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一種軟件測(cè)試方法和系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):6500880閱讀:191來源:國知局
一種軟件測(cè)試方法和系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明實(shí)施例公開了一種軟件測(cè)試方法和系統(tǒng)。本發(fā)明技術(shù)方案采用在對(duì)測(cè)試對(duì)象的控件進(jìn)行測(cè)試時(shí),記錄測(cè)試過程,并在發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷時(shí),記錄發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù),然后根據(jù)發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù)將測(cè)試用例移入相應(yīng)的進(jìn)階測(cè)試用例庫中,其中,進(jìn)階測(cè)試用例庫的階數(shù)與測(cè)試用例的執(zhí)行概率成正比,從而在一定程度上可以反映出測(cè)試用例的價(jià)值,以便用戶選擇具有高價(jià)值的測(cè)試用例來進(jìn)行測(cè)試,提高測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)問題的能力;而且,由于記錄了測(cè)試過程,所以提供了一種可以回歸驗(yàn)證軟件缺陷的能力。
【專利說明】一種軟件測(cè)試方法和系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及通信【技術(shù)領(lǐng)域】,具體涉及一種軟件測(cè)試方法和系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002] 隨著互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的飛速發(fā)展,各種軟件的應(yīng)用也日益繁多。每一款軟件或多或少 都會(huì)存在漏洞(bug),為了進(jìn)一步改善和優(yōu)化這些軟件,提高軟件應(yīng)用的穩(wěn)定性,需要將這 些漏洞找出,并予于解決。
[0003] 軟件測(cè)試,正是針對(duì)該問題所提出的一種方案,它可以利用測(cè)試工具按照測(cè)試方 案對(duì)軟件進(jìn)行功能和性能測(cè)試,并對(duì)測(cè)試方案可能出現(xiàn)的問題進(jìn)行分析和評(píng)估?,F(xiàn)有的軟 件測(cè)試方法包括有多種形式,猴子測(cè)試(Monkey Test),即搞怪測(cè)試,就是其中的一種。在猴 子測(cè)試中,測(cè)試者可以進(jìn)行各種稀奇古怪的操作模式,用以測(cè)試軟件的穩(wěn)定度。當(dāng)前應(yīng)用的 猴子測(cè)試基本上以隨機(jī)性測(cè)試為主,而且,一般會(huì)采用較為復(fù)雜的測(cè)試,因?yàn)閺?fù)雜的測(cè)試會(huì) 比簡(jiǎn)單的測(cè)試找到更多的漏洞。
[0004] 在對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的研究和實(shí)踐過程中,本發(fā)明的發(fā)明人發(fā)現(xiàn),在現(xiàn)有的猴子測(cè)試方 法中,當(dāng)發(fā)現(xiàn)被測(cè)試的軟件存在缺陷時(shí),無法再次通過相同的方式測(cè)試出該缺陷。此外,當(dāng) 發(fā)現(xiàn)缺陷已經(jīng)被解決時(shí),也無法去驗(yàn)證該缺陷是否真的被解決了。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明實(shí)施例提供一種軟件測(cè)試方法和系統(tǒng),在發(fā)現(xiàn)被測(cè)試的軟件存在缺陷時(shí), 可以通過相同的方式測(cè)試出現(xiàn)該缺陷,并進(jìn)化該相同的測(cè)試方式,而且,在發(fā)現(xiàn)缺陷已經(jīng)被 解決時(shí),可以驗(yàn)證該缺陷是否已經(jīng)被解決。
[0006] 一種軟件測(cè)試方法,包括:
[0007] 獲取測(cè)試對(duì)象中所有控件;
[0008] 從基本測(cè)試用例庫和/或進(jìn)階測(cè)試用例庫中獲取測(cè)試用例(Test Case);
[0009] 利用所述測(cè)試用例對(duì)所述控件進(jìn)行測(cè)試,并記錄測(cè)試過程;
[0010] 若發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷,則記錄發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù);
[0011] 根據(jù)所述發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù)將所述測(cè)試用例移入相應(yīng)的進(jìn)階測(cè)試用例庫中,所述進(jìn) 階測(cè)試用例庫的階數(shù)與測(cè)試用例的執(zhí)行概率成正比。
