一種照度檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種照度檢測方法，包括如下步驟：首先，采集所要檢測的光；繼而，將采集到的光傳導(dǎo)至斜面分光裝置；接著，利用斜面分光裝置將傳導(dǎo)進(jìn)來的光在斜面上按一定比例反射出去一部分并被吸收掉，剩余部分折射到照度檢測點；然后，在照度檢測點進(jìn)行檢測，以檢測出折射光的強度；最后，將檢測到的折射光強度進(jìn)行換算，得到所要檢測的光的強度。本發(fā)明可以測量所有太陽光的強度，光衰減一致性好，且相應(yīng)檢測裝置結(jié)構(gòu)簡單，成本低。
【專利說明】
一種照度檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本發(fā)明涉及照度檢測領(lǐng)域，具體地涉及一種照度檢測方法?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]市面上的大多數(shù)照度傳感器，其測量范圍有限(如1-655351X)，而地面上晴天照度會超出測量范圍(如最高可達(dá)到1077801X以上)，為了能夠測量晴朗的日照，必須將照度傳感器的測量區(qū)間提高;為了將傳感器的測量區(qū)間提高，可以將太陽光進(jìn)行固定比例的衰減后(比如50%)，再通過照度傳感器進(jìn)行照度采集，這樣照度傳感器的測量范圍提高2倍(即測量范圍為2-1310701X)，由于實際自然環(huán)境中，當(dāng)光照低于21x，肉眼會感覺非常暗我們可以處理成0,即等效于測量范圍為0-1310701X，這樣通過照度傳感器就能夠測量所有太陽光的照度。將太陽光進(jìn)行固定比例的衰減，很多廠家采用半透明材料，但很多半透明材料的生產(chǎn)工藝，都是通過在透明材料里加“擴光粉”來實現(xiàn)的，由此生產(chǎn)出的光衰減器件，其衰減率一致性非常差，使用前還需對其進(jìn)行測試分選，降低了生產(chǎn)效率，加大了生產(chǎn)成本。
【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的在于為解決上述問題而提供一種能夠檢測所有太陽光強度，光衰減一致性好，且成本低的照度檢測方法。
[0004]為此，本發(fā)明公開了一種照度檢測方法，包括如下步驟:S1:采集所要檢測的光；S2:將采集到的光傳導(dǎo)至斜面分光裝置；S3:利用斜面分光裝置將傳導(dǎo)進(jìn)來的光在斜面上按一定比例反射出去一部分并被吸收掉，剩余部分折射到照度檢測點；S4:在照度檢測點進(jìn)行檢測，以檢測出折射光的強度；S5:將檢測到的折射光強度進(jìn)行換算，得到所要檢測的光的強度。
[0005]進(jìn)一步的，所述步驟S1中，通過一采光裝置來采集所要檢測的光。
[0006]進(jìn)一步的，所述采光裝置為半球形采光鏡，以便最大限度接受檢測光。
[0007]進(jìn)一步的，所述步驟S2中，通過導(dǎo)光柱將采集到的光傳導(dǎo)至斜面分光裝置。
[0008]進(jìn)一步的，所述斜面分光裝置與導(dǎo)光柱為一體成型件，導(dǎo)光柱底部為斜面。
[0009]進(jìn)一步的，所述步驟S3中，經(jīng)過斜面分光裝置分光后的折射光，再經(jīng)過整光裝置整光后，垂直傳導(dǎo)至照度檢測點，所述整光裝置頂部斜面與斜面分光裝置相互平行并構(gòu)成一氣隙，通過調(diào)整氣隙的角度可以控制檢測光的衰減率的不同。
[0010]進(jìn)一步的，所述氣隙的數(shù)量為1個或多個。
[0011]本發(fā)明的有益技術(shù)效果:本發(fā)明通過調(diào)整斜面分光裝置的斜面角度，可以精確控制太陽光的衰減率，實現(xiàn)測量所有太陽光的強度，且衰減率一致性好，從而在設(shè)備制造過程中，不需要再對每個光衰減器進(jìn)行測試分選，大大減少制造工序，降低設(shè)備成本。【附圖說明】
