一種試管檢測(cè)裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型提供了一種試管檢測(cè)裝置，包括光電傳感器，與光電傳感器位于水平對(duì)射位置的吸光暗盒，與該光電傳感器的光發(fā)射器相連的驅(qū)動(dòng)模塊，與該光電傳感器的光接收器相連的放大整形模塊，與該放大整形模塊相連的比較器，以及與該比較器相連的處理器。當(dāng)光電傳感器和吸光暗盒之間有試管經(jīng)過時(shí)，比較器將會(huì)濾除吸光暗盒反射的微弱光信號(hào)轉(zhuǎn)換得到的電信號(hào)，使處理器僅接收到試管發(fā)射回來的光信號(hào)對(duì)應(yīng)的電信號(hào)；而當(dāng)光電傳感器和吸光暗盒之間沒有試管經(jīng)過時(shí)，經(jīng)比較器的濾除后，處理器將無法得到任何電信號(hào)，據(jù)此處理器即可準(zhǔn)確地判斷出光電傳感器和吸光暗盒之間是否有試管經(jīng)過，從而避免了誤檢、漏檢的發(fā)生。
【專利說明】一種試管檢測(cè)裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及試管檢測(cè)【技術(shù)領(lǐng)域】，更具體的說是涉及一種試管檢測(cè)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，在各領(lǐng)域的樣品分析中，通常都是使用試管裝載需要進(jìn)行分析的樣品(如化學(xué)試劑、血液等)，并將裝載樣品的試管放置到合適的分析儀中，完成對(duì)樣品特性的分析，在實(shí)際應(yīng)用中，分析儀中通常都設(shè)置有試管檢測(cè)裝置，來保證裝載有樣品的試管能夠快速、可靠地被檢測(cè)出來，以避免試誤檢帶來的各種問題。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，通常是將紅外光電傳感器作為試管檢測(cè)裝置，利用試管自身阻擋或反射光來檢測(cè)該分析儀中是否有試管，具體的，如圖1示出的一種現(xiàn)有的對(duì)射式試管檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖，該裝置包括光發(fā)射器110和光接收器120，其中，該光發(fā)射器110和光接收器120安裝于水平對(duì)射的位置，當(dāng)試管從光發(fā)射器110和光接收器120之間通過時(shí)，將會(huì)影響光信號(hào)的傳輸，因而，可根據(jù)光接收器120是否接收到光發(fā)射器110射出的光信號(hào)，來判斷光發(fā)射器110和光接收器120兩者之間是否有試管通過。
[0004]如圖2示出一種現(xiàn)有的反射式試管檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖，該裝置包括光電傳感器210和反光裝置220，當(dāng)有試管230從光電傳感器210和反光裝置220之間經(jīng)過時(shí)，由于試管230本身產(chǎn)生漫發(fā)射，則會(huì)有部分光信號(hào)無法反射回光電傳感器，從而使反射回光電傳感器210的光信號(hào)比射出的光信號(hào)的強(qiáng)度變?nèi)?；而?dāng)光電傳感器210和反光裝置220之間沒有試管經(jīng)過時(shí)，反光裝置220會(huì)將射入的全部光信號(hào)反射回光電傳感器210，則該光電傳感器210接收到的光信號(hào)與射出的光信號(hào)的強(qiáng)度基本不變。因而，光電傳感器210即可根據(jù)接收到的光信號(hào)與發(fā)射出的光信號(hào)的強(qiáng)度變化，判斷出光電傳感器210和反光裝置220之間是否有試管。
[0005]但是，當(dāng)樣品以及承載該樣品的試管的透光性都很好時(shí)，現(xiàn)有的這兩種試管檢測(cè)裝置會(huì)很難判斷是否檢測(cè)到了該試管，很容易造成誤檢和漏檢，大大影響了對(duì)試管檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0006]有鑒于此，本實(shí)用新型提供了一種試管檢測(cè)裝置，解決了現(xiàn)有技術(shù)中的對(duì)射式和反射式試管檢測(cè)裝置無法對(duì)透光性很好的試管和沒有試管兩種情況進(jìn)行區(qū)分，大大影響了試管檢測(cè)的準(zhǔn)確性的技術(shù)問題。