[0012] 一種軟件測(cè)試系統(tǒng),包括:
[0013] 控件獲取單元,用于獲取測(cè)試對(duì)象中所有控件;
[0014] 測(cè)試用例獲取單元,用于從基本測(cè)試用例庫和/或進(jìn)階測(cè)試用例庫中獲取測(cè)試用 例;
[0015] 測(cè)試單元,用于利用所述測(cè)試用例對(duì)所述控件進(jìn)行測(cè)試;
[0016] 記錄單元,用于記錄測(cè)試過程,若發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷,則記錄發(fā)現(xiàn)缺陷的次 數(shù);
[0017] 處理單元,用于根據(jù)所述發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù)將所述測(cè)試用例移入相應(yīng)的進(jìn)階測(cè)試用 例庫中,所述進(jìn)階測(cè)試用例庫的階數(shù)與測(cè)試用例的執(zhí)行概率成正比。
[0018] 本發(fā)明實(shí)施例采用在對(duì)測(cè)試對(duì)象的控件進(jìn)行測(cè)試時(shí),記錄測(cè)試過程,并在發(fā)現(xiàn)測(cè) 試對(duì)象存在缺陷時(shí),記錄發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù),然后根據(jù)發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù)將測(cè)試用例移入相應(yīng) 的進(jìn)階測(cè)試用例庫中,其中,進(jìn)階測(cè)試用例庫的階數(shù)與測(cè)試用例的執(zhí)行概率成正比,從而在 一定程度上可以反映出測(cè)試用例的價(jià)值,以便用戶選擇具有高價(jià)值的測(cè)試用例來進(jìn)行測(cè) 試,提高測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)問題的能力;而且,由于記錄了測(cè)試過程,所以提供了一種可以回歸驗(yàn) 證軟件缺陷的能力,即在發(fā)現(xiàn)被測(cè)試的軟件存在缺陷時(shí),可以通過相同的方式測(cè)試出現(xiàn)該 缺陷,并進(jìn)化該相同的測(cè)試方式,此外,在發(fā)現(xiàn)缺陷已經(jīng)被解決時(shí),還可以驗(yàn)證該缺陷是否 已經(jīng)被解決。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0019] 為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使 用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于 本領(lǐng)域技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附 圖。
[0020] 圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的軟件測(cè)試方法的流程圖;
[0021] 圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的軟件測(cè)試方法的流程圖;
[0022] 圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的軟件測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0023] 下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完 整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;?本發(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施 例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0024] 本發(fā)明實(shí)施例提供一種軟件測(cè)試方法和系統(tǒng)。以下分別進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0025] 實(shí)施例一、
[0026] 本實(shí)施例將從軟件測(cè)試系統(tǒng)的角度進(jìn)行描述。
[0027] -種軟件測(cè)試方法,包括:獲取測(cè)試對(duì)象中所有控件,從基本測(cè)試用例庫和/或進(jìn) 階測(cè)試用例庫中獲取測(cè)試用例,利用該測(cè)試用例對(duì)這些控件進(jìn)行測(cè)試,并記錄測(cè)試過程;若 發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷,則記錄發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù);根據(jù)發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù)將所述測(cè)試用例移 入相應(yīng)的進(jìn)階測(cè)試用例庫中,其中,進(jìn)階測(cè)試用例庫的階數(shù)與測(cè)試用例的執(zhí)行概率成正比。
