二維三維復合式測量儀及其數(shù)據(jù)融合標定方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及二維、三維測量技術領域，尤其是公開了一種二維三維復合式測量儀及其數(shù)據(jù)融合標定方法，包括載物臺，可采集待測物體輪廓信息的主動式圖像采集模組，連接主動式圖像采集模組的控制與數(shù)據(jù)處理器；主動式圖像采集模組包括位于載物臺正上方的圖像采集模塊，位于載物臺正下方的平行背光源，以及4個或者4個以上偶數(shù)個均勻傾斜分布于圖像采集模塊外圍的結構光投射器；平行背光源能發(fā)出垂直于載物臺的平行光，結構光投射器能發(fā)出與圖像采集模塊光軸呈一定夾角的結構光。本發(fā)明能夠全方位、無死角測量被測物體表面二維、三維信息，測量的速度快，精確度高，尤其是能對有深孔、深槽類的表面特征進行準確測量。
【專利說明】
二維三維復合式測量儀及其數(shù)據(jù)融合標定方法
技術領域
[0001]本發(fā)明涉及二維、三維測量技術領域，尤其是涉及一種二維三維復合式測量儀及其數(shù)據(jù)融合標定方法。
【背景技術】
[0002]三維測量技術應用于工業(yè)自動檢測、產(chǎn)品質(zhì)量控制、逆向設計、虛擬現(xiàn)實等眾多領域。巨大的應用市場需求，促使了各種三維測量方法和技術的快速發(fā)展，涌現(xiàn)出的商業(yè)測量儀器包括接觸式的三坐標測量機和關節(jié)坐標測量機，以及基于聲學、光學和電磁學的非接觸式測量設備。隨著計算機視覺、數(shù)字圖像采集技術和精密光學器件的發(fā)展，越來越多的三維光學測量技術快速進入商業(yè)應用階段。而基于結構光的三維輪廓測量由于具有無接觸、精度高，速度快和自動化程度高的特點，在機器人導航、模具制造、3D打印和在線質(zhì)量檢查等領域得到了廣泛的關注和發(fā)展。
[0003]目前基于結構光的三維測量儀器或者傳感器采用工業(yè)相機垂直于載物臺安裝，光源與工業(yè)相機鏡頭的垂直光軸呈一定的夾角安裝，這樣會造成被測物體的部分表面無法被光源照射，進而該部分的表面輪廓信息無法獲取。雖然通過旋轉(zhuǎn)被測物體的方式能夠部分克服該類缺陷，但是使得整體結構復雜化，特征點的匹配和數(shù)據(jù)拼接計算耗費時間并會不可避免的帶來較大誤差，并且由于旋轉(zhuǎn)平臺代替了平面移動平臺，無法測量尺寸較大的物體。更為重要的是，現(xiàn)有的三維輪廓儀對于深孔，深槽等常見的結構形態(tài)無法測量。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明為了克服現(xiàn)有技術的不足，提供一種測量準確性高，速度快，尤其能對深孔、深槽進行測量的二維三維復合式測量儀及其數(shù)據(jù)融合標定方法。
[0005]為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用以下技術方案:一種二維三維復合式測量儀，包括載物臺，可采集待測物體輪廓信息的主動式圖像采集模組，連接所述主動式圖像采集模組的控制與數(shù)據(jù)處理器以及支架;所述主動式圖像采集模組、載物臺以及控制與數(shù)據(jù)處理器均設于支架上，所述載物臺具有用于安置待測物體的透光載物平面，所述主動式圖像采集模組包括位于載物臺正上方的圖像采集模塊，位于載物臺正下方的平行背光源，以及4個或者4個以上偶數(shù)個均勻傾斜分布于圖像采集模塊外圍的結構光投射器;平行背光源能發(fā)出垂直于載物臺的平行光，所述結構光投射器能發(fā)出與圖像采集模塊光軸呈一定夾角的結構光。本發(fā)明若干個結構光投射器設于圖像采集模塊外圍，照射面積大、范圍廣，能對被測物體表面三維輪廓的進行無死角、全方位的測量；同時平行背光源從載物臺下方向上投射平行光照射被測物體，被測物體精確的二維輪廓圖像信息被圖像采集模塊采集，相比于三維測量，通過二維測量更容易精確得到深孔，深槽等常見的結構形態(tài)的二維輪廓信息。由于結構光投射器發(fā)出的結構光相對于圖像采集模塊的投射位置和方位固定不變，同時被測物體在X軸、Y軸和Z軸移動距離在圖像采集時已精確讀取，二維三維數(shù)據(jù)的融合以及三維數(shù)據(jù)的拼接計算十分方便。本發(fā)明結構緊湊，測量速度快，對表面輪廓非連續(xù)變化的被測物體具有良好的適應性，對有深孔、深槽類的表面特征均能夠測量。
