所屬的技術(shù)人員知道，本申請(qǐng)可以實(shí)現(xiàn)為系統(tǒng)、方法或計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。因此，本公開可以具體實(shí)現(xiàn)為以下形式，即：可以是完全的硬件、也可以是完全的軟件(包括固件、駐留軟件、微代碼等)，還可以是硬件和軟件結(jié)合的形式，本文一般稱為“模塊”或“系統(tǒng)”。此外，在一些實(shí)施例中，本申請(qǐng)還可以實(shí)現(xiàn)為在一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)中的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品的形式，該計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)中包含計(jì)算機(jī)可讀的程序代碼。計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)例如可以是但不限于——電、磁、光、電磁、紅外線、或半導(dǎo)體的系統(tǒng)、裝置或器件，或者任意以上的組合。在本說明書的描述中，參考術(shù)語(yǔ)“一個(gè)實(shí)施例”、“一些實(shí)施例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結(jié)合該實(shí)施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)包含于本申請(qǐng)的至少一個(gè)實(shí)施例或示例中。在本說明書中，對(duì)上述術(shù)語(yǔ)的示意性表述不必須針對(duì)的是相同的實(shí)施例或示例。而且，描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)可以在任一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例或示例中以合適的方式結(jié)合。此外，在不相互矛盾的情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以將本說明書中描述的不同實(shí)施例或示例以及不同實(shí)施例或示例的特征進(jìn)行結(jié)合和組合。盡管上面已經(jīng)示出和描述了本申請(qǐng)的實(shí)施例，可以理解的是，上述實(shí)施例是示例性的，不能理解為對(duì)本申請(qǐng)的限制，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在本申請(qǐng)的范圍內(nèi)可以對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行變化、修改、替換和變型。

背景技術(shù)：

1、隨著損耗石英光纖的發(fā)展和光纖技術(shù)的不斷成熟，改變了以往的光譜系統(tǒng)照明技術(shù)，使得遠(yuǎn)程樣品的光譜信號(hào)可以很容易地輸入到光譜探測(cè)系統(tǒng)中。光纖光譜技術(shù)作為一種快速、無(wú)損的檢測(cè)方法在光學(xué)檢測(cè)方面得到廣泛應(yīng)用。在光伏行業(yè)中，對(duì)太陽(yáng)電池的膜厚合格檢測(cè)時(shí)，需要利用光纖傳輸光源到電池表面上以及將電池表面反射回來(lái)(或透射出)的光傳輸?shù)焦庾V儀內(nèi)，并對(duì)膜厚進(jìn)行分析以完成電池膜厚測(cè)試，測(cè)試時(shí)一般采用單測(cè)點(diǎn)檢測(cè)。然而電池由于制造工藝導(dǎo)致其表面各個(gè)位置的膜厚不一定相同，導(dǎo)致單測(cè)點(diǎn)檢測(cè)得到的測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性較低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為了克服電池由于制造工藝導(dǎo)致其表面各個(gè)位置的膜厚不一定相同，導(dǎo)致單測(cè)點(diǎn)檢測(cè)得到的測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性較低的問題，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N基于光纖的電池測(cè)試方法及相關(guān)設(shè)備。

2、第一方面，為了解決上述技術(shù)問題，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N基于光纖的電池測(cè)試方法，包括：

3、基于測(cè)試電池確定用于測(cè)試的光源類型；

4、利用與光源類型匹配的測(cè)試光源，通過光纖對(duì)測(cè)試電池進(jìn)行多點(diǎn)同步檢測(cè)，得到測(cè)試電池的膜厚參數(shù)；

5、基于膜厚參數(shù)得到測(cè)試電池的測(cè)試結(jié)果。

6、第二方面，本申請(qǐng)還提供了一種電池測(cè)試裝置，應(yīng)用一種基于光纖的電池測(cè)試方法；裝置包括測(cè)試光源、光纖和探測(cè)模塊，光纖包括光源端、第一支端和第二支端；測(cè)試光源與光源端連接，第一支端與探測(cè)模塊連接，第二支端連接有探頭；

7、在對(duì)測(cè)試電池進(jìn)行測(cè)試時(shí)，控制測(cè)試光源發(fā)光，并利用探頭和探測(cè)模塊通過光纖對(duì)測(cè)試電池進(jìn)行多點(diǎn)同步檢測(cè)，得到測(cè)試電池的膜厚參數(shù)，以基于膜厚參數(shù)得到測(cè)試電池的測(cè)試結(jié)果。