[0028] 如圖1所示,具體流程可以如下:
[0029] 101、獲取測(cè)試對(duì)象中所有控件;
[0030] 其中,測(cè)試對(duì)象具體可以為各種軟件,比如客戶端軟件等;控件可以包括按鈕控 件、靜態(tài)鏈接控件、勾選框控件和/或列表控件等,在此不再列舉。
[0031] 102、從基本測(cè)試用例庫和/或進(jìn)階測(cè)試用例庫中獲取測(cè)試用例(Test Case);
[0032] 其中,測(cè)試用例是為某個(gè)特殊目標(biāo)而編制的一組測(cè)試輸入、執(zhí)行條件以及預(yù)期結(jié) 果,其可以測(cè)試某個(gè)程序路徑或核實(shí)是否滿足某個(gè)特定需求。
[0033] 基本測(cè)試用例庫和進(jìn)階測(cè)試用例庫中的測(cè)試用例是以前進(jìn)行軟件測(cè)試時(shí)自動(dòng)保 存的測(cè)試用例,其中,基本測(cè)試用例庫保存的是最基本的測(cè)試用例,而進(jìn)階測(cè)試用例庫保存 的是發(fā)現(xiàn)了測(cè)試對(duì)象存在缺陷的測(cè)試用例,進(jìn)階測(cè)試用例庫可以包括多個(gè)不同階數(shù)的測(cè)試 用例庫,不同的階數(shù)對(duì)應(yīng)不同的"發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù)"閾值,階數(shù)越高代表測(cè)試用例可以發(fā)現(xiàn) 測(cè)試對(duì)象的缺陷的次數(shù)越多。這是因?yàn)椋绻麥y(cè)試用例測(cè)試對(duì)象存在缺陷的次數(shù)越多,就代 表該測(cè)試用例越容易發(fā)現(xiàn)被測(cè)試對(duì)象所存在的缺陷,也就是說,該測(cè)試用例的價(jià)值就越高, 其對(duì)應(yīng)被執(zhí)行的次數(shù)應(yīng)該越多(即被執(zhí)行的概率越高),所以,其對(duì)應(yīng)的進(jìn)階測(cè)試用例庫的 階數(shù)(或者稱為層次)越高。
[0034] 此外,在步驟101,即"獲取測(cè)試對(duì)象中所有控件"之后,該軟件測(cè)試方法還可以包 括:
[0035] 建立基本測(cè)試用例庫,例如,具體可以如下:
[0036] 按照預(yù)置步長模擬點(diǎn)擊這些控件,記錄每一個(gè)步長內(nèi)的點(diǎn)擊過程,并作為測(cè)試用 例保存在基本測(cè)試用例庫中。
[0037] 其中,步長指的是每個(gè)周期所能點(diǎn)擊控件的次數(shù),即點(diǎn)擊周期;該步長的大小可以 根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的需求進(jìn)行設(shè)置,比如,可以設(shè)置為每個(gè)點(diǎn)擊周期為30次,等等。
[0038] 可選的,為了避免基本測(cè)試用例庫中存在重復(fù)的測(cè)試用例,節(jié)省存儲(chǔ)空間,以及提 高處理效率,在將測(cè)試用例庫保存在基本測(cè)試用例庫之前,還可以對(duì)測(cè)試用例作一個(gè)判斷, 即判斷基本測(cè)試用例庫中是否存在該測(cè)試用例,若存在,則無需將該測(cè)試用例保存在基本 測(cè)試用例庫中,若不存在,才將所述測(cè)試用例保存在基本測(cè)試用例庫中。即:
[0039] 步驟"作為測(cè)試用例保存在基本測(cè)試用例庫中"具體可以為:確定基本測(cè)試用例庫 中不存在該測(cè)試用例時(shí),將該測(cè)試用例保存在基本測(cè)試用例庫中。
[0040] 103、利用測(cè)試用例對(duì)控件進(jìn)行測(cè)試,并記錄測(cè)試過程;
[0041] 例如,具體可以以本地日志的形式來記錄測(cè)試過程,這樣,既方便用戶隨時(shí)進(jìn)行查 看,也方便系統(tǒng)隨時(shí)進(jìn)行調(diào)用。
[0042] 104、若發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷,則記錄發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù);
[0043] 其中,測(cè)試對(duì)象存在缺陷,指的是能被該軟件測(cè)試系統(tǒng)明顯感知為漏洞(bug)的缺 陷,比如程序崩潰等。
[0044] 105、根據(jù)發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù)將該測(cè)試用例移入相應(yīng)的進(jìn)階測(cè)試用例庫中,其中,進(jìn) 階測(cè)試用例庫的階數(shù)(或者稱為層數(shù))與測(cè)試用例的執(zhí)行概率成正比,具體可參見步驟102 中的說明,例如,具體可以如下:
[0045] 如果發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷,則可以將該測(cè)試用例從基本測(cè)試用例庫移入進(jìn)階1 測(cè)試用例庫,即,將該測(cè)試用例加入進(jìn)階1測(cè)試用例庫,并將該測(cè)試用例從基本測(cè)試用例庫 刪除;