[0012]圖1為本發(fā)明實施例一較優(yōu)實施裝置的結(jié)構(gòu)分解示意圖；圖2為本發(fā)明實施例二較優(yōu)實施裝置的剖面示意圖；圖3為本發(fā)明其它實施例較優(yōu)實施裝置的剖面示意圖?！揪唧w實施方式】
[0013]現(xiàn)結(jié)合附圖和【具體實施方式】對本發(fā)明一步說明。
[0014]實施例一:本發(fā)明揭示一種照度檢測方法，包括如下步驟:S1:通過采光裝置(本實施例中優(yōu)選為半球形采光鏡，以便最大限度接受檢測光)采集所要檢測的光(本實施例為太陽光)。[〇〇15]S2:利用導(dǎo)光柱將采集到的太陽光傳導(dǎo)至斜面分光裝置(本實施例中，斜面分光裝置與導(dǎo)光柱為一體成型件，即導(dǎo)光柱底部為斜面)。[〇〇16]S3:利用導(dǎo)光柱底部斜面(斜面分光裝置)將傳導(dǎo)進(jìn)來的太陽光在斜面上按一定比例反射出去一部分并被吸收掉，剩余的部分直接折射到照度傳感器(照度檢測點)。通過改變導(dǎo)光柱底部斜面的角度，可以精確控制太陽光的不同衰減率。[〇〇17] S4:利用照度傳感器檢測折射光的強度；S5:將檢測到的折射光的強度進(jìn)行換算(即除以對應(yīng)的比例系數(shù))，得到所要檢測的太陽光強度。
[0018]基于上述照度檢測方法，圖1所示為實現(xiàn)本實施例的一種較佳照度檢測設(shè)備，包括半球形采光鏡1、底部為斜面的導(dǎo)光柱11、殼體3(本實施例中，殼體3內(nèi)壁優(yōu)選為黑色吸光面，以更好吸收反射光)、照度傳感器4和電路板5。工作過程:太陽光通過采光鏡1采集后，通過導(dǎo)光柱11導(dǎo)向?qū)Ч庵?1的底面斜面，在底部斜面上反射出去一部分并被通孔31的黑色吸光面吸收掉，剩余的一部分直接折射到照度傳感器4,照度傳感器4將檢測到的折射光強度的傳感信號通過電路板5的引線傳輸?shù)綄?yīng)的設(shè)備上進(jìn)行換算，除以對應(yīng)的比例系數(shù)，得到所要檢測的太陽光強度并進(jìn)行顯示。
[0019]實施例二:本發(fā)明揭示一種照度檢測方法，包括如下步驟:S1:通過采光裝置(本實施例中優(yōu)選為半球形采光鏡，以便最大限度接受檢測光)采集所要檢測的光(本實施例為太陽光)。
[0020]S2:利用導(dǎo)光柱將采集到的太陽光傳導(dǎo)至斜面分光裝置(本實施例中，斜面分光裝置與導(dǎo)光柱為一體成型件，即導(dǎo)光柱底部為斜面)。
[0021]S3:利用導(dǎo)光柱底部斜面(斜面分光裝置)將傳導(dǎo)進(jìn)來的太陽光在斜面上按一定比例反射出去一部分并被吸收掉，剩余的部分折射到整光裝置(本實施例中為整光鏡，底部為平面)的頂部斜面，經(jīng)過整光鏡整光后垂直傳導(dǎo)到照度傳感器(照度檢測點)，整光鏡頂部斜面與導(dǎo)光柱底部斜面相互平行并構(gòu)成一氣隙，通過改變氣隙的角度，可以精確控制太陽光的不同衰減率。
[0022]氣隙的數(shù)量不限于1個，在其它實施例中可以為2個或2個以上，當(dāng)氣隙數(shù)量為2個時，如圖3所示，整光鏡2(第一整光鏡)頂部斜面與導(dǎo)光柱11底部斜面相互平行并構(gòu)成第一氣隙，整光鏡2底部為斜面且與整光鏡6(第二整光鏡)頂部斜面相互平行并構(gòu)成第二氣隙， 整光鏡6的底部為平面，采集光經(jīng)過導(dǎo)光柱11傳導(dǎo)至導(dǎo)光柱底部斜面，一部分反射出去并被吸收掉，剩余部分通過第一氣隙折射至整光鏡2的頂部斜面，經(jīng)過整光鏡2整光后垂直傳導(dǎo)至整光鏡2的底部斜面，一部分反射出去并被吸收掉，剩余部分再通過第二氣隙折射至整光鏡6的頂部斜面，經(jīng)過整光鏡6整光后垂直傳播至照度傳感器。氣隙數(shù)量為2個以上時，以此類推。
[0023]S4:利用照度傳感器檢測折射光的強度；S5:將檢測到的折射光的強度進(jìn)行換算(即除以對應(yīng)的比例系數(shù))，得到所要檢測的太陽光強度。