[0006]進一步地，所述圖像采集模塊的傾斜角度為30-45°。這樣既可以保證整體結構的緊湊，也可以保證結構光能完全照射到待測物體表面時能產(chǎn)生起伏較大的曲面，便于獲取檢測待測物體表面輪廓信息。
[0007]進一步地，所述結構光投射器包括從上向下依次傾斜分布的第一光源、液晶光柵以及平行光路透鏡組。結構光投射器通過第一光源依次發(fā)光，并且利用液晶光柵調(diào)整結構光的形態(tài)從多個角度依次投射到被測物體表面，進一步擴大了照射面積。
[0008]進一步地，所述圖像采集模塊包括從上向下依次設置的工業(yè)相機、雙遠心光路透鏡。采用雙側(cè)遠心光路，使得光線的平行度大大增強，二維三維數(shù)據(jù)的融合能夠顯著提高三維輪廓測量精度。
[0009]進一步地，所述載物臺為可分別調(diào)整待測物體在X軸、Y軸及Z軸方向位置的X-Y-Z三軸運動載物臺。載物臺可在X軸、Y軸和Z軸移動，以提高測量儀的測量范圍。
[0010]進一步地，所述X-Y-Z三軸運動載物臺包括:X軸平臺以及驅(qū)動所述X軸平臺運動的第一動力裝置;Y軸平臺以及驅(qū)動所述Y軸平臺運動的第二動力裝置;Z軸平臺以及驅(qū)動所述Z軸平臺運動的第三動力裝置;X軸平臺與第一動力裝置共同設置于Y軸平臺上，Y軸平臺及第二動力裝置共同設置Z軸平臺上，Z軸平臺通過一固定板安裝于支架上，并使得所述圖像采集模塊的光軸與X軸平臺的透光載物平面垂直;Z軸平臺與固定板之間通過滑軌與滑塊的配合滑動連接。該設置結構簡單，控制方便、精確，容易實現(xiàn)。
[0011]進一步地，還包括一可測量X軸平臺、Y軸平臺及Z軸平臺移動距離的光柵尺，所述光柵尺、第一動力裝置、第二動力裝置、第三動力裝置均連接所述控制與數(shù)據(jù)處理器。X軸平臺、Y軸平臺及Z軸平臺的實際移動距離通過光柵尺精確讀取，并反饋至控制與數(shù)據(jù)處理器實現(xiàn)平移距離的精確控制。
[0012]進一步地，還包括一標定塊，所述標定塊包括棱錐形的主體，設于主體底部外圍的邊框，沿邊框均勻分布、豎直的方形通孔，沿周向設于主體側(cè)面的波浪形臺階以及設于主體頂端的臺面，位于臺面中心的圓形通孔;所述主體的側(cè)面數(shù)量與結構光投射器的數(shù)量相等；每一波浪形臺階由若干單體依次連接而成，每一單體均包括依次連接的一左側(cè)立面、高水平面、右側(cè)立面及低水平面。臺面有助于對標定塊精確測量時坐標系的建立，圓形通孔可以輔助觀察載物臺與光軸是否垂直。豎直的方形孔用于采集二維影像數(shù)據(jù)，波浪形臺階既可以產(chǎn)生諸多的由小平面交匯的點，從而提高標定的精度，又因為波浪形的設計而不至于對光線產(chǎn)生阻擋，波浪形臺階的作用增加三維標定在Z軸方向上的數(shù)據(jù)點，從而保障測量儀器在其全量程范圍內(nèi)的標定的精度。
[0013]另外，本發(fā)明還公開了一種上述二維三維復合式測量儀的數(shù)據(jù)融合標定方法，包括下述步驟:
(a)建立標定塊的三維坐標系，確定坐標原點，利用校準儀器測得標定塊所有方形通孔的四個頂點平面坐標，所有方形通孔的四個頂點坐標值集合記為Rxy;測量所有單體的左側(cè)立面、高水平面、右側(cè)立面及低水平面連接處的XYZ坐標，并記錄其集合為Rxy;