[0046] 如果發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷的次數(shù)超過第一閾值,比如5次,則可以將該測(cè)試用 例從進(jìn)階1測(cè)試用例庫移入進(jìn)階2測(cè)試用例庫,S卩,將該測(cè)試用例加入進(jìn)階2測(cè)試用例庫, 并將該測(cè)試用例從進(jìn)階1測(cè)試用例庫刪除;
[0047] 如果發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷的次數(shù)超過第二閾值,比如10次,則可以將該測(cè)試用 例從進(jìn)階2測(cè)試用例庫移入進(jìn)階3測(cè)試用例庫,S卩,將該測(cè)試用例加入進(jìn)階3測(cè)試用例庫, 并將該測(cè)試用例從進(jìn)階2測(cè)試用例庫刪除;
[0048] 同理,如果發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷的次數(shù)超過第三閾值,比如15次,則可以將該 測(cè)試用例從進(jìn)階3測(cè)試用例庫移入進(jìn)階4測(cè)試用例庫,S卩,將該測(cè)試用例加入進(jìn)階4測(cè)試用 例庫,并將該測(cè)試用例從進(jìn)階3測(cè)試用例庫刪除,等等,以此類推。
[0049] 其中,進(jìn)階測(cè)試用例庫的階數(shù)可以由測(cè)試策略進(jìn)行定制,而各個(gè)階數(shù)所對(duì)應(yīng)的閾 值,比如第一閾值、第二閾值和第三閾值等,可以根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的需求進(jìn)行設(shè)置,在此不再 贅述。
[0050] 由上可知,本實(shí)施例采用在對(duì)測(cè)試對(duì)象的控件進(jìn)行測(cè)試時(shí),記錄測(cè)試過程,并在發(fā) 現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷時(shí),記錄發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù),然后根據(jù)發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù)將測(cè)試用例移入 相應(yīng)的進(jìn)階測(cè)試用例庫中,其中,進(jìn)階測(cè)試用例庫的階數(shù)與測(cè)試用例的執(zhí)行概率成正比,從 而在一定程度上可以反映出測(cè)試用例的價(jià)值,以便用戶選擇具有高價(jià)值的測(cè)試用例來進(jìn)行 測(cè)試,提高測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)問題的能力;而且,由于記錄了測(cè)試過程,所以提供了一種可以回歸 驗(yàn)證軟件缺陷的能力,即在發(fā)現(xiàn)被測(cè)試的軟件存在缺陷時(shí),可以通過相同的方式測(cè)試出現(xiàn) 該缺陷,并進(jìn)化該相同的測(cè)試方式,此外,在發(fā)現(xiàn)缺陷已經(jīng)被解決時(shí),還可以驗(yàn)證該缺陷是 否已經(jīng)被解決。
[0051] 實(shí)施例二、
[0052] 根據(jù)實(shí)施例一所描述的方法,以下將舉例作進(jìn)一步詳細(xì)說明。
[0053] 在本實(shí)施例中,將以進(jìn)階測(cè)試用例庫的階數(shù)具體為"3"為例進(jìn)行說明,即進(jìn)階測(cè)試 用例庫包括進(jìn)階1測(cè)試用例庫、進(jìn)階2測(cè)試用例庫和進(jìn)階3測(cè)試用例庫。應(yīng)當(dāng)理解的是,進(jìn) 階測(cè)試用例庫的階數(shù)也可以為其他的數(shù)值,比如4、5、6、....或N,等等,其中,N可以由測(cè)試 策略進(jìn)行定制,如果階數(shù)為其他的數(shù)值,其實(shí)施與此也類似,在此不再贅述。
[0054] 如圖2所示,一種軟件測(cè)試方法,具體流程可以如下:
[0055] 201、軟件測(cè)試系統(tǒng)獲取測(cè)試對(duì)象中所有控件;
[0056] 其中,測(cè)試對(duì)象具體可以為各種軟件,比如客戶端軟件等;控件可以包括按鈕控 件、靜態(tài)鏈接控件、勾選框控件和/或列表控件等,在此不再列舉。
[0057] 202、軟件測(cè)試系統(tǒng)從步驟201獲取到的所有控件中隨機(jī)獲取一些控件,并按照預(yù) 置步長模擬點(diǎn)擊這些控件。
[0058] 其中,步長指的是每個(gè)周期所能點(diǎn)擊控件的次數(shù),即點(diǎn)擊周期;該步長的大小可以 根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的需求進(jìn)行設(shè)置,比如,可以設(shè)置為每個(gè)點(diǎn)擊周期為30次,等等。
[0059] 203、軟件測(cè)試系統(tǒng)記錄每一個(gè)步長內(nèi)的點(diǎn)擊過程,并作為測(cè)試用例保存在基本測(cè) 試用例庫中。
