專利名稱：一種led光分布特性測試裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種電光源測試裝置，尤其是LED光分布特性的測試裝置。
背景技術：
LED是發(fā)光二極管的簡稱，是一種電致發(fā)光器件，即P — N結發(fā)光，屬于固態(tài)光源。LED被稱為第四代照明光源或綠色光源，因其節(jié)能環(huán)保、體積小壽命長等優(yōu)點，已經廣泛應用于顯示、裝飾、城市夜景、道路等特殊照明領域。LED發(fā)光具有方向性及分布不均勻的特點，其光分布特性是分析和評價LED性能的重要指標。實驗室通過測量LED光強分布圖，經過換算獲得LED的光均勻性參數來分析 LED的發(fā)光及照明效果。生產企業(yè)篩選LED和檢驗機構檢驗時都有必要對LED進行光分布特性測試，進而判斷LED質量優(yōu)劣。目前LED光分布特性的測量設備主要是分布光度計。然而分布光度計往往尺寸龐大、設計結構復雜、操作步驟繁瑣、成本高昂，測試光分布特性的速度緩慢；另外，分布光度計一次只能測試一個LED光源，對大批量小尺寸的LED進行檢測的時效性與性價比都很低，而且現有的分布光度計技術也不支持對多顆LED或LED陣列的光分布特性進行同步測試。
發(fā)明內容本實用新型所要解決的技術問題是克服上述背景技術的不足，提供一種結構簡單、成本較低，能夠快速測量LED光分布特性、分析LED顆粒及LED陣列發(fā)光缺陷的LED光分布特性測試裝置。本實用新型所采用的技術方案為一種LED光分布特性測試裝置，包括計算機；其特征在于該裝置還包括一可調支架、固定在可調支架上的LED、通過導線接通LED的驅動電源、正向面對著LED發(fā)光面的漫射透光屏、位于漫射透光屏背面的光學掃描儀，所述光學掃描儀與計算機通過數據線連通。所述的可調支架包括底座、安裝在底座上的垂直桿、通過可調節(jié)的十字夾固定在垂直桿上的水平桿以及固定在水平桿前端用于固定LED的光源夾。所述的LED的發(fā)光面豎直朝下，所述漫射透光屏水平定位在LED的下邊且覆蓋在光學掃描儀的掃描臺上。所述漫射透光屏是磨砂PC膜板或毛玻璃。所述漫射透光屏尺寸與所述的光學掃描儀的掃描臺尺寸相同。本實用新型的工作原理是接通電源后，LED發(fā)出的光線近距離照射到所述的漫射透光屏后，在所述的漫射透光屏朝向掃描臺的一面(即漫射透光屏的背面)形成與LED光分布相對應的明暗光斑；計算機通過掃描軟件控制所述的光學掃描儀掃描光斑獲取圖像后，經圖像處理軟件處理就獲得LED光強分布圖，即可用于直觀判定LED光分布特性。本實用新型的有益效果是由于以光學掃描儀作為LED探測器件，且以計算機處理圖像，可迅速得到LED光強分布圖，進而能夠直觀判定LED光分布特性。該裝置支持多顆LED同時同步測量光分布特性，能夠對單顆LED的發(fā)光缺陷、LED陣列中的LED排列情況和光分布均勻性進行診斷式分析，特別適用于批量LED光源的光分布特性快速檢測。另外，整套裝置結構簡單，操作便捷，成本極低。

圖I為本實用新型的結構示意圖。圖2為測量單個LED得到的光強分布圖。圖3為測量LED陣列得到的光強分布圖。
具體實施方式
以下結合附圖所示的實施例對本實用新型作進一步說明。 如圖I所示的LED光分布特性測試裝置中可調支架的底座I上安裝著垂直桿11，水平桿13通過十字夾12安裝在垂直桿上；通過轉動十字夾上的旋鈕可調節(jié)水平桿13高度；水平桿13前端(圖中的右端)安裝光源夾14，LED3通過光源夾夾緊固定于漫射透光屏4的上方；LED的發(fā)光面正對漫射透光屏4 (圖中顯示LED的發(fā)光面方向是豎直向下，由箭頭A表示)；調節(jié)十字夾可使LED3與漫射透光屏4保持測試所需的距離。