醫(yī)學實驗對照芯片的制作方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明屬于生物醫(yī)學測試技術領域，具體涉及醫(yī)學實驗對照芯片。
【背景技術】
[0002]通常認為嚴謹?shù)目茖W實驗研宄要求設置實驗對照，包括陽性對照或陰性對照，其目的是要排除假陰性或假陽性實驗結果。陽性對照是指實驗中必然出現(xiàn)陽性結果的對照，當實驗結果和陽性對照均為陰性時，可判斷實驗結果為假陰性；陰性對照是指實驗中必然出現(xiàn)陰性結果的對照，當實驗結果和陰性對照均為陽性時，可判斷實驗結果為假陽性。對于某一實驗結果的判斷，必須是陽性對照出現(xiàn)陽性結果，陰性對照出現(xiàn)陰性結果，這樣才能認為實驗結果是準確可靠的。中國專利201320067241.9公開了一種免疫組化粘附載玻片，包括矩形片，矩形片背面上設有兩條平行的區(qū)域分割線，從而將矩形片沿其長邊方向劃分為三個區(qū)域:受檢編號標簽標記區(qū)、對照區(qū)和受檢區(qū)。通過對載玻片進行區(qū)域劃分，建立了標準的對照區(qū)域，以方便進行嚴格的質量控制和診斷劃分，為推廣標準化的染色程序，改善和提高免疫組化實驗的可靠性做出了貢獻，使免疫組化技術更具標準化，免疫組化結果更具可靠性和重復性。但是，如果實驗步驟或實驗藥品出了差錯，當樣品和陰性對照都顯示為陰性，或樣品和陽性對照都顯示為陽性，此時也有可能存在與實驗對照相反的結果，即假陰性和假陽性結果。另外，在醫(yī)學檢查時，由于實驗缺乏對照而使結果可信度降低，病人往往對陽性檢測報告產生懷疑而到多家醫(yī)院反復進行病樣檢測，這不僅增加了病人負擔，同時也浪費了醫(yī)院資源，并且增加了檢測人員的工作量從而影響到其他病人的樣品檢測。因此，在醫(yī)學實驗過程中很有必要同時設置陽性對照和陰性對照，使得實驗結果的判斷更為準確可
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[0003]另外，由于醫(yī)學實驗的多種多樣，所需的對照樣本也不盡相同，研宄者在進行不同的醫(yī)學實驗時，往往需要儲備不同的對照樣本并在實驗時更換不同的對照樣本，無形增加了實驗操作的復雜性以及提高了實驗成本。另外，在實驗中實驗樣本和對照樣本通常是分開的，這樣并不能真正達到兩者實驗條件完全一致，而且在實驗結果觀察時存在一定的不便，需要分別觀察實驗樣本和對照樣本。

【發(fā)明內容】

[0004]本發(fā)明的要解決的技術問題是提供一種可以避免因實驗步驟或實驗藥品出了差錯而導致錯誤的檢測結果的醫(yī)學實驗對照芯片，另外本發(fā)明還要解決的另一個技術問題是避免進行醫(yī)學實驗時需要儲備大量不同的對照樣本，節(jié)約了實驗成本，使實驗操作簡單化。
[0005]本發(fā)明是通過以下技術方案實現(xiàn)的:
[0006]醫(yī)學實驗對照芯片，包括片基，片基包括樣品區(qū)和放置對照樣品的兩個對照芯片區(qū)。
[0007]為了獲得更好的技術效果，所述的兩個對照芯片區(qū)分別為固定陽性對照樣品的陽性對照芯片區(qū)和固定陰性對照樣品的陰性對照芯片區(qū)；所述對照樣品以點陣方式排列固定在對照芯片區(qū)內；所述對照芯片區(qū)內的對照樣品為人體或動物的正常組織、細胞或核酸樣本中的一種或多種樣品的陰性和陽性樣品；所述片基上還有位置標示；所述位置標示通過至少一條豎線和至少一條橫線交叉分割標示樣品位置；所述位置標示通過豎向和/或橫向數(shù)字和/或字母標示樣品位置；所述片基上還有標簽區(qū)，用于樣品參數(shù)記錄；所述片基為耐腐蝕材料；所述耐腐蝕材料為玻璃、膠片、生物膜、硅芯片、聚二氟乙烯膜或硝酸纖維素膜中的一種；所述的片基采用防脫片技術方法處理，防止對照樣品在實驗操作中脫片。
