本技術(shù)應(yīng)用于電子產(chǎn)品測(cè)試設(shè)備的,特別涉及一種測(cè)試通道防插錯(cuò)裝置。
背景技術(shù):
1、tb板是指針膜匯總的接口板,eeprom是指帶電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器?,F(xiàn)有機(jī)臺(tái)的通道識(shí)別在tb板,通過五位撥碼器來識(shí)別通道id,但當(dāng)被測(cè)產(chǎn)品較特殊,需要分段下針時(shí),此時(shí)的通道識(shí)別是有缺陷的。從產(chǎn)品出來有兩個(gè)針膜板,若同時(shí)插錯(cuò)到tb板上,則會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品sn碼燒錄錯(cuò)誤,出現(xiàn)產(chǎn)品內(nèi)外碼不一致的問題。這就會(huì)使錯(cuò)碼的產(chǎn)品流到后端,對(duì)客戶造成較大的損失?,F(xiàn)有機(jī)臺(tái)無法進(jìn)行分段時(shí)下針結(jié)構(gòu)的測(cè)試,容易導(dǎo)致寫碼錯(cuò)誤,撥碼器識(shí)別電路所需的pcba空間較大,無法在較小的針膜板上使用,因此有必要提供一種電路結(jié)構(gòu)簡單,物料成本低、防呆更加全面、板卡級(jí)別應(yīng)用,可規(guī)模應(yīng)用于量產(chǎn)項(xiàng)目、各模組的通道識(shí)別相互匹配核對(duì)、可以檢測(cè)出夾具在架線或維護(hù)過程中是否將測(cè)試線插錯(cuò)通道、有效避免產(chǎn)品出現(xiàn)內(nèi)外碼不一致的測(cè)試通道防插錯(cuò)裝置。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供了一種電路結(jié)構(gòu)簡單,物料成本低、防呆更加全面、板卡級(jí)別應(yīng)用,可規(guī)模應(yīng)用于量產(chǎn)項(xiàng)目、各模組的通道識(shí)別相互匹配核對(duì)、可以檢測(cè)出夾具在架線或維護(hù)過程中是否將測(cè)試線插錯(cuò)通道、有效避免產(chǎn)品出現(xiàn)內(nèi)外碼不一致的測(cè)試通道防插錯(cuò)裝置。
2、本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是:本實(shí)用新型包括上針膜板、下針膜板、轉(zhuǎn)接板、測(cè)試機(jī)以及上位機(jī),所述上針膜板包括第一識(shí)別模組,所述下針膜板包括第二識(shí)別模組,所述第一識(shí)別模組與所述第二識(shí)別模組連接,所述轉(zhuǎn)接板經(jīng)所述測(cè)試機(jī)與所述上位機(jī)通訊,產(chǎn)品經(jīng)所述上針膜板、所述下針膜板接入所述轉(zhuǎn)接板。
3、由上述方案可見,本申請(qǐng)相對(duì)于現(xiàn)有的測(cè)試系統(tǒng),通道識(shí)別的防呆更加全面,板卡級(jí)別應(yīng)用,可規(guī)模應(yīng)用于量產(chǎn)項(xiàng)目,電路結(jié)構(gòu)簡單,物料成本低,容易增加到針膜板上,通道檢測(cè)系統(tǒng)完善,各模組的通道識(shí)別相互匹配核對(duì),可以檢測(cè)出夾具在架線或維護(hù)過程中是否將測(cè)試線插錯(cuò)通道,有效避免產(chǎn)品出現(xiàn)內(nèi)外碼不一致的情況,在針膜板上加上通道識(shí)別電路,簡化eeprom識(shí)別電路,與tb板及測(cè)試機(jī)模組等的通道識(shí)別匹配,搭建更加嚴(yán)謹(jǐn)?shù)耐ǖ雷R(shí)別系統(tǒng),有效避免產(chǎn)品出現(xiàn)內(nèi)外碼不一致的情況。
4、一個(gè)優(yōu)選方案是,所述第一識(shí)別模組的spare_i2c_scl引腳、?spare_i2c_sda引腳分別與所述第二識(shí)別模組對(duì)應(yīng)的引腳連接。
5、一個(gè)優(yōu)選方案是,所述測(cè)試通道防插錯(cuò)裝置還包括第一連接器、?第二連接器、第三連接器,所述轉(zhuǎn)接板經(jīng)所述第一連接器、?所述第二連接器、所述第三連接器接入所述測(cè)試機(jī)。
6、一個(gè)優(yōu)選方案是,所述測(cè)試通道防插錯(cuò)裝置還包括第四連接器、?第五連接器,所述上針膜板經(jīng)所述第四連接器接入所述轉(zhuǎn)接板,所述下針膜板經(jīng)所述第五連接器接入所述轉(zhuǎn)接板。
1.一種測(cè)試通道防插錯(cuò)裝置,其特征在于:它包括上針膜板(1)、下針膜板(2)、轉(zhuǎn)接板(3)、測(cè)試機(jī)(4)以及上位機(jī)(5),所述上針膜板(1)包括第一識(shí)別模組(u1),所述下針膜板(2)包括第二識(shí)別模組(u3),所述第一識(shí)別模組(u1)與所述第二識(shí)別模組(u3)連接,所述轉(zhuǎn)接板(3)經(jīng)所述測(cè)試機(jī)(4)與所述上位機(jī)(5)通訊,產(chǎn)品(6)經(jīng)所述上針膜板(1)、所述下針膜板(2)接入所述轉(zhuǎn)接板(3)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測(cè)試通道防插錯(cuò)裝置,其特征在于:所述第一識(shí)別模組(u1)的spare_i2c_scl引腳、?spare_i2c_sda引腳分別與所述第二識(shí)別模組(u3)對(duì)應(yīng)的引腳連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測(cè)試通道防插錯(cuò)裝置,其特征在于:所述測(cè)試通道防插錯(cuò)裝置還包括第一連接器(j1)、?第二連接器(j2)、第三連接器(j3),所述轉(zhuǎn)接板(3)經(jīng)所述第一連接器(j1)、?所述第二連接器(j2)、所述第三連接器(j3)接入所述測(cè)試機(jī)(4)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測(cè)試通道防插錯(cuò)裝置,其特征在于:所述測(cè)試通道防插錯(cuò)裝置還包括第四連接器(j5)、?第五連接器(j6),所述上針膜板(1)經(jīng)所述第四連接器(j5)接入所述轉(zhuǎn)接板(3),所述下針膜板(2)經(jīng)所述第五連接器(j6)接入所述轉(zhuǎn)接板(3)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測(cè)試通道防插錯(cuò)裝置,其特征在于:所述測(cè)試通道防插錯(cuò)裝置還包括供電模組(u2),所述供電模組(u2)與所述第一識(shí)別模組(u1)、所述第二識(shí)別模組(u3)連接。