[0007]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案:
[0008]一種試管檢測(cè)裝置，包括:光電傳感器所述光電傳感器包括光發(fā)射器和光接收器，所述裝置還包括:與所述光電傳感器位于水平對(duì)射位置的吸光暗盒，與所述光發(fā)射器相連的驅(qū)動(dòng)模塊，與所述光接收器相連的放大整形模塊，與所述放大整形模塊相連的比較器，以及與所述比較器相連的處理器。
[0009]優(yōu)選的，所述驅(qū)動(dòng)模塊具體為波特率可調(diào)的時(shí)鐘脈沖發(fā)生器。[0010]優(yōu)選的，所述放大整形模塊包括:與所述光接收器相連的放大電路，以及分別與所述放大電路和所述比較器相連的整形電路。
[0011]優(yōu)選的，所述裝置還包括:分別與所述光接收器和所述放大電路相連的抗飽和電路。
[0012]優(yōu)選的，所述裝置還包括:鑒頻器，以使所述比較器通過所述鑒頻器與所述處理器相連。
[0013]優(yōu)選的，所述抗飽和電路包括:可調(diào)電阻、第一電阻和第一電容，其中，
[0014]所述可調(diào)電阻的一端與所述光接收器相連，所述可調(diào)電阻的另一端接地，且與所述第一電阻的一端相連；
[0015]所述第一電阻的另一端與第一電容的一端相連；
[0016]所述第一電容的另一端與所述可調(diào)電阻和所述光接收器的連接線相連。
[0017]優(yōu)選的，所述裝置還包括:設(shè)置在所述光電傳感器和所述吸光暗盒之間的試管傳輸裝置，所述試管傳輸裝置上與所述光電傳感器和所述吸光暗盒處于水平對(duì)射位置處設(shè)置有檢測(cè)位，且所述檢測(cè)位與所述光電傳感器之間的距離小于所述檢測(cè)位與所述吸光暗盒之間的距離。
[0018]優(yōu)選的，所述光發(fā)射器具體為發(fā)光二極管，所述光接收器具體為光敏元件。
[0019]優(yōu)選的，所述光敏元件具體為光電三極管。
[0020]優(yōu)選的，所述裝置還包括:與所述處理器相連的顯示器。
[0021]經(jīng)由上述的技術(shù)方案可知，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型公開提供了一種試管檢測(cè)裝置，通過在光電傳感器的水平對(duì)射位置設(shè)置一吸光暗盒，當(dāng)驅(qū)動(dòng)模塊控制與其相連的光發(fā)射器發(fā)出光信號(hào)后，若光電傳感器和吸光暗盒之間有試管(無論試管及其中的樣品的透光性好與不好)經(jīng)過時(shí)，都會(huì)有小部分光信號(hào)在試管壁上發(fā)生漫反射，并反射回光接收器，大部分光信號(hào)經(jīng)過試管將被吸光暗盒吸收，同時(shí)該吸光暗盒也會(huì)有微弱的光信號(hào)反射回光接收器形成干擾，但經(jīng)過放大整形模塊對(duì)這兩種光信號(hào)轉(zhuǎn)換得到的電信號(hào)的處理后，比較器會(huì)將吸光暗盒反射的微弱光信號(hào)轉(zhuǎn)換得到的電信號(hào)濾除，從而使處理器只接收到與試管反射的光信號(hào)對(duì)應(yīng)的幅值較大的電信號(hào)；而若光電傳感器和吸光暗盒之間沒有試管經(jīng)過時(shí)，那么，光發(fā)射器發(fā)射的幾乎全部的光信號(hào)都會(huì)被吸光暗盒吸收，只有微弱的光信號(hào)反射回光接收器，由于試管反射回光接收器的光信號(hào)的強(qiáng)度要遠(yuǎn)大于吸光暗盒反射回光接收器的光信號(hào)的強(qiáng)度，經(jīng)后續(xù)放大整形以及比較處理后，該微弱光信號(hào)得到的電信號(hào)將會(huì)被濾除，則處理器無法接收到任何電信號(hào)。所以，處理器據(jù)此可準(zhǔn)確地判斷出光電傳感器和吸光裝置之間是否有試管，從而避免誤檢、漏檢的發(fā)生。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0022]為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。
