專利名稱：一種用于測試功能電路的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試方法，尤其涉及一種用于測試功能電路的方法及裝置，以及一種電路盤。
背景技術(shù)：
電路盤不斷增加的布局密度以及復雜性增加了在產(chǎn)品研發(fā)和檢驗期間質(zhì)量以及性能檢測的復雜性。為了檢驗產(chǎn)品的質(zhì)量以及性能，采取了許多測試方法來檢測產(chǎn)品性能，尤其是產(chǎn)品的供電性能，諸如欠壓測試方法、過壓測試方法以及電壓噪聲容限測試方法等。現(xiàn)有技術(shù)中，為了實現(xiàn)欠壓測試方法、過壓測試方法以及電壓噪聲容限測試方法等，通常需要外接測試裝置，該外接測試裝置能夠調(diào)節(jié)噪聲的幅度、頻率等，也能夠提供可調(diào)節(jié)的電壓，并將其所產(chǎn)生的測試信號經(jīng)由輸入電纜輸送至產(chǎn)品，例如電路盤。然而，這類外接測試裝置通常相對昂貴，從而增加了測試成本。此外，為了在各種情況下檢驗產(chǎn)品，需要手動地調(diào)節(jié)并且小心地設(shè)置測試信號，相當耗時，效率較低。在大多數(shù)情況下，測試信號必須經(jīng)由較長的電纜才能夠進入待測電路盤中，這在一些情況下會引起不必要的信號損耗，并且?guī)黼娎|中的額外的噪聲，從而影響了測試的精確性。另一方面，通常將測試信號輸入至電路盤的供電電路的輸入端，對整個電路盤進行測試。在這個情況下，當存在電壓波動時，并不能夠準確實時地掌控電路盤中的具體的功能電路，例如SDH通信電路、以太網(wǎng)通信電路、CPU及內(nèi)存電路以及FPGA及內(nèi)存電路等的運行情況，從而不能夠獲知該些功能電路所存在的問題。如果需要對功能電路進行欠壓測試、過壓測試以及電壓噪聲容限測試，則需要在供電電路與功能電路之間焊接新的連接端以接入外接測試裝置，這將相當復雜，并且破壞了原有的產(chǎn)品。

發(fā)明內(nèi)容
可見，背景技 術(shù)中所提到的測試功能電路的方法存在的缺點在于復雜性較高、較為昂貴，測試效率以及準確性較低。為了解決上述技術(shù)問題，根據(jù)本發(fā)明的一個方面，本發(fā)明提供了一種用于測試功能電路的裝置，其中供電電路通過所述裝置向所述功能電路供電，所述供電電路具有輸出引腳、反饋引腳以及接地引腳，所述裝置包括:第一調(diào)節(jié)電路，其具有根據(jù)測試類型耦合在所述供電電路的所述輸出引腳和所述接地引腳中的一個與所述反饋引腳之間的、一個電阻以及與所述電阻串聯(lián)的第一開關(guān)，或至少兩個相互并聯(lián)的電阻以及與各個所述電阻分別串聯(lián)的第一開關(guān)；以及第一控制單元，其經(jīng)由第一控制總線與各個所述第一開關(guān)連接，以控制各個所述第一開關(guān)的開關(guān)操作。根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述裝置還包括:第二調(diào)節(jié)電路，其具有耦合在所述供電電路的所述輸出引腳和所述接地引腳中的另一個與所述反饋引腳之間的一個電阻以及與所述電阻串聯(lián)的第二開關(guān)，或至少兩個相互并聯(lián)的電阻以及與各個所述電阻分別串聯(lián)的第二開關(guān)；以及第二控制單元，其經(jīng)由第二控制總線與各個所述第二開關(guān)連接，以控制各個所述第二開關(guān)的開關(guān)操作。根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述第一開關(guān)以及所述第二開關(guān)包括以下各項中的至少一項:_金屬氧化物半導體場效應晶體管；-光電耦合器；_繼電器；以及-晶體管。根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測試類型包括過壓測試、欠壓測試或電壓噪聲容限測試。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，本發(fā)明提供了一種用于測試功能電路的方法，其中供電電路通過所述方法向所述功能電路供電，所述供電電路具有輸出引腳、反饋引腳以及接地引腳，所述方法包括:根據(jù)測試類型，將一個電阻以及與所述電阻串聯(lián)的第一開關(guān)，或至少兩個相互并聯(lián)的電阻以及與各個所述電阻分別串聯(lián)的第一開關(guān)耦合在所述供電電路的所述輸出引腳和所述接地引腳中的一個與所述反饋引腳之間；以及控制各個所述第一開關(guān)的開關(guān)操作。