一種用于測量馬歇爾試件高度的游標卡尺的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于測量馬歇爾試件高度的游標卡尺,屬于帶刻度的用于直接讀數(shù)的游標卡尺。包括,游標卡尺本體由主尺和附在主尺上能滑動的游標構(gòu)成,在主尺和游標下端有一副外環(huán)觸頭,外環(huán)觸頭能夠繞過馬歇爾試模使觸頭與馬歇爾試件表面接觸,如此便可直接測量馬歇爾試件高度。本發(fā)明相較于傳統(tǒng)未脫模馬歇爾試件測量方法,可以繞過馬歇爾試模與馬歇爾試件相互接觸,能夠直接測量未脫模馬歇爾試件高度,大大簡化了工作量,減少了試驗誤差。
【專利說明】—種用于測量馬歇爾試件高度的游標卡尺
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種用于測量馬歇爾試件高度的游標卡尺。
【背景技術(shù)】
[0002]我國現(xiàn)行浙青混合料規(guī)范中大量試驗都需要成型馬歇爾試件,馬歇爾試件成型后首先需要測量其高度。目前測量未脫模馬歇爾試件高度都是采用游標卡尺的前端深度尺部分分別測出試件表面與試模頂端的高度差,然后再用試模高度減去兩高度差之和。此種測量方法不僅操作繁瑣,而且兩次測量增加了試驗誤差。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003]本發(fā)明的目的在于克服上述技術(shù)缺點,提供一種簡單的用于測量馬歇爾試件高度的游標卡尺,該游標卡尺能夠便捷、精確的測出未脫模馬歇爾試件高度。
[0004]為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:包括游標卡尺本體;在游標卡尺本體上設(shè)置有能夠與安裝在馬歇爾試模中的馬歇爾試件表面直接接觸的外環(huán)觸頭;游標卡尺本體以及外環(huán)觸頭均由高碳鋼制成。
[0005]所述的游標卡尺本體由主尺和安裝在主尺上能夠沿主尺滑動的游標構(gòu)成,外環(huán)觸頭分別安裝在主尺和游標上。
[0006]所述的主尺的長度為200mm。
[0007]所述的外環(huán)觸頭包括觸桿部分和U型觸頭部分;觸桿部分的一端分別與主尺或游標固定連接,觸桿部分的另一端與U型觸頭部分的一側(cè)端部固定連接,分別安裝在主尺和游標上兩個U型觸頭部分的開口相對設(shè)置,且開口的端面與觸桿部分向齊平;u型觸頭部分的另一側(cè)端部作為測量用的觸頭。
[0008]所述U型觸頭部分的觸頭相互咬合在一起時,游標卡尺讀數(shù)為零;U型觸頭部分的觸頭穿過馬歇爾試模與馬歇爾試件相互接觸時,讀數(shù)為馬歇爾試件的高度。
[0009]與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有以下有益效果:
[0010]傳統(tǒng)的未脫模馬歇爾試件測量方法是采用游標卡尺前端深度尺測量出試件表面與試模頂端的高度差,然后再用試模高度減去兩高度差之和得到。本發(fā)明設(shè)置了獨特的外環(huán)觸頭,外環(huán)觸頭可以繞過試模與馬歇爾試件相互接觸,即直接可測量出試件高度,相較于傳統(tǒng)的測量方法大大簡化了工作量,減少了試驗誤差;同時,由于馬歇爾試件表面有凹陷點,傳統(tǒng)測量方法只能憑經(jīng)驗選擇測量點,是點于點之間的接觸,易導(dǎo)致測量數(shù)據(jù)與真實數(shù)據(jù)相差較大,而馬歇爾試件高度測量專用游標卡尺的外環(huán)觸頭有較大接觸面積,能夠形成面與面的接觸,無需考慮選擇測量點的問題。
[0011]進一步的,本發(fā)明不僅可以便捷、精確地測量出未脫模馬歇爾試件高度,而且可以充當(dāng)普通游標卡尺使用。
[0012]進一步的,本發(fā)明主尺長度為200_,完全足夠測出大型馬歇爾試件高度。【專利附圖】
【附圖說明】