[0023]圖1為一種現(xiàn)有的對(duì)射式試管檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖；
[0024]圖2為一種現(xiàn)有的反射式試管檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖；[0025]圖3為本實(shí)用新型一種試管檢測(cè)裝置的實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0026]圖4為本實(shí)用新型一種抗飽和電路示意圖；
[0027]圖5為本實(shí)用新型一種試管檢測(cè)裝置的實(shí)施例2的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0028]下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
[0029]本實(shí)用新型實(shí)施例公開了一種試管檢測(cè)裝置，通過在光電傳感器的水平對(duì)射位置設(shè)置一吸光暗盒，當(dāng)驅(qū)動(dòng)模塊控制與其相連的光發(fā)射器發(fā)出光信號(hào)后，若光電傳感器和吸光暗盒之間有試管(無論試管及其中的樣品的透光性好與不好)，都會(huì)有小部分光信號(hào)在試管壁上發(fā)生漫反射，并反射回光接收器，大部分光信號(hào)會(huì)通過試管被吸光暗盒吸收，此時(shí)，該吸光暗盒會(huì)有微弱的光信號(hào)反射回光接收器形成干擾，但通過放大整形模塊對(duì)這兩種光信號(hào)轉(zhuǎn)換得到的電信號(hào)的處理后，比較器會(huì)將吸光暗盒反射的微弱光信號(hào)轉(zhuǎn)換得到的電信號(hào)濾除，則處理器只會(huì)得到幅值較大的電信號(hào)；而若光電傳感器和吸光暗盒之間沒有試管，那么，光發(fā)射器發(fā)射的幾乎全部的光信號(hào)都會(huì)被吸光暗盒吸收，只有微弱的光信號(hào)反射回光接收器，由于試管反射回光接收器的光信號(hào)的強(qiáng)度要遠(yuǎn)大于吸光暗盒反射會(huì)光接收器的光信號(hào)的強(qiáng)度，經(jīng)后續(xù)放大整形模塊和比較器的處理后，由該微弱光信號(hào)得到的電信號(hào)將會(huì)被濾除，則處理器此時(shí)將無法接收到任何電信號(hào)。由此可見，處理器據(jù)此可準(zhǔn)確地判斷出光電傳感器和吸光裝置之間是否有試管，從而避免誤檢、漏檢的發(fā)生。
[0030]如圖3所示，為本實(shí)用新型一種試管檢測(cè)裝置的實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)示意圖，該裝置可以包括:光電傳感器310，該光電傳感器310包括光發(fā)射器311和光接收器312，該試管檢測(cè)裝置還可以包括:與光電傳感器310位于水平對(duì)射位置的吸光暗盒320，與光發(fā)射器311相連的驅(qū)動(dòng)模塊330，與光接收器312相連的放大整形模塊340，與該放大整形模塊340相連的比較器350，以及與該比較器350相連的處理器360。
[0031]在實(shí)際應(yīng)用中，驅(qū)動(dòng)模塊330可以具體為波特率可調(diào)的時(shí)鐘脈沖發(fā)生器，工作人員可根據(jù)工作現(xiàn)場(chǎng)的環(huán)境光的頻率，調(diào)整該時(shí)鐘脈沖發(fā)生器的頻率，使光發(fā)射器311發(fā)出的光與環(huán)境光的頻段相區(qū)別，減小環(huán)境光的干擾。
[0032]其中，光發(fā)射器311具體可以為發(fā)光二極管,在驅(qū)動(dòng)信號(hào)的控制下發(fā)射光信號(hào)。光接收器312具體可以為光敏元件，如光電三極管，用于將接收到的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成與其對(duì)應(yīng)的電信號(hào)輸出。
[0033]優(yōu)選的，放大整形模塊340具體可以包括:與光接收器312相連的放大電路341，以及分別與該放大電路341和比較器350相連的整形電路342。