根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述方法還包括:將一個電阻以及與所述電阻串聯(lián)的第二開關(guān)，或至少兩個相互并聯(lián)的電阻以及與各個所述電阻分別串聯(lián)的第二開關(guān)耦合在所述供電電路的所述輸出引腳和所述接地引腳中的另一個與所述反饋引腳之間；以及控制各個所述第二開關(guān)的開關(guān)操作。根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述第一開關(guān)和所述第二開關(guān)包括以下各項中的至少一項:_金屬氧化物半導體場效應晶體管；-光電耦合器；_繼電器；以及-晶體管。根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測試類型包括過壓測試、欠壓測試或電壓噪聲容限測試。根據(jù)本發(fā)明的又一發(fā)明，本發(fā)明提供了一種電路盤，其包括供電電路；依據(jù)本發(fā)明的裝置；以及功能電路；其中，所述供電電路通過所述裝置向所述功能電路供電。采用本發(fā)明的提供的優(yōu)選`的技術(shù)方案，通過控制供電電路的輸出引腳與反饋引腳，和/或反饋引腳與接地引腳之間各自的有效電阻來動態(tài)地改變供電電路輸出至功能電路的電壓，從而為功能電路提供了各種類型的測試，實現(xiàn)了對功能電路的欠壓測試、過壓測試以及電壓噪聲容限測試。通過在電路盤中制造依據(jù)本發(fā)明的裝置，能夠?qū)㈦妷簻y試功能與產(chǎn)品集成起來。以這種方式，能夠準確地獲取功能電路的供電性能，而無需外接測試裝置，從而簡化了測試流程，顯著地降低了成本，提高了效率。與傳統(tǒng)的測試方法相比，該方案不會引入任何輸入能量的損失，因為其與電路盤的供電電路直接集成在一起，并且測試信號能夠被直接地提供至功能電路，從而精確性更加高。本發(fā)明的各個方面將通過下文中的具體實施例的說明而更加清晰。


通過閱讀參照以下附圖所作的對非限制性實施例所作的詳細描述，本發(fā)明的其它特征、目的和優(yōu)點將會變得更加明顯:圖1示出了包括根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的用于測試功能電路的裝置的電路盤的不意圖；圖2A和2B分別示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的對功能電路進行過壓和欠壓測試時，控制信號與測試信號的關(guān)系圖；圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例的對功能電路進行電壓噪聲容限測試時，控制信號與測試信號的關(guān)系圖；以及圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的又一個實施例的對功能電路進行電壓噪聲容限測試時，控制信號與測試信號的關(guān)系圖。在圖中，貫穿不同的示圖，相同或類似的附圖標記表示相同或相對應的部件或特征。
具體實施例方式圖1示出了包括根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的用于測試功能電路的裝置的電路盤的示意圖。如圖所示，電路盤100包括供電電路101、用于測試功能電路的裝置102以及功能電路103。供電電路101具有輸出引腳O、反饋引腳F以及接地引腳G，其通過用于測試功能電路的裝置102向功能電路103供電。供電電路101例如可以是直流-直流(DC-DC)變換器、低壓差線性穩(wěn)壓器(LDO)等。該功能電路103可以包括任意適合類型的功能電路，例如SDH通信電路、以太網(wǎng)通信電路、CPU及內(nèi)存電路以及FPGA及內(nèi)存電路等。該功能電路103還具有業(yè)務接口(未示出)，通過該業(yè)務接口其能夠與監(jiān)控設(shè)備，例如計算機、通信測試儀表等相連，以在對功能電路103的測試過程中，檢測功能電路103的運行狀況。用于測試功能電路的裝置102包括調(diào)節(jié)電路1021(如虛線框所示)以及控制器1022。在該實施例中，調(diào)節(jié)電路1021包括耦合在供電電路101的輸出引腳O與反饋引腳F之間的、相互并聯(lián)的電阻Rn、R12...Rln,以及與該些電阻Rn、R12...Rln分別串聯(lián)的開關(guān)Sn、