[0024]基于上述照度檢測方法，圖2所示為實現(xiàn)本實施例的一種較佳照度檢測設(shè)備，本設(shè)備除了包含實施例一的設(shè)備的所有部件結(jié)構(gòu)外，在導(dǎo)光柱11與傳感器4之間還設(shè)有整光鏡2 (整光裝置)，導(dǎo)光柱11的底面斜面與整光鏡2的頂部斜面相互平行，并構(gòu)成一個氣隙。工作過程:太陽光通過采光鏡1采集后，通過導(dǎo)光柱11導(dǎo)向?qū)Ч庵?1的底面斜面，在底部斜面上反射出去一部分并被通孔31的黑色吸光面吸收掉，剩余的部分經(jīng)過氣隙折射到整光鏡2的頂部斜面上，通過整光鏡2的頂部斜面再次折射后恢復(fù)原來的垂直向下傳播到照度傳感器 4,照度傳感器4將檢測到的折射光強度的傳感信號通過電路板5的引線傳輸?shù)綄?yīng)的設(shè)備上進(jìn)行換算，除以對應(yīng)的比例系數(shù)，得到所要檢測的太陽光強度并進(jìn)行顯示。
[0025]盡管結(jié)合優(yōu)選實施方案具體展示和介紹了本發(fā)明，但所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該明白，在不脫離所附權(quán)利要求書所限定的本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，在形式上和細(xì)節(jié)上可以對本發(fā)明做出各種變化，均為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項】
1.一種照度檢測方法，其特征在于，包括如下步驟:S1:采集所要檢測的光；S2:將采集到的光傳導(dǎo)至斜面分光裝置；S3:利用斜面分光裝置將傳導(dǎo)進(jìn)來的光在斜面上按一定比例反射出去一部分并被吸收 掉，剩余部分折射到照度檢測點；S4:在照度檢測點進(jìn)行檢測，以檢測出折射光的強度；S5:將檢測到的折射光強度進(jìn)行換算，得到所要檢測的光的強度。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的照度檢測方法，其特征在于:所述步驟S1中，通過一采光裝置 來采集所要檢測的光。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的照度檢測方法，其特征在于:所述采光裝置為半球形采光鏡， 以便最大限度接受檢測光。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的照度檢測方法，其特征在于:所述步驟S2中，通過導(dǎo)光柱將采 集到的光傳導(dǎo)至斜面分光裝置。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的照度檢測方法，其特征在于:所述斜面分光裝置與導(dǎo)光柱為一 體成型件，導(dǎo)光柱底部為斜面。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的照度檢測方法，其特征在于:所述步驟S3中，通過改變斜面分 光裝置的斜面角度來改變反射光的比例，從而控制檢測光的衰減率的不同。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的照度檢測方法，其特征在于:所述步驟S3中，經(jīng)過斜面分光裝 置分光后的折射光，再經(jīng)過整光裝置整光后，垂直傳導(dǎo)至照度檢測點，所述整光裝置頂部斜 面與斜面分光裝置相互平行并構(gòu)成一氣隙，通過調(diào)整氣隙的角度可以控制檢測光的衰減率 的不同。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的照度檢測方法，其特征在于:所述氣隙的數(shù)量為1個或多個。
【文檔編號】G01J1/00GK105953914SQ201610410639
【公開日】2016年9月21日
【申請日】2016年6月13日
【發(fā)明人】馬建偉, 馮啟源, 蘇曉丹
【申請人】中科同德（廈門）物聯(lián)網(wǎng)科技有限公司