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測(cè)試裝置以及電子裝置的測(cè)試方法

文檔序號(hào):6164290閱讀:146來(lái)源:國(guó)知局
測(cè)試裝置以及電子裝置的測(cè)試方法
【專(zhuān)利摘要】一種測(cè)試裝置及電子裝置的測(cè)試方法。所述測(cè)試裝置包括至少二個(gè)裝置轉(zhuǎn)板以及測(cè)試電路。裝置轉(zhuǎn)板分別電性連接于對(duì)應(yīng)的電子裝置以及對(duì)應(yīng)電子裝置的至少二個(gè)插槽。測(cè)試電路通過(guò)至少二組串行信號(hào)線對(duì)分別電性連接裝置轉(zhuǎn)板,其中測(cè)試電路依據(jù)電子裝置的類(lèi)型而經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)提供串行信號(hào)給裝置轉(zhuǎn)板其中之一,并通過(guò)對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)回傳裝置轉(zhuǎn)板其中的另一的反應(yīng),藉以測(cè)試所述其中的一裝置轉(zhuǎn)板與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置間的總線是否有斷路。
【專(zhuān)利說(shuō)明】測(cè)試裝置以及電子裝置的測(cè)試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測(cè)試裝置及電子裝置的測(cè)試方法,特別是涉及一種測(cè)試電子裝置之間的總線是否有斷路形成的測(cè)試裝置及電子裝置的測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]由于中央處理器(Central Processing Unit, CPU)的效能隨著技術(shù)與制程的演進(jìn)而日漸提升,使得CPU可支持的電子裝置種類(lèi)亦變得越來(lái)越復(fù)雜。為了確保CPU與不同類(lèi)型的電子裝置之間的總線得以正常的傳輸數(shù)據(jù),因此一般都會(huì)利用測(cè)試裝置來(lái)測(cè)試CPU和其他電子裝置之間的信號(hào)傳輸。
[0003]在利用傳統(tǒng)的測(cè)試裝置進(jìn)行測(cè)試時(shí),操作者必需將待測(cè)電子裝置的總線中的每一腳位分別以線路接出至測(cè)試夾具(治具),并且通過(guò)測(cè)試程序控制測(cè)試夾具輸出測(cè)試信號(hào)的方式來(lái)測(cè)試總線中各個(gè)傳輸通道是否有斷路的情形發(fā)生。然而,在待測(cè)的總線腳位數(shù)量較多時(shí),測(cè)試的進(jìn)行將會(huì)變得復(fù)雜并且易于發(fā)生錯(cuò)誤。舉例來(lái)說(shuō),以測(cè)試一般CPU之間的四元周邊接口(QuadPeripheral Interface,QPI)總線為例,其雙向的傳輸腳位即多達(dá)84根,操作者必需依序?qū)?4根傳輸腳位依序接出至測(cè)試夾具,此一過(guò)程即非常容易發(fā)生錯(cuò)誤。
[0004]此外,在傳統(tǒng)的測(cè)試裝置中,測(cè)試夾具通常是利用燈號(hào)顯示對(duì)應(yīng)的傳輸通道是否導(dǎo)通,因此操作者必須通過(guò)查閱對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)才能夠正確地判讀總線的測(cè)試結(jié)果,因此亦可能會(huì)有人為的疏忽產(chǎn)生,而使得測(cè)試結(jié)果有所誤差。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明提供一種測(cè)試裝置及電子裝置的測(cè)試方法,其可通過(guò)由兩條信號(hào)線所組成的串行信號(hào)線對(duì)提供串行信號(hào)來(lái)對(duì)電子裝置進(jìn)行測(cè)試。
[0006]本發(fā)明提出一種測(cè)試裝置,其適于測(cè)試電路板上至少二個(gè)電子裝置間的總線,其中電路板包括至少二個(gè)插槽,且所述至少二電子裝置適于分別電性連接至電路板上的對(duì)應(yīng)的插槽。所述測(cè)試裝置包括至少二個(gè)裝置轉(zhuǎn)板以及測(cè)試電路。裝置轉(zhuǎn)板分別電性連接于對(duì)應(yīng)的電子裝置以及對(duì)應(yīng)電子裝置的插槽。測(cè)試電路通過(guò)至少二組串行信號(hào)線對(duì)分別電性連接裝置轉(zhuǎn)板,其中測(cè)試電路依據(jù)電子裝置的類(lèi)型而經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)提供串行信號(hào)給裝置轉(zhuǎn)板其中之一,并通過(guò)對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)回傳裝置轉(zhuǎn)板其中的另一的反應(yīng),藉以測(cè)試所述其中的一裝置轉(zhuǎn)板與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置間的總線是否有斷路。
[0007]在本發(fā)明一實(shí)施例中,電子裝置包括至少二第一電子裝置,所述至少二第一電子裝置間藉由對(duì)應(yīng)的第一總線相互傳遞信號(hào),并且第一總線具有多個(gè)傳輸通道,其中測(cè)試電路提供串行信號(hào)至裝置轉(zhuǎn)板其中之一,以使裝置轉(zhuǎn)板其中的另一反應(yīng)于對(duì)應(yīng)的第一總線的信號(hào)傳遞狀態(tài)而經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)輸出測(cè)試結(jié)果信號(hào)至測(cè)試電路,測(cè)試電路依據(jù)測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的第一總線中的每一傳輸通道是否有斷路。
[0008]在本發(fā)明一實(shí)施例中,測(cè)試電路更依據(jù)測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的第一總線中的相鄰傳輸通道是否有短路。
[0009]在本發(fā)明一實(shí)施例中,所述電子裝置包括第一電子裝置以及至少一個(gè)第二電子裝置,第一電子裝置與第二電子裝置藉由對(duì)應(yīng)的第二總線相互傳遞信號(hào),并且第二總線具有多個(gè)傳輸通道,其中測(cè)試電路提供串行信號(hào)至對(duì)應(yīng)于第一電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板,以使對(duì)應(yīng)于第二電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板反應(yīng)于對(duì)應(yīng)的第二總線間的信號(hào)傳遞狀態(tài)而分別經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)輸出測(cè)試結(jié)果信號(hào)至測(cè)試電路,測(cè)試電路依據(jù)測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的第二總線中的每一傳輸通道是否有斷路。
[0010]在本發(fā)明一實(shí)施例中,電子裝置包括第一電子裝置以及至少一個(gè)第三電子裝置,第一電子裝置與第三電子裝置藉由對(duì)應(yīng)的第三總線相互傳遞信號(hào),并且第三總線具有多個(gè)傳輸通道,其中測(cè)試電路提供串行信號(hào)至對(duì)應(yīng)于第一電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板,以使對(duì)應(yīng)于第三電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板反應(yīng)于對(duì)應(yīng)的第三總線間的信號(hào)傳遞狀態(tài)而分別經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)輸出測(cè)試結(jié)果信號(hào)至測(cè)試電路,測(cè)試電路依據(jù)測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的第三總線中的每一傳輸通道是否有斷路。
[0011]在本發(fā)明一實(shí)施例中,測(cè)試電路包括多個(gè)第一串行連接器、處理單元以及顯示模塊。處理單元電性連接所述多個(gè)第一串行連接器,用以依據(jù)電子裝置的類(lèi)型而產(chǎn)生串行信號(hào),據(jù)以控制所述裝置轉(zhuǎn)板的信號(hào)傳遞與接收。顯示模塊電性連接處理單元,用以顯示電子裝置的測(cè)試結(jié)果。
[0012]在本發(fā)明一實(shí)施例中,各個(gè)裝置轉(zhuǎn)板具有識(shí)別碼,處理單元讀取所述多個(gè)識(shí)別碼以判斷待測(cè)的電子裝置的類(lèi)型與測(cè)試順序,并且據(jù)以提供對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)與決定測(cè)試順序。
[0013]在本發(fā)明一實(shí)施例中,各個(gè)裝置轉(zhuǎn)板包括第二串行連接器、第一控制模塊、傳送模塊以及接收模塊。所述裝置轉(zhuǎn)板的第二串行連接器分別經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)電性連接至對(duì)應(yīng)的第一串行連接器。第一控制模塊電性連接第二串行連接器以接收串行信號(hào)。傳送模塊電性連接第一控制模塊,受控于第一控制模塊而提供測(cè)試信號(hào),以使對(duì)應(yīng)的電子裝置藉由對(duì)應(yīng)的總線傳遞測(cè)試信號(hào)。接收模塊電性連接第一控制模塊,接收對(duì)應(yīng)的總線所傳遞的測(cè)試信號(hào),并且回傳至第一控制模塊,以使第一控制模塊據(jù)以產(chǎn)生測(cè)試結(jié)果信號(hào)。
