一種電阻自動化測試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種電阻測試系統(tǒng)，具體講涉及一種電阻自動化測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]電子產(chǎn)品的可靠性從根本上由元器件的質(zhì)量來決定，電阻器是使用最廣泛的元器件之一，其測試工作開始規(guī)范化，《GB/T 5729-2003電子設(shè)備用固定電阻器》與《Q/GDW11179.3電能表用元器件技術(shù)規(guī)范第3部分:電阻器》元器件標(biāo)準(zhǔn)都對電阻器測試方法進(jìn)行了明確規(guī)定。隨著表面貼裝技術(shù)的發(fā)展貼片電阻器逐漸取代引線電阻器，而貼片電阻器由于體積太小導(dǎo)致了測試的不便，具體為:
[0003]1、分組及編號困難且易丟失
[0004]貼片電阻器由于體積太小，無法在電阻器上直接編號分組且電阻器容易丟失，這給電阻器分組試驗測試帶來了極大的不便，試驗人員經(jīng)常因找尋貼片電阻器而浪費大量的時間和精力。
[0005]2、電阻器測量易受引線及接觸電阻的影響
[0006]電阻器測量電路中總是存在接觸電阻和導(dǎo)線電阻，其數(shù)量級有時和被測電阻相同，甚至可能高于被測電阻，所以會對測量結(jié)果造成很大影響，甚至使測量結(jié)果完全失去正確性。導(dǎo)線電阻是可控的，而接觸電阻的隨意性非常大，同一個電阻放置在夾具的不同位置接觸電阻不同，不同的測試人員測試時用力的差別也可能帶來接觸電阻的不同。
[0007]3、電阻環(huán)境試驗難以開展
[0008]環(huán)境對元器件性能的影響一直是評價元器件性能的關(guān)鍵指標(biāo)，《GB/T 5729-2003電子設(shè)備用固定電阻器》與《Q/GDW 11179.3電能表用元器件技術(shù)規(guī)范第3部分:電阻器》對電阻器的環(huán)境試驗要求作了明確規(guī)定，其中溫度系數(shù)實驗需要測試_55°C與125°C時的電阻值，此時的溫度值測試顯然需要將電阻測試用導(dǎo)線引到溫箱外進(jìn)行測試，而且測試過程中需要更換測試電阻。在常規(guī)方法下，引線引入的電阻是難以去除的，不利于精密測量，另外不便在高低溫環(huán)境下更換測試電阻。
【實用新型內(nèi)容】
[0009]針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實用新型提供一種電阻自動化測試系統(tǒng)，能夠通過測量模塊采用四線法測量待測電阻并通過控制模塊自動化控制對待測電阻的測量，即能排除引線電阻和接觸電阻對電阻值測量的影響，又能有效的提高電阻器的測量效率。
[0010]本實用新型的目的是采用下述技術(shù)方案實現(xiàn)的:
[0011]一種電阻自動化測試系統(tǒng)，其改進(jìn)之處在于，包括:
[0012]依次連接的測量模塊、底座、控制模塊和數(shù)字測試模塊；
[0013]所述控制模塊包括:LED單元和依次連接的鍵盤、MCU單元、繼電器列陣單元；
[0014]所述MCU單元與所述LED單元連接；
[0015]所述控制模塊通過所述繼電器列陣單元分別與所述底座和所述數(shù)字測試模塊相連。
[0016]優(yōu)選的，所述測量模塊，由nXmf Cnxm矩陣式排列并具有標(biāo)號k的四線法測試夾具組成，k為所述四線法測試夾具的標(biāo)號，k^nXmo
[0017]進(jìn)一步的，所述四線法測試夾具包括:1+導(dǎo)線、I導(dǎo)線、U+導(dǎo)線和U導(dǎo)線。
[0018]優(yōu)選的，所述底座包括:可插拔接口和與可插拔接口連接的四線法測試夾具的導(dǎo)線。
[0019]優(yōu)選的，所述繼電器列陣單元采用干簧繼電器。
[0020]優(yōu)選的，所述MCU單元采用MSP430F5438A單片機(jī)。
[0021]優(yōu)選的，所述數(shù)字測試模塊采用安捷倫3458A數(shù)字多用表。
[0022]與最接近的現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型具有的有益效果:
[0023]1、通過測量模塊的導(dǎo)線連接，采用四線法測量待測電阻，能夠有效的排除引線電阻和接觸電阻對電阻值測量的影響；
[0024]2、通過將電阻放置于四線法測試夾具上并對四線法測試夾具進(jìn)行標(biāo)號，解決了貼片電阻器由于體積太小，無法在電阻器上直接編號分組且電阻器容易丟失的問題；