[0034]在本實(shí)用新型實(shí)施例的實(shí)際應(yīng)用中，當(dāng)光電傳感器310和吸光暗盒320之間有試管時(shí)，光電傳感器310中的光發(fā)射器311發(fā)射光信號(hào)后，光信號(hào)會(huì)在試管壁上發(fā)生漫反射，即便該試管內(nèi)裝有黑色樣品，也必然會(huì)有一定的光信號(hào)被反射回光接收器312，由該光接收器312將其轉(zhuǎn)換成對(duì)應(yīng)的電信號(hào)。之后，為了便于后續(xù)分析，通過放大電路對(duì)該電信號(hào)進(jìn)行放大，整形電路對(duì)放大后的電信號(hào)進(jìn)行整形處理，并由比較器對(duì)整形后的信號(hào)進(jìn)行比較，從而將微弱光信號(hào)轉(zhuǎn)換得到的電信號(hào)濾除，使處理器清楚地識(shí)別出光接收器接收到的試管漫發(fā)射回光信號(hào)，并據(jù)此判斷出試管是否存在。
[0035]其中，需要說明的是，光信號(hào)射入吸光暗盒后，該吸光暗盒反射出微弱的光信號(hào)到光接收器，成為該試管檢測(cè)裝置的干擾信號(hào)，但由于其強(qiáng)度遠(yuǎn)小于試管反射回光接收器的光信號(hào)的強(qiáng)度，所以，在本實(shí)用新型中，可通過上述放大整形模塊中的放大電路和整形電路及比較器濾除該干擾信號(hào)，只有經(jīng)試管漫反射回的光信號(hào)為有效信號(hào)；而當(dāng)光電傳感器和吸光暗盒之間沒有試管時(shí)，光接收器只能接受吸光暗盒本身反射出的微弱的光信號(hào)，由于試管反射回的光信號(hào)的強(qiáng)度遠(yuǎn)大于吸光暗盒反射回的光信號(hào)的強(qiáng)度，吸光暗盒反射的微弱光信號(hào)(即干擾信號(hào))將被比較器濾除，無法到達(dá)處理器，因此，處理器即可根據(jù)是否接收到電信號(hào)，來有效判斷光電傳感器和吸光暗盒之間是否有試管。
[0036]其中，為了進(jìn)一步提高檢測(cè)精度，可以在光電傳感器310與吸光暗盒320之間設(shè)置試管傳輸裝置，在該試管傳輸裝置上與光電傳感器310和吸光暗盒320處于水平對(duì)射位置處設(shè)置有檢測(cè)位，用于安裝試管，且該檢測(cè)位與光電傳感器310之間的距離小于該檢測(cè)位與吸光暗盒320之間的距離。
[0037]優(yōu)選的，當(dāng)光接收器312為光電三極管時(shí)，為了增強(qiáng)裝置的環(huán)境適應(yīng)能力和抗干擾性，且防止接收器312進(jìn)入飽和狀態(tài)，本實(shí)用新型還可以在光接收器312和放大整形模塊340之間設(shè)置抗飽和電路，以使該光接收器312通過該抗飽和電路與放大整形模塊340相連。
[0038]如圖4所示的本實(shí)用新型一種抗飽和電路的電路連接圖，該抗飽和電路可以包括:可調(diào)電阻RP、第一電阻Rl和第一電容Cl，其中，可調(diào)電阻RP的一端與光接收器(即為光電三極管Ql)相連，可調(diào)電阻RP的另一端接地，且與第一電阻Rl的一端相連；該第一電阻Rl的另一端與第一電容Cl的一端相連；該第一電容Cl的另一端與可調(diào)電阻RP和光接收器312的連接線相連。
[0039]當(dāng)光接收器Ql工作在線性區(qū)時(shí)，該抗飽和電路輸出的檢測(cè)信號(hào)Vo=Ice*R，其中，R為可調(diào)電阻RP和第一電阻Rl并聯(lián)得到的等效電阻的阻值，而Ice為恒值，使檢測(cè)信號(hào)Vo與等效電阻R成正比。在實(shí)際應(yīng)用中，通過控制可調(diào)電阻RP，使其阻值在一定范圍內(nèi)(該范圍是根據(jù)實(shí)際選取的光接收器Ql進(jìn)入飽和狀態(tài)的臨界點(diǎn)確定的)調(diào)節(jié)，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)檢測(cè)信號(hào)Vo強(qiáng)弱的調(diào)節(jié)，進(jìn)而有效地彌補(bǔ)光接收器Ql差異性對(duì)檢測(cè)的影響，以及環(huán)境光強(qiáng)弱對(duì)試管檢測(cè)裝置的影響。
