專利名稱：修復(fù)內(nèi)存部分?jǐn)?shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型為一種修復(fù)內(nèi)存部份數(shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的結(jié)構(gòu)，特別是指一種將多個(gè)有部份數(shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的內(nèi)存，利用互補(bǔ)連接的方式，形成正常內(nèi)存的裝置。
然而，該常用內(nèi)存在被制作或被使用一段時(shí)間后，常常會(huì)因制作程序錯(cuò)誤，或長(zhǎng)期錯(cuò)誤的使用，而發(fā)生部份數(shù)據(jù)區(qū)域故障，令計(jì)算機(jī)的中央處理單元無(wú)法辨識(shí)其它未發(fā)生故障的區(qū)域，而判定其為故障的內(nèi)存，無(wú)法能再使用該常用內(nèi)存，形成該常用內(nèi)存其它未發(fā)生故障的部份的浪費(fèi)，亦因該常用內(nèi)存無(wú)法被利用，而被隨意丟棄，導(dǎo)致環(huán)境的污染，是以，如果能開發(fā)設(shè)計(jì)出一種可將部份數(shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的內(nèi)存回收再利用的技術(shù)，將是電子零件業(yè)界亟待努力的目標(biāo)。
實(shí)用新型內(nèi)容創(chuàng)作人有鑒于前述常用內(nèi)存于發(fā)生部份數(shù)據(jù)區(qū)域故障時(shí)，計(jì)算機(jī)的中央處理單元無(wú)法辨識(shí)其它未發(fā)生故障的區(qū)域，而判定其為故障的內(nèi)存，而無(wú)法能再被使用的缺點(diǎn)，乃依其從事電子元件的制造經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)累積，針對(duì)上述缺失悉心研究各種解決的方法，在經(jīng)過不斷的研究、實(shí)驗(yàn)與改良后，終于開發(fā)設(shè)計(jì)出本實(shí)用新型的一種修復(fù)內(nèi)存部份數(shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的結(jié)構(gòu)，俾能摒除先前技藝的諸多缺失。
本實(shí)用新型的主要目的，是令多個(gè)有部份數(shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的內(nèi)存，利用互補(bǔ)連接的方式，達(dá)成可形成正常的內(nèi)存。
根據(jù)前述的目的，本實(shí)用新型提供一種修復(fù)內(nèi)存部份數(shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的結(jié)構(gòu)，該結(jié)構(gòu)是利用一測(cè)試器將多個(gè)有部份數(shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的內(nèi)存分別進(jìn)行檢測(cè)，再以兩個(gè)內(nèi)存為一組，將各組內(nèi)存分別安裝于一電路板的正、反面，令每一組內(nèi)存的一內(nèi)存與另一內(nèi)存相對(duì)應(yīng)，再依先前的檢測(cè)結(jié)果，將每一組內(nèi)存的正?？墒褂玫臄?shù)據(jù)區(qū)域的接腳，其中八個(gè)接腳依序連接至該電路板的連接端口插腳上，如此，將該電路板安裝于一計(jì)算機(jī)的電路板上時(shí)，該計(jì)算機(jī)的中央處理單元(CPU)可將各組內(nèi)存當(dāng)成一正常內(nèi)存來使用，因此令部份數(shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的內(nèi)存可回收再利用，達(dá)成節(jié)省制造成本以及保護(hù)環(huán)境的目的。
圖2為本實(shí)用新型的方框示意圖；圖3為本實(shí)用新型的動(dòng)作流程圖；圖4為本實(shí)用新型另一最佳實(shí)施例的方框示意圖。
