用于無磁插座的測試探針的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種測試探針，尤其涉及一種用于無磁插座的測試探針。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的半導(dǎo)體測試探針一般原材料都含有鐵、鎳、鈷或其中的一種元素。這樣就導(dǎo)致了探針主動(dòng)或被動(dòng)的都帶有磁性。然而對于一些對無磁要求的應(yīng)用場合，就無法滿足要求。由于現(xiàn)有的半導(dǎo)體測試探針是主要由銅合金，鋼琴絲(或不銹鋼絲)經(jīng)鍍鎳工藝加鍍金工藝而成。由于基材和鍍層里含有鐵，鎳、鈷成分。在使用過程中很容易帶有磁性或被磁化，因此無法適用于對零磁性要求的場合。由于現(xiàn)有的探針材料，鍍層技術(shù)的限制，無法滿足零磁性要求探針。因此發(fā)明一種無磁探針，解決半導(dǎo)體測試中。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]為克服上述缺點(diǎn)，本實(shí)用新型的目的在于提供一種符合對零磁性的要求、避免探針的磁性對測試結(jié)果的影響、滿足測試要求的用于無磁插座的測試探針。
[0004]為了達(dá)到以上目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:一種用于無磁插座的測試探針包括筒狀針保持體、上探針頭、下探針頭以及彈簧，下探針頭通過擠壓的方法固定在筒狀針保持體內(nèi)的一端，所述上探針頭則通過擠壓的方法固定在筒狀針保持體內(nèi)的一端，所述彈簧設(shè)置在上探針頭與下探針頭之間，所述筒狀針保持體的材質(zhì)為磷青銅，所述上探針頭、下探針頭、彈簧的材質(zhì)為鈹青銅。本實(shí)用新型的有益效果是，由于這種新型探針采用無鐵、鎳、鈷基材制作而成，并且采用特殊鍍金工藝，因此整個(gè)探針不帶有磁性，從而滿足無磁要求的測試場合，有效的保證了測試的要求和準(zhǔn)確性，解決了現(xiàn)有技術(shù)中探針對無磁測試的困難，滿足的測試的功能，解決了半導(dǎo)體無磁測試的要求。
[0005]優(yōu)選地，所述上探針頭、下探針頭均包括本體和頭部，所述頭部的外徑大于本體的外徑，每個(gè)所述本體均朝向與其對應(yīng)的筒狀針保持體端部，所述筒狀針保持體的兩端各設(shè)置有一圈用以縮小筒狀針保持體口徑的卷邊，所述卷邊能供本體通過。卷邊保證上探針頭、下探針頭不會(huì)從筒狀針保持體內(nèi)脫落。
【附圖說明】
[0006]圖1為本實(shí)施例的立體圖。
[0007]圖中:
[0008]1-筒狀針保持體;2-上探針頭;3-下探針頭;4-彈簧;5-卷邊;61-本體;62-頭部。
【具體實(shí)施方式】
[0009]下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)闡述，以使本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，從而對本實(shí)用新型的保護(hù)范圍做出更為清楚明確的界定。
[0010]參見附圖1所示，本實(shí)施例中的一種用于無磁插座的測試探針，包括筒狀針保持體
1、上探針頭2、下探針頭3以及彈簧4，下探針頭3通過擠壓的方法固定在筒狀針保持體1內(nèi)的一端，上探針頭2則通過擠壓的方法固定在筒狀針保持體1內(nèi)的一端，彈簧4設(shè)置在上探針頭2與下探針頭3之間，筒狀針保持體1的材質(zhì)為磷青銅，上探針頭2、下探針頭3、彈簧4的材質(zhì)為鈹青銅。該測試探針采用磷青銅和鈹青銅作為基材，從而確保探針中無內(nèi)部接觸技術(shù)是鐵、鎳、鈷或其中的一種元素，從而達(dá)到無磁的要求。
[0011]上探針頭2、下探針頭3均包括本體61和頭部62，頭部62的外徑大于本體61的外徑，每個(gè)本體61均朝向與其對應(yīng)的筒狀針保持體1端部，筒狀針保持體1的兩端各設(shè)置有一圈用以縮小筒狀針保持體1 口徑的卷邊5，卷邊5能供本體61通過。結(jié)合附圖1，將筒狀針保持體1的一頭卷邊，將下探針頭3先放進(jìn)筒狀針保持體1中，再將彈簧4裝在筒狀針保持體1中，最后放上上探針頭2，并用將筒狀針保持體1的另一頭卷邊，這樣上探針頭2、下探針頭3、彈簧4就保持在筒狀針保持體1中掉不出來，這樣就完成了一個(gè)無磁探針，由于本實(shí)施例不含磁性材料，能適用于任何無磁要求的場合。
[0012]以上實(shí)施方式只為說明本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思及特點(diǎn)，其目的在于讓熟悉此項(xiàng)技術(shù)的人了解本實(shí)用新型的內(nèi)容并加以實(shí)施，并不能以此限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍，凡根據(jù)本實(shí)用新型精神實(shí)質(zhì)所做的等效變化或修飾，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于無磁插座的測試探針，其特征在于:包括筒狀針保持體、上探針頭、下探針頭以及彈簧，下探針頭通過擠壓的方法固定在筒狀針保持體內(nèi)的一端，所述上探針頭則通過擠壓的方法固定在筒狀針保持體內(nèi)的一端，所述彈簧設(shè)置在上探針頭與下探針頭之間，所述筒狀針保持體的材質(zhì)為磷青銅，所述上探針頭、下探針頭、彈簧的材質(zhì)為鈹青銅。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于無磁插座的測試探針，其特征在于:所述上探針頭、下探針頭均包括本體和頭部，所述頭部的外徑大于本體的外徑，每個(gè)所述本體均朝向與其對應(yīng)的筒狀針保持體端部，所述筒狀針保持體的兩端各設(shè)置有一圈用以縮小筒狀針保持體口徑的卷邊，所述卷邊能供本體通過。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種用于無磁插座的測試探針包括筒狀針保持體、上探針頭、下探針頭以及彈簧，下探針頭通過擠壓的方法固定在筒狀針保持體內(nèi)的一端，所述上探針頭則通過擠壓的方法固定在筒狀針保持體內(nèi)的一端，所述彈簧設(shè)置在上探針頭與下探針頭之間，所述筒狀針保持體的材質(zhì)為磷青銅，所述上探針頭、下探針頭、彈簧的材質(zhì)為鈹青銅。本實(shí)用新型由于這種新型探針采用無鐵、鎳、鈷基材制作而成，因此整個(gè)探針不帶有磁性，從而滿足無磁要求的測試場合。有效的保證了測試的要求和準(zhǔn)確性，解決了現(xiàn)有技術(shù)中探針對無磁測試的困難的問題，滿足的測試的功能以及滿足了半導(dǎo)體無磁測試的要求。
【IPC分類】G01R1/067
【公開號(hào)】CN205139189
【申請?zhí)枴緾N201520964391
【發(fā)明人】蔣衛(wèi)兵, 賀濤, 王傳剛, 趙康
【申請人】法特迪精密科技（蘇州）有限公司
【公開日】2016年4月6日
【申請日】2015年11月27日