[0008]本發(fā)明還提供一種醫(yī)學實驗對照芯片的使用方法，其步驟為:
[0009]1、將待檢樣品固定在醫(yī)學實驗對照芯片的樣品區(qū)；
[0010]2、將固定好待檢樣品的醫(yī)學實驗對照芯片進行正常的樣品處理；
[0011]3、檢測并判斷待檢樣品和醫(yī)學實驗對照芯片上陽性對照樣品和陰性對照樣品的實驗結果；
[0012]4、當醫(yī)學實驗對照芯片上陽性對照芯片區(qū)的陽性對照樣品顯示為陽性且陰性對照芯片區(qū)的陰性對照樣品顯示為陰性時，判斷實驗過程和實驗結果無誤；
[0013]5、當醫(yī)學實驗對照芯片上陽性對照芯片區(qū)的陽性對照樣品顯示為非陽性或陰性對照芯片區(qū)的陰性對照樣品顯示為非陰性時，判斷實驗過程和實驗結果錯誤，需要重復步驟(2)重新處理待檢樣品。
[0014]為了獲得更好的技術效果，所述對照樣品以點陣方式排列固定在對照芯片區(qū)內；所述對照芯片區(qū)內的對照樣品為人體或動物的正常組織、細胞或核酸樣本中的一種或多種樣品的陰性和陽性樣品；所述片基上還有位置標示；所述位置標示通過至少一條豎線和至少一條橫線交叉分割標示樣品位置；所述位置標示通過豎向和/或橫向數(shù)字和/或字母標示樣品位置；所述片基上還有標簽區(qū)，用于樣品參數(shù)記錄；所述片基為耐腐蝕材料；所述耐腐蝕材料為玻璃、膠片、生物膜、硅芯片、聚二氟乙烯膜或硝酸纖維素膜中的一種；所述的片基采用防脫片技術方法處理，防止對照樣品在實驗操作中脫片。
[0015]本發(fā)明醫(yī)學實驗對照芯片將實驗樣本與對照樣本放在同一片基上，不僅很好解決了實驗缺乏對照的問題，而且確保了實驗樣本與對照樣本的實驗條件完全一致，使得實驗結果的判斷更為準確和可靠。將對照樣本通過陣列方式固定在芯片上，使用同一張芯片即可滿足多種醫(yī)學實驗設置陽性對照和陰性對照的需求，不僅簡化了實驗操作，而且極大降低了實驗成本。
【附圖說明】
[0016]圖1為本發(fā)明實施例之一結構示意圖；
[0017]圖2為本發(fā)明實施例之二結構示意圖。
【具體實施方式】
[0018]下面結合附圖對本發(fā)明做進一步說明。
[0019]實施例1
[0020]一種醫(yī)學實驗對照芯片，包括片基1，片基I為耐腐蝕材料制成的平板，具體耐腐蝕材料為玻璃、膠片、生物膜、硅芯片、聚二氟乙烯膜或硝酸纖維素膜中的一種；片基I上設置了樣品區(qū)3和放置對照樣品的兩個對照芯片區(qū)4、5，兩個對照芯片區(qū)分別為固定陽性對照樣品的陽性對照芯片區(qū)4和固定陰性對照樣品的陰性對照芯片區(qū)5，對照樣品以點陣方式排列固定在對照芯片區(qū)內；對照芯片區(qū)內的對照樣品為人體或動物的正常組織、細胞或核酸樣本中的一種或多種樣品的陰性和陽性樣品；片基I上還有位置標示；位置標示為交叉分割的至少一條豎位置標示線6和至少一條橫位置標示線6組成；位置標示也可以是通過豎向和/或橫向數(shù)字和/或字母組成的位置標記6’標記對應樣品的位置；片基I上還有標簽區(qū)2，用于樣品參數(shù)記錄；片基I采用防脫片技術方法處理，防止對照樣品在實驗操作中脫片。片基I所采用的防脫片技術處理方法，包括普通防脫粘附劑處理(常用粘附劑包括多聚賴氨酸、3-氨丙基三乙氧基硅烷/APES和明膠等)、離子修飾防脫處理、正電荷防脫處理、負電荷防脫處理、醛化處理、硅化處理和氨基化處理。適用于組織染色、免疫組化、原位雜交、熒光原位雜交、液基細胞檢測等各種醫(yī)學實驗的防脫片需求。
[0021]實施例2
[0022]實施例1所述的醫(yī)學實驗對照芯片的使用方法，其步驟為:
[0023](I)將待檢樣品固定在醫(yī)學實驗對照芯片的樣品區(qū)3 ;