10內(nèi)存11電路板在本實(shí)用新型中，復(fù)請(qǐng)參閱

圖1、圖2所示，該內(nèi)存10為一緩存器，被安裝于該計(jì)算機(jī)上時(shí)，可作為該計(jì)算機(jī)的中央處理單元(CPU)的隨機(jī)內(nèi)存，以令該中央處理單元可實(shí)行多時(shí)分工的處理，該內(nèi)存10分成二種，其一為容量128MBIT，另一為容量256MBIT為容量，其中該128MBIT的內(nèi)存10設(shè)有11個(gè)地址區(qū)域，每一個(gè)地址區(qū)域分別對(duì)應(yīng)一地址區(qū)域接腳(A0、A1、A2、A3、A4、A5、A6、A7…A11)，該等接腳與計(jì)算機(jī)的電路相連接，令該中央處理單元可讀取該等接腳的地址信號(hào)，而辨識(shí)出該內(nèi)存10為128MBIT的內(nèi)存10，而該256MBIT的內(nèi)存10設(shè)有12個(gè)地址區(qū)域，每一個(gè)地址區(qū)域分別對(duì)應(yīng)一地址區(qū)域接腳(A0、A1、A2、A3、A4、A5、A6、A7…A11、A12)，該等接腳與計(jì)算機(jī)的電路相連接，令該中央處理單元可讀取該等接腳的地址信號(hào)，而辨識(shí)出該內(nèi)存10為256MBIT的內(nèi)存10。
在本實(shí)用新型的最佳另一實(shí)施例中，請(qǐng)參閱圖4所示，亦可將128MBIT的內(nèi)存10、256MBIT的內(nèi)存10混合使用，為利用一測(cè)試器將多個(gè)有部份數(shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的128MBIT的內(nèi)存10及256MBIT的內(nèi)存10分別進(jìn)行檢測(cè)，再以一個(gè)128MBIT的內(nèi)存10與一個(gè)256MBIT的內(nèi)存10為一組，將各組內(nèi)存10分別安裝于一電路板11的正、反面，令每一組內(nèi)存10的一內(nèi)存10與另一內(nèi)存10相對(duì)應(yīng)，再將256MBIT的內(nèi)存10的地址區(qū)域接腳A12固定住，再依先前的檢測(cè)結(jié)果，將每一組內(nèi)存10的數(shù)據(jù)區(qū)域的接腳(D0、D1、D2、D3、D4、D5、D6、D7)，其中八個(gè)可正常使用的接腳依序連接至該電路板11的連接端口插腳(Pin1、Pin2、Pin3、Pin4、Pin5、Pin6、Pin7、Pin8)上，如此，將該電路板11安裝于一計(jì)算機(jī)的電路板上時(shí)(圖中未示)，該計(jì)算機(jī)的中央處理單元(CPU)可將各組內(nèi)存10當(dāng)成一正常內(nèi)存來使用，因此，即可將該等部份數(shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的內(nèi)存10回收再利用。
在該實(shí)施例中，復(fù)請(qǐng)參閱圖4所示，將256MBIT的內(nèi)存10的地址區(qū)域接腳A12固定住的方式，可將該接腳A12與該內(nèi)存10的電源接腳Vcc(VDD)、接地端GND(Vss)、地址區(qū)域接腳A11、接腳BA0(BS0)或接腳BA1(BS1)相連接，或者，該內(nèi)存10的地址區(qū)域接腳A11與電源接腳Vcc(VDD)、接地端GND(Vss)、接腳BA0(BS0)或接腳BA1(BS1)相連接，計(jì)算機(jī)的中央處理單元僅能讀取該內(nèi)存10的11個(gè)地址區(qū)域接腳的地址信號(hào)，而辨識(shí)出該內(nèi)存10為一128MBIT的內(nèi)存10，因此，其可與128MBIT的內(nèi)存10相互配合使用，不會(huì)發(fā)生地址區(qū)域不同而不兼容的問題。