[0060] 其中,為了避免基本測(cè)試用例庫中存在重復(fù)的測(cè)試用例,節(jié)省存儲(chǔ)空間,以及提高 處理效率,在將測(cè)試用例庫保存在基本測(cè)試用例庫之前,還可以對(duì)測(cè)試用例作一個(gè)判斷,即 判斷基本測(cè)試用例庫中是否存在該測(cè)試用例,若存在,則無需將該測(cè)試用例保存在基本測(cè) 試用例庫中,若不存在,才將所述測(cè)試用例保存在基本測(cè)試用例庫中。
[0061] 204、若在測(cè)試過程中,軟件測(cè)試系統(tǒng)發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷,則將該測(cè)試用例從 基本測(cè)試用例庫移入進(jìn)階1測(cè)試用例庫,即,將該測(cè)試用例加入進(jìn)階1測(cè)試用例庫,并將該 測(cè)試用例從基本測(cè)試用例庫刪除。
[0062] 其中,測(cè)試對(duì)象存在缺陷,指的是能被該軟件測(cè)試系統(tǒng)明顯感知為漏洞(bug)的缺 陷,比如程序崩潰等。
[0063] 205、若發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷的次數(shù)超過第一閾值,比如5次,則可以將該測(cè)試 用例從進(jìn)階1測(cè)試用例庫移入進(jìn)階2測(cè)試用例庫,S卩,將該測(cè)試用例加入進(jìn)階2測(cè)試用例 庫,并將該測(cè)試用例從進(jìn)階1測(cè)試用例庫刪除。
[0064] 其中,第一閾值可以根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的需求進(jìn)行設(shè)置,在此不再贅述。
[0065] 206、若發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷的次數(shù)超過第二閾值,比如10次,則將該測(cè)試用例 從進(jìn)階2測(cè)試用例庫移入進(jìn)階3測(cè)試用例庫,S卩,將該測(cè)試用例加入進(jìn)階3測(cè)試用例庫,并 將該測(cè)試用例從進(jìn)階2測(cè)試用例庫刪除。
[0066] 其中,第二閾值可以根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的需求進(jìn)行設(shè)置,在此不再贅述。
[0067] 需說明的是,進(jìn)階測(cè)試用例庫的階數(shù)越高代表測(cè)試用例可以發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象的缺陷 的次數(shù)越多,也就是說,該測(cè)試用例的價(jià)值就越高,其對(duì)應(yīng)被執(zhí)行的次數(shù)應(yīng)該越多(即被執(zhí) 行的概率越高)。
[0068] 此后,軟件測(cè)試系統(tǒng)就可以從基本測(cè)試用例庫和/或進(jìn)階測(cè)試用例庫中獲取這些 保存的測(cè)試用例對(duì)測(cè)試對(duì)象進(jìn)行測(cè)試,并根據(jù)測(cè)試結(jié)果及時(shí)對(duì)這些測(cè)試用例進(jìn)行進(jìn)化,t匕 如從基本測(cè)試用例庫移入進(jìn)階測(cè)試用例庫,或者從低階數(shù)的進(jìn)階測(cè)試用例庫移入高階數(shù)的 進(jìn)階測(cè)試用例庫,等等。需說明的是,本發(fā)明實(shí)施例中所舉例的"測(cè)試用例進(jìn)入基本測(cè)試用 例庫"的步驟(步驟202和203)為可選步驟,應(yīng)當(dāng)理解的是,也可以直接從基本測(cè)試用例庫 和/或進(jìn)階測(cè)試用例庫中獲取之前保存的測(cè)試用例對(duì)測(cè)試對(duì)象進(jìn)行測(cè)試,其后續(xù)步驟的執(zhí) 行與此類似,在此不再贅述。
[0069] 此外,還需說明的是,每個(gè)階段的測(cè)試過程可以以本地日志的形式記錄下來,這 樣,既方便用戶隨時(shí)進(jìn)行查看,也方便系統(tǒng)隨時(shí)進(jìn)行調(diào)用。
[0070] 由上可知,本實(shí)施例的軟件測(cè)試系統(tǒng)采用在對(duì)測(cè)試對(duì)象的控件進(jìn)行測(cè)試時(shí),以本 地日志的形式記錄測(cè)試過程,并在發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷時(shí),記錄發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù),然后根 據(jù)發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù)將測(cè)試用例移入相應(yīng)的進(jìn)階測(cè)試用例庫中,其中,進(jìn)階測(cè)試用例庫的階 數(shù)與測(cè)試用例的執(zhí)行概率成正比,從而在一定程度上可以反映出測(cè)試用例的價(jià)值,以便用 戶選擇具有高價(jià)值的測(cè)試用例來進(jìn)行測(cè)試,提高測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)問題的能力;而且,由于記錄了 測(cè)試過程,所以提供了一種可以回歸驗(yàn)證軟件缺陷的能力,即在發(fā)現(xiàn)被測(cè)試的軟件存在缺 陷時(shí),可以通過相同的方式測(cè)試出現(xiàn)該缺陷,并進(jìn)化該相同的測(cè)試方式,此外,在發(fā)現(xiàn)缺陷 已經(jīng)被解決時(shí),還可以驗(yàn)證該缺陷是否已經(jīng)被解決。