[0040]其中，本實(shí)用新型實(shí)施例中的第一電阻Rl和第一電容Cl組成了高通濾波器，其有效濾除低頻干擾，通過可調(diào)電阻RP和第一電阻Rl的并聯(lián)，防止光接收器Ql進(jìn)入飽和狀態(tài)，從而實(shí)現(xiàn)了抗飽和電路的抗飽和作用。
[0041]需要說明的是，根據(jù)實(shí)際需要，該抗飽和電路還可以采用現(xiàn)有的其它種類抗飽和電路，此處將不再詳細(xì)列舉。
[0042]另外，作為本實(shí)用新型另一實(shí)施例，試管檢測(cè)裝置還可以包括鑒頻器，以使比較器通過該鑒頻器與處理器相連，則在實(shí)際應(yīng)用中，該鑒頻器可以對(duì)比較器輸出的電信號(hào)進(jìn)行頻率鑒定，并消除環(huán)境光中工頻信號(hào)的干擾，只保留時(shí)鐘脈沖發(fā)生器輸出的信號(hào)，這樣，處理器即可根據(jù)頻率鑒定后的信號(hào)進(jìn)行后續(xù)判斷處理。
[0043]此外，為了提高本實(shí)用新型試管檢測(cè)裝置的抗環(huán)境光干擾能力，驅(qū)動(dòng)模塊330發(fā)射出的驅(qū)動(dòng)信號(hào)可以采用編碼的方式，循環(huán)發(fā)出固定的編碼信號(hào)，并使光發(fā)射器311發(fā)射出帶有該編碼信號(hào)的光信號(hào)，從而使其與環(huán)境光信號(hào)區(qū)分開，濾除不具有該編碼信號(hào)的光信號(hào)，只得到光發(fā)射器發(fā)射出的光信號(hào)。
[0044]具體的，可以設(shè)置與光接收器相連的光檢測(cè)器，當(dāng)光接收器將接收到的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)后，對(duì)該電信號(hào)進(jìn)行解碼分析，并與驅(qū)動(dòng)信號(hào)中的編碼進(jìn)行比較判斷，從而濾除不具有該編碼的電信號(hào)，即濾除了由環(huán)境光信號(hào)得到的電信號(hào)，從而提高了檢測(cè)精度。
[0045]其中,在本實(shí)用新型上述實(shí)施例中，處理器360具體可以為MClXMicro ControllerUnit,微控制單元)。
[0046]本實(shí)用新型實(shí)施例通過在光電傳感器的水平對(duì)射位置設(shè)置一吸光暗盒，當(dāng)驅(qū)動(dòng)模塊控制與其相連的光發(fā)射器發(fā)出光信號(hào)后，若光電傳感器和吸光暗盒之間有試管(無論試管及其中的樣品的透光性好與不好)，都會(huì)有小部分光信號(hào)在試管壁上發(fā)生漫反射，并反射回光接收器，大部分光信號(hào)會(huì)通過試管被吸光暗盒吸收，此時(shí)，該吸光暗盒也會(huì)有微弱的光信號(hào)反射回光接收器形成干擾，經(jīng)過放大整形模塊分別對(duì)試管反射和吸光暗盒反射回的光信號(hào)轉(zhuǎn)換得到的電信號(hào)的處理后，比較器將會(huì)濾除吸光暗盒反射回的微弱光信號(hào)轉(zhuǎn)換得到的幅值很小的電信號(hào)，從而消除干擾信號(hào)，則處理器只會(huì)得到幅值較大的電信號(hào)(該電信號(hào)對(duì)應(yīng)于試管反射回的光信號(hào))；而若光電傳感器和吸光暗盒之間沒有試管，那么，光發(fā)射器發(fā)射的幾乎全部的光信號(hào)都會(huì)被吸光暗盒吸收，只有微弱的光信號(hào)反射回光接收器，由于試管反射回光接收器的光信號(hào)的強(qiáng)度要遠(yuǎn)大于吸光暗盒反射回光接收器的光信號(hào)的強(qiáng)度，因此，比較器將會(huì)有效濾除吸光暗盒反射的微弱信號(hào)轉(zhuǎn)換得到的電信號(hào)，使該電信號(hào)無法到達(dá)處理器，則此時(shí)處理器將不會(huì)接收到任何電信號(hào)。所以，處理器能夠根據(jù)是否接收到電信號(hào)，來準(zhǔn)確地判斷出光電傳感器和吸光裝置之間是否有試管，從而避免誤檢、漏檢的發(fā)生。