[0014]在本發(fā)明一實(shí)施例中,測(cè)試信號(hào)為脈沖信號(hào),并且第一控制模塊依據(jù)串行信號(hào)而設(shè)定測(cè)試信號(hào)的頻率與脈沖數(shù)量。
[0015]在本發(fā)明一實(shí)施例中,接收模塊計(jì)數(shù)所接收到的測(cè)試信號(hào)的脈沖數(shù)量,并且將計(jì)數(shù)的結(jié)果回傳至第一控制模塊,第一控制模塊比對(duì)對(duì)應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板所提供的測(cè)試信號(hào)的脈沖數(shù)量與計(jì)數(shù)的結(jié)果,并據(jù)以產(chǎn)生測(cè)試結(jié)果信號(hào)。
[0016]在本發(fā)明一實(shí)施例中,測(cè)試電路還包括協(xié)議分析模塊。協(xié)議分析模塊電性連接所述多個(gè)第一串行連接器與處理單元,用以分析對(duì)應(yīng)的總線所輸出及接收的信號(hào),并且將分析結(jié)果回傳至處理單元。
[0017]在本發(fā)明一實(shí)施例中,各個(gè)裝置轉(zhuǎn)板還包括第二控制模塊。第二控制模塊電性連接傳送模塊、接收模塊以及第二串行連接器,用以擷取對(duì)應(yīng)的總線所輸出及接收的信號(hào),并且經(jīng)由第二串行連接器傳遞至協(xié)議分析模塊。
[0018]本發(fā)明提出一種電子裝置的測(cè)試方法,其適于測(cè)試電路板上至少二個(gè)電子裝置間的總線,其中電路板包括至少二個(gè)插槽,所述至少二電子裝置適于分別電性連接至電路板上的對(duì)應(yīng)的插槽,所述測(cè)試方法包括:將至少二個(gè)裝置轉(zhuǎn)板分別電性連接于對(duì)應(yīng)的電子裝置以及對(duì)應(yīng)電子裝置的插槽;將裝置轉(zhuǎn)板分別與與至少二組串行信號(hào)線對(duì)相互電性連接;以及依據(jù)所述至少二電子裝置的類(lèi)型,經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)提供串行信號(hào)給裝置轉(zhuǎn)板其中之一,并通過(guò)對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)回傳裝置轉(zhuǎn)板其中的另一的反應(yīng),藉以測(cè)試所述其中之一與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置間的總線是否有斷路。
[0019]在本發(fā)明一實(shí)施例中,電子裝置包括至少二個(gè)第一電子裝置,所述至少二個(gè)第一電子裝置藉由對(duì)應(yīng)的第一總線相互傳遞信號(hào),并且第一總線具有多個(gè)傳輸通道,其中測(cè)試所述其中之一與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置間的總線是否有斷路的步驟包括:提供串行信號(hào)至所述其中的一裝置轉(zhuǎn)板;經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)從所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板接收測(cè)試結(jié)果信號(hào),其中測(cè)試結(jié)果信號(hào)關(guān)聯(lián)于對(duì)應(yīng)的第一總線的信號(hào)傳遞狀態(tài);以及依據(jù)測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的第一總線中的每一傳輸通道是否有斷路。
[0020]在本發(fā)明一實(shí)施例中,測(cè)試所述其中之一與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置間的總線是否有斷路的步驟還包括:依據(jù)測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的第一總線中的相鄰傳輸通道是否有短路。
[0021]在本發(fā)明一實(shí)施例中,電子裝置包括第一電子裝置以及至少一個(gè)第二電子裝置,第一電子裝置與第二電子裝置藉由對(duì)應(yīng)的第二總線相互傳遞信號(hào),并且第二總線具有多個(gè)傳輸通道,其中測(cè)試所述其中之一與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置間的總線是否有斷路的步驟包括:提供串行信號(hào)至對(duì)應(yīng)于第一電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板;經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)從對(duì)應(yīng)于第二電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板接收測(cè)試結(jié)果信號(hào),其中測(cè)試結(jié)果信號(hào)關(guān)聯(lián)于對(duì)應(yīng)的第二總線的信號(hào)傳遞狀態(tài);以及依據(jù)測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的第二總線中的每一傳輸通道是否有斷路。
[0022]在本發(fā)明一實(shí)施例中,電子裝置包括第一電子裝置以及至少一個(gè)第三電子裝置,第一電子裝置與第三電子裝置分別藉由對(duì)應(yīng)的第三總線相互傳遞信號(hào),并且第三總線具有多個(gè)傳輸通道,其中測(cè)試所述其中之一與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置間的總線是否有斷路的步驟包括:提供串行信號(hào)至對(duì)應(yīng)于第一電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板;經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)從對(duì)應(yīng)于第三電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板接收測(cè)試結(jié)果信號(hào),其中測(cè)試結(jié)果信號(hào)關(guān)聯(lián)于對(duì)應(yīng)的第三總線的信號(hào)傳遞狀態(tài);以及依據(jù)測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的第三總線中的每一傳輸通道是否有斷路。
[0023]在本發(fā)明一實(shí)施例中,電子裝置的測(cè)試方法還包括:在各這些裝置轉(zhuǎn)板上設(shè)定一識(shí)別碼。
[0024]在本發(fā)明一實(shí)施例中,在提供串行信號(hào)的步驟之前,測(cè)試方法還包括:讀取所述多個(gè)識(shí)別碼以判斷待測(cè)的電子裝置的類(lèi)型與測(cè)試順序。
[0025]在本發(fā)明一實(shí)施例中,測(cè)試所述其中之一與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置間的總線是否有斷路的步驟包括:依據(jù)串行信號(hào)提供測(cè)試信號(hào),其中測(cè)試信號(hào)在所述其中之一與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置間的總線傳遞;以及依據(jù)測(cè)試信號(hào)在總線的信號(hào)傳遞狀態(tài)產(chǎn)生測(cè)試結(jié)果信號(hào)。
[0026]在本發(fā)明一實(shí)施例中,測(cè)試信號(hào)為脈沖信號(hào),依據(jù)測(cè)試信號(hào)在總線間的信號(hào)傳遞狀態(tài)產(chǎn)生測(cè)試結(jié)果信號(hào)的步驟包括:計(jì)數(shù)所接收到的測(cè)試信號(hào)的脈沖數(shù)量;以及比對(duì)對(duì)應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板所提供的測(cè)試信號(hào)的脈沖數(shù)量與計(jì)數(shù)的結(jié)果,并據(jù)以產(chǎn)生測(cè)試結(jié)果信號(hào)。[0027]在本發(fā)明一實(shí)施例中,電子裝置的測(cè)試方法還包括:擷取對(duì)應(yīng)的總線所輸出及接收的信號(hào);分析所擷取的信號(hào);以及回傳分析的結(jié)果。
[0028]基于上述,本發(fā)明實(shí)施例提出一種測(cè)試裝置及電子裝置的測(cè)試方法,所述的測(cè)試裝置可通過(guò)串行信號(hào)線對(duì)提供串行信號(hào)來(lái)測(cè)試待測(cè)的電子裝置之間的總線是否有斷路形成。由于不需要分別將對(duì)應(yīng)的線路連接至總線中每一傳輸通道,因此簡(jiǎn)化了整體測(cè)試的架構(gòu),進(jìn)而使得測(cè)試的正確率得以有效地提升。
[0029]為使本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂,下文特舉實(shí)施例,并結(jié)合附圖詳細(xì)說(shuō)明如下。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0030]圖1為本發(fā)明一實(shí)施例的測(cè)試裝置的示意圖。
[0031]圖2為本發(fā)明一實(shí)施例的電子裝置的測(cè)試方法的步驟流程圖。
[0032]圖3為本發(fā)明另一實(shí)施例的測(cè)試裝置的示意圖。
[0033]圖4為本發(fā)明一實(shí)施例的測(cè)試CPU之間的總線傳輸?shù)牟襟E流程圖。
[0034]圖5A~5C為本發(fā)明不同實(shí)施例的測(cè)試CPU之間的總線傳輸?shù)氖疽鈭D。