權(quán)利要求1.一種修復(fù)內(nèi)存部份數(shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的結(jié)構(gòu)，其特征是，利用一測(cè)試器將多個(gè)有部份數(shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的內(nèi)存分別進(jìn)行檢測(cè)，再以兩個(gè)內(nèi)存為一組，將各組內(nèi)存分別安裝于一電路板的正、反面，令每一組內(nèi)存的一內(nèi)存與另一內(nèi)存相對(duì)應(yīng)，再依先前的檢測(cè)結(jié)果，將每一組內(nèi)存的數(shù)據(jù)區(qū)域的接腳，其中八個(gè)可正常使用的接腳依序連接至該電路板的連接端口插腳上，將該電路板安裝于一計(jì)算機(jī)的電路板上時(shí)，該計(jì)算機(jī)的中央處理單元可將各組內(nèi)存當(dāng)成一正常內(nèi)存來使用。
2.一種修復(fù)內(nèi)存部份數(shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的結(jié)構(gòu)，其特征是，利用一測(cè)試器將多個(gè)有部份數(shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的128MBIT的內(nèi)存及256MBIT的內(nèi)存分別進(jìn)行檢測(cè)，再以一個(gè)128MBIT的內(nèi)存與一個(gè)256MBIT的內(nèi)存為一組，將各組內(nèi)存分別安裝于一電路板的正、反面，令每一組內(nèi)存的一內(nèi)存與另一內(nèi)存相對(duì)應(yīng)，再將256MBIT的內(nèi)存的地址區(qū)域接腳A12固定住，再依先前的檢測(cè)結(jié)果，將每一組內(nèi)存的數(shù)據(jù)區(qū)域的接腳，其中八個(gè)可正常使用的接腳依序連接至該電路板的連接端口插腳上，將該電路板安裝于一計(jì)算機(jī)的電路板上時(shí)，該計(jì)算機(jī)的中央處理單元可將各組內(nèi)存當(dāng)成一正常內(nèi)存來使用。
3.如權(quán)利要求2所述的修復(fù)內(nèi)存部份數(shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的結(jié)構(gòu)，其特征是，該256MBIT的內(nèi)存的地址區(qū)域接腳A12固定住的方式，將該接腳A12與該內(nèi)存的電源接腳Vcc(VDD)、接地端GND(Vss)、地址區(qū)域接腳A11、接腳BA0(BS0)或接腳BA1(BS1)相連接，或者，該內(nèi)存的地址區(qū)域接腳A11與電源接腳Vcc(VDD)、接地端GND(Vss)、接腳BA0(BS0)或接腳BA1(BS1)相連接，計(jì)算機(jī)的中央處理單元僅能讀取該內(nèi)存的11個(gè)地址區(qū)域接腳的地址信號(hào)，而辨識(shí)出該內(nèi)存為一128MBIT的內(nèi)存，故其可與128MBIT的內(nèi)存相互配合使用。
專利摘要本實(shí)用新型有關(guān)一種修復(fù)內(nèi)存部分?jǐn)?shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的結(jié)構(gòu)，利用一測(cè)試器將多個(gè)有部分?jǐn)?shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的內(nèi)存，如DDRSDRAM，分別進(jìn)行檢測(cè)，再以兩個(gè)內(nèi)存為一組，將各組內(nèi)存分別安裝于一電路板的正、反面，令每一組內(nèi)存的一內(nèi)存與另一內(nèi)存相對(duì)應(yīng)，再依先前的檢測(cè)結(jié)果，將每一組內(nèi)存的正?？墒褂玫臄?shù)據(jù)區(qū)域的接腳，其中八個(gè)接腳依序連接至該電路板的連接端口插腳上，如此，將該電路板安裝于一計(jì)算機(jī)的電路板上時(shí)，該計(jì)算機(jī)的中央處理單元可將各組內(nèi)存當(dāng)成一正常內(nèi)存來使用，如此，即可將部分?jǐn)?shù)據(jù)區(qū)域發(fā)生故障的內(nèi)存回收再利用，達(dá)成節(jié)省制造成本以及保護(hù)環(huán)境的目的。
文檔編號(hào)G06F11/18GK2604732SQ03236789
公開日2004年2月25日 申請(qǐng)日期2003年1月27日 優(yōu)先權(quán)日2003年1月27日
發(fā)明者邱明哲 申請(qǐng)人:邱明哲