[0013]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0014]圖2為本發(fā)明在測量未脫模馬歇爾試件時的示意圖。
[0015]其中,I為游標卡尺本體;2為主尺;3為游標;,4為觸頭部分;5為馬歇爾試件;6為馬歇爾試模;7為觸桿部分。
【具體實施方式】
[0016]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步說明:
[0017]參見圖1,本發(fā)明包括游標卡尺本體I ;在游標卡尺本體I上設(shè)置有能夠與安裝在馬歇爾試模6中的馬歇爾試件5表面直接接觸的外環(huán)觸頭,游標卡尺本體I由主尺2和安裝在主尺2上能夠沿主尺滑動的游標3構(gòu)成,外環(huán)觸頭分別安裝在主尺2和游標3上,主尺2的長度為200_ ;游標卡尺本體I以及外環(huán)觸頭均由高碳鋼制成。外環(huán)觸頭包括觸桿部分7和U型觸頭部分4 ;觸桿部分7的一端分別與主尺2或游標3固定連接,觸桿部分7的另一端與U型觸頭部分4的一側(cè)端部固定連接,分別安裝在主尺2和游標3上兩個U型觸頭部分4的開口相對設(shè)置,且開口的端面與觸桿部分7向齊平;U型觸頭部分4的另一側(cè)端部作為測量用的觸頭,U型觸頭部分4的觸頭相互咬合在一起時,游標卡尺讀數(shù)為零;U型觸頭部分4的觸頭穿過馬歇爾試模6與馬歇爾試件5相互接觸時,讀數(shù)為馬歇爾試件5的高度。
[0018]本發(fā)明的工作過程是:
[0019]如圖1所示,當(dāng)外環(huán)觸頭相互咬合時,游標卡尺讀數(shù)為零;如圖2所示,4外環(huán)觸頭可以繞過馬歇爾試模與馬歇爾試件相互接觸,能夠直接測量未脫模馬歇爾試件高度,此時游標卡尺讀數(shù)即為馬歇爾試件高度。
【權(quán)利要求】
1.一種用于測量馬歇爾試件高度的游標卡尺,其特征在于:包括游標卡尺本體(I);在游標卡尺本體(I)上設(shè)置有能夠與安裝在馬歇爾試模(6)中的馬歇爾試件(5)表面直接接觸的外環(huán)觸頭;游標卡尺本體(I)以及外環(huán)觸頭均由高碳鋼制成。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測量馬歇爾試件高度的游標卡尺,其特征在于:所述的游標卡尺本體(I)由主尺(2)和安裝在主尺(2)上能夠沿主尺滑動的游標(3)構(gòu)成,外環(huán)觸頭分別安裝在主尺(2 )和游標(3 )上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于測量馬歇爾試件高度的游標卡尺,其特征在于:所述的主尺(2)的長度為200mm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于測量馬歇爾試件高度的游標卡尺,其特征在于:所述的外環(huán)觸頭包括觸桿部分(7)和U型觸頭部分(4);觸桿部分(7)的一端分別與主尺(2)或游標(3)固定連接,觸桿部分(7)的另一端與U型觸頭部分(4)的一側(cè)端部固定連接,分別安裝在主尺(2)和游標(3)上兩個U型觸頭部分(4)的開口相對設(shè)置,且開口的端面與觸桿部分(7)向齊平;U型觸頭部分(4)的另一側(cè)端部作為測量用的觸頭。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于測量馬歇爾試件高度的游標卡尺,其特征在于:所述U型觸頭部分(4)的觸頭相互咬合在一起時,游標卡尺讀數(shù)為零;U型觸頭部分(4)的觸頭穿過馬歇爾試模(6)與馬歇爾試件(5)相互接觸時,讀數(shù)為馬歇爾試件(5)的高度。
【文檔編號】G01B5/02GK103697782SQ201310666825
【公開日】2014年4月2日 申請日期:2013年12月10日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月10日
【發(fā)明者】羅爐, 胡茜, 萬晨光, 梁冬冬 申請人:長安大學(xué)