[0071] 實(shí)施例三、
[0072] 為了更好地實(shí)施以上方法,本發(fā)明實(shí)施例還提供一種軟件測(cè)試系統(tǒng),如圖3所示, 該軟件測(cè)試系統(tǒng)包括控件獲取單元301、測(cè)試用例獲取單元302、測(cè)試單元303、記錄單元 304和處理單元305 ;
[0073] 控件獲取單元301,用于獲取測(cè)試對(duì)象中所有控件;
[0074] 其中,測(cè)試對(duì)象具體可以為各種軟件,比如客戶端軟件等;控件可以包括按鈕控 件、靜態(tài)鏈接控件、勾選框控件和/或列表控件等,在此不再列舉。
[0075] 測(cè)試用例獲取單元302,用于從基本測(cè)試用例庫和/或進(jìn)階測(cè)試用例庫中獲取測(cè) 試用例;
[0076] 其中,基本測(cè)試用例庫和進(jìn)階測(cè)試用例庫中的測(cè)試用例是以前進(jìn)行軟件測(cè)試時(shí)自 動(dòng)保存的測(cè)試用例,其中,基本測(cè)試用例庫保存的是最基本的測(cè)試用例,而進(jìn)階測(cè)試用例庫 保存的是發(fā)現(xiàn)了測(cè)試對(duì)象存在缺陷的測(cè)試用例,進(jìn)階測(cè)試用例庫可以包括多個(gè)不同階數(shù)的 測(cè)試用例庫,不同的階數(shù)對(duì)應(yīng)不同的"發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù)"閾值,階數(shù)越高代表測(cè)試用例可以 發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象的缺陷的次數(shù)越多。這是因?yàn)?,如果測(cè)試用例測(cè)試對(duì)象存在缺陷的次數(shù)越多, 就代表該測(cè)試用例越容易發(fā)現(xiàn)被測(cè)試對(duì)象所存在的缺陷,也就是說,該測(cè)試用例的價(jià)值就 越高,其對(duì)應(yīng)被執(zhí)行的次數(shù)應(yīng)該越多(即被執(zhí)行的概率越高),所以,其對(duì)應(yīng)的進(jìn)階測(cè)試用例 庫的階數(shù)(或者稱為層次)越高。
[0077] 測(cè)試單元303,用于利用測(cè)試用例對(duì)這些控件進(jìn)行測(cè)試;
[0078] 例如,測(cè)試單元303,具體可以從獲取到的所有控件中隨機(jī)獲取一些控件,并利用 測(cè)試用例對(duì)這些控件進(jìn)行測(cè)試。
[0079] 記錄單元304,用于記錄測(cè)試過程,若發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷,則記錄發(fā)現(xiàn)缺陷的 次數(shù);
[0080] 例如,記錄單元304具體可以以本地日志的形式來記錄測(cè)試過程,這樣,既方便用 戶隨時(shí)進(jìn)行查看,也方便系統(tǒng)隨時(shí)進(jìn)行調(diào)用。
[0081] 其中,測(cè)試對(duì)象存在缺陷,指的是能被該軟件測(cè)試系統(tǒng)明顯感知為漏洞(bug)的缺 陷,比如程序崩潰等。
[0082] 處理單元305,用于根據(jù)發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù)將測(cè)試用例移入相應(yīng)的進(jìn)階測(cè)試用例庫 中。
[0083] 其中,進(jìn)階測(cè)試用例庫的階數(shù)與測(cè)試用例的執(zhí)行概率成正比。例如,具體可以如 下:
[0084] 如果發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷,則可以將該測(cè)試用例從基本測(cè)試用例庫移入進(jìn)階1 測(cè)試用例庫,即,將該測(cè)試用例加入進(jìn)階1測(cè)試用例庫,并將該測(cè)試用例從基本測(cè)試用例庫 刪除;
[0085] 如果處理單元305發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷的次數(shù)超過第一閾值,比如5次,則處理 單元305可以將該測(cè)試用例從進(jìn)階1測(cè)試用例庫移入進(jìn)階2測(cè)試用例庫,S卩,將該測(cè)試用例 加入進(jìn)階2測(cè)試用例庫,并將該測(cè)試用例從進(jìn)階1測(cè)試用例庫刪除;
[0086] 如果處理單元305發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷的次數(shù)超過第二閾值,比如10次,則處 理單元305可以將該測(cè)試用例從進(jìn)階2測(cè)試用例庫移入進(jìn)階3測(cè)試用例庫,S卩,將該測(cè)試用 例加入進(jìn)階3測(cè)試用例庫,并將該測(cè)試用例從進(jìn)階2測(cè)試用例庫刪除;