[0035]圖6A為本發(fā)明一實(shí)施例的測(cè)試CPU與DI麗之間的總線傳輸?shù)牟襟E流程圖。
[0036]圖6B為本發(fā)明一實(shí)施例的分析DI麗的DRAM總線協(xié)議的步驟流程圖。
[0037]圖7為本發(fā)明一實(shí)施例的測(cè)試CPU與DIMM之間的總線傳輸?shù)牟灰鈭D。
[0038]圖8為本發(fā)明一實(shí)施例的測(cè)試CPU與PC1-E裝置之間的總線傳輸?shù)牟襟E流程圖。
[0039]圖9為本發(fā)明一實(shí)施例的測(cè)試CPU與PC1-E裝置之間的總線傳輸?shù)氖疽鈭D。
[0040]附圖符號(hào)說(shuō)明
[0041]10_1 ~10_n、CPU、CPUl~CPU4、DIMMl~DlMMruPC1-El~PC1-En:電子裝置
[0042]100、300、500、700、900:測(cè)試裝置
[0043]110_1 ~110_n、310_l~310_n、510_l~510_4、710_0~710_η、910_0-910_η:裝置轉(zhuǎn)板
[0044]120、320、520、720、920:測(cè)試電路
[0045]312_1 ~312_η、512_1 ~512_4、712_0~712_η、912_0~912_η:第二串行連接器
[0046]314:第一控制模塊
[0047]314’:第二控制模塊
[0048]316:傳送模塊
[0049]318:接收模塊
[0050]322_1 ~322_η、522_1 ~522_4、722_0~722_η、922_0~922_η:第一串行連接器
[0051]324、524、724、924:處理單元
[0052]326,526,726,926:顯示模塊
[0053]328、728:協(xié)議分析模塊
[0054]BUS、C_BUSI~C_BUS12、D_BUSI~D_BUSn、P_BUSI~P_BUSn:總線
[0055]CB:電路板
[0056]PC:計(jì)算機(jī)裝置
[0057]S_SE:串行信號(hào)
[0058]S_SR、S_SRl~S_SRn:測(cè)試結(jié)果信號(hào)[0059]S_T:測(cè)試信號(hào)
[0060]SKTI?SKTn、SKTI,?SKTn\ SKTl”?SKTn,,:插槽[0061 ] WP_rWP_n:串行信號(hào)線對(duì)
[0062]S200?S210、S400?S416、S600?S604、S606?S614、S806?S816:步驟【具體實(shí)施方式】
[0063]本發(fā)明實(shí)施例提出一種測(cè)試裝置及電子裝置的測(cè)試方法,所述的測(cè)試裝置可通過(guò)由兩條信號(hào)線所組成的串行信號(hào)線對(duì)提供串行信號(hào)來(lái)測(cè)試待測(cè)的電子裝置之間的總線是否有斷路形成,而不需要分別將對(duì)應(yīng)的線路連接至總線中每一傳輸通道來(lái)分別進(jìn)行測(cè)試,進(jìn)而使得測(cè)試的正確率得以有效地提升。為了使本發(fā)明的內(nèi)容更容易明了,以下特舉實(shí)施例作為本發(fā)明確實(shí)能夠據(jù)以實(shí)施的范例。另外,凡可能之處,在附圖及實(shí)施方式中使用相同標(biāo)號(hào)的元件/構(gòu)件/步驟代表相同或類(lèi)似部分。
[0064]圖1為本發(fā)明一實(shí)施例的測(cè)試裝置的示意圖。測(cè)試裝置100可用以測(cè)試電子裝置之間的總線是否有斷路形成,并且將有問(wèn)題的總線的數(shù)據(jù)顯示于屏幕上或者輸出至外部的計(jì)算機(jī)裝置,藉以使測(cè)試人員可根據(jù)所檢測(cè)到的數(shù)據(jù)進(jìn)行除錯(cuò)及分析。請(qǐng)參照?qǐng)D1,測(cè)試裝置100包括裝置轉(zhuǎn)板110_1?110_η以及測(cè)試電路120。各電子裝置10_f 10_n通過(guò)專(zhuān)屬的裝置轉(zhuǎn)板110_fll0_n分別插設(shè)至電路板CB的插槽SKTf SKTn上,而使電子裝置10_廣10_n可藉由對(duì)應(yīng)的總線(如BUS)而相互電性連接并據(jù)以傳遞數(shù)據(jù),其中η為正整數(shù),且可依據(jù)設(shè)計(jì)需求而改變。測(cè)試電路120通過(guò)多組串行信號(hào)線對(duì)WP_fWP_n分別電性連接裝置轉(zhuǎn)板110_廣110_n。其中,測(cè)試電路120可依據(jù)電子裝置10_f 10_n的類(lèi)型與待測(cè)順序而經(jīng)由串行信號(hào)線對(duì)WP_fWP_n提供串行信號(hào)(如串行信號(hào)S_SE),藉以測(cè)試特定電子裝置10_fl0_n之間的總線(如總線BUS)傳輸通道是否有斷路狀況。在本實(shí)施例中,不同類(lèi)型的電子裝置10_1?10_η例如為中央處理器(CPU)、存儲(chǔ)器模塊(Dual Inline MemoryModule,DIMM)、雙倍數(shù)據(jù)率(Double Data Rate,DDR)存儲(chǔ)器裝置、串行先進(jìn)技術(shù)連接(Serial Advanced TechnologyAttachment, SATA)儲(chǔ)存裝置、周邊兀件內(nèi)連接(PeripheralComponentlnterconnect, PCI)裝置、快捷周邊元件內(nèi)連接(PCI Express, PC1-E)裝置以及串行小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口(Serial Attached SCSI,SAS)裝置等等。
[0065]舉例而言,無(wú)論待測(cè)的電子裝置10_1與10_2間的總線BUS具有多少傳輸通道,操作者僅需將測(cè)試電路120通過(guò)兩組串行信號(hào)線對(duì)WP_1與WP_2連接至裝置轉(zhuǎn)板110_1與110_2,即可測(cè)試電子裝置10_1與10_2間總線BUS中的每一個(gè)傳輸通道??偠灾恳唤M串行信號(hào)線對(duì)WP_fWP_n僅包括兩條信號(hào)線,相較于傳統(tǒng)的測(cè)試裝置必須將對(duì)應(yīng)于各個(gè)傳輸通道的腳位依序接出的方式而言,本實(shí)施例的測(cè)試裝置100大幅地降低了測(cè)試的復(fù)雜度。
[0066]此外,在本實(shí)施例中,各個(gè)裝置轉(zhuǎn)板110_f 110_n之間可根據(jù)待測(cè)電子裝置10_fl0_n間的總線傳輸架構(gòu)而具有不同的電性連接組態(tài),藉以提供總線外部的信號(hào)傳輸路徑。
[0067]圖2為本發(fā)明一實(shí)施例的電子裝置的測(cè)試方法的步驟流程圖。請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D1與圖2,在進(jìn)行測(cè)試時(shí),首先操作者可將裝置轉(zhuǎn)板110_f 110_11分別電性連接于對(duì)應(yīng)的電子裝置10_1?10_n以及對(duì)應(yīng)電子裝置10_1?10_n的插槽SKTl?SKTn(步驟S200),亦即將裝置轉(zhuǎn)板110_1-110_η插設(shè)在待測(cè)電路板CB的對(duì)應(yīng)插槽SKTfSKTn上,再將待測(cè)電子裝置10_1~10_η插設(shè)在對(duì)應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板110_f 110_η。接著,將裝置轉(zhuǎn)板110_f 110_η分別電性連接于多組串行信號(hào)線對(duì)WP_fWP_n (步驟S210),藉以使各個(gè)裝置轉(zhuǎn)板110_1~110_η電性連接至測(cè)試電路120,其中裝置轉(zhuǎn)板110_1-110_n分別電性連接對(duì)應(yīng)的待測(cè)電子裝置10_廣10_n。接著,測(cè)試電路120會(huì)依據(jù)電子裝置10_fl0_n的類(lèi)型與待測(cè)順序,經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)(如WP_1)提供串行信號(hào)S_SE給裝置轉(zhuǎn)板其中之一(如110_1),并通過(guò)對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)(如WP_2)回傳裝置轉(zhuǎn)板其中的另一(如110_2)的反應(yīng),藉以測(cè)試所述其中的一裝置轉(zhuǎn)板與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置(如10_1與10_2)間的總線(如總線BUS)傳輸通道是否有斷路狀況(步驟S220)。根據(jù)上述步驟,操作者可以依序地測(cè)試各個(gè)電子裝置10_1-10_η之間的總線是否有斷路的狀況。
[0068]以測(cè)試電子裝置10_1與10_2之間的總線BUS為例,測(cè)試電路120會(huì)先檢測(cè)待測(cè)電子裝置10_1與10_2的類(lèi)型與待測(cè)順序以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)S_SE。測(cè)試電路120經(jīng)由串行信號(hào)線對(duì)WP_1將串行信號(hào)S_SE傳遞至裝置轉(zhuǎn)板110_1,以使裝置轉(zhuǎn)板110_1上的電子裝置10_1反應(yīng)于串行信號(hào)S_SE而在總線BUS中的每一傳輸通道傳遞測(cè)試的信號(hào)至電子裝置10_2。裝置轉(zhuǎn)板10_2會(huì)依據(jù)電子裝置10_2所接收到的信號(hào)而回傳測(cè)試結(jié)果信號(hào)S_SR至測(cè)試電路120,因此測(cè)試電路120可依據(jù)測(cè)試結(jié)果信號(hào)S_SR而判斷總線BUS中的每一傳輸通道是否有斷路形成。其中,測(cè)試電路120可進(jìn)一步地將測(cè)試結(jié)果通過(guò)內(nèi)建或外接的顯示模塊(未繪示)顯示,或是將測(cè)試結(jié)果的數(shù)據(jù)匯出至外部的計(jì)算機(jī)裝置以進(jìn)行分析。
