ工作情況的增益與頻率的關(guān)系曲線圖。其中的垂直軸和水平軸分別表示增益和頻率。具有圖8所示的特性的這些EQ，執(zhí)行控制它們的特性的功能，使得輸入信號(hào)可以位于在第一頻率f1和第二頻率f2之間，以放大接近第二頻率f2的高頻分量。
圖9表示本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置產(chǎn)生的跟蹤誤差信號(hào)與傳統(tǒng)DPDTE法生成的跟蹤誤差信號(hào)比較結(jié)果的曲線圖。在圖9中，標(biāo)號(hào)91和92分別表示傳統(tǒng)DPD TE法和本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置生成的跟蹤誤差信號(hào)，可以看出，后者的增益比前者的增益大。此外，時(shí)間段93指示了輸出信號(hào)發(fā)生翻轉(zhuǎn)的區(qū)段，因此當(dāng)使用如本發(fā)明的PLL產(chǎn)生的CLK檢測(cè)相位差時(shí)，相位差將超出檢測(cè)的限制。如果是這種情形，則PLL CLK的頻率可以被除以n(n=2、3、4、……)，然后把結(jié)果輸出向相位檢測(cè)器，這樣的相位檢測(cè)器增加了檢測(cè)范圍，使得象93這樣的時(shí)間段不存在。
圖10表示本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置和傳統(tǒng)DPD TE法生成的跟蹤誤差信號(hào)的增益特性曲線圖。在圖10中，標(biāo)號(hào)94和95分別表示傳統(tǒng)DPD TE法和本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置生成的跟蹤誤差信號(hào)。如果兩者在相同條件下測(cè)量，可以看出，本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置生成的跟蹤誤差信號(hào)的增益，比另一個(gè)的增益大大約10倍。時(shí)間段96是在正常跟蹤狀態(tài)下，光學(xué)拾取頭跳到相鄰軌道的區(qū)段。而時(shí)間段96不能清楚地表示傳統(tǒng)DPD TE法生成的跟蹤誤差信號(hào)，本發(fā)明生成的跟蹤誤差信號(hào)作為大值輸出。
象前面描述的那樣，本發(fā)明的跟蹤誤差檢測(cè)裝置能夠生成跟蹤誤差信號(hào)，這種信號(hào)不隨記錄在光盤上的凹坑和標(biāo)記的長(zhǎng)度改變，因此跟蹤誤差信號(hào)的可靠性可以增強(qiáng)。
盡管本發(fā)明是參照其特定的優(yōu)選實(shí)施例來(lái)描述的，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員會(huì)理解，在不脫離有所附權(quán)利要求限定的本發(fā)明的構(gòu)思和范圍的情況下，可以對(duì)其形式和細(xì)節(jié)進(jìn)行各種修改。
權(quán)利要求
1．一種用于產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)的跟蹤誤差檢測(cè)方法，其中的跟蹤誤差信號(hào)即是沿位于通過(guò)軌道中心的對(duì)角線上的兩個(gè)以上的各光學(xué)檢測(cè)器中生成的光學(xué)檢測(cè)信號(hào)之間的差信號(hào)，該方法包括以下的步驟二值化步驟，用于將光學(xué)檢測(cè)器的輸出進(jìn)行二值化；鎖相步驟，用于產(chǎn)生與由二值化步驟得到的每一個(gè)輸出同步的的時(shí)鐘信號(hào)；相位差檢測(cè)步驟，用于檢測(cè)鎖相步驟輸出的多個(gè)同步時(shí)鐘信號(hào)之間的相位差；以及低通濾波步驟，用于對(duì)相位差檢測(cè)步驟的輸出濾波，然后將其結(jié)果作為跟蹤誤差信號(hào)輸出。
2．一種用于產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)的跟蹤誤差檢測(cè)裝置，其中的跟蹤誤差信號(hào)即是沿位于通過(guò)軌道中心的對(duì)角線上的兩個(gè)以上的光學(xué)檢測(cè)器中生成的各光學(xué)檢測(cè)信號(hào)之間的差信號(hào)，該裝置包括二值化器，用于對(duì)光學(xué)檢測(cè)器的每一個(gè)輸出進(jìn)行二值化；多個(gè)鎖相環(huán)，用于產(chǎn)生與二值化器的每一個(gè)輸出同步的時(shí)鐘信號(hào)；相位差檢測(cè)器，用于檢測(cè)各個(gè)鎖相環(huán)輸出的多個(gè)同步時(shí)鐘信號(hào)之間的相位差；以及低通濾波器，用于對(duì)相位差檢測(cè)器的輸出進(jìn)行濾波，然后將其結(jié)果作為跟蹤誤差信號(hào)輸出。