[0025]3、通過控制模塊自動化控制待測電阻的測量，解決了高低溫環(huán)境下更換測試電阻困難的問題，同時能夠有效的提高電阻器的測量效率。
【附圖說明】
[0026]圖1是本實用新型提供的一種電阻自動化測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0027]圖2是本實用新型提供的一種電阻自動化測試系統(tǒng)的四線法測試夾具結(jié)構(gòu)示意圖；
[0028]圖3是四線法測量電阻原理圖；
[0029]圖4是本實用新型提供的一種電阻自動化測試系統(tǒng)的底座結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0030]下面結(jié)合附圖對本實用新型的【具體實施方式】作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
[0031]為使本實用新型實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本實用新型保護(hù)的范圍。
[0032]本實用新型提供的一種電阻自動化測試系統(tǒng)，如圖1所示，包括:
[0033]測量模塊、底座、控制模塊和數(shù)字測試模塊；
[0034]所述控制模塊包括:繼電器列陣單元、MCU單元、鍵盤和LED單元；
[0035]所述測量模塊、所述底座、所述繼電器列陣單元、所述數(shù)字測試模塊依次連接；
[0036]所述鍵盤、所述MCU單元、所述繼電器列陣單元依次連接；
[0037]所述MCU單元與所述LED單元連接；
[0038]所述測量模塊，由nXm個CnXm矩陣式排列并具有標(biāo)號k的四線法測試夾具組成，用于放置所述待測電阻器，k為所述四線法測試夾具的標(biāo)號，kSnXm，η為所述矩陣的行數(shù)，m為所述矩陣的列數(shù)；
[0039]所述四線法測試夾具包括:1+導(dǎo)線、I導(dǎo)線、U+導(dǎo)線和U導(dǎo)線；所述1+導(dǎo)線和I導(dǎo)線，用于測量所述待測電阻電流，所述u+導(dǎo)線和U導(dǎo)線，用于測量所述待測電阻電壓。
[0040]例如，如圖2所示，一個PCB板上，安裝2X4個C2x4矩陣式排列且標(biāo)號為1-8的四線法測試夾具，其中，四線法測量電阻原理，如圖3所示，由待測電阻兩個端點分別引出測量所述待測電阻器電流的端點1+和I，并由所述端點1+和1引出I +導(dǎo)線和I導(dǎo)線，電流源經(jīng)1+導(dǎo)線和I導(dǎo)線供給待測電阻；由所述端點I +與所述待測電阻器的端點之間的連接點引出測量所述待測電阻電壓的U+導(dǎo)線，由所述端點I與所述待測電阻器的端點之間的連接點引出測量所述待測電阻電壓的U導(dǎo)線，根據(jù)I +導(dǎo)線和I導(dǎo)線測量待測電阻的電流及U+導(dǎo)線和U導(dǎo)線測量待測電阻的電壓計算待測電阻的阻值，有效的排除引線電阻和接觸電阻對電阻值測量的影響。
[0041]所述控制模塊，用于根據(jù)用戶指令通過所述底座采集所述測量模塊的待測電阻數(shù)據(jù)并控制所述電阻數(shù)據(jù)的輸出；
[0042]具體的，用戶通過所述鍵盤輸入用戶指令，所述MCU單元采用本領(lǐng)域公知的現(xiàn)有技術(shù)能夠根據(jù)所述用戶指令控制所述繼電器列陣單元選擇標(biāo)號為k+Ι或k-Ι的四線法測試夾具的導(dǎo)線導(dǎo)通并將所述四線法測試夾具對應(yīng)的待測電阻的電阻數(shù)據(jù)輸出至所述數(shù)字測試模塊；或者所述MCU單元根據(jù)所述用戶指令控制所述繼電器列陣單元依次將所述四線法測試夾具的導(dǎo)線導(dǎo)通并將所述四線法測試夾具對應(yīng)的待測電阻的電阻數(shù)據(jù)輸出至所述數(shù)字測試模塊。
[0043]所述MCU單元可以采用MSP430F5438A單片機(jī)或其他型號單片機(jī)。
[0044]底座用于建立測量模塊與控制模塊的通信連接，包括:可插拔接口和與可插拔接口連接的四線法測試夾具的導(dǎo)線；所述底座還用于將所述四線法測試夾具的導(dǎo)線分為四組，第一組包括Ik+導(dǎo)線、第二組包括I k導(dǎo)線、第三組包括U k+導(dǎo)線和第四組包括Uk導(dǎo)線，k為所述四線法測試夾具的標(biāo)號，k < nXm。