[0069]為了更進(jìn)一步地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試裝置的架構(gòu),圖3為本發(fā)明另一實(shí)施例的測(cè)試裝置的示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D3,測(cè)試裝置300包括裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n以及測(cè)試電路320。其中,各待測(cè)電子裝置10_f 10_n通過(guò)專(zhuān)屬的裝置轉(zhuǎn)板310_廣310_11分別插設(shè)至待測(cè)電路板CB的對(duì)應(yīng)插槽SKTfSKTn上,而使電子裝置10_f 10_n可藉由對(duì)應(yīng)的總線而相互電性連接并據(jù)以傳遞數(shù)據(jù),并且裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n分別包括第二串行連接器312_廣312_η、第一控制模塊、第二控制模塊、傳送模塊以及接收模塊。由于各個(gè)裝置轉(zhuǎn)板310_廣310_η的結(jié)構(gòu)大致相同,為便于說(shuō)明,在此以裝置轉(zhuǎn)板310_1為例,其中裝置轉(zhuǎn)板310_1包括第二串行連接器312_1、第一控制模塊314、第二控制模塊314’、傳送模塊316以及接收模塊318。
[0070]在裝置轉(zhuǎn)板310_1中,第一控制模塊314電性連接第二串行連接器312_1。傳送模塊316與接收模塊318電性連接第一控制模塊314與對(duì)應(yīng)的電子裝置10_1。第二控制模塊314’電性連接第二串行連接器312_1、傳送模塊316以及接收模塊318。其中,第一控制模塊314經(jīng)由第二串行連接器312_1接收來(lái)自測(cè)試電路320的串行信號(hào)S_SE,并且據(jù)以控制傳送模塊316與接收模塊318的運(yùn)作。傳送模塊316受控于第一控制模塊314而提供測(cè)試信號(hào)S_T,以使電子裝置10_1藉由特定的總線(如總線BUS)傳遞測(cè)試信號(hào)S_T給其它對(duì)應(yīng)的待測(cè)電子裝置(如電子裝置10_2~10_n)。接收模塊318接收其它對(duì)應(yīng)的待測(cè)電子裝置(如電子裝置10_2~10_n)通過(guò)特定的總線(如總線BUS)所傳遞的測(cè)試信號(hào)S_T’,并且回傳至第一控制模塊314,以使第一控制模塊314據(jù)以產(chǎn)生測(cè)試結(jié)果信號(hào)。
[0071]在測(cè)試電路320中,處理單元324電性連接第一串行連接器322_1~322_η。顯示模塊326與協(xié)議分析模塊328分別電性連接處理單元324。其中,各個(gè)第一串行連接器322_1-322_η分別經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)WP_f WP_n電性連接裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n的第二串行連接器312_f 312_n。其中,處理單元324用以依據(jù)電子裝置10_f 10_n的類(lèi)型與待測(cè)順序而產(chǎn)生串行信號(hào)S_SE,據(jù)以控制裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n的信號(hào)傳遞與接收。顯示模塊326受控于處理單元324,用以顯示電子裝置10_f 10_n的測(cè)試結(jié)果。此外,處理單元324亦可將測(cè)試結(jié)果的相關(guān)數(shù)據(jù)匯出至外部的計(jì)算機(jī)裝置PC,以便于操作者可分析對(duì)應(yīng)的總線傳輸狀態(tài)。
[0072]詳細(xì)而言,操作者可預(yù)先在各個(gè)裝置轉(zhuǎn)板310_f310_n上設(shè)定對(duì)應(yīng)的識(shí)別碼,其中所設(shè)定的識(shí)別碼會(huì)分別對(duì)應(yīng)于各個(gè)裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n上的電子裝置10_f 10_n的類(lèi)型。在進(jìn)行測(cè)試時(shí),處理單元324會(huì)讀取各個(gè)裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n上的識(shí)別碼以判斷待測(cè)的電子裝置的類(lèi)型與待測(cè)順序,并據(jù)以提供對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)S_SE。其中,第一控制模塊314會(huì)根據(jù)串行信號(hào)S_SE而得知處理單元324所檢測(cè)到的電子裝置10_1的類(lèi)型、測(cè)試信號(hào)S_SE的種類(lèi)(如直流信號(hào)或脈沖信號(hào))、測(cè)試信號(hào)S_SE的設(shè)定值(如頻率或脈沖數(shù)量)以及測(cè)試順序,因此第一控制模塊314可適時(shí)控制傳送模塊316提供相應(yīng)的測(cè)試信號(hào)S_T至電子裝置10_1。換言之,傳送模塊316所提供的測(cè)試信號(hào)S_T可為直流信號(hào)或脈沖信號(hào),并且第一控制模塊314可依據(jù)串行信號(hào)S_SE而設(shè)定測(cè)試信號(hào)S_T的頻率與脈沖數(shù)量。
[0073]此外,根據(jù)待測(cè)的電子裝置的類(lèi)型不同,處理單元324可設(shè)定各個(gè)裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n產(chǎn)生相應(yīng)的測(cè)試結(jié)果信號(hào)S_SR的方式。例如比對(duì)對(duì)應(yīng)的傳送模塊與接收模塊所輸出與接收的測(cè)試信號(hào)以產(chǎn)生測(cè)試結(jié)果信號(hào),或者比對(duì)對(duì)應(yīng)的傳送模塊與接收模塊所輸出與接收的測(cè)試信號(hào)在一定期間內(nèi)的脈沖數(shù)量以產(chǎn)生測(cè)試結(jié)果信號(hào)(此部分于后述實(shí)施例中會(huì)進(jìn)一步說(shuō)明)。
[0074]在應(yīng)用上,處理單元324可利用微控制器(Micro Controller Unit, MCU)與復(fù)雜可編程邏輯裝置(Complex Programmable Logic Device, CPLD)來(lái)實(shí)現(xiàn)。其中,微控制器MCU可進(jìn)行較高階的信號(hào)處理程序,而復(fù)雜可編程邏輯裝置CPLD可進(jìn)行較低階的邏輯運(yùn)算并且提供多個(gè)傳輸端口與各個(gè)第一串行連接器322_廣322_11相互連接,但本發(fā)明不僅限于此。
[0075]另一方面,由于測(cè)試電路320可利用較少的線路與裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n進(jìn)行連接,使得測(cè)試電路320可保有較大的設(shè)計(jì)空間彈性。因此,測(cè)試裝置300可進(jìn)一步地分別在裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n與測(cè)試電路320中加入第二控制模塊(如第二控制模塊314’ )與協(xié)議分析模塊328,藉以對(duì)特定電子裝置的總線協(xié)議進(jìn)行分析與除錯(cuò)。
[0076]具體而言,第二控制模塊314’可用以擷取總線BUS所輸出及接收的信號(hào),并且經(jīng)由第二串行連接器3121回傳至協(xié)議分析模塊328。協(xié)議分析模塊328在分析第二控制模塊314’所擷取的總線BUS所輸出及接收的信號(hào)后,將分析結(jié)果回傳至處理單元324。因此,處理單元324可將相關(guān)的分析結(jié)果數(shù)據(jù)輸出至外部的計(jì)算機(jī)裝置PC以令操作者能夠進(jìn)一步地進(jìn)行驗(yàn)證及除錯(cuò)(debug)。
[0077]值得注意的是,分析電子裝置的總線協(xié)議的功能為設(shè)計(jì)選擇,設(shè)計(jì)者可依據(jù)需求而決定是否加入。換言之,在其他實(shí)施例中,裝置轉(zhuǎn)板310_1?310_η可不包括第二控制模塊,而測(cè)試電路320可不包括協(xié)議分析模塊328。無(wú)論裝置轉(zhuǎn)板310_f 310_n與測(cè)試電路320是否分別包括第二控制模塊與協(xié)議分析模塊328,皆不會(huì)影響測(cè)試裝置有關(guān)于測(cè)試對(duì)應(yīng)的總線是否有斷路狀況的功能。
[0078]為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例,以下分別就CPU與CPU、CPU與DMM以及CPU與PCIE裝置之間的總線傳輸測(cè)試為例來(lái)說(shuō)明測(cè)試裝置的測(cè)試架構(gòu)及電子裝置的測(cè)試方法,但本發(fā)明不僅以此為限。此外,在下述實(shí)施例中,為了使附圖清晰,各個(gè)裝置轉(zhuǎn)板中僅繪示出對(duì)應(yīng)的第二串行連接器與電子裝置,然而下述任一實(shí)施例所述的裝置轉(zhuǎn)板的架構(gòu)實(shí)質(zhì)上皆可參照?qǐng)D3實(shí)施例所述。
[0079]圖4為本發(fā)明一實(shí)施例的測(cè)試CPU之間的總線傳輸?shù)牟襟E流程圖。在本實(shí)施例中,(PU之間可藉由例如四元周邊接口(QPI)總線來(lái)相互傳遞信號(hào)。