3．根據(jù)權(quán)利要求2所述的跟蹤誤差檢測(cè)裝置，該裝置還包括均衡器，用于增強(qiáng)光學(xué)檢測(cè)器輸出的高頻分量，然后將結(jié)果輸出到二值化器。
4．根據(jù)權(quán)利要求3所述的跟蹤誤差檢測(cè)裝置，其中的均衡器根據(jù)紀(jì)錄的調(diào)制方法去除光學(xué)檢測(cè)器的輸出頻譜中的高頻分量。
5．根據(jù)權(quán)利要求2所述的跟蹤誤差檢測(cè)裝置，其中提供向鎖相環(huán)的時(shí)鐘信號(hào)是通道時(shí)鐘信號(hào)。
6．根據(jù)權(quán)利要求5所述的跟蹤誤差檢測(cè)裝置，還包括一個(gè)分頻器，用于當(dāng)輸出信號(hào)的相位翻轉(zhuǎn)時(shí)，把通道時(shí)鐘信號(hào)的頻率除以n(n=2，3，4，……)，將結(jié)果輸出到鎖相環(huán)。
7．根據(jù)權(quán)利要求2所述的跟蹤誤差檢測(cè)裝置，其中相位差檢測(cè)器產(chǎn)生一指示從鎖相環(huán)輸出的第一個(gè)同步時(shí)鐘信號(hào)超前于從鎖相環(huán)輸出的第二個(gè)同步時(shí)鐘信號(hào)的第一相位差信號(hào)，以及一指示第二個(gè)同步時(shí)鐘信號(hào)超前于第一個(gè)同步時(shí)鐘信號(hào)的第二相位差信號(hào)，以及其中的低通濾波器包括用于分別對(duì)第一和第二相位差信號(hào)進(jìn)行濾波的第一和第二低通濾波器，以及根據(jù)權(quán)利要求2所述的跟蹤誤差檢測(cè)裝置，還包括一差分放大器，用于產(chǎn)生相應(yīng)于第一和第二低通濾波器的輸出的差信號(hào)的跟蹤誤差信號(hào)。
8．一種用于產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)的跟蹤誤差檢測(cè)裝置，該跟蹤誤差信號(hào)即是配置于三單元式光學(xué)檢測(cè)組件外側(cè)的兩個(gè)光學(xué)檢測(cè)器生成的光學(xué)檢測(cè)信號(hào)的差信號(hào)，該裝置包括二值化器，用于兩個(gè)光學(xué)檢測(cè)器的每一個(gè)輸出進(jìn)行二值化；相位差檢測(cè)器，用于檢測(cè)二值化器的輸出之間的相位差；低通濾波器，用于對(duì)相位差檢測(cè)器的輸出進(jìn)行濾波，并將結(jié)果輸出作為跟蹤誤差信號(hào)。
9．根據(jù)權(quán)利要求9所述的跟蹤誤差檢測(cè)裝置，還包括耦合到二值化器和相位差檢測(cè)器的鎖相環(huán)，用于產(chǎn)生與二值化器的每一個(gè)輸出同步的時(shí)鐘信號(hào)，并向相位差檢測(cè)器輸出該同步信號(hào)，其中的相位差檢測(cè)器檢測(cè)由鎖相環(huán)輸出的同步信號(hào)之間的相位差。
全文摘要
一種通過(guò)在傳統(tǒng)微分相位檢測(cè)跟蹤誤差(DPD TE)法中引進(jìn)鎖相環(huán),使得在跟蹤誤差檢測(cè)時(shí),能夠提高跟蹤誤差檢測(cè)的精確度的改進(jìn)的方法和裝置。跟蹤誤差檢測(cè)裝置產(chǎn)生的跟蹤誤差信號(hào)為沿位于沿通過(guò)軌道中心的對(duì)角線上的兩個(gè)以上的光學(xué)檢測(cè)器中生成的各光學(xué)檢測(cè)信號(hào)的差信號(hào),該裝置包括:二值化器;鎖相環(huán);相位差檢測(cè)器;以及低通濾波器。該裝置能夠生成一種不隨記錄在光盤上的凹坑和標(biāo)記的長(zhǎng)度改變的跟蹤誤差信號(hào)。
文檔編號(hào)G11B7/09GK1280361SQ00120438
公開日2001年1月17日 申請(qǐng)日期2000年7月7日 優(yōu)先權(quán)日1999年7月8日
發(fā)明者馬炳寅, 樸仁植, 徐仲?gòu)? 沈載晟 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社