本申請(qǐng)涉及頭戴顯示設(shè)備,尤其涉及透鏡缺陷檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù):
1、隨著ar(augmentedreality增強(qiáng)現(xiàn)實(shí))技術(shù)、vr(virtualreality虛擬現(xiàn)實(shí))技術(shù)和mr(mixedreality混合現(xiàn)實(shí))技術(shù)的迅猛發(fā)展,ar/vr/mr設(shè)備等頭戴顯示設(shè)備已逐漸融入人們的日常生活,成為現(xiàn)代科技體驗(yàn)的重要組成部分。
2、在頭戴顯示設(shè)備的生產(chǎn)過(guò)程中,其屏幕的壞點(diǎn)、臟污、劃痕等缺陷如果未被及時(shí)發(fā)現(xiàn)和處理,將直接影響設(shè)備的屏幕顯示質(zhì)量。目前,可通過(guò)圖像處理軟件對(duì)設(shè)備lens(透鏡)進(jìn)行缺陷檢測(cè),具體是通過(guò)圖像采集設(shè)備拍攝lens圖像,再由圖像處理軟件對(duì)該圖像進(jìn)行缺陷識(shí)別,然而,由于無(wú)法保證拍攝到的缺陷的清晰度,在根據(jù)拍攝的lens圖像分辨透鏡存在的缺陷類型和缺陷面積大小時(shí)難以確定缺陷的真實(shí)情況,影響了缺陷檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
3、綜上,如何確定透鏡缺陷的真實(shí)情況,以提高透鏡缺陷檢測(cè)的準(zhǔn)確性,儼然已成為本領(lǐng)域亟需解決的技術(shù)問(wèn)題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請(qǐng)的主要目的在于提供一種透鏡缺陷檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),旨在確定透鏡缺陷的真實(shí)情況,以提高透鏡缺陷檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
2、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本申請(qǐng)?zhí)岢鲆环N透鏡缺陷檢測(cè)方法,透鏡缺陷檢測(cè)方法包括:
3、獲取透鏡圖像,并從所述透鏡圖像中確定目標(biāo)缺陷區(qū)域;
4、對(duì)所述目標(biāo)缺陷區(qū)域進(jìn)行灰度方差計(jì)算,得到計(jì)算結(jié)果;
5、根據(jù)所述計(jì)算結(jié)果確定所述目標(biāo)缺陷區(qū)域的缺陷檢測(cè)結(jié)果,其中,所述缺陷檢測(cè)結(jié)果為模糊化缺陷或非模糊化缺陷。
6、在一實(shí)施例中,所述從所述透鏡圖像中確定目標(biāo)缺陷區(qū)域的步驟包括:
7、根據(jù)所述透鏡圖像的全局閾值對(duì)所述透鏡圖像進(jìn)行二值化處理,得到二值化圖像;
8、在所述二值化圖像中確定二值化初始缺陷區(qū)域,并確定所述二值化初始缺陷區(qū)域在所述二值化圖像中的第一坐標(biāo)位置;
9、根據(jù)所述第一坐標(biāo)位置在所述透鏡圖像中確定所述二值化初始缺陷區(qū)域?qū)?yīng)的初始缺陷區(qū)域,并從所述初始缺陷區(qū)域中確定目標(biāo)缺陷區(qū)域。
10、在一實(shí)施例中,所述從所述初始缺陷區(qū)域中確定目標(biāo)缺陷區(qū)域的步驟包括:
11、從所述透鏡圖像中截取所述初始缺陷區(qū)域,得到初始缺陷圖像;
12、根據(jù)所述初始缺陷圖像的局部閾值對(duì)所述初始缺陷圖像進(jìn)行二值化處理,得到二值化初始缺陷圖像;
13、在所述二值化初始缺陷圖像中確定二值化目標(biāo)缺陷區(qū)域,并確定所述二值化目標(biāo)缺陷區(qū)域在所述二值化初始缺陷圖像中的第二坐標(biāo)位置;
14、根據(jù)所述第二坐標(biāo)位置在所述初始缺陷圖像中確定所述二值化目標(biāo)缺陷區(qū)域?qū)?yīng)的目標(biāo)缺陷區(qū)域。
15、在一實(shí)施例中,所述對(duì)所述目標(biāo)缺陷區(qū)域進(jìn)行灰度方差計(jì)算,得到計(jì)算結(jié)果的步驟包括:
16、從所述透鏡圖像中截取所述目標(biāo)缺陷區(qū)域,得到目標(biāo)缺陷圖像;
17、對(duì)所述目標(biāo)缺陷圖像進(jìn)行灰度方差計(jì)算,得到計(jì)算結(jié)果。
18、在一實(shí)施例中,所述對(duì)所述目標(biāo)缺陷圖像進(jìn)行灰度方差計(jì)算,得到計(jì)算結(jié)果的步驟包括:
19、確定所述目標(biāo)缺陷圖像的圖像中心點(diǎn);
20、計(jì)算所述圖像中心點(diǎn)在多個(gè)不同預(yù)設(shè)方向上的灰度方差值,將計(jì)算得到的多個(gè)灰度方差值作為計(jì)算結(jié)果。
21、在一實(shí)施例中,所述根據(jù)所述計(jì)算結(jié)果確定所述目標(biāo)缺陷區(qū)域的缺陷檢測(cè)結(jié)果的步驟包括:
22、根據(jù)各所述灰度方差值確定所述圖像中心點(diǎn)在多個(gè)不同預(yù)設(shè)方向上的缺陷狀態(tài),其中,所述缺陷狀態(tài)為模糊化狀態(tài)或非模糊化狀態(tài);
23、在缺陷狀態(tài)為模糊化狀態(tài)的數(shù)量超過(guò)預(yù)設(shè)數(shù)量閾值時(shí),確定所述目標(biāo)缺陷區(qū)域的缺陷檢測(cè)結(jié)果為模糊化缺陷;
24、在缺陷狀態(tài)為模糊化狀態(tài)的數(shù)量未超過(guò)所述預(yù)設(shè)數(shù)量閾值時(shí),確定所述目標(biāo)缺陷區(qū)域的缺陷檢測(cè)結(jié)果為非模糊化缺陷。
25、在一實(shí)施例中,所述根據(jù)各所述灰度方差值確定所述圖像中心點(diǎn)在多個(gè)不同預(yù)設(shè)方向上的缺陷狀態(tài)的步驟包括:
26、針對(duì)各所述灰度方差值中的第一灰度方差值,將所述第一灰度方差值與預(yù)設(shè)的方差閾值進(jìn)行比較;