[0080]請(qǐng)參照?qǐng)D4,首先,在測(cè)試進(jìn)行前,操作者可先在裝置轉(zhuǎn)板上設(shè)定對(duì)應(yīng)的識(shí)別碼(步驟S400)。在開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試時(shí),首先將裝置轉(zhuǎn)板(如110_fll0_n)分別電性連接于對(duì)應(yīng)的電子裝置(如10_1?10_n)以及對(duì)應(yīng)電子裝置的插槽(如SKTfSKTn)(步驟S401),亦即將裝置轉(zhuǎn)板插設(shè)在待測(cè)電路板(如CB)的對(duì)應(yīng)插槽并且將電子裝置分別插設(shè)在對(duì)應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板上。接著,將裝置轉(zhuǎn)板電性連接于多組串行信號(hào)線對(duì)(如WP_fWP_n)(步驟S402),藉以使各個(gè)裝置轉(zhuǎn)板電性連接至測(cè)試電路,使得測(cè)試電路的處理單元分別讀取各個(gè)裝置轉(zhuǎn)板上的識(shí)別碼以判斷待測(cè)的電子裝置的類(lèi)型與待測(cè)順序(步驟S404)。
[0081]在本實(shí)施例中,處理單元會(huì)依據(jù)所讀取的識(shí)別碼而判斷待測(cè)的電子裝置為所對(duì)應(yīng)的總線為CPU與CPU之間的總線,因此依照待測(cè)順序提供對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)至所述其中的一裝置轉(zhuǎn)板(在此以傳送端稱(chēng)之)(步驟S406 )。其中,對(duì)應(yīng)接收到串行信號(hào)的裝置轉(zhuǎn)板會(huì)依據(jù)串行信號(hào)而提供測(cè)試信號(hào)(步驟S408),其中該測(cè)試信號(hào)會(huì)在傳送端的CPU與所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板上的CPU之間的總線傳遞。
[0082]接收到測(cè)試信號(hào)的CPU所對(duì)應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板(在此以接收端稱(chēng)之)會(huì)依據(jù)測(cè)試信號(hào)在對(duì)應(yīng)的總線的信號(hào)傳遞狀態(tài)產(chǎn)生測(cè)試結(jié)果信號(hào)(步驟S410),其中所述的信號(hào)傳遞狀態(tài)即為測(cè)試信號(hào)在總線中的每一傳輸通道的傳遞狀態(tài)。
[0083]在接收端產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果信號(hào)后,處理單元會(huì)經(jīng)由對(duì)應(yīng)于接收端的串行信號(hào)線對(duì)接收測(cè)試結(jié)果信號(hào)(步驟S412),并且據(jù)以判斷對(duì)應(yīng)的總線中的每一傳輸通道是否有斷路狀況(步驟S414)。
[0084]換言之,在測(cè)試電路提供串行信號(hào)至所述其中的一裝置轉(zhuǎn)板后,所述其中的另一裝置轉(zhuǎn)板會(huì)反應(yīng)于對(duì)應(yīng)的總線的信號(hào)傳遞狀態(tài)而經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)輸出測(cè)試結(jié)果信號(hào)至測(cè)試電路。測(cè)試電路此時(shí)會(huì)依據(jù)測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的總線中的每一傳輸通道是否有斷路。
[0085]另外,處理單元亦可根據(jù)測(cè)試結(jié)果信號(hào)來(lái)判斷對(duì)應(yīng)的總線中相鄰的傳輸通道是否有短路(步驟S416)。其中,步驟S414與S416可依據(jù)設(shè)計(jì)為同時(shí)進(jìn)行或依序進(jìn)行,或者單獨(dú)進(jìn)行步驟S414或步驟S416,本實(shí)施例所示的方法流程僅為一示例,本發(fā)明不以此為限。
[0086]接著,處理單元可依序地將串行信號(hào)提供至每一裝置載板以作為傳送端,并且令其余的裝置載板做為對(duì)應(yīng)的接收端以依序地測(cè)試多個(gè)CPU之間的總線。換言之,在步驟S416之后,測(cè)試方法可重新回到步驟S408以選取另一裝置轉(zhuǎn)板作為傳送端,直到處理單元判斷各個(gè)CPU之間的總線傳輸皆測(cè)試完成。
[0087]為了更具體地說(shuō)明CPU之間的總線的測(cè)試方法,圖5A?5C為本發(fā)明不同實(shí)施例的測(cè)試CPU之間的總線傳輸?shù)氖疽鈭D。其中,圖5A表示測(cè)試裝置500測(cè)試2個(gè)CPU間的總線的測(cè)試架構(gòu),圖5B與5C則是分別表示測(cè)試裝置500測(cè)試不同CPU規(guī)格的4個(gè)CPU間的總線的測(cè)試架構(gòu)。[0088]請(qǐng)參照?qǐng)D5A,測(cè)試裝置500包括裝置轉(zhuǎn)板510_1與510_2以及測(cè)試電路520。裝置轉(zhuǎn)板510_1與510_2分別包括對(duì)應(yīng)的第二串行轉(zhuǎn)接器5121與512_2,測(cè)試電路520包括第一串行轉(zhuǎn)接器522_廣522_4、處理單元524以及顯示模塊526,其中CPUl與CPU2之間藉由總線C_BUS1與C_BUS2互相傳遞信號(hào)。此外,裝置轉(zhuǎn)板510_1與510_2和測(cè)試電路520中的各個(gè)構(gòu)件的功能請(qǐng)參照上述實(shí)施例,于此不再贅述。
[0089]在本實(shí)施例中,裝置轉(zhuǎn)板510_1與510_2分別電性連接于待測(cè)的CPUl與CPU2,并且裝置轉(zhuǎn)板510_1與510_2分別插設(shè)在電路板CB的對(duì)應(yīng)的插槽SKTl與SKT2上,以使待測(cè)的CPUl與CPU2經(jīng)由對(duì)應(yīng)的總線C_BUS1與C_BUS2以及電路板CB上的對(duì)應(yīng)的路由線路而相互電性連接。
[0090]根據(jù)上述步驟,在裝置轉(zhuǎn)板510_1與510_2分別通過(guò)對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)WP_1與WP_2電性連接至測(cè)試電路520后,測(cè)試電路520的處理單元524會(huì)先讀取裝置轉(zhuǎn)板510_1與510_2上的識(shí)別碼以判斷待測(cè)的電子裝置為CPUl與CPU2,且測(cè)試順序先為CPUl至CPU2,再為CPU2至CPUl。接著,處理單元524會(huì)先將串行信號(hào)S_SE提供至裝置轉(zhuǎn)板510_1以作為傳送端,使得裝置轉(zhuǎn)板510_2反應(yīng)于在總線C_BUS1傳遞的測(cè)試信號(hào)而產(chǎn)生并輸出測(cè)試結(jié)果信號(hào)S_SR至處理單元524。處理單元524即可依據(jù)此測(cè)試結(jié)果信號(hào)S_SR判斷CPUl至CPU2的總線C_BUS1間是否有斷路或短路形成。
[0091]在CPUl至CPU2的測(cè)試完成后,處理單元524會(huì)改以將串行信號(hào)S_SE提供至裝置轉(zhuǎn)板510_2以作為傳送端,使得裝置轉(zhuǎn)板510_1反應(yīng)于總線C_BUS2的信號(hào)傳遞而輸出對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果信號(hào)S_SR至處理單元524。處理單元524依據(jù)測(cè)試結(jié)果信號(hào)S_SR判斷CPU2至CPUl的總線C_BUS2是否有斷路或短路狀況。
[0092]請(qǐng)參照?qǐng)D5B,在4個(gè)CPU (CPUK CPU2、CPU3及CPU4)的架構(gòu)下,裝置轉(zhuǎn)板510_510_4分別電性連接待測(cè)的CPU1~CPU4,并且裝置轉(zhuǎn)板510_1~510_4分別插設(shè)在電路板CB的插槽SKT1~SKT4上。在本實(shí)施例中,電路板CB可在各個(gè)插槽SKT1~SKT4之間配設(shè)有對(duì)應(yīng)的路由線路,使得待測(cè)的CPUfCPM經(jīng)由對(duì)應(yīng)的總線以及電路板CB上的對(duì)應(yīng)的路由線路而兩兩相互電性連接,例如CPUl電性連接CPU2與CPU3,CPU2電性連接CPU4,CPU3電性連接CPU4。
[0093]在本實(shí)施例的4CPU的架構(gòu)下,測(cè)試電路520仍可藉由前述的測(cè)試方式,依序測(cè)試兩相鄰CPU之間的總線C_BUSf C_BUS8,故與前述相同或相似的部分于此不再贅述。
[0094]請(qǐng)參照?qǐng)D5C,本實(shí)施例與前述圖5B實(shí)施例不同之處在于CPU的規(guī)格不同而使(PU在主機(jī)板上的總線連接方式不相同。因此,在本實(shí)施例中,電路板CB可在各個(gè)插槽SKT1~SKT4之間配設(shè)有對(duì)應(yīng)的路由線路,使得待測(cè)的CPU1~CPU4經(jīng)由對(duì)應(yīng)的總線C_BUS1~C_BUS8以及電路板CB上對(duì)應(yīng)的路由線路而分別電性連接至其余3個(gè)CPU,例如CPUl電性連接 CPU2CPU4,CPU2 電性連接 CPU1、CPU3、CPU4, CPU3 電性連接 CPU1、CPU2、CPU4, CPU4 電性連接CPUf CPU3。根據(jù)圖5B與圖5C的實(shí)施例,測(cè)試裝置500可有效地測(cè)試任一規(guī)格的4CPU架構(gòu)在電子裝置中實(shí)際的傳輸運(yùn)作。
[0095]在本實(shí)施例的4CPU的架構(gòu)下,其測(cè)試方式相較于前述圖5B實(shí)施例,僅是增加了測(cè)試CPUl與CPU4之間的總線C_BUS9與C_BUS10,以及CPU2與CPU3之間的總線C_BUS11與C_BUS12,其余的測(cè)試方式 集架構(gòu)皆與前述實(shí)施例大致相同,故于此不再贅述。
[0096]圖6A為本發(fā)明一實(shí)施例的測(cè)試CPU與DI麗之間的總線傳輸?shù)牟襟E流程圖。圖7為本發(fā)明一實(shí)施例的測(cè)試CPU與DIMM之間的總線傳輸?shù)氖疽鈭D。