驅動電源2通過導線21連接并點亮LED，LED發(fā)出的發(fā)散光線，近距離照射到下方的漫射透光屏4，在漫射透光屏朝向光學掃描儀5的掃描臺一面形成與LED發(fā)光方向、發(fā)光強度相對應的明暗光斑,光斑包含LED的光分布信息。漫射透光屏水平放置并包覆著光學掃描儀的掃描臺區(qū)域，光學掃描儀掃描并記錄漫射透光屏4上的LED3的光斑。光學掃描儀通過與計算機6連接的數據線51,將光斑信號傳輸到計算機；由于光斑與LED發(fā)光角度、發(fā)光強度存在對應關系；計算機通過圖像分析軟件及相關程序計算，即可將包含LED光分布信息的光斑圖轉換為某一發(fā)光面上的光強分布圖(如圖2所示)。測試多顆LED形成的LED陣列，光源夾上需接通LED陣列；通過光學掃描儀掃描、計算機處理后獲得的光強分布圖(如圖3所示)。所述漫射透光屏，應選取對LED發(fā)出的光線具有一定的漫射效應和透射效應的材料(對LED光的透光率為I. 5%-80%);具體材料可以是磨砂PC (聚碳酸酯塑料)膜板(厚度
O.或是毛玻璃(厚度2mm-4mm)等。所述漫射透光屏尺寸與所述的光學掃描儀的掃描臺尺寸最好相同(一致)。作為推薦，所述的光學掃描儀具有300dpi以上的像素分辨率，216mmX 297mm的掃描尺寸。所述驅動電源包括用于驅動LED的直流電源和交流電源；推薦選用輸出電源大小可調的驅動電源。以上所述的各種電氣元件及機械零部件可全部外購獲得。最后還需注意的是，以上列舉的僅是本實用新型的具體實施例子。顯然，本實用新型不限于上述實施例子，還可以有許多功能擴展，光源結構和數量的變化、其它類似光源的更換等擴展均應認為是本實用新型的保護范圍。
權利要求1.一種LED光分布特性測試裝置，包括計算機(6);其特征在于該裝置還包括一可調支架、固定在可調支架上的LED (3 )、通過導線(21)接通LED的驅動電源(2 )、正向面對著LED發(fā)光面的漫射透光屏(4)、位于漫射透光屏背面的光學掃描儀(5)，所述光學掃描儀與計算機通過數據線(51)連接。
2.根據權利要求I所述的一種LED光分布特性測試裝置，其特征在于所述的可調支架包括底座(1)、安裝在底座上的垂直桿(11)、通過可調節(jié)的十字夾(12)固定在垂直桿上的水平桿(13)以及固定在水平桿前端用于固定LED的光源夾(14)。
3.根據權利要求I或2所述的一種LED光分布特性測試裝置，其特征在于所述的LED的發(fā)光面豎直朝下，所述漫射透光屏水平定位在LED的下邊且覆蓋在光學掃描儀的掃描臺上。
4.根據權利要求3所述的一種LED光分布特性測試裝置，其特征在于所述漫射透光屏是磨砂PC膜板或毛玻璃。
5.根據權利要求4所述的一種LED光分布特性測試裝置，其特征在于所述漫射透光屏尺寸與所述的光學掃描儀的掃描臺尺寸相同。
專利摘要本實用新型涉及一種LED光分布特性的測試裝置。所要解決的技術問題是提供的裝置應具有結構簡單、成本較低，能夠快速測量LED光分布特性、分析LED顆粒及LED陣列發(fā)光缺陷的LED光分布特性測試裝置的特點。技術方案是一種LED光分布特性測試裝置，包括計算機；其特征在于該裝置還包括一可調支架、固定在可調支架上的LED、通過導線接通LED的驅動電源、正向面對著LED發(fā)光面的漫射透光屏、位于漫射透光屏背面的光學掃描儀，所述光學掃描儀與計算機通過數據線連通。所述的可調支架包括底座、安裝在底座上的垂直桿、通過可調節(jié)的十字夾固定在垂直桿上的水平桿以及固定在水平桿前端用于固定LED的光源夾。
文檔編號G01J1/00GK202676282SQ20122027046
公開日2013年1月16日 申請日期2012年6月6日 優(yōu)先權日2012年6月6日
發(fā)明者朱騰飛, 蔣一成, 張俊, 蔡怡 申請人:杭州市質量技術監(jiān)督檢測院