(b)將標定塊放置于所述二維三維復合式測量儀的載物臺上，使得標定塊外輪廓位于所述主動式圖像處理模塊的視野范圍之內(nèi)，標定塊的每個側(cè)面分別正對一個結構光投射器； (C)通過控制與數(shù)據(jù)處理器控制所述平行背光源和圖像采集模塊采集標定塊所有方形通孔頂點坐標，記為Mxy;然后再通過控制與數(shù)據(jù)處理器控制結構光投射器和圖像采集模塊采集標定塊所有單體的左側(cè)立面、高水平面、右側(cè)立面及低水平面連接處的坐標集合，記為Mxy；
(d)解方程組:MXy*U=RXy;MXyZ*V=RXyZ，解方程即可得到標定塊測量數(shù)據(jù)與真實數(shù)據(jù)之間的變換矩陣U、V、W，完成標定。
[0014]上述標定方法是純數(shù)據(jù)驅(qū)動的，避免了由于硬件之間的差異造成的模型結構帶來的誤差，且標定過程簡單，容易實現(xiàn)，精確度高。
[0015]綜上所述，本發(fā)明能夠全方位，無死角測量被測物體表面二維、三維信息，測量的速度快，精確度高，尤其是能對有深孔、深槽類的表面特征進行準確測量。
【附圖說明】
[0016]圖1為本發(fā)明實施例1的結構示意圖；
圖2為本發(fā)明實施例1的主動式圖像處理模塊結構示意圖；
圖3為本發(fā)明實施例1的主動式圖像處理模塊與其中一個結構光源結構示意圖；
圖4為本發(fā)明實施例1的X-Y-Z三軸運動載物臺結構示意圖；
圖5為本發(fā)明實施例1的標定塊結構示意圖。
【具體實施方式】
[0017]為了使本技術領域的人員更好的理解本發(fā)明方案，下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整的描述。
[0018]實施例1
如圖1-5所示，一種二維三維復合式測量儀，包括載物臺、主動式圖像采集模組1、控制與數(shù)據(jù)處理器3以及支架。所述載物臺具有用于安置待測物體的透光載物平面，進而保證光線能穿過該透光載物平面。主動式圖像采集模組I可采集待測物體輪廓信息，控制與數(shù)據(jù)處理器3連接所述主動式圖像采集模組I和載物臺2。所述主動式圖像采集模組1、載物臺以及控制與數(shù)據(jù)處理器3均設于支架上。所述支架包括支撐結構4和連接于支撐結構4上的底座5 ο支架可對整個測量儀起到支撐作用。
[0019]具體的，所述主動式圖像采集模組I包括圖像采集模塊13、平行背光源12以及結構光源模組11，
所述結構光源模組11包括4個結構光投射器111，當然在其他實施例中所述結構光投射器111也可以為4個以上的偶數(shù)個。所述圖像采集模塊13位于載物臺正上方，平行背光源12位于載物臺正下方，結構光投射器111均勻傾斜分布于圖像采集模塊13外圍，且該結構光投射器111與的傾斜角度為30-45°，且所述結構光投射器111繞工業(yè)相機131光軸外圍360°均勻布置。平行背光源12能發(fā)出垂直于載物臺的平行光，所述結構光投射器111能發(fā)出結構光，結構光與圖像采集模塊13光軸呈一定夾角，而圖像采集模塊13的光軸與平行光平行設置。因結構光投射器111的傾斜角度為30-45°。即結構光投射器111與圖像采集模塊13之間的角度為30-45°，因而所述結構光與光軸之間的夾角也為30-45°。
[0020]再者，所述結構光投射器111包括從上向下依次傾斜分布的第一光源1111、液晶光柵1112以及平行光路透鏡組1113。而所述圖像采集模塊13包括從上向下依次設置的工業(yè)相機131、雙遠心光路透鏡132，所述雙遠心光路透鏡132靠近所述載物臺。結構光投射器111投射的結構光線與工業(yè)相機131光軸呈現(xiàn)一定夾角以保證被測物體各方向上都能被照射。而平行背光源12從下向上投射的平行光與工業(yè)相機131光軸平行。所述第一光源111為LED光源，也可是其他現(xiàn)有的光源。