512...Sln0可以根據(jù)測試要求，任意選取電阻的數(shù)量，以及電阻的阻值。例如，當對測試要求較高時，可以選取較多數(shù)量的電阻。當針對測試要求僅需要一個電阻R11時，在供電電路101的輸出引腳O與反饋引腳F之間將僅耦合一個電阻R11以及與該電阻R11串聯(lián)的開關(guān)Sn。此外，調(diào)節(jié)電路1021還包括耦合在供電電路101的接地引腳G與反饋引腳F之間的、相互并聯(lián)的電阻R21、R22-..R2n 以及與該些電阻R21、R22...R2n分別串聯(lián)的開關(guān)S21、
522...S2n0可以根據(jù)測試要求，任意選取電阻的數(shù)量，以及電阻的阻值。例如，當對測試要求較高時，可以選取較多數(shù)量的電阻。當針對測試要求僅需要一個電阻R21時，在供電電路101的接地引腳G與反饋引腳F之間將僅耦合一個電阻R21以及與該電阻R21串聯(lián)的開關(guān)S21。開關(guān)Sn、S12...Sln, S21, S22...S2n可以包括任意適合類型的開關(guān)，例如金屬氧化物半導體場效應晶體管(Mos-FET)、光電稱合器、繼電器、以及晶體管。此外,開關(guān)Sn、S12...Sln經(jīng)由控制總線L1與控制器1022中的第一控制單元1023連接，開關(guān)S21、S22...S2n經(jīng)由控制總線L2與控制器1022中的第二控制單元1024連接?？刂破?022例如可以是任何類型的數(shù)字芯片，例如單片機MCU、CPLD、FPGA等，該控制器1022通過其管理接口(未示出)與主機200連接。在測試過程中，主機200向控制器1022中的第一控制單元1023和第二控制單元1024發(fā)送命令，而第一控制單元1023和第二控制單元1024可以分別通過控制總線L1與L2向各個開關(guān)Sn、S12...Sln, S21, S22...S2n發(fā)送控制信號，以控制該些開關(guān)的打開與關(guān)閉，從而分別改變供電電路101的輸出引腳O與反饋引腳F之間的有效電 阻、以及供電電路101的接地引腳G與反饋引腳F之間的有效電阻。由于供電電路101的反饋引腳F的電壓為供電電路101的輸出引腳0的電壓和接地電壓之間的一個電壓值,如果開關(guān)Sn、S12...Sln閉合,而開關(guān)S21、S22...S2n斷開,或在供電電路101的反饋引腳F與接地引腳G之間不具有調(diào)節(jié)電路，則在供電電路101的輸出引腳0與反饋弓I腳F之間具有電阻，電流將從反饋引腳F流入供電電路101，對供電電路101提供正的反饋，從而會推高供電電路101的輸出電壓，即其提供給功能電路103的電壓，由此可以實現(xiàn)對功能電路103的過壓測試。另一方面，如果開關(guān)S21、S22...S2n閉合，而開關(guān)Sn、S12...Sln斷開，或在供電電路101的輸出引腳0與反饋引腳F之間不具有調(diào)節(jié)電路，則在供電電路101的接地引腳G與反饋引腳F之間具有電阻，電流將從反饋引腳F流出供電電路101，對供電電路101提供負的反饋，從而會降低供電電路101的輸出電壓，即其提供給功能電路103的電壓，由此可以實現(xiàn)對功能電路103的欠壓測試。此外，可以根據(jù)所需要產(chǎn)生的噪聲容限的范圍，通過連續(xù)地斷開和閉合開關(guān)Sn、S12...Sln以及S21、S22...S2n，或單獨地連續(xù)斷開和閉合開關(guān)Sn、S12...Sln或S21、S22...S2n，來變化供電電路101提供給功能電路103的電壓，以對功能電路103進行電壓噪聲容限測試。例如，當需要產(chǎn)生的噪聲容限位于過壓與正常電壓范圍之間時，可以連續(xù)地斷開和閉合開關(guān)Sn、S12...Sln,而不必斷開和閉合開關(guān)S21、S22...S2n,或不必在供電電路101的反饋引腳F與接地引腳G之間設(shè)置調(diào)節(jié)電路。