[0087] 同理,如果處理單元305發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷的次數(shù)超過第三閾值,比如15次, 則處理單元305可以將該測(cè)試用例從進(jìn)階3測(cè)試用例庫移入進(jìn)階4測(cè)試用例庫,S卩,將該測(cè) 試用例加入進(jìn)階4測(cè)試用例庫,并將該測(cè)試用例從進(jìn)階3測(cè)試用例庫刪除,等等,以此類推。
[0088] 其中,進(jìn)階測(cè)試用例庫的階數(shù)可以由測(cè)試策略進(jìn)行定制,而各個(gè)階數(shù)所對(duì)應(yīng)的閾 值,比如第一閾值、第二閾值和第三閾值等,可以根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的需求進(jìn)行設(shè)置,在此不再 贅述。
[0089] 此外,該軟件測(cè)試系統(tǒng)還可以包括保存單元;
[0090] 保存單元,可以用于按照預(yù)置步長模擬點(diǎn)擊所述控件,記錄每一個(gè)步長內(nèi)的點(diǎn)擊 過程,并作為測(cè)試用例保存在基本測(cè)試用例庫中。
[0091] 其中,步長指的是每個(gè)周期所能點(diǎn)擊控件的次數(shù),即點(diǎn)擊周期;該步長的大小可以 根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的需求進(jìn)行設(shè)置,比如,可以設(shè)置為每個(gè)點(diǎn)擊周期為30次,等等。
[0092] 可選的,為了避免基本測(cè)試用例庫中存在重復(fù)的測(cè)試用例,節(jié)省存儲(chǔ)空間,以及提 高處理效率,在將測(cè)試用例庫保存在基本測(cè)試用例庫之前,還可以對(duì)測(cè)試用例作一個(gè)判斷, 即判斷基本測(cè)試用例庫中是否存在該測(cè)試用例,若存在,則無需將該測(cè)試用例保存在基本 測(cè)試用例庫中,若不存在,才將所述測(cè)試用例保存在基本測(cè)試用例庫中。即:
[0093] 該保存單元,具體可以用于確定基本測(cè)試用例庫中不存在該測(cè)試用例時(shí),將該測(cè) 試用例保存在基本測(cè)試用例庫中。
[0094] 具體實(shí)施時(shí),以上各個(gè)單元可以作為獨(dú)立的實(shí)體來實(shí)現(xiàn),也可以進(jìn)行任意組合,作 為同一或若干個(gè)實(shí)體來實(shí)現(xiàn),在此不再贅述。
[0095] 該軟件測(cè)試系統(tǒng)具體可以集成在個(gè)人計(jì)算機(jī)等設(shè)備。
[0096] 由上可知,本實(shí)施例的軟件測(cè)試系統(tǒng)采用在測(cè)試單元303對(duì)測(cè)試對(duì)象的控件進(jìn)行 測(cè)試時(shí),由記錄單元304記錄測(cè)試過程,并在發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷時(shí),記錄發(fā)現(xiàn)缺陷的次 數(shù),然后由處理單元305根據(jù)發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù)將測(cè)試用例移入相應(yīng)的進(jìn)階測(cè)試用例庫中, 其中,進(jìn)階測(cè)試用例庫的階數(shù)與測(cè)試用例的執(zhí)行概率成正比,從而在一定程度上可以反映 出測(cè)試用例的價(jià)值,以便用戶選擇具有高價(jià)值的測(cè)試用例來進(jìn)行測(cè)試,提高測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)問 題的能力;而且,由于記錄了測(cè)試過程,所以提供了一種可以回歸驗(yàn)證軟件缺陷的能力,即 在發(fā)現(xiàn)被測(cè)試的軟件存在缺陷時(shí),可以通過相同的方式測(cè)試出現(xiàn)該缺陷,并進(jìn)化該相同的 測(cè)試方式,此外,在發(fā)現(xiàn)缺陷已經(jīng)被解決時(shí),還可以驗(yàn)證該缺陷是否已經(jīng)被解決。
[0097] 本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解上述實(shí)施例的各種方法中的全部或部分步驟是可 以通過程序來指令相關(guān)的硬件來完成,該程序可以存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中,存 儲(chǔ)介質(zhì)可以包括:只讀存儲(chǔ)器(ROM,Read Only Memory)、隨機(jī)存取記憶體(RAM, Random Access Memory)、磁盤或光盤等。