8、第三方面，本申請(qǐng)還提供了一種基于光纖的電池測(cè)試系統(tǒng)，包括：

9、確定模塊，用于基于測(cè)試電池確定用于測(cè)試的光源類型；

10、檢測(cè)模塊，用于利用與光源類型匹配的測(cè)試光源，通過光纖對(duì)測(cè)試電池進(jìn)行多點(diǎn)同步檢測(cè)，得到測(cè)試電池的膜厚參數(shù)；

11、得到模塊，用于基于膜厚參數(shù)得到測(cè)試電池的測(cè)試結(jié)果。

12、第四方面，本申請(qǐng)還提供了一種計(jì)算設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并在處理器上運(yùn)行的程序，處理器執(zhí)行程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述的一種基于光纖的電池測(cè)試方法的步驟。

13、第五方面，本申請(qǐng)還提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有指令，當(dāng)指令在終端設(shè)備上運(yùn)行時(shí)，使得終端設(shè)備執(zhí)行一種基于光纖的電池測(cè)試方法的步驟。

14、本申請(qǐng)的有益效果是：通過確定測(cè)試電池對(duì)應(yīng)的光源類型，并利用與光源類型匹配的測(cè)試光源，通過光纖對(duì)測(cè)試電池進(jìn)行多點(diǎn)同步檢測(cè)，得到測(cè)試電池的膜厚參數(shù)，以及基于膜厚參數(shù)得到測(cè)試電池的測(cè)試結(jié)果。這樣，通過對(duì)測(cè)試電池進(jìn)行多點(diǎn)同步檢測(cè)，能夠同時(shí)檢測(cè)得到測(cè)試電池表面各個(gè)位置的膜厚參數(shù)，該膜厚參數(shù)展示出了測(cè)試電池相對(duì)比較全面的整體膜厚情況。并在確定測(cè)試結(jié)果時(shí)考慮了該膜厚參數(shù)，即考慮了測(cè)試電池相對(duì)比較全面的整體膜厚情況，使得測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性更高。同時(shí)，本申請(qǐng)檢測(cè)得到的是測(cè)試電池表面各個(gè)位置同一時(shí)間的膜厚參數(shù)，避免了在不同時(shí)間對(duì)測(cè)試電池表面各個(gè)位置分別進(jìn)行單點(diǎn)檢測(cè)時(shí)，由于測(cè)試環(huán)境易受到外界干擾而產(chǎn)生變化導(dǎo)致的膜厚誤差，從而能夠進(jìn)一步提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

技術(shù)特征：

1.一種基于光纖的電池測(cè)試方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于測(cè)試電池確定用于測(cè)試的光源類型，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述制造參數(shù)包括預(yù)設(shè)鍍膜厚度、膜料類型和膜厚制造誤差；

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用與所述光源類型匹配的測(cè)試光源，通過光纖對(duì)所述測(cè)試電池進(jìn)行多點(diǎn)同步檢測(cè)，得到所述測(cè)試電池的膜厚參數(shù)，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述膜厚參數(shù)包括多個(gè)測(cè)點(diǎn)膜厚；所述基于所述膜厚參數(shù)得到所述測(cè)試電池的測(cè)試結(jié)果，包括：

6.一種電池測(cè)試裝置，其特征在于，應(yīng)用如權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的一種基于光纖的電池測(cè)試方法；所述裝置包括測(cè)試光源、光纖和探測(cè)模塊，所述光纖包括光源端、第一支端和第二支端；所述測(cè)試光源與所述光源端連接，所述第一支端與所述探測(cè)模塊連接，所述第二支端連接有探頭；

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述探頭為積分球、直射探頭或多角度入射探頭。

8.一種基于光纖的電池測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括：

9.一種計(jì)算設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并在所述處理器上運(yùn)行的程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的一種基于光纖的電池測(cè)試方法的步驟。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有指令，當(dāng)所述指令在終端設(shè)備上運(yùn)行時(shí)，使得所述終端設(shè)備執(zhí)行如權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的一種基于光纖的電池測(cè)試方法的步驟。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)涉及一種基于光纖的電池測(cè)試方法及相關(guān)設(shè)備，方法包括：基于測(cè)試電池確定用于測(cè)試的光源類型；利用與光源類型匹配的測(cè)試光源，通過光纖對(duì)測(cè)試電池進(jìn)行多點(diǎn)同步檢測(cè)，得到測(cè)試電池的膜厚參數(shù)；基于膜厚參數(shù)得到測(cè)試電池的測(cè)試結(jié)果。解決了電池由于制造工藝導(dǎo)致其表面各個(gè)位置的膜厚不一定相同，導(dǎo)致單測(cè)點(diǎn)檢測(cè)得到的測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性較低的問題。

技術(shù)研發(fā)人員：趙戴玥,袁程,何文澤,趙孟鋼
受保護(hù)的技術(shù)使用者：無(wú)錫研譜智能科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/9