例如，當需要產(chǎn)生的噪聲容限位于欠壓與正常電壓范圍之間時，可以連續(xù)地斷開和閉合開關(guān)S21、S22...S2n，而不必斷開和閉合開關(guān)Sn、S12...Sln，或不必在供電電路101的反饋引腳F和輸出引腳0之間設(shè)置調(diào)節(jié)電路。而當需要產(chǎn)生的噪聲容限位于過壓與欠壓之間時，可以連續(xù)地斷開和閉合開關(guān)Sn、S12...Sln以及S21、S22...S2n0在本文中，優(yōu)選地，選取P類Mos-FET作為開關(guān)Sn、S12...Sln，選取N類Mos-FET作為開關(guān)s21、s22...S2n0其中，當提供給該些開關(guān)的控制信號為低電平時，開關(guān)Sn、S12...Sln閉合，而開關(guān)S21、s22...S2n斷開；當提供給該些開關(guān)的控制信號為高電平時，開關(guān)Sn、S12...Sln斷開，而開關(guān)S21、s22...S2n閉合。在下文中，參照圖2至圖4，將以開關(guān)511、512...5111為卩類Mos-FET,開關(guān)S21、S22...S2n為N類Mos-FET為例對控制該些開關(guān)的具體操作進行描述。本領(lǐng)域的技術(shù)人員應當理解，可以根據(jù)實際的測試類型，單獨在供電電路101的輸出引腳0與反饋引腳F之間設(shè)置調(diào)節(jié)電路，或單獨在供電電路101的接地引腳G與反饋引腳F之間設(shè)置調(diào)節(jié)電路，或同時在供電電路101的輸出引腳0與反饋引腳F之間、接地引腳G與反饋引腳F之間設(shè)置調(diào)節(jié)電路。此外，應當理解，可以根據(jù)實際所設(shè)置的調(diào)節(jié)電路，來設(shè)置相應的控制總線以及控制單元。圖2A和2B分別示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的對功能電路進行過壓和欠壓測試時，控制信號與測試信號的關(guān)系圖。在各個坐標系中，橫坐標為時間(毫秒)，縱坐標為電壓(伏特)。在測試運行過程中，供電電路101將與外部的電源(未示出)連接，來為電路盤100供電。接著，供電電路101將通過裝置102向功能電路103供電。當需要對功能電路103進行過壓測試時，操作員通過主機200經(jīng)由管理接口向控制器1022中的第一控制單元1023發(fā)送命令，然后第一控制單元1023，例如MCU，通過MCU編碼產(chǎn)生所需的控制信號，例如如圖2A中上方所示的控制信號I。

隨后，第一控制單元1023將經(jīng)由控制總線L1向開關(guān)Sn、S12...Sln發(fā)送控制信號1，以閉合開關(guān)sn、S12...Sln，從而提升供電電路101的輸出電壓，即提供給功能電路103的電壓，從而向功能電路103傳輸如圖2A中下方所示的測試信號1，以實現(xiàn)對功能電路103的過壓測試。此時，可以通過功能電路103中的業(yè)務接口，利用監(jiān)控設(shè)備來檢驗在過壓測試過程中的功能電路103的運行情況。本領(lǐng)域的技術(shù)人員應當理解，可以根據(jù)過壓測試要求，選取電阻Rn、R12...R11Jl值，也可以選擇性地關(guān)閉開關(guān)sn、S12...Sln中的每一個，以改變供電電路101的輸出引腳O與反饋引腳F之間的有效電阻，從而改變供電電路101輸出至功能電路103的提高的電壓。另一方面，當需要對功能電路103進行欠壓測試時，操作人員通過主機200經(jīng)由管理接口向控制器1022中的第二控制單元1024發(fā)送命令，然后第二控制單元1024，例如MCU，通過MCU編碼產(chǎn)生所需的控制信號，例如如圖2B中上方中所示的控制信號2。隨后，第二控制單元1024將經(jīng)由控制總線L2向S21、S22...S2n發(fā)送控制信號2，以閉合開關(guān)S21、s22...S2n，從而降低供電電路101的輸出電壓，即提供給功能電路103的電壓，從而向功能電路103傳輸如圖2B中下方所示的測試信號2，以實現(xiàn)對功能電路103的欠壓測試。