[0024](2)將固定好待檢樣品的醫(yī)學實驗對照芯片進行正常的樣品處理；
[0025](3)檢測并判斷待檢樣品和醫(yī)學實驗對照芯片上陽性對照芯片區(qū)4和陰性對照芯片區(qū)5的陰性或陽性結果；
[0026](4)當醫(yī)學實驗對照芯片上陽性對照芯片區(qū)4的陽性對照樣品顯示為陽性且陰性對照芯片區(qū)5的陰性對照樣品顯示為陰性時，判斷實驗過程和實驗結果無誤；
[0027](5)當醫(yī)學實驗對照芯片上陽性對照芯片區(qū)4的陽性對照樣品顯示為非陽性或陰性對照芯片區(qū)5的陰性對照樣品顯示為非陰性時，判斷實驗過程和實驗結果錯誤，需要重復步驟(2)重新處理待檢樣品。
[0028]上述對照樣品以點陣方式排列固定在對照芯片區(qū)4、5內；上述對照芯片區(qū)4、5內的對照樣品為人體或動物的正常組織、細胞或核酸樣本中的一種或多種樣品的陰性和陽性樣品；上述片基I上還有位置標示；位置標示為交叉分割的至少一條豎線和至少一條橫線組成的位置標示線6 ;位置標示也可以是通過豎向和/或橫向數(shù)字和/或字母組成的位置標記6’標記對應樣品的位置；上述片基上還有標簽區(qū)2，用于樣品參數(shù)記錄；上述片基為耐腐蝕材料；上述耐腐蝕材料為玻璃、膠片、生物膜、硅芯片、聚二氟乙烯膜或硝酸纖維素膜中的一種；上述的片基采用防脫片技術方法處理，防止對照樣品在實驗操作中脫片。
【主權項】
1.一種醫(yī)學實驗對照芯片，包括片基，其特征在于:片基包括樣品區(qū)和放置對照樣品的兩個對照芯片區(qū)，兩個對照芯片區(qū)內的對照樣品為人體或動物的正常組織、細胞或核酸樣本中的一種或多種樣品的陰性和/或陽性樣品。
2.如權利要求1所述的醫(yī)學實驗對照芯片，其特征在于:所述片基為耐腐蝕材料。
3.如權利要求1或2所述的醫(yī)學實驗對照芯片，其特征在于:所述對照樣品以點陣方式排列固定在對照芯片區(qū)內。
4.如權利要求1或2所述的醫(yī)學實驗對照芯片，其特征在于:所述片基上還有位置標不O
5.如權利要求4所述的醫(yī)學實驗對照芯片，其特征在于:所述位置標示通過至少一條豎位置標示線和至少一條橫位置標示線交叉分割標示樣品位置。
6.如權利要求4所述的醫(yī)學實驗對照芯片，其特征在于:所述位置標示通過豎向和/或橫向數(shù)字和/或字母標示樣品位置。
7.如權利要求1或2所述的醫(yī)學實驗對照芯片，其特征在于:所述片基上還有標簽區(qū)，用于樣品參數(shù)記錄。
8.如權利要求1所述的醫(yī)學實驗對照芯片，其特征在于:所述的兩個對照芯片區(qū)分別為固定陽性對照樣品的陽性對照芯片區(qū)和固定陰性對照樣品的陰性對照芯片區(qū)。
9.如權利要求1或2所述的醫(yī)學實驗對照芯片，其特征在于:所述片基采用防脫片技術方法處理，防止對照樣品在實驗操作中脫片。
【專利摘要】本實用新型公開了一種醫(yī)學實驗對照芯片，包括片基，片基包括樣品區(qū)和放置對照樣品的兩個對照芯片區(qū)。本實用新型還公開了一種醫(yī)學實驗對照芯片的使用方法。本實用新型醫(yī)學實驗對照芯片將實驗樣本與對照樣本放在同一片基上，不僅很好解決了實驗缺乏對照的問題，而且確保了實驗樣本與對照樣本的實驗條件完全一致，使得實驗結果的判斷更為準確和可靠。將對照樣本通過陣列方式固定在芯片上，使用同一張芯片即可滿足多種醫(yī)學實驗設置陽性對照和陰性對照的需求，不僅簡化了實驗操作，而且極大降低了實驗成本。
【IPC分類】G01N33-48
【公開號】CN204422527
【申請?zhí)枴緾N201320580501
【發(fā)明人】楊海玉, 劉勇
【申請人】楊海玉
【公開日】2015年6月24日
【申請日】2013年9月18日