[0021]如圖4所示，所述載物臺為X-Y-Z三軸運動載物臺2，Χ-Υ_Ζ三軸運動載物臺2可分別調(diào)整待測物體在X軸、Y軸及Z軸方向位置。即所述X-Y-Z三軸運動載物臺2包括:Χ軸平臺21以及驅(qū)動所述X軸平臺運動21的第一動力裝置211 ;Υ軸平臺22以及驅(qū)動所述Y軸平臺22運動的第二動力裝置221 ;Ζ軸平臺23以及驅(qū)動所述Z軸平臺23運動的第三動力裝置231 ;Χ軸平臺21與第一動力裝置211共同設置于Y軸平臺22上，Y軸平臺22及第二動力裝置221共同設置Z軸平臺23上，Z軸平臺23通過一固定板24安裝于支架上，并使得所述圖像采集模塊13的光軸與X軸平臺21的透光載物平面垂直;Z軸平臺23與固定板24之間通過滑軌241與滑塊的配合滑動連接。在本實施例中，所述第一動力裝置211、第二動力裝置221及第三動力裝置231為電機，在其他實施例中，還可以氣缸等其他動力部件。
[0022]再者，所述X-Y-Z三軸載物臺2的被測物體放置區(qū)域為玻璃載物面25，即所述透明區(qū)域為玻璃載物面25。玻璃載物面25具有良好的透光性，X-Y-Z三軸載物臺2下方平行背光源12向上投射的平行光可無遮擋地通過雙遠心光路透鏡組132進入工業(yè)相機131。
[0023]優(yōu)選地，本發(fā)明還包括一光柵尺，光柵尺可測量X軸平臺21、Υ軸平臺22及Z軸平臺23移動距離，所述光柵尺、第一動力裝置211、第二動力裝置221、第三動力裝置231均連接所述控制與數(shù)據(jù)處理器3。
[0024]X軸平臺21、Υ軸平臺22和Z軸平臺23的平移量由控制與數(shù)據(jù)處理器3分別控制X軸驅(qū)動電機211、Υ軸驅(qū)動電機221和Z軸驅(qū)動電機231實現(xiàn)，各軸的實際平移距離通過光柵尺精確讀取，并反饋至控制與數(shù)據(jù)處理器3實現(xiàn)平移距離的精確控制。
[0025]使用時，將被測物體放置于X-Y-Z三軸運動載物臺2上，控制與數(shù)據(jù)處理器3根據(jù)操作員的指令控制載物臺的移動，結構光源模組11的四個不同結構光投射器111依次發(fā)出結構光，圖像采集模塊13采集經(jīng)過結構光調(diào)制的被測物體表面信息，平行背光源12發(fā)出與載物臺垂直的平行光束，圖像采集模塊13采集到被測物體的二維外輪廓信息，圖像采集模塊13所收集到的信息通過控制與數(shù)據(jù)處理器3的處理，得到被測物體的不同位置的表面二維三維輪廓信息。
[0026]所述主動式圖像采集模組I根據(jù)控制與數(shù)據(jù)處理器3的指令發(fā)光并采集圖像，根據(jù)圖像通過預先設定的方法獲取被測物體表面二維三維輪廓信息，控制與數(shù)據(jù)處理器3根據(jù)操作員的設定測量任務計算出測量結果，輸出到顯示設備。
[0027]繞工業(yè)相機131光軸360°均勻布置的多只結構光投射器11通過第一光源1111發(fā)光，并由液晶光柵1112控制所用結構光的形態(tài)，通過平行光路透鏡組1113以一定夾角依次照射到被測物體，被測物體表面圖像信息通過雙遠心光路透鏡組132被工業(yè)相機131逐一采集。控制與數(shù)據(jù)處理器3控制載物臺的精確移動，可獲取不同位置多個視角的表面圖像信息并完成二維三維數(shù)據(jù)的計算和處理。本發(fā)明能夠獲取被測物體的底面投射的二維高精度輪廓信息，并可實現(xiàn)對被測物體表面三維輪廓的幾乎無死角全方位測量。融合的二維三維測量數(shù)據(jù)對表面輪廓非連續(xù)變化的被測物體具有良好的適應性，測量儀具備結構緊湊，測量速度快，精度高等特點。