此時，可以通過功能電路103中的業(yè)務接口，利用監(jiān)控設(shè)備來檢驗在欠壓測試過程中的功能電路103的運行情況。本領(lǐng)域的技術(shù)人員應當理解，可以根據(jù)欠壓測試要求，選取電阻R21、R22...R2n阻值，也可以選擇性地關(guān)閉開關(guān)S21、S22...S2n中的每一個，以改變供電電路101的接地引腳G與反饋引腳F之間的有效電阻，從而改變供電電路101輸出至功能電路103的降低的電壓。圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例的對功能電路進行電壓噪聲容限測試時，控制信號與測試信號的關(guān)系圖。在該坐標系中，橫坐標為時間(毫秒)，縱坐標為電壓(伏特)。在測試運行過程中，供電電路101將與外部的電源(未示出)連接，來為電路盤100供電。接著，供電電路101將通過裝置102向功能電路103供電。當需要對功能電路103進行電壓噪聲容限測試時，操作人員通過主機200經(jīng)由管理接口向控制器1022中的第一控制單元1023和第二控制單元1024發(fā)送命令，然后第一控制單元1023和第二控制單元1024，例如MCU，通過MCU編碼產(chǎn)生所需的控制信號，例如如圖3中上方中所示的周期性的控制信號3。隨后，第一控制單元1023和第二控制單元1024將經(jīng)由控制總線L1和L2分別向開關(guān) Sn、S12...Sln 與 S21、S22...S2n 發(fā)送控制信號 3。開關(guān) Sn、S12...Sln 與 S21、S22...S2n 將根據(jù)該控制信號3進行連續(xù)地閉合、斷開，從而不斷地改變由供電電路101提供至功能電路103的電壓，從而向功能電路103傳輸如圖3中下方所示的測試信號3，以對功能電路103進行電壓噪聲容限測試。此時，可以通過功能電路103中的業(yè)務接口，利用監(jiān)控設(shè)備來檢驗在過壓測試過程中的功能電路103的運行情況。圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的又一個實施例的對功能電路進行電壓噪聲容限測試時，控制信號與測試信號的關(guān)系圖。在該坐標系中，橫坐標為時間(毫秒)，縱坐標為電壓(伏特)。可以通過變化開關(guān)的斷開和閉合的頻率來改變噪聲的峰值、噪聲的幅度和平均值。如圖4中上方所示，與圖3中的控制信號3相比，增加了發(fā)送至開關(guān)Sn、S12...Sln與S21、S22...S2n的控制信號4的頻率，從而增加了開關(guān)Sn、S12...Sln與S21、S22...S2n的閉合與斷開的頻率。 此時，相比與圖3中的測試信號3，圖4中的測試信號4的噪聲幅度和平均值有所下降?？梢?，可以通過產(chǎn)生不同類型的控制信號，對功能電路103進行各種適合的電壓噪聲容限測試，并可以根據(jù)測試結(jié)果，對功能電路103的性能進行量化分析。此外，本領(lǐng)域的技術(shù)人員也可以理解，可以根據(jù)所需要測試的噪聲容限的范圍，連續(xù)地單獨斷開、閉合開關(guān)sn、S12...Sln或S21、S22...s2n。需要說明的是，上述實施例僅是示范性的，而非對本發(fā)明的限制。任何不背離本發(fā)明精神的技術(shù)方案均應落入本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)，這包括使用在不同實施例中出現(xiàn)的不同技術(shù)特征，裝置方法可以進行組合，以取得有益效果。此外，不應將權(quán)利要求中的任何附圖標記視為限制所涉及的權(quán)利要求；“包括”一詞不排除其他權(quán)利要求或說明書中未列出的裝置或步驟；裝置前的“一個”不排除多個這樣的裝置的存在；在包含多個裝置的設(shè)備中，該多個裝置中的一個或 多個的功能可由同一個硬件或軟件模塊來實現(xiàn)。
權(quán)利要求