[0045]例如，如圖4所示，所述底座與如圖2所示的測量模塊連接，可插拔接口連接所述四線法測試夾具的導(dǎo)線并將所述四線法測試夾具的導(dǎo)線分為四組，第一組包括Ik+導(dǎo)線、第二組包括Ik導(dǎo)線、第三組包括U k+導(dǎo)線和第四組包括U k導(dǎo)線，k e [1，8]。
[0046]所述繼電器列陣單元，用于分別將所述四線法測試夾具的四組導(dǎo)線的多路輸入轉(zhuǎn)換為單路輸出，所述繼電器列陣單元可以采用干簧繼電器或其他型號繼電器組成。
[0047]所述控制模塊，用于根據(jù)用戶指令通過所述底座采集并控制所述測量模塊的待測電阻數(shù)據(jù)包括:
[0048]所述數(shù)字測試模塊，用于根據(jù)所述控制模塊的所述待測電阻數(shù)據(jù)通過四線法測量所述待測電阻的阻值并通過接口輸出至計算機(jī)。
[0049]所述數(shù)字測試模塊為安捷倫3458A數(shù)字多用表。
[0050]所述LED單元，用于顯示所述系統(tǒng)正在測量的所述待測電阻對應(yīng)的四線法測試夾具的標(biāo)號。
[0051]所述控制模塊通過開關(guān)電源供電。
[0052]最后應(yīng)當(dāng)說明的是:以上實施例僅用以說明本實用新型的技術(shù)方案而非對其限制，盡管參照上述實施例對本實用新型進(jìn)行了詳細(xì)的說明，所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解:依然可以對本實用新型的【具體實施方式】進(jìn)行修改或者等同替換，而未脫離本實用新型精神和范圍的任何修改或者等同替換，其均應(yīng)涵蓋在本實用新型的權(quán)利要求保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種電阻自動化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括: 依次連接的測量模塊、底座、控制模塊和數(shù)字測試模塊； 所述控制模塊包括:LED單元和依次連接的鍵盤、MCU單元、繼電器列陣單元； 所述MCU單元與所述LED單元連接； 所述控制模塊通過所述繼電器列陣單元分別與所述底座和所述數(shù)字測試模塊相連。2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述測量模塊，由nXmACnxm矩陣式排列并具有標(biāo)號k的四線法測試夾具組成，k為所述四線法測試夾具的標(biāo)號，k^nXmo3.如權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述四線法測試夾具的導(dǎo)線包括:1+導(dǎo)線、I導(dǎo)線、U +導(dǎo)線和U導(dǎo)線。4.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述底座包括:可插拔接口和與可插拔接口連接的四線法測試夾具的導(dǎo)線。5.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述繼電器列陣單元采用干簧繼電器組成。6.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述MCU單元采用MSP430F5438A單片機(jī)。7.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)字測試模塊采用安捷倫3458A數(shù)字多用表。
【專利摘要】本實用新型涉及一種電阻自動化測試系統(tǒng)，包括：依次連接的測量模塊、底座、控制模塊和數(shù)字測試模塊；所述控制模塊包括：LED單元和依次連接的鍵盤、MCU單元、繼電器列陣單元；所述MCU單元與所述LED單元連接；所述控制模塊通過所述繼電器列陣單元分別與所述底座和所述數(shù)字測試模塊相連；本實用新型提供的一種電阻自動化測試系統(tǒng)能夠通過測量模塊采用四線法測量待測電阻并通過控制模塊自動化控制對待測電阻的測量，即能排除引線電阻和接觸電阻對電阻值測量的影響，又能有效的提高電阻器的測量效率。
【IPC分類】G01R27/02
【公開號】CN204758701
【申請?zhí)枴緾N201520398280
【發(fā)明人】成達(dá), 張蓬鶴, 薛陽, 徐英輝, 郜波, 譚琛, 趙越, 石二微, 王雅濤, 秦程林, 陳盛
【申請人】中國電力科學(xué)研究院, 國家電網(wǎng)公司
【公開日】2015年11月11日
【申請日】2015年6月10日