[0028]如圖5所示，本發(fā)明還設置了一標定塊6，所述標定塊6包括棱錐形的主體61、邊框、豎直的方形通孔62、波浪形臺階、臺面64以及圓形通孔65。所述臺面64設于主體61的頂端正中間，臺面64的邊長數(shù)量與主體61側(cè)面數(shù)量相等，且一一對應設置。所述圓形通孔65設于臺面64正中間，且貫穿整個主體61。所述邊框設于主體61底部外圍，方形通孔62沿邊框長度方向均勻分布，波浪形臺階沿周向設于主體61側(cè)面上，且該波浪形臺階豎直凸起于主體61的側(cè)面。所述主體61的側(cè)面數(shù)量與結構光投射器111的數(shù)量相等；即在本實施例中，結構光投射器111的數(shù)量為4個，所述主體61就為四棱錐形，該主體61具有4個側(cè)面。而每一波浪形臺階由若干單體依次連接而成，每一單體均包括依次連接的一左側(cè)立面631、高水平面634、右側(cè)立面632及低水平面633。在本實施例中，所述主體61上的波浪形臺階為3個，而在其他實施例中還可是1-2個或者是3個以上。所述浪形臺階數(shù)越多，精確度也越高，但成本越高；相反，而臺階書越少，成本越低，但精度越低。
[0029]實施例2
本實施例是一種利用實施例1所述二維三維復合式測量儀的數(shù)據(jù)融合標定方法，包括下述步驟:
(a)建立標定塊的三維坐標系，確定坐標原點，利用校準儀器測得標定塊6所有方形通孔62的四個頂點平面坐標，所有方形通孔62的四個頂點坐標值集合記為Rxy;測量標定塊6所有單體的左側(cè)立面631、高水平面634、右側(cè)立面632及低水平面633連接處的XYZ坐標，并記錄其集合為Rxy。
[0030](b)將標定塊6放置于所述二維三維復合式測量儀的載物臺上，使得標定塊6的外輪廓完全位于所述主動式圖像處理模塊I的視野范圍之內(nèi)，標定塊6的每個側(cè)面分別正對一個結構光投射器111，在本實施例中所述標定塊為四棱錐形，所述結構光投射器111為4個，進而可將標定塊6的四個側(cè)面分別正對所述4個結構光投射器111。
[0031](C)通過控制與數(shù)據(jù)處理器3控制所述平行背光源12和圖像采集模塊13采集標定塊6上所有方形通孔62頂點坐標，記為Mxy;然后再通過控制與數(shù)據(jù)處理器3控制結構光投射器111和圖像采集模塊13采集標定塊6所有單體的左側(cè)立面631、高水平面634、右側(cè)立面632及低水平面633連接處的坐標集合，記為Mxy;
(d)解方程組:Mxy*U=Rxy;Mxyz*V=Rxyz，解方程即可得到標定塊6測量數(shù)據(jù)與真實數(shù)據(jù)之間的變換矩陣U、V、W，完成標定。
[0032]顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明的一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都應當屬于本發(fā)明保護的范圍。
【主權項】
1.一種二維三維復合式測量儀，包括載物臺，可采集待測物體輪廓信息的主動式圖像采集模組(1)，連接所述主動式圖像采集模組(I)的控制與數(shù)據(jù)處理器(3)以及支架;所述主動式圖像采集模組(I)、載物臺以及控制與數(shù)據(jù)處理器(3)均設于支架上，所述載物臺具有用于安置待測物體的透光載物平面，其特征在于:所述主動式圖像采集模組(I)包括位于載物臺正上方的圖像采集模塊(13)，位于載物臺正下方的平行背光源(12)，以及4個或者4個以上偶數(shù)個均勻傾斜分布于圖像采集模塊(13)外圍的結構光投射器(111);平行背光源(12)能發(fā)出垂直于載物臺的平行光，所述結構光投射器(111)能發(fā)出與圖像采集模塊(13)光軸呈一定夾角的結構光。2.根據(jù)權利要求1所述的二維三維復合式測量儀，其特征在于:所述圖像采集模塊(13)的傾斜角度為30-45°。3.根據(jù)權利要求1所述的二維三維復合式測量儀，其特征在于:所述結構光投射器(111)包括從上向下依次傾斜分布的第一光源(1111)、液晶光柵(1112)以及平行光路透鏡組(1113)。4.