1.一種用于測試功能電路的裝置，其中供電電路通過所述裝置向所述功能電路供電，所述供電電路具有輸出引腳、反饋引腳以及接地引腳，所述裝置包括: 第一調(diào)節(jié)電路，其具有根據(jù)測試類型耦合在所述供電電路的所述輸出引腳和所述接地引腳中的一個與所述反饋引腳之間的、一個電阻以及與所述電阻串聯(lián)的第一開關(guān)，或至少兩個相互并聯(lián)的電阻以及與各個所述電阻分別串聯(lián)的第一開關(guān)；以及 第一控制單元，其經(jīng)由第一控制總線與各個所述第一開關(guān)連接，以控制各個所述第一開關(guān)的開關(guān)操作。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括: 第二調(diào)節(jié)電路，其具有耦合在所述供電電路的所述輸出引腳和所述接地引腳中的另一個與所述反饋引腳之間的一個電阻以及與所述電阻串聯(lián)的第二開關(guān)，或至少兩個相互并聯(lián)的電阻以及與各個所述電阻分別串聯(lián)的第二開關(guān)；以及 第二控制單元，其經(jīng)由第二控制總線與各個所述第二開關(guān)連接，以控制各個所述第二開關(guān)的開關(guān)操作。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述第一開關(guān)和所述第二開關(guān)包括以下各項中的至少一項: -金屬氧化物半導體場效應晶體管； -光電稱合器； -繼電器；以及 -晶體管。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述測試類型包括過壓測試、欠壓測試或電壓噪聲容限測試。
5.一種用于測試功能電路的方法，其中供電電路通過所述方法向所述功能電路供電，所述供電電路具有輸出引腳、反饋引腳以及接地引腳，所述方法包括: 根據(jù)測試類型，將一個電阻以及與所述電阻串聯(lián)的第一開關(guān)，或至少兩個相互并聯(lián)的電阻以及與各個所述電阻分別串聯(lián)的第一開關(guān)耦合在所述供電電路的所述輸出引腳和所述接地引腳中的一個與所述反饋引腳之間；以及控制各個所述第一開關(guān)的開關(guān)操作。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法還包括: 將一個電阻以及與所述電阻串聯(lián)的第二開關(guān)，或至少兩個相互并聯(lián)的電阻以及與各個所述電阻分別串聯(lián)的第二開關(guān)耦合在所述供電電路的所述輸出引腳和所述接地引腳中的另一個與所述反饋引腳之間；以及 控制各個所述第二開關(guān)的開關(guān)操作。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一開關(guān)和所述第二開關(guān)包括以下各項中的至少一項: -金屬氧化物半導體場效應晶體管 -光電稱合器； -繼電器；以及 -晶體管。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述測試類型包括過壓測試、欠壓測試或電壓噪聲容限測試。
9.一種電路盤，其包括 供電電路； 根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項所述的裝置；以及 功能電路； 其中，所述供電電路通過所述`裝置向所述功能電路供電。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種用于測試功能電路的方法及裝置，以及一種具有該裝置的電路盤。其中，供電電路通過該裝置向該功能電路供電，該供電電路具有輸出引腳、反饋引腳以及接地引腳，該裝置包括第一調(diào)節(jié)電路，其具有根據(jù)測試類型耦合在該供電電路的該輸出引腳和該接地引腳中的一個與該反饋引腳之間的、一個電阻以及與該電阻串聯(lián)的第一開關(guān)，或至少兩個相互并聯(lián)的電阻以及與各個該電阻分別串聯(lián)的第一開關(guān)；以及第一控制單元，其經(jīng)由第一控制總線與各個該第一開關(guān)連接，以控制各個該第一開關(guān)的開關(guān)操作。以這種裝置，能夠準確地獲取功能電路的供電性能，而無需外接測試裝置，從而簡化了測試流程，顯著地降低了成本，提高了效率，精確性更加高。
文檔編號G01R31/28GK103245904SQ20121003242
公開日2013年8月14日 申請日期2012年2月10日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月10日
發(fā)明者鄒勇卓, 曾廣鑫, 張力, 鄒錕 申請人:阿爾卡特朗訊, 上海貝爾股份有限公司