[0097]請(qǐng)先參照?qǐng)D7,測(cè)試裝置700包括裝置轉(zhuǎn)板710_0-710_η以及測(cè)試電路720。裝置轉(zhuǎn)板710_0-710_η分別包括對(duì)應(yīng)的第二串行轉(zhuǎn)接器712_0-712_η,測(cè)試電路720包括第一串行轉(zhuǎn)接器722_0-722_η、處理單元724、顯示模塊726以及協(xié)議分析模塊728,其中CPU與DI^fDIMMn之間分別藉由對(duì)應(yīng)的總線D_BUS1~D_BUSn互相傳遞信號(hào)。此外,裝置轉(zhuǎn)板710_0-710_η和測(cè)試電路720中的各個(gè)構(gòu)件的功能請(qǐng)參照上述實(shí)施例,于此不再贅述。
[0098]在本實(shí)施例中,裝置轉(zhuǎn)板710_0-710_η分別電性連接于待測(cè)的CPU與DI麗l~DIMMn,并且裝置轉(zhuǎn)板710_0分別插設(shè)在電路板CB的對(duì)應(yīng)的插槽SKTl與SKTr~SKTn’上,以使待測(cè)的CPU與DIMMl~DIMMn經(jīng)由對(duì)應(yīng)的總線D_BUSl~D_BUSn以及電路板CB上的對(duì)應(yīng)的路由線路而相互電性連接。
[0099]請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D6A與圖7,在圖6A中,其步驟S400至S404皆于前述圖4實(shí)施例相同,故于此不再贅述。在處理單元724進(jìn)行步驟S404之后,處理單元724會(huì)依據(jù)所讀取的識(shí)別碼而判斷待測(cè)的電子裝置所對(duì)應(yīng)的總線為CPU與DIMM之間的總線D_BUSfD_BUSn,因此提供對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)S_SE至對(duì)應(yīng)于CPU的裝置轉(zhuǎn)板710_0 (步驟S606)。接著,裝置轉(zhuǎn)板710_0會(huì)依據(jù)串行信號(hào)S_SE而提供測(cè)試信號(hào)S_T(步驟S608),其中測(cè)試信號(hào)會(huì)在CPU與DIMMl~DIMMn之間的總線D_BUSl~D_BUSn傳遞。
[0100]接收到測(cè)試信號(hào)S_T的DI^fDIMMn所對(duì)應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板710_l~710_n會(huì)依據(jù)測(cè)試信號(hào)S_T在對(duì)應(yīng)的總線D_BUSfD_BUSn的信號(hào)傳遞狀態(tài),而分別產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果信號(hào)S_SRrS_SRn (步驟S610),其中所述的信號(hào)傳遞狀態(tài)即為測(cè)試信號(hào)S_T在總線D_BUS1~D_BUSn中的每一傳輸通道的傳遞狀態(tài)。
[0101]在各個(gè)裝置轉(zhuǎn)板710_1~710_n分別產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果信號(hào)S_SRl~S_SRn后,處理單元724會(huì)經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信·號(hào)線WP_fWP_n依序從裝置轉(zhuǎn)板710_廣710η接收測(cè)試結(jié)果信號(hào)S_SRfS_SRn (步驟S612),并且據(jù)以判斷對(duì)應(yīng)的總線D_BUSl~D_BUSn中的每一傳輸通道是否有斷路狀況(步驟S614)。
[0102]換言之,在測(cè)試電路720提供串行信號(hào)S_SE至對(duì)應(yīng)于CPU的裝置轉(zhuǎn)板710_0后,DI^fDIMMn的裝置轉(zhuǎn)板710_l~710_n會(huì)依序反應(yīng)于對(duì)應(yīng)的總線D_BUSl~D_BUSn間的信號(hào)傳遞狀態(tài)而分別經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)WP_f WP_n輸出測(cè)試結(jié)果信號(hào)S_SRf S_SRn至測(cè)試電路720。測(cè)試電路720依據(jù)測(cè)試結(jié)果信號(hào)S_SRf S_SRn判斷總線D_BUSl~D_BUSn中的每一傳輸通道是否有斷路狀況。
[0103]圖6B為本發(fā)明一實(shí)施例的分析DIMM的DRAM總線協(xié)議的步驟流程圖。在本實(shí)施例中,測(cè)試裝置700可進(jìn)一步地藉由協(xié)議分析模塊728來(lái)分析DMMfDIMMn中的多個(gè)DRAM(未繪示)的總線協(xié)議。
[0104]請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D6B與圖7,首先,裝置轉(zhuǎn)板710_f 710_n會(huì)擷取對(duì)應(yīng)于待測(cè)DRAM的總線D_BUSf D_BUSn輸出及接收的信號(hào)(步驟S600),此時(shí)總線D_BUS1~D_BUSn所傳輸?shù)男盘?hào)為符合DRAM總線協(xié)議的信號(hào)。接著,裝置轉(zhuǎn)板710_f710_n會(huì)將所擷取的信號(hào)經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)WP_fWP_n而輸出至測(cè)試電路720的協(xié)議分析模塊728,以令協(xié)議分析模塊728分析裝置轉(zhuǎn)板710_f 710_n所擷取的信號(hào)(步驟S602)。在分析完成后,協(xié)議分析模塊728可將分析的結(jié)果回傳至處理單元724的微控制器MCU (步驟S604)。微控制器MCU可進(jìn)一步地將相關(guān)的分析結(jié)果數(shù)據(jù)匯出至外部的計(jì)算機(jī)裝置PC,以便于操作者進(jìn)行驗(yàn)證及偵錯(cuò)(debug)ο
[0105]圖8為本發(fā)明一實(shí)施例的測(cè)試CPU與PC1-E裝置之間的總線傳輸?shù)牟襟E流程圖。圖9為本發(fā)明一實(shí)施例的測(cè)試CPU與PC1-E裝置之間的總線傳輸?shù)氖疽鈭D。
[0106]請(qǐng)先參照?qǐng)D9,測(cè)試裝置900包括裝置轉(zhuǎn)板910_0-910_η以及測(cè)試電路920。裝置轉(zhuǎn)板910_0-910_η分別包括對(duì)應(yīng)的第二串行轉(zhuǎn)接器912_0-912_η,測(cè)試電路920包括第一串行轉(zhuǎn)接器922_0-922_η、處理單元924以及顯示模塊926,其中CPU與PC1-E裝置(后述各個(gè)PC1-E裝置以PC1-EfPC1-En表示)之間藉由對(duì)應(yīng)的總線P_BUS1~P_BUSn互相傳遞信號(hào)。此外,裝置轉(zhuǎn)板910_0-910_η和測(cè)試電路920中的各個(gè)構(gòu)件的功能請(qǐng)參照上述實(shí)施例,于此不再贅述。
[0107]在本實(shí)施例中,裝置轉(zhuǎn)板910_0-910_η分別電性連接于待測(cè)的CPU與PC1-Ef PC1-En,并且裝置轉(zhuǎn)板910_0分別插設(shè)在電路板CB的對(duì)應(yīng)的插槽SKTl與SKT1”~SKTn’ ’上,以使待測(cè)的CPU與PC1-El~PC1-En經(jīng)由對(duì)應(yīng)的總線P_BUSl~P_BUSn以及電路板CB上的對(duì)應(yīng)的路由線路而相互電性連接。
[0108]請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D8與圖9,在圖8中,其步驟S400至S404皆于前述圖4實(shí)施例相同,故于此不再贅述。在處理單元924進(jìn)行步驟S404之后,處理單元924會(huì)依據(jù)所讀取的識(shí)別碼而判斷待測(cè)的電子裝置所對(duì)應(yīng)的總線為CPU與PC1-E裝置之間的總線P_BUSfP_BUSn(即PC1-E總線)。
[0109]在本實(shí)施例中,由于PC1-E的總線規(guī)格中,其傳輸路徑上具有電容,使得直流的測(cè)試信號(hào)無(wú)法正確的在PC1-E總線傳遞。因此,當(dāng)處理單元924檢測(cè)到所測(cè)試的總線為PC1-E總線時(shí),其會(huì)提供對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)S_SE至對(duì)應(yīng)于CPU的裝置轉(zhuǎn)板910_0 (步驟S806),以使裝置轉(zhuǎn)板910_0依據(jù)串行信號(hào)S_SE而提供為脈沖信號(hào)的測(cè)試信號(hào)S_T (步驟S808),其中測(cè)試信號(hào)會(huì)在CPU與PC1-EfPC1-En之間的總線P_BUSl~P_BUSn傳遞。
[0110]接收到測(cè)試信號(hào)S_T的PC1-EfPC1-En所對(duì)應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板910_f 910_n會(huì)依據(jù)測(cè)試信號(hào)S_T在對(duì)應(yīng)的總線P_BUSf P_BUSn的信號(hào)傳遞狀態(tài),而分別產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果信
(步驟S610)。
[0111]更進(jìn)一步地說(shuō),在步驟S610中,各個(gè)裝置轉(zhuǎn)板910_1、10_η會(huì)計(jì)數(shù)所接收到的測(cè)試信號(hào)S_T的脈沖數(shù)量(步驟S810),并且比對(duì)裝置轉(zhuǎn)板910_0所提供的測(cè)試信號(hào)S_T的脈沖數(shù)量與對(duì)應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板910_l、10_n的計(jì)數(shù)結(jié)果,據(jù)以產(chǎn)生測(cè)試結(jié)果信號(hào)S_SRfS_SRn (步驟S812)。藉由此一比對(duì)總線間傳送及接收信號(hào)的脈沖數(shù)量的方式,裝置轉(zhuǎn)板910_910_η所產(chǎn)生的測(cè)試結(jié)果信號(hào)S_SRf S_SRn即不會(huì)受到傳輸路徑上的電容所影響。