[0047]如圖5所示，為本實(shí)用新型一種試管檢測(cè)裝置的實(shí)施例2的結(jié)構(gòu)示意圖，該裝置可以包括:光電傳感器510,該光電傳感器510包括發(fā)光二極管511和光電三極管512,另外，該裝置還可以包括:與該光電傳感器510位于水平對(duì)射位置的吸光暗盒520，與該光電傳感器510中的發(fā)光二極管相連的時(shí)鐘脈沖發(fā)生器530,與光電三極管512相連的抗飽和電路540，與該抗飽和電路相連的放大電路550，與該放大電路550相連的整形電路560，與該整形電路560相連的比較器570，與該比較器570相連的鑒頻器580，以及與鑒頻器580相連的處理器590。
[0048]其中，時(shí)鐘脈沖發(fā)生器530的波特率可調(diào)，能夠彌補(bǔ)環(huán)境對(duì)光電傳感器的靈敏度的影響，從而提聞檢測(cè)精度。
[0049]在本實(shí)用新型實(shí)施例的實(shí)際應(yīng)用中，抗飽和電路540、放大電路550、整形電路560和比較器570的結(jié)構(gòu)及其功能請(qǐng)參見上述實(shí)施例1中對(duì)應(yīng)部分的描述，此處將不再贅述，其中，放大電路、整形電路和比較器可以根據(jù)實(shí)際需要確定，采用現(xiàn)有的放大電路、整形電路和比較器實(shí)現(xiàn)，因而，在此將不再詳述電路的具體結(jié)構(gòu)。
[0050]另外，鑒頻器580包括實(shí)現(xiàn)調(diào)頻信號(hào)解調(diào)的鑒頻電路，用于對(duì)比較器輸出的信號(hào)進(jìn)行頻率鑒定，消除環(huán)境光中工頻信號(hào)的干擾，保留時(shí)鐘脈沖發(fā)生器的信號(hào)，之后，處理器590對(duì)鑒定后的信號(hào)進(jìn)行判斷，從而得知光電傳感器和吸光暗盒之間是否有試管經(jīng)過。
[0051]為了進(jìn)一步提高本實(shí)用新型實(shí)施例所提供的試管檢測(cè)裝置的抗環(huán)境光干擾能力，時(shí)鐘脈沖發(fā)生器輸出的驅(qū)動(dòng)信號(hào)可以采用編碼的方式，循環(huán)發(fā)射出固定的編碼信號(hào)，具體方式請(qǐng)參見本實(shí)用新型上述實(shí)施例1對(duì)應(yīng)部分的描述，此處將不再復(fù)述。
[0052]其中，需要說明的是，在本實(shí)用新型實(shí)施例中，光電三極管512還可以用其他光敏元件替代，只要能夠感應(yīng)到射入的光信號(hào)并將其轉(zhuǎn)換成對(duì)應(yīng)的電信號(hào)即可，在此將不再
列舉。
[0053]綜上所述，本實(shí)用新型實(shí)施例通過在光電傳感器的水平對(duì)射位置設(shè)置一吸光暗盒，當(dāng)時(shí)鐘脈沖發(fā)生器輸出具有預(yù)設(shè)波特率的驅(qū)動(dòng)信號(hào)后，將控制與其相連的發(fā)光二極管發(fā)出光信號(hào)，此時(shí)，若光電傳感器和吸光暗盒之間有試管(無論試管及其中的樣品的透光性好與不好)，都會(huì)有少部分光信號(hào)在試管壁上發(fā)生漫反射，并反射回光電三極管，大部分光信號(hào)會(huì)通過試管被吸光暗盒吸收，此時(shí)吸光暗盒仍會(huì)有微弱的光信號(hào)反射到光電三極管形成干擾，但是，經(jīng)后續(xù)放大電路、整形電路、比較器以及鑒頻器的處理后，處理器只會(huì)接收到幅值較大的電信號(hào)；而若光電傳感器和吸光暗盒之間沒有試管，那么，發(fā)光二極管發(fā)射的全部光信號(hào)都會(huì)被吸光暗盒吸收，此時(shí)即便有微弱的光信號(hào)反射回光電三極管，但是由于吸光暗盒反射會(huì)的光信號(hào)強(qiáng)度遠(yuǎn)小于試管反射回的光信號(hào)強(qiáng)度，因而經(jīng)放大、整形、比較處理后，該微弱光信號(hào)得到的電信號(hào)將被濾除，則此時(shí)處理器無法得到任何電信號(hào)，據(jù)此處理器很容易且準(zhǔn)確地判斷出光電傳感器和吸光裝置之間是否有試管，從而避免誤檢、漏檢的發(fā)生。
[0054]另外，需要說明的是，在本實(shí)用新型上述各實(shí)施例中，試管檢測(cè)裝置還可以包括與處理器相連的顯示器，用于顯示檢測(cè)結(jié)果，以及用于連接該裝置各器件的連接線或連接設(shè)備等等，在此將不再一一列舉，只要不是本領(lǐng)域技術(shù)人員付出創(chuàng)造性努力確定的，都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