[0098] 以上對(duì)本發(fā)明實(shí)施例所提供的一種軟件測(cè)試方法和系統(tǒng)進(jìn)行了詳細(xì)介紹,本文中 應(yīng)用了具體個(gè)例對(duì)本發(fā)明的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述,以上實(shí)施例的說明只是用于幫助 理解本發(fā)明的方法及其核心思想;同時(shí),對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員,依據(jù)本發(fā)明的思想,在具 體實(shí)施方式及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處,綜上所述,本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明 的限制。
【權(quán)利要求】
1. 一種軟件測(cè)試方法,其特征在于,包括: 獲取測(cè)試對(duì)象中所有控件; 從基本測(cè)試用例庫和/或進(jìn)階測(cè)試用例庫中獲取測(cè)試用例; 利用所述測(cè)試用例對(duì)所述控件進(jìn)行測(cè)試,并記錄測(cè)試過程; 若發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷,則記錄發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù); 根據(jù)所述發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù)將所述測(cè)試用例移入相應(yīng)的進(jìn)階測(cè)試用例庫中,所述進(jìn)階測(cè) 試用例庫的階數(shù)與測(cè)試用例的執(zhí)行概率成正比。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取測(cè)試對(duì)象中所有控件之后,還包 括: 按照預(yù)置步長模擬點(diǎn)擊所述控件; 記錄每一個(gè)步長內(nèi)的點(diǎn)擊過程,并作為測(cè)試用例保存在基本測(cè)試用例庫中。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述作為測(cè)試用例保存在基本測(cè)試用例 庫中具體為: 確定基本測(cè)試用例庫中不存在所述測(cè)試用例時(shí),將所述測(cè)試用例保存在基本測(cè)試用例 庫中。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,所述記錄測(cè)試過程,包括: 以本地日志的形式記錄測(cè)試過程。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,所述控件包括: 按鈕控件、靜態(tài)鏈接控件、勾選框控件和/或列表控件。
6. -種軟件測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括: 控件獲取單元,用于獲取測(cè)試對(duì)象中所有控件; 測(cè)試用例獲取單元,用于從基本測(cè)試用例庫和/或進(jìn)階測(cè)試用例庫中獲取測(cè)試用例; 測(cè)試單元,用于利用所述測(cè)試用例對(duì)所述控件進(jìn)行測(cè)試; 記錄單元,用于記錄測(cè)試過程,若發(fā)現(xiàn)測(cè)試對(duì)象存在缺陷,則記錄發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù); 處理單元,用于根據(jù)所述發(fā)現(xiàn)缺陷的次數(shù)將所述測(cè)試用例移入相應(yīng)的進(jìn)階測(cè)試用例庫 中,所述進(jìn)階測(cè)試用例庫的階數(shù)與測(cè)試用例的執(zhí)行概率成正比。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的軟件測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,還包括保存單元; 保存單元,用于按照預(yù)置步長模擬點(diǎn)擊所述控件,記錄每一個(gè)步長內(nèi)的點(diǎn)擊過程,并作 為測(cè)試用例保存在基本測(cè)試用例庫中。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的軟件測(cè)試系統(tǒng),其特征在于, 所述保存單元,具體用于確定基本測(cè)試用例庫中不存在所述測(cè)試用例時(shí),將所述測(cè)試 用例保存在基本測(cè)試用例庫中。
9. 根據(jù)權(quán)利要求6至8任一項(xiàng)所述的軟件測(cè)試系統(tǒng),其特征在于, 記錄單元,具體用于以本地日志的形式記錄測(cè)試過程。
10. 根據(jù)權(quán)利要求6至8任一項(xiàng)所述的軟件測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述控件包括: 按鈕控件、靜態(tài)鏈接控件、勾選框控件和/或列表控件。
【文檔編號(hào)】G06F11/36GK104063307SQ201310088226
【公開日】2014年9月24日 申請(qǐng)日期:2013年3月19日 優(yōu)先權(quán)日:2013年3月19日
【發(fā)明者】徐志廣, 李葉 申請(qǐng)人:騰訊科技(深圳)有限公司
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