[0112]在各個(gè)裝置轉(zhuǎn)板910_1~910_n分別產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果信號(hào)S_SRl~S_SRn后,處理單元924會(huì)經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線WP_f WP_n依序從裝置轉(zhuǎn)板910_f 910_n接收測(cè)試結(jié)果信號(hào)S_SRfS_SRn (步驟S814),并且據(jù)以判斷對(duì)應(yīng)的總線P_BUSl~P_BUSn中的每一傳輸通道是否有斷路狀況(步驟S816)。
[0113]換言之,在此所提及的CPU和PC1-E裝置間的總線傳輸測(cè)試與前述的CPU和DI麗間的總線傳輸測(cè)試大致相同。兩者間的差異僅在于CPU和PC1-E裝置間的總線的測(cè)試結(jié)果信號(hào)藉由計(jì)數(shù)脈沖形式的測(cè)試信號(hào)在傳送端與接收端的脈沖數(shù)量,并加以比對(duì)方式而產(chǎn)生。
[0114]然而,此一脈沖形式的測(cè)試信號(hào)以及步驟S810與S812所提及的產(chǎn)生測(cè)試結(jié)果信號(hào)的方法亦可適用于CPU與CPU間以及CPU與DMM間的總線測(cè)試,本發(fā)明不以此為限。
[0115]此外,當(dāng)測(cè)試信號(hào)設(shè)定為脈沖信號(hào)時(shí),操作者可依據(jù)測(cè)試的考慮,藉由設(shè)定處理單元而調(diào)整測(cè)試信號(hào)的頻率與脈沖數(shù)量。舉例來(lái)說(shuō),操作者可藉由調(diào)整測(cè)試信號(hào)的頻率與一定期間內(nèi)的脈沖數(shù)量而控制對(duì)應(yīng)的總線測(cè)試的次數(shù)(一個(gè)脈沖的測(cè)試信號(hào)對(duì)應(yīng)產(chǎn)生一次測(cè)試結(jié)果信號(hào))。因此,所述的測(cè)試裝置可更進(jìn)一步地提升了測(cè)試的操作彈性以及測(cè)試的效率。
[0116]上述所述的各個(gè)實(shí)施例不僅限于單獨(dú)實(shí)施,在另一實(shí)施例中,操作者可同時(shí)將對(duì)應(yīng)于多個(gè)CPU、多個(gè)DIMM以及多個(gè)PC1-E裝置的裝置轉(zhuǎn)板通過(guò)對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)全部或部分的電性連接至測(cè)試電路來(lái)進(jìn)行測(cè)試,本發(fā)明不以此為限。
[0117]綜上所述,本發(fā)明實(shí)施例提出一種測(cè)試裝置及電子裝置的測(cè)試方法,所述的測(cè)試裝置可通過(guò)串行信號(hào)線對(duì)提供串行信號(hào)來(lái)測(cè)試待測(cè)的電子裝置之間的總線是否有斷路形成。由于不需要分別將對(duì)應(yīng)的線路連接至總線中每一傳輸通道,因此簡(jiǎn)化了整體測(cè)試的架構(gòu),進(jìn)而使得測(cè)試的正確率得以有效地提升。此外,根據(jù)所述的測(cè)試裝置,操作者可通過(guò)可調(diào)頻率與可調(diào)脈沖數(shù)量的測(cè)試信號(hào)來(lái)對(duì)電子裝置間的總線進(jìn)行測(cè)試,因此可有效地提升測(cè)試裝置的操作彈性以及測(cè)試效率。
[0118]雖然本發(fā)明已以實(shí)施例揭示如上,然其并非用以限定本發(fā)明,本領(lǐng)域的技術(shù)人員,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的前提下,可作若干的更動(dòng)與潤(rùn)飾,故本發(fā)明的保護(hù)范圍是以本發(fā)明的權(quán)利要求為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種測(cè)試裝置,適于測(cè)試一電路板上至少二電子裝置間的一總線,其中該電路板包括至少二插槽,這些電子裝置適于分別電性連接至該電路板上的對(duì)應(yīng)的插槽,該測(cè)試裝置包括: 至少二裝置轉(zhuǎn)板,分別電性連接于對(duì)應(yīng)的這些電子裝置以及對(duì)應(yīng)這些電子裝置的插槽;以及 一測(cè)試電路,通過(guò)至少二組串行信號(hào)線對(duì)分別電性連接這些裝置轉(zhuǎn)板,其中該測(cè)試電路依據(jù)這些電子裝置的類(lèi)型而經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)提供一串行信號(hào)給這些裝置轉(zhuǎn)板其中之一,并通過(guò)對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)回傳這些裝置轉(zhuǎn)板其中的另一的反應(yīng),藉以測(cè)試該其中之一與該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置間的該總線是否有斷路。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置,其中這些電子裝置包括至少二個(gè)第一電子裝置,這些第一電子裝置間藉由一對(duì)應(yīng)的第一總線相互傳遞信號(hào),并且該第一總線具有多個(gè)傳輸通道,其中該測(cè)試電路提供該串行信號(hào)至該其中的一裝置轉(zhuǎn)板,以使該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板反應(yīng)于對(duì)應(yīng)的該第一總線的信號(hào)傳遞狀態(tài)而經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)輸出一測(cè)試結(jié)果信號(hào)至該測(cè)試電路,該測(cè)試電路依據(jù)該測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的該第一總線中的每一這些傳輸通道是否有斷路。
3.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置,其中該測(cè)試電路還依據(jù)該測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的該第一總線中的相鄰這些傳輸通道是否有短路。
4.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置,其中這些電子裝置包括一第一電子裝置以及至少一第二電子裝置,該第一電子裝置與該第二電子裝置藉由一對(duì)應(yīng)的第二總線相互傳遞信號(hào),并且該第二總線具有多個(gè)傳輸通道,其中該測(cè)試電路提供該串行信號(hào)至對(duì)應(yīng)于該第一電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板,以使對(duì)應(yīng)于該第二電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板反應(yīng)于對(duì)應(yīng)的該第二總線間的信號(hào)傳遞狀態(tài)而經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)輸出一測(cè)試結(jié)果信號(hào)至該測(cè)試電路,該測(cè)試電路依據(jù)該測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的該第二總線中的每一這些傳輸通道是否有斷路。
5.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試裝置,其中這些電子裝置包括一第一電子裝置以及至少一第三電子裝置,該第一電子裝置與該第三電子裝置藉由一對(duì)應(yīng)的第三總線相互傳遞信號(hào),并且該第三總線具有多個(gè)傳輸通道,其中該測(cè)試電路提供該串行信號(hào)至對(duì)應(yīng)于該第一電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板,以使對(duì)應(yīng)于該第三電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板反應(yīng)于對(duì)應(yīng)的該第三總線間的信號(hào)傳遞狀態(tài)而經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)輸出一測(cè)試結(jié)果信號(hào)至該測(cè)試電路,該測(cè)試電路依據(jù)該測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的該第三總線中的每一這些傳輸通道是否有斷路。
6.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置,其中該測(cè)試電路包括: 至少二個(gè)第一串行連接器; 一處理單元,電性連接這些第一串行連接器,用以依據(jù)這些電子裝置的類(lèi)型而產(chǎn)生該串行信號(hào),據(jù)以控制這些裝置轉(zhuǎn)板的信號(hào)傳遞與接收;以及 一顯示模塊,電性連接該處理單元,用以顯示這些電子裝置的測(cè)試結(jié)果。
7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試裝置,其中各這些裝置轉(zhuǎn)板具有一識(shí)別碼,該處理單元讀取這些識(shí)別碼以判斷待測(cè)的這些電子裝置的類(lèi)型與測(cè)試順序,并且據(jù)以提供對(duì)應(yīng)的該串行信號(hào)與決定測(cè)試順序。