根據(jù)權利要求1所述的二維三維復合式測量儀，其特征在于:所述圖像采集模塊(13)包括從上向下依次設置的工業(yè)相機(131 )、雙遠心光路透鏡(132)。5.根據(jù)權利要求1所述的三維輪廓測量儀，其特征在于:所述載物臺為可分別調(diào)整待測物體在X軸、Y軸及Z軸方向位置的X-Y-Z三軸運動載物臺(2)。6.根據(jù)權利要求1所述的二維三維復合式測量儀，其特征在于:所述X-Y-Z三軸運動載物臺(2)包括:X軸平臺(21)以及驅(qū)動所述X軸平臺(21)運動的第一動力裝置(211) ;Y軸平臺(22)以及驅(qū)動所述Y軸平臺(22)運動的第二動力裝置(221) ;Ζ軸平臺(23)以及驅(qū)動所述Z軸平臺(23)運動的第三動力裝置(231) ;Χ軸平臺(21)與第一動力裝置(211)共同設置于Y軸平臺(22)上，Y軸平臺(22)及第二動力裝置(221)共同設置Z軸平臺(23)上，Z軸平臺(23)通過一固定板(24)安裝于支架上，并使得所述圖像采集模塊(13)的光軸與X軸平臺(21)的透光載物平面垂直;Z軸平臺(23)與固定板(24)之間通過滑軌(241)與滑塊的配合滑動連接。7.根據(jù)權利要求1所述的二維三維復合式測量儀，其特征在于:還包括一可測量X軸平臺(21)、Υ軸平臺(22)及Z軸平臺(23)移動距離的光柵尺，所述光柵尺、第一動力裝置(211)、第二動力裝置(221)、第三動力裝置(231)均連接所述控制與數(shù)據(jù)處理器(3)。8.根據(jù)權利要求1所述的二維三維復合式測量儀，其特征在于:還包括一標定塊(6)，所述標定塊(6)包括棱錐形的主體(61)，設于主體(61)底部外圍的邊框，沿邊框均勻分布、豎直的方形通孔(62)，沿周向設于主體(61)側(cè)面的波浪形臺階以及設于主體(61)頂端的臺面(64)，位于臺面(64)中心的圓形通孔(65);所述主體(61)的側(cè)面數(shù)量與結構光投射器(111)的數(shù)量相等;每一波浪形臺階由若干單體依次連接而成，每一單體均包括依次連接的一左側(cè)立面(631)、高水平面(634)、右側(cè)立面(632)及低水平面(633)。9.一種利用權利要求8所述二維三維復合式測量儀的數(shù)據(jù)融合標定方法，包括下述步驟: (a)建立標定塊(6)的三維坐標系，確定坐標原點，利用校準儀器測得標定塊(6)所有方形通孔(62)的四個頂點平面坐標，所有方形通孔(62)的四個頂點坐標值集合記為Rxy;測量所有單體的左側(cè)立面(631)、高水平面(634)、右側(cè)立面(632)及低水平面(633)連接處的XYZ坐標，并記錄其集合為Rxy ； (b)將標定塊(6)放置于所述二維三維復合式測量儀的載物臺上，使得標定塊(6)的外輪廓位于所述主動式圖像處理模塊(I)的視野范圍之內(nèi)，標定塊(6)的每個側(cè)面分別正對一個結構光投射器(111); (C)通過控制與數(shù)據(jù)處理器(3)控制所述平行背光源(12)和圖像采集模塊(13)采集標定塊(6)所有方形通孔(62)頂點坐標，記為Mxy;然后再通過控制與數(shù)據(jù)處理器(3)控制結構光投射器(111)和圖像采集模塊(13)采集標定塊(6)所有單體的左側(cè)立面(631)、高水平面(634),右側(cè)立面(632 )及低水平面(633 )連接處的坐標集合，記為Mxy ； (d)解方程組:Mxy*U=Rxy;Mxyz*V=Rxyz，解方程即可得到標定塊(6)測量數(shù)據(jù)與真實數(shù)據(jù)之間的變換矩陣U、V、W，完成標定。
【文檔編號】G01B11/00GK105841618SQ201610404854
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2016年6月8日
【發(fā)明人】文雙全, 費正順, 劉彧鵬, 陳貴
【申請人】杭州漢振科技有限公司