[0055]本說明書中各個(gè)實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述，每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說明的都是與其他實(shí)施例的不同之處，各個(gè)實(shí)施例之間相同相似部分互相參見即可。
[0056]對(duì)所公開的實(shí)施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本實(shí)用新型。對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本實(shí)用新型的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此，本實(shí)用新型將不會(huì)被限制于本文所示的這些實(shí)施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬的范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種試管檢測(cè)裝置，包括:光電傳感器，所述光電傳感器包括光發(fā)射器和光接收器，其特征在于，所述裝置還包括:與所述光電傳感器位于水平對(duì)射位置的吸光暗盒，與所述光發(fā)射器相連的驅(qū)動(dòng)模塊，與所述光接收器相連的放大整形模塊，與所述放大整形模塊相連的比較器，以及與所述比較器相連的處理器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)模塊具體為波特率可調(diào)的時(shí)鐘脈沖發(fā)生器。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述放大整形模塊包括:與所述光接收器相連的放大電路，以及分別與所述放大電路和所述比較器相連的整形電路。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括:分別與所述光接收器和所述放大電路相連的抗飽和電路。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括:鑒頻器，以使所述比較器通過所述鑒頻器與所述處理器相連。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述抗飽和電路包括:可調(diào)電阻、第一電阻和第一電容，其中， 所述可調(diào)電阻的一端與所述光接收器相連，所述可調(diào)電阻的另一端接地，且與所述第一電阻的一端相連； 所述第一電阻的另一端與第一電容的一端相連； 所述第一電容的另一端與所述可調(diào)電阻和所述光接收器的連接線相連。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括:設(shè)置在所述光電傳感器和所述吸光暗盒之間的試管傳輸裝置，所述試管傳輸裝置上與所述光電傳感器和所述吸光暗盒處于水平對(duì)射位置處設(shè)置有檢測(cè)位，且所述檢測(cè)位與所述光電傳感器之間的距離小于所述檢測(cè)位與所述吸光暗盒之間的距離。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述光發(fā)射器具體為發(fā)光二極管，所述光接收器具體為光敏元件。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述光敏元件具體為光電三極管。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特在于，所述裝置還包括:與所述處理器相連的顯示器。
【文檔編號(hào)】G01V8/10GK203630371SQ201320863798
【公開日】2014年6月4日 申請(qǐng)日期:2013年12月25日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月25日
【發(fā)明者】丁建文, 周豐良, 羅滿華 申請(qǐng)人:愛威科技股份有限公司