本發(fā)明屬于磁盤性能檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種識別亂序情況下自動(dòng)測試磁盤性能的方法。
背景技術(shù):
隨著it領(lǐng)域技術(shù)的不斷發(fā)展,傳統(tǒng)信息化服務(wù)以及日趨強(qiáng)大的云計(jì)算服務(wù)對服務(wù)器的性能要求越來越高,對存儲(chǔ)空間的需要也越來越大。大多數(shù)情況下,為了滿足客戶對存儲(chǔ)空間的需求,一般采用擴(kuò)展柜級聯(lián)來解決問題。加之級聯(lián)方式、硬件設(shè)施等多方面的影響,有時(shí)會(huì)出現(xiàn)擴(kuò)展柜上的硬盤序列號識別錯(cuò)亂的情況。此為現(xiàn)有技術(shù)的不足之處。
因此,針對現(xiàn)有技術(shù)中的上述缺陷,提供設(shè)計(jì)一種識別亂序情況下自動(dòng)測試磁盤性能的方法;以解決上述技術(shù)問題,是非常有必要的。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的在于,針對上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷,提供設(shè)計(jì)一種識別亂序情況下自動(dòng)測試磁盤性能的方法,以解決上述技術(shù)問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明給出以下技術(shù)方案:
一種識別亂序情況下自動(dòng)測試磁盤性能的方法,其特征在于:包括以下步驟:
步驟1:安裝主流linux系統(tǒng),并獲得root權(quán)限;
步驟2:拷貝sas3ircu文件到系統(tǒng)下的指定目錄;
步驟3:拷貝lsscsi.rpm包到系統(tǒng)下的指定目錄,解壓并安裝;
步驟4:拷貝fio工具包到系統(tǒng)下的指定目錄,解壓并安裝;
步驟5:拷貝自動(dòng)運(yùn)行腳本文件到系統(tǒng)下的指定目錄;
步驟6:執(zhí)行自動(dòng)測試腳本。
作為優(yōu)選,所述的步驟6包括以下步驟:
步驟6.1:通過enclosure、slot和sn得到每個(gè)背板上磁盤數(shù)量及序號信息。
作為優(yōu)選,所述的步驟6包括以下步驟:
步驟6.2:通過腳本實(shí)現(xiàn)自動(dòng)的硬盤格式化、掛載,每個(gè)背板做一個(gè)raid5。
作為優(yōu)選,所述的步驟6包括以下步驟:
步驟6.3:通過fio與dd同時(shí)編寫腳本對磁盤性能進(jìn)行測試。
作為優(yōu)選,所述的步驟6包括以下步驟:
步驟6.4:測試結(jié)束,收集測試結(jié)果,并將測試結(jié)果匯集成圖表格式,利于觀察。
本發(fā)明的有益效果在于,本方法可以應(yīng)用于各種配置下的硬盤性能對比,在基于背板磁盤識別亂序的情況的情況下,提出一種新的自動(dòng)測試硬盤性能的方法,并通過對比得到不同等級擴(kuò)展柜其磁盤性能的走勢;通過自動(dòng)測試腳本實(shí)現(xiàn)磁盤的信息得篩選、自動(dòng)創(chuàng)建raid,并將測試數(shù)據(jù)輸出到表格中,提供出簡潔明亮的測試結(jié)果,對服務(wù)器產(chǎn)品質(zhì)量的檢測提出了新的解決方法。此外,本發(fā)明設(shè)計(jì)原理可靠,結(jié)構(gòu)簡單,具有非常廣泛的應(yīng)用前景。
由此可見,本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有突出的實(shí)質(zhì)性特點(diǎn)和顯著地進(jìn)步,其實(shí)施的有益效果也是顯而易見的。
附圖說明
圖1是本發(fā)明提供的一種識別亂序情況下自動(dòng)測試磁盤性能的方法的流程圖。
圖2是本發(fā)明實(shí)施例中硬盤級聯(lián)方式示意圖。
圖3是本發(fā)明實(shí)施例中磁盤接口性能對比表。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖并通過具體實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)闡述,以下實(shí)施例是對本發(fā)明的解釋,而本發(fā)明并不局限于以下實(shí)施方式。
如圖1所示,本發(fā)明提供的一種識別亂序情況下自動(dòng)測試磁盤性能的方法,包括以下步驟:
步驟1:安裝主流linux系統(tǒng),并獲得root權(quán)限;
步驟2:拷貝sas3ircu文件到系統(tǒng)下的指定目錄;
步驟3:拷貝lsscsi.rpm包到系統(tǒng)下的指定目錄,解壓并安裝;
步驟4:拷貝fio工具包到系統(tǒng)下的指定目錄,解壓并安裝;
步驟5:拷貝自動(dòng)運(yùn)行腳本文件到系統(tǒng)下的指定目錄;
步驟6:執(zhí)行自動(dòng)測試腳本。
作為優(yōu)選,所述的步驟6包括以下步驟:
步驟6.1:通過enclosure、slot和sn得到每個(gè)背板上磁盤數(shù)量及序號信息。
所述的步驟6包括以下步驟:
步驟6.2:通過腳本實(shí)現(xiàn)自動(dòng)的硬盤格式化、掛載,每個(gè)背板做一個(gè)raid5。
所述的步驟6包括以下步驟:
步驟6.3:通過fio與dd同時(shí)編寫腳本對磁盤性能進(jìn)行測試。
所述的步驟6包括以下步驟:
步驟6.4:測試結(jié)束,收集測試結(jié)果,并將測試結(jié)果匯集成圖表格式,利于觀察。
本實(shí)施例中以圖2所示的級聯(lián)方法來進(jìn)行說明,本實(shí)施例中采用主機(jī)加兩個(gè)j4u36的擴(kuò)展機(jī)柜的模式進(jìn)行測試,由圖2可以看出,此模型共計(jì)9個(gè)背板,108塊硬盤。對每個(gè)背板上的36塊硬盤自動(dòng)創(chuàng)建raid5,通過運(yùn)行fio與dd測試腳本得到測試結(jié)果,最后通過腳本將測試數(shù)據(jù)輸出到表格中,提供出簡潔明亮的測試結(jié)果如圖3所示。
以上公開的僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,但本發(fā)明并非局限于此,任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員能思之的沒有創(chuàng)造性的變化,以及在不脫離本發(fā)明原理前提下所作的若干改進(jìn)和潤飾,都應(yīng)落在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。