8.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試裝置,其中各這些裝置轉(zhuǎn)板包括: 一第二串行連接器,其中這些裝置轉(zhuǎn)板的第二串行連接器分別經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)電性連接至對(duì)應(yīng)的第一串行連接器; 一第一控制模塊,電性連接該第二串行連接器以接收該串行信號(hào); 一傳送模塊,電性連接該第一控制模塊,受控于該第一控制模塊而提供一測(cè)試信號(hào),以使對(duì)應(yīng)的電子裝置藉由對(duì)應(yīng)的總線傳遞該測(cè)試信號(hào);以及 一接收模塊,電性連接該第一控制模塊,接收對(duì)應(yīng)的總線所傳遞的該測(cè)試信號(hào),并且回傳至該第一控制模塊,以使該第一控制模塊據(jù)以產(chǎn)生一測(cè)試結(jié)果信號(hào)。
9.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試裝置,其中該測(cè)試信號(hào)為脈沖信號(hào),并且該第一控制模塊依據(jù)該串行信號(hào)而設(shè)定該測(cè)試信號(hào)的頻率與脈沖數(shù)量。
10.如權(quán)利要求9所述的測(cè)試裝置,其中該接收模塊計(jì)數(shù)所接收到的該測(cè)試信號(hào)的脈沖數(shù)量,并且將計(jì)數(shù)的結(jié)果回傳至該第一控制模塊,該第一控制模塊比對(duì)對(duì)應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板所提供的該測(cè)試信號(hào)的脈沖數(shù)量與計(jì)數(shù)的結(jié)果,并據(jù)以產(chǎn)生該測(cè)試結(jié)果信號(hào)。
11.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試裝置,其中該測(cè)試電路還包括: 一協(xié)議分析模塊,電性連接這些第一串行連接器與該處理單元,用以分析對(duì)應(yīng)的總線所輸出及接收的信號(hào),并且將分析結(jié)果回傳至該處理單元。
12.如權(quán)利要求11所述的測(cè)試裝置,其中各這些裝置轉(zhuǎn)板還包括: 一第二控制模塊,電性連接該傳送模塊、該接收模塊以及該第二串行連接器,用以擷取對(duì)應(yīng)的總線所輸出及接收的信號(hào),并且經(jīng)由該第二串行連接器傳遞至該協(xié)議分析模塊。
13.一種電子裝置的測(cè)試方法,適于測(cè)試一電路板上至少二電子裝置間的一總線,其中該電路板包括至少二插·槽,這些電子裝置適于分別電性連接至該電路板上的對(duì)應(yīng)的插槽,該測(cè)試方法包括: 將至少二個(gè)裝置轉(zhuǎn)板分別電性連接于對(duì)應(yīng)的這些電子裝置以及對(duì)應(yīng)這些電子裝置的插槽; 將這些裝置轉(zhuǎn)板電性連接于至少二串行信號(hào)線對(duì);以及 依據(jù)這些電子裝置的類(lèi)型,經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)提供一串行信號(hào)給這些裝置轉(zhuǎn)板其中之一,并通過(guò)對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)回傳這些裝置轉(zhuǎn)板其中的另一的反應(yīng),藉以測(cè)試該其中之一與該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置間的該總線是否有斷路。
14.如權(quán)利要求13所述的電子裝置的測(cè)試方法,其中這些電子裝置包括至少二個(gè)第一電子裝置,這些第一電子裝置藉由一對(duì)應(yīng)的第一總線相互傳遞信號(hào),并且該第一總線具有多個(gè)傳輸通道,其中測(cè)試該其中之一與該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置間的該總線是否有斷路的步驟包括: 提供該串行信號(hào)至該其中的一裝置轉(zhuǎn)板; 經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)從該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板接收一測(cè)試結(jié)果信號(hào),其中該測(cè)試結(jié)果信號(hào)關(guān)聯(lián)于對(duì)應(yīng)的該第一總線的信號(hào)傳遞狀態(tài);以及 依據(jù)該測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的該第一總線中的每一這些傳輸通道是否有斷路。
15.如權(quán)利要求14所述的電子裝置的測(cè)試方法,其中測(cè)試該其中之一與該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置間的該總線是否有斷路的步驟還包括: 依據(jù)該測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的該第一總線中的相鄰這些傳輸通道是否有短路。
16.如權(quán)利要求13所述的電子裝置的測(cè)試方法,其中這些電子裝置包括一第一電子裝置以及至少一第二電子裝置,該第一電子裝置與該第二電子裝置藉由一對(duì)應(yīng)的第二總線相互傳遞信號(hào),并且該第二總線具有多個(gè)傳輸通道,其中測(cè)試該其中之一與該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置間的該總線是否有斷路的步驟包括: 提供該串行信號(hào)至對(duì)應(yīng)于該第一電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板; 經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)從對(duì)應(yīng)于該第二電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板接收一測(cè)試結(jié)果信號(hào),其中該測(cè)試結(jié)果信號(hào)關(guān)聯(lián)于對(duì)應(yīng)的該第二總線的信號(hào)傳遞狀態(tài);以及 依據(jù)該測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的該第二總線中的每一這些傳輸通道是否有斷路。
17.如權(quán)利要求16所述的電子裝置的測(cè)試方法,其中這些電子裝置包括一第一電子裝置以及至少一第三電子裝置,該第一電子裝置與該第三電子裝置藉由一對(duì)應(yīng)的第三總線相互傳遞信號(hào),并且該第三總線具有多個(gè)傳輸通道,其中提供該串行信號(hào),并據(jù)以測(cè)試這些電子裝置所對(duì)應(yīng)的總線是否有斷路的步驟包括: 提供該串行信號(hào)至對(duì)應(yīng)于該第一電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板; 經(jīng)由對(duì)應(yīng)的串行信號(hào)線對(duì)從對(duì)應(yīng)于該第三電子裝置的裝置轉(zhuǎn)板接收一測(cè)試結(jié)果信號(hào),其中該測(cè)試結(jié)果信號(hào)關(guān)聯(lián)于對(duì)應(yīng)的該第三總線的信號(hào)傳遞狀態(tài);以及 依據(jù)該測(cè)試結(jié)果信號(hào)判斷對(duì)應(yīng)的該第三總線中的每一這些傳輸通道是否有斷路。
18.如權(quán)利要求13所述的電子裝置的測(cè)試方法,還包括: 在各這些裝置轉(zhuǎn)板上設(shè)定一識(shí)別碼。
19.如權(quán)利要求18所述的電子裝置的測(cè)試方法,其中在提供該串行信號(hào)的步驟之前,該測(cè)試方法還包括: 讀取這些識(shí)別碼以判斷待測(cè)的這些電子裝置的類(lèi)型與測(cè)試順序。
20.如權(quán)利要求13所述的電子裝置的測(cè)試方法,其中測(cè)試該其中之一與該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置間的該總線是否有斷路的步驟包括: 依據(jù)該串行信號(hào)提供一測(cè)試信號(hào),其中該測(cè)試信號(hào)在該其中之一與該其中的另一裝置轉(zhuǎn)板所對(duì)應(yīng)的電子裝置間的該總線傳遞;以及 依據(jù)該測(cè)試信號(hào)在該總線的信號(hào)傳遞狀態(tài)產(chǎn)生一測(cè)試結(jié)果信號(hào)。
21.如權(quán)利要求20所述的電子裝置的測(cè)試方法,其中該測(cè)試信號(hào)為脈沖信號(hào),依據(jù)該測(cè)試信號(hào)在該總線間的信號(hào)傳遞狀態(tài)產(chǎn)生該測(cè)試結(jié)果信號(hào)的步驟包括: 計(jì)數(shù)所接收到的該測(cè)試信號(hào)的脈沖數(shù)量;以及 比對(duì)對(duì)應(yīng)的裝置轉(zhuǎn)板所提供的該測(cè)試信號(hào)的脈沖數(shù)量與計(jì)數(shù)的結(jié)果,并據(jù)以產(chǎn)生該測(cè)試結(jié)果信號(hào)。
22.如權(quán)利要求13所述的電子裝置的測(cè)試方法,還包括: 擷取對(duì)應(yīng)的總線所輸出及接收的信號(hào); 分析所擷取的信號(hào);以及 回傳分析的結(jié)果。
【文檔編號(hào)】G01R31/02GK103852681SQ201210568473
【公開(kāi)日】2014年6月11日 申請(qǐng)日期:2012年12月24日 優(yōu)先權(quán)日:2012年12月6日
【發(fā)明者】駱文華, 陳冠翰, 廖誌圣 申請(qǐng)人:緯創(chuàng)資通股份有限公司
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