27、在所述第一灰度方差值小于或等于所述方差閾值時(shí),確定所述圖像中心點(diǎn)在所述第一灰度方差值對(duì)應(yīng)方向上的缺陷狀態(tài)為模糊化狀態(tài);
28、在所述第一灰度方差值大于所述方差閾值時(shí),確定所述圖像中心點(diǎn)在所述第一灰度方差值對(duì)應(yīng)方向上的缺陷狀態(tài)為非模糊化狀態(tài)。
29、此外,為實(shí)現(xiàn)上述目的,本申請(qǐng)還提出一種透鏡缺陷檢測(cè)裝置,透鏡缺陷檢測(cè)裝置包括:
30、缺陷區(qū)域確定模塊,用于獲取透鏡圖像,并從所述透鏡圖像中確定目標(biāo)缺陷區(qū)域;
31、計(jì)算模塊,用于對(duì)所述目標(biāo)缺陷區(qū)域進(jìn)行灰度方差計(jì)算,得到計(jì)算結(jié)果;
32、缺陷檢測(cè)模塊,用于根據(jù)所述計(jì)算結(jié)果確定所述目標(biāo)缺陷區(qū)域的缺陷檢測(cè)結(jié)果,其中,所述缺陷檢測(cè)結(jié)果為模糊化缺陷或非模糊化缺陷。
33、此外,為實(shí)現(xiàn)上述目的,本申請(qǐng)還提出一種透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備,透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備包括:存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,計(jì)算機(jī)程序配置為實(shí)現(xiàn)如上文的透鏡缺陷檢測(cè)方法的步驟。
34、此外,為實(shí)現(xiàn)上述目的,本申請(qǐng)還提出一種存儲(chǔ)介質(zhì),存儲(chǔ)介質(zhì)為計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上文的透鏡缺陷檢測(cè)方法的步驟。
35、本申請(qǐng)?zhí)岢隽艘环N透鏡缺陷檢測(cè)方法,通過(guò)獲取透鏡圖像,并從透鏡圖像中識(shí)別并定位出目標(biāo)缺陷區(qū)域,該目標(biāo)缺陷區(qū)域包括但不限于透鏡上存在壞點(diǎn)、臟污、劃痕等缺陷的區(qū)域;針對(duì)確定的目標(biāo)缺陷區(qū)域進(jìn)行灰度方差計(jì)算,通過(guò)計(jì)算該值,可以量化分析目標(biāo)缺陷區(qū)域的模糊程度,最后,基于灰度方差計(jì)算的計(jì)算結(jié)果,確定目標(biāo)缺陷區(qū)域的缺陷檢測(cè)結(jié)果為模糊化缺陷或非模糊化缺陷。
36、本申請(qǐng)通過(guò)對(duì)透鏡圖像中的目標(biāo)缺陷區(qū)域進(jìn)行灰度方差計(jì)算,能夠評(píng)估目標(biāo)缺陷區(qū)域的模糊程度,進(jìn)而有效區(qū)分透鏡圖像中的模糊化缺陷(可能由拍攝條件引起)與非模糊化缺陷(直接反映透鏡的真實(shí)缺陷),從而避免了傳統(tǒng)透鏡缺陷檢測(cè)方式中因清晰度問(wèn)題導(dǎo)致的缺陷問(wèn)題誤判,提高了透鏡缺陷檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
1.一種透鏡缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述方法包括:
2.如權(quán)利要求1所述的透鏡缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述從所述透鏡圖像中確定目標(biāo)缺陷區(qū)域的步驟包括:
3.如權(quán)利要求2所述的透鏡缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述從所述初始缺陷區(qū)域中確定目標(biāo)缺陷區(qū)域的步驟包括:
4.如權(quán)利要求1所述的透鏡缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述對(duì)所述目標(biāo)缺陷區(qū)域進(jìn)行灰度方差計(jì)算,得到計(jì)算結(jié)果的步驟包括:
5.如權(quán)利要求4所述的透鏡缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述對(duì)所述目標(biāo)缺陷圖像進(jìn)行灰度方差計(jì)算,得到計(jì)算結(jié)果的步驟包括:
6.如權(quán)利要求5所述的透鏡缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述根據(jù)所述計(jì)算結(jié)果確定所述目標(biāo)缺陷區(qū)域的缺陷檢測(cè)結(jié)果的步驟包括:
7.如權(quán)利要求6所述的透鏡缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述根據(jù)各所述灰度方差值確定所述圖像中心點(diǎn)在多個(gè)不同預(yù)設(shè)方向上的缺陷狀態(tài)的步驟包括:
8.一種透鏡缺陷檢測(cè)裝置,其特征在于,所述裝置包括:
9.一種透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,所述透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備包括:存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序配置為實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的透鏡缺陷檢測(cè)方法的步驟。
10.一種存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于,所述存儲(chǔ)介質(zhì)為計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),所述存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的透鏡缺